JPS6114592A - 内容物判定装置 - Google Patents
内容物判定装置Info
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- JPS6114592A JPS6114592A JP59135945A JP13594584A JPS6114592A JP S6114592 A JPS6114592 A JP S6114592A JP 59135945 A JP59135945 A JP 59135945A JP 13594584 A JP13594584 A JP 13594584A JP S6114592 A JPS6114592 A JP S6114592A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
- G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
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- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、容器内部の内容物を判定する内容物判定装置
に係シ、特に放射線の照射によって得られる透視画像の
画像前処理技術を改良してなる内容物判定装置に関する
。
に係シ、特に放射線の照射によって得られる透視画像の
画像前処理技術を改良してなる内容物判定装置に関する
。
この種の判定装置は、Ｘ線照射によって得られる容器の
Ｘ線透視画像をＸ線テレビカメラによりビデオ信号に変
換した後、このビデオ信号を２値化処理して容器領域と
背景領域とに分けた２値画像を得、さらにこの容器領域
画像について容器枠と容器内部の内容物とに分離できる
閾値を用いて２値化処理して２値画像を得、この容器枠
および内容物の２値画像と前記容器領域画像とを論理和
することにより、背景領域、容器枠領域および内容物領
域に分割し、内容物の画像のみを抽出していた。
Ｘ線透視画像をＸ線テレビカメラによりビデオ信号に変
換した後、このビデオ信号を２値化処理して容器領域と
背景領域とに分けた２値画像を得、さらにこの容器領域
画像について容器枠と容器内部の内容物とに分離できる
閾値を用いて２値化処理して２値画像を得、この容器枠
および内容物の２値画像と前記容器領域画像とを論理和
することにより、背景領域、容器枠領域および内容物領
域に分割し、内容物の画像のみを抽出していた。
しかし、以上のような画像処理手段が有効なのは、第７
図に示すように内容物１０１が容器枠１０２から離れて
いる場合であって、例えば第８図のように内容物１０１
が容器枠１０２と接している場合には容器枠１０２と一
諸に内容物１０１も除去されてしまうので正確に内容物
１０１を判定できない。
図に示すように内容物１０１が容器枠１０２から離れて
いる場合であって、例えば第８図のように内容物１０１
が容器枠１０２と接している場合には容器枠１０２と一
諸に内容物１０１も除去されてしまうので正確に内容物
１０１を判定できない。
本発明は以上のような点に着目してなされたも′ので、
容器枠に内容物が接している場合でも容器枠から切離し
て内容物を正確に判定し得る内容物判定装置を提供する
ことにある。
容器枠に内容物が接している場合でも容器枠から切離し
て内容物を正確に判定し得る内容物判定装置を提供する
ことにある。
本発明は、予め容器枠の厚さを画素数で予測しておき、
容器の電気的な濃淡透視画像を２値イビ処理して得られ
た容器領域画像から前記容器枠厚さの画素数だけ削）取
って縮小された容器領域のマスク画像を作成し、このマ
スク画像と前記容器の電気的な濃淡透視画像との論理演
算により、容器内部の内容物の画像のみを抽出する内容
物判定装置である。
容器の電気的な濃淡透視画像を２値イビ処理して得られ
た容器領域画像から前記容器枠厚さの画素数だけ削）取
って縮小された容器領域のマスク画像を作成し、このマ
スク画像と前記容器の電気的な濃淡透視画像との論理演
算により、容器内部の内容物の画像のみを抽出する内容
物判定装置である。
以下、本発明の一実施例について第１図ないし第６図を
参照して説明する。第１図は装置の全体構成図、第２図
は装置の動作を説明する図、第３図ないし第６図は画像
処理を説明する図である。第１図において１０はＸ線透
視装置であって、これはＸ線発生器１０ｈから照射され
るＸ線１０ｂにより被検査容器１０ｃを透視し、そのＸ
線透視画像をＸ線テレビカメラ１０ｄでビデオ信号に変
換して後続のＡ／Ｄ変換回路１１に供給する。１０ｅｒ
は被検査容器１０ｃを載置する試料台である。このＡ／
Ｄ変換回路１１は、Ｘ線透視装置１０からのビデオ信号
を装置全体より考慮した適切なレベルで量子化して適切
なサンプリング数で離散化された電気信号に変換する機
能をもっている。１２は半導体メモリなどで構成された
画像メモリであって、Ａ ／ ｖ変換回路１ノからの離
散化電気信号の濃淡透視画像データを記憶するとともに
、読出指令信号によって後続の２値化回路１３および画
像論理積回路１４に送出するものである。この２値化回
路１３は、内部に比較回路を有し、予め定めた設定値と
画像釜メモリ１２に記憶されている濃淡透視画像の各画
素値とを比較し、画素値が設定値以下刃らばその画素の
値を“０＃とじ１、設定値を超えていれば１″とする２
値化データに変換する機能を持っている。方お、本実施
例では設定値として例えば′６′を使用する。
参照して説明する。第１図は装置の全体構成図、第２図
は装置の動作を説明する図、第３図ないし第６図は画像
処理を説明する図である。第１図において１０はＸ線透
視装置であって、これはＸ線発生器１０ｈから照射され
るＸ線１０ｂにより被検査容器１０ｃを透視し、そのＸ
線透視画像をＸ線テレビカメラ１０ｄでビデオ信号に変
換して後続のＡ／Ｄ変換回路１１に供給する。１０ｅｒ
は被検査容器１０ｃを載置する試料台である。このＡ／
Ｄ変換回路１１は、Ｘ線透視装置１０からのビデオ信号
を装置全体より考慮した適切なレベルで量子化して適切
なサンプリング数で離散化された電気信号に変換する機
能をもっている。１２は半導体メモリなどで構成された
画像メモリであって、Ａ ／ ｖ変換回路１ノからの離
散化電気信号の濃淡透視画像データを記憶するとともに
、読出指令信号によって後続の２値化回路１３および画
像論理積回路１４に送出するものである。この２値化回
路１３は、内部に比較回路を有し、予め定めた設定値と
画像釜メモリ１２に記憶されている濃淡透視画像の各画
素値とを比較し、画素値が設定値以下刃らばその画素の
値を“０＃とじ１、設定値を超えていれば１″とする２
値化データに変換する機能を持っている。方お、本実施
例では設定値として例えば′６′を使用する。
１５は領域縮小回路であって、これは具体的には次のよ
うな処理機能をもっている。即ち、この領域縮小回路１
５は、所要数の画素のうちある１つを注目画素とし、こ
の注目画素の近傍にある残シの画素のすべてが′１＃で
あれば注目画素に対応する出力画像の画素値を“１″と
し、近傍にある残υの画素のうち１つでも”θ″であれ
ば注目画素に対応する出力画像の画素値を′Ｏ″とする
。この処理は、画素値°′１＃を持つ被検査容器１０ｏ
の外輪郭全体にわたって行なうことにより、容器領域の
うち外側に位置する】画素分を削シ取って縮小された２
値画像とする。そして、以上のような処理は容器枠の厚
さに相当する画素分例えば１０画素数を削る場合には１
０回繰返して容器領域から容器枠領域を除去した後、前
記画像論理積回路１４に供給する。この画像論理積回路
１４は、領域縮小回路Ｉ４によって例えば１０画素削除
せられた２値画像をマスクとして前記画像メモリ１２か
ら読出される濃淡透視画像をマスキングするもので、マ
スクの１”画素に対応する透視画像の画素は濃淡値をそ
のままとし、マスクの０＃の画素に対応する透視画像の
画素は“Ｏ＃とする論理積演算を行ない、これによりマ
スフの“１″の部分の濃淡透視画像を取り出す。１６は
画像論理積回路１４によって得られた容器内内容物の透
視画像を表示する結果表示装置である。１７は装置の各
構成要素１２〜１６を所定のタイミングで制御する制御
装置であって、例えば制御コンビ３４−夕等が使用され
る。
うな処理機能をもっている。即ち、この領域縮小回路１
５は、所要数の画素のうちある１つを注目画素とし、こ
の注目画素の近傍にある残シの画素のすべてが′１＃で
あれば注目画素に対応する出力画像の画素値を“１″と
し、近傍にある残υの画素のうち１つでも”θ″であれ
ば注目画素に対応する出力画像の画素値を′Ｏ″とする
。この処理は、画素値°′１＃を持つ被検査容器１０ｏ
の外輪郭全体にわたって行なうことにより、容器領域の
うち外側に位置する】画素分を削シ取って縮小された２
値画像とする。そして、以上のような処理は容器枠の厚
さに相当する画素分例えば１０画素数を削る場合には１
０回繰返して容器領域から容器枠領域を除去した後、前
記画像論理積回路１４に供給する。この画像論理積回路
１４は、領域縮小回路Ｉ４によって例えば１０画素削除
せられた２値画像をマスクとして前記画像メモリ１２か
ら読出される濃淡透視画像をマスキングするもので、マ
スクの１”画素に対応する透視画像の画素は濃淡値をそ
のままとし、マスクの０＃の画素に対応する透視画像の
画素は“Ｏ＃とする論理積演算を行ない、これによりマ
スフの“１″の部分の濃淡透視画像を取り出す。１６は
画像論理積回路１４によって得られた容器内内容物の透
視画像を表示する結果表示装置である。１７は装置の各
構成要素１２〜１６を所定のタイミングで制御する制御
装置であって、例えば制御コンビ３４−夕等が使用され
る。
次に、以上のように構成された装置の作用について第２
図ないし第６図を参照して説明する。
図ないし第６図を参照して説明する。
Ｘ線１０ｂの照射を受けて被検査容器１０ｃから出力さ
れるＸ線透視画像は第２図のステップ２１で示すように
Ｘ線テレビカメラ１０ｄにより検出され、ここでＸ線透
視・画像の濃淡に応じた電気的な連続波の濃淡透視画像
信号に変換された後、Ａ／Ｄ変換回路１１に送られる。
れるＸ線透視画像は第２図のステップ２１で示すように
Ｘ線テレビカメラ１０ｄにより検出され、ここでＸ線透
視・画像の濃淡に応じた電気的な連続波の濃淡透視画像
信号に変換された後、Ａ／Ｄ変換回路１１に送られる。
とのＡ／Ｄ変換回路１１においてはＸ線透視装置１０か
ら送られてくる濃淡透視画像の連続信号を第２図のステ
ップ２２に示すように例えば２５６画素×２５６画素×
８ビット階調（すなわち２５６階調）の量子化された離
散信号に変換し、さらにこのステップ２２で得られた離
散化された電気的な濃淡透視画像信号はステップ２３に
おいて画像メモリ１２に格納される。このようにして画
像メモリ１２に格納された透視画像は制御装置１７から
の読出指令に基づいて所定の順序で順次読出されて２値
化回路１３に送られ、ここで入力された濃淡透視画像の
各画素値を設定値例えば″′６階調”と比較し、設定値
以下のときには０”、設定値以上のときには１＃とする
２値化処理を行ないノイズ成分の除去よして（ステップ
２４）、第３図に示すように容器領域と容器以外の背景
領域とに分けた２値画像を得、これを領域縮小回路１５
に供給する。との領域縮小回路１５では ｔ１１＃と々
った容器領域においてステップ２５に示す如く容器輪郭
より例えば予め予測した容器枠の厚さに相応する画素数
例えば１０画素分削シ取る処理を行なって第４図の実線
で示す縮小された容器画像を取り出す。即ち、この領域
縮小回路１５は、具体的には第５図に示すように各画素
において例えば９画素のうち中央に位置する画素を注目
画素イとし、その近傍８画素のすべてが”１＃のとき、
入力画像の注目画素イに対応する出力画像の画素値を°
“１”とし、近傍８画素のうち１つでも０”があれば、
入力画像の注目画素イに対応する出力画像の画素値を′
０”とする。以上のような画像処理を１画面について行
なえば、容器領域の輪郭側より１画素削ることができ、
これを１０回繰返すと容器領域輪郭部より１０画素削シ
取ることができる。第６図は例えば５画素についてその
中央画素を注目画素イとｌまた例である。そして、領域
縮小回路１５で縮小化された第４図の実線で示す容器画
像はマスク画像として後続の画像論理積回路１４に送ら
れる。この画像論理積回路１４には画像メモリ１２から
未だ２値化処理されていない濃淡透視画像が入力されて
いる。従って、この回路１４では、ステップ２６に示す
ように容器輪郭部より１０画素分削シ取られて縮小化さ
れたマスク画像と画像メモリ１２に蓄えられている濃淡
透視画像とを同じ位置同士を対向させて論理積演算する
ことにより、マスク画像の１＃の画素に対応する濃淡透
視画像の画素はその濃淡値をそのまま出力し、マスク画
像の０”の画素に対応する濃淡透視画像の画素は′Ｏ”
として出力し、これにより被検査容器１０ｃ内部の内容
物を抽出するものである。そして、画像論理積回路１４
で抽出された内容物はステップ２７において結果表示装
置１６に表示され、ここで被検査容器１０ａに収納され
ている内容物が何であるかを判定する。或いは電子計算
機などで自動的に判定する。
ら送られてくる濃淡透視画像の連続信号を第２図のステ
ップ２２に示すように例えば２５６画素×２５６画素×
８ビット階調（すなわち２５６階調）の量子化された離
散信号に変換し、さらにこのステップ２２で得られた離
散化された電気的な濃淡透視画像信号はステップ２３に
おいて画像メモリ１２に格納される。このようにして画
像メモリ１２に格納された透視画像は制御装置１７から
の読出指令に基づいて所定の順序で順次読出されて２値
化回路１３に送られ、ここで入力された濃淡透視画像の
各画素値を設定値例えば″′６階調”と比較し、設定値
以下のときには０”、設定値以上のときには１＃とする
２値化処理を行ないノイズ成分の除去よして（ステップ
２４）、第３図に示すように容器領域と容器以外の背景
領域とに分けた２値画像を得、これを領域縮小回路１５
に供給する。との領域縮小回路１５では ｔ１１＃と々
った容器領域においてステップ２５に示す如く容器輪郭
より例えば予め予測した容器枠の厚さに相応する画素数
例えば１０画素分削シ取る処理を行なって第４図の実線
で示す縮小された容器画像を取り出す。即ち、この領域
縮小回路１５は、具体的には第５図に示すように各画素
において例えば９画素のうち中央に位置する画素を注目
画素イとし、その近傍８画素のすべてが”１＃のとき、
入力画像の注目画素イに対応する出力画像の画素値を°
“１”とし、近傍８画素のうち１つでも０”があれば、
入力画像の注目画素イに対応する出力画像の画素値を′
０”とする。以上のような画像処理を１画面について行
なえば、容器領域の輪郭側より１画素削ることができ、
これを１０回繰返すと容器領域輪郭部より１０画素削シ
取ることができる。第６図は例えば５画素についてその
中央画素を注目画素イとｌまた例である。そして、領域
縮小回路１５で縮小化された第４図の実線で示す容器画
像はマスク画像として後続の画像論理積回路１４に送ら
れる。この画像論理積回路１４には画像メモリ１２から
未だ２値化処理されていない濃淡透視画像が入力されて
いる。従って、この回路１４では、ステップ２６に示す
ように容器輪郭部より１０画素分削シ取られて縮小化さ
れたマスク画像と画像メモリ１２に蓄えられている濃淡
透視画像とを同じ位置同士を対向させて論理積演算する
ことにより、マスク画像の１＃の画素に対応する濃淡透
視画像の画素はその濃淡値をそのまま出力し、マスク画
像の０”の画素に対応する濃淡透視画像の画素は′Ｏ”
として出力し、これにより被検査容器１０ｃ内部の内容
物を抽出するものである。そして、画像論理積回路１４
で抽出された内容物はステップ２７において結果表示装
置１６に表示され、ここで被検査容器１０ａに収納され
ている内容物が何であるかを判定する。或いは電子計算
機などで自動的に判定する。
従って、以上のような実施例の構成例よれば、画像メモ
リ１２に格納されている濃淡透視画像を２値化回路１３
で予め定めた階調により比較して２値化処理を行なうの
で、正確に容器領域とその他の背景領域とに分けること
ができる。
リ１２に格納されている濃淡透視画像を２値化回路１３
で予め定めた階調により比較して２値化処理を行なうの
で、正確に容器領域とその他の背景領域とに分けること
ができる。
また、２値化処理された容器領域の２値画像は領域縮小
回路１５で容器枠の厚みに相応する画素数だけ削シ取る
ので、容器枠が存在しない状態となシ、つまシ容器内部
の内容物と背景部分とが残ってしまう。従って、画像論
理積回路１４において内容物に相応する部分はそのまま
の濃淡値で出力し、背景部分に相応する部分は′０”と
して出力すれば、内容物を正確かつ確実に抽出すること
ができ、しかも表示装置１６では容器が無視されて内容
物のみが表示されるので、認識対象が１個少なくなシ、
それに要する認識時間の短縮化が図れる。
回路１５で容器枠の厚みに相応する画素数だけ削シ取る
ので、容器枠が存在しない状態となシ、つまシ容器内部
の内容物と背景部分とが残ってしまう。従って、画像論
理積回路１４において内容物に相応する部分はそのまま
の濃淡値で出力し、背景部分に相応する部分は′０”と
して出力すれば、内容物を正確かつ確実に抽出すること
ができ、しかも表示装置１６では容器が無視されて内容
物のみが表示されるので、認識対象が１個少なくなシ、
それに要する認識時間の短縮化が図れる。
なお、本発ＦｉＡは上記実施例に限定されるものではな
い。上記実施例においてはＸ線による透視画像を用いた
が、他の放射線例えばα線、β線、γ線、赤外線などを
用いたものでもよい。
い。上記実施例においてはＸ線による透視画像を用いた
が、他の放射線例えばα線、β線、γ線、赤外線などを
用いたものでもよい。
また、量子化レベル数、サンプリング数は一例として８
ビット階調（２５６階調） 、２５６ Ｘ ２５６５６
画素たが、他の量子化レベル数、サンプリング数にして
もよく、或いは同等のアナログ回路でもよい。また、上
記２値化回路１３における２値化処理のための閾値を６
階調としたが、ｘｌｓ透視画像の濃度ダイナミックレン
ジなどの変化により他の閾値に変更してもよい。さらに
、上記実施例では容器の縮小画素幅を１０画素として説
明したが、対象となる被検査容器１０ｃの種類および厚
さなどに応じて他の画素幅にしてもよい。また、Ｘ線発
生器１０ａとＸ線テレビカメラ１０ｄの間の被検査容器
１０ｃは固定式または移動式の試料台１０ｅに載置され
るが、特に後者の移動式のものは被検査容器１０ａの所
定位置通過を検出してＸ線発生器１０ａを駆動制御する
場合もある。その他、本発明はその要旨を逸脱しない範
囲で種々変形して実施できる。
ビット階調（２５６階調） 、２５６ Ｘ ２５６５６
画素たが、他の量子化レベル数、サンプリング数にして
もよく、或いは同等のアナログ回路でもよい。また、上
記２値化回路１３における２値化処理のための閾値を６
階調としたが、ｘｌｓ透視画像の濃度ダイナミックレン
ジなどの変化により他の閾値に変更してもよい。さらに
、上記実施例では容器の縮小画素幅を１０画素として説
明したが、対象となる被検査容器１０ｃの種類および厚
さなどに応じて他の画素幅にしてもよい。また、Ｘ線発
生器１０ａとＸ線テレビカメラ１０ｄの間の被検査容器
１０ｃは固定式または移動式の試料台１０ｅに載置され
るが、特に後者の移動式のものは被検査容器１０ａの所
定位置通過を検出してＸ線発生器１０ａを駆動制御する
場合もある。その他、本発明はその要旨を逸脱しない範
囲で種々変形して実施できる。
以上詳記したように本発明によれば、容器領域の画像か
ら容器枠の画像を除去した後、容器内部の内容物を抽出
する処理を行なっているので、容器枠に内容物が接して
いる場合でも容器枠から確実に内容物を切シ離して抽出
でき、しかも内容物だけが表示されるので、内容物の判
定が確実に行なえ、判定時間の短縮化にも寄与する内容
物判定装置を提供できる。
ら容器枠の画像を除去した後、容器内部の内容物を抽出
する処理を行なっているので、容器枠に内容物が接して
いる場合でも容器枠から確実に内容物を切シ離して抽出
でき、しかも内容物だけが表示されるので、内容物の判
定が確実に行なえ、判定時間の短縮化にも寄与する内容
物判定装置を提供できる。
第１図ないし第６図は本発明に係る内容物判定装置の一
実施例を説明するために示したもので、第１図は本発明
装置の構成を示すブロック図、第２図は装置の動作を説
明する流れ図、第３図は電気的な濃淡透視画像を２値化
処理して得られた２値画像を示す図、第４図は容器画像
から容器枠に相当する厚さ分だけ画素数を削り取って縮
小した容器の２値画像を示す図、第５図および第６図は
それぞれ容器縮小のための画像処理を説明する図、第７
図および第８図は従来装置の問題点を説明するための図
である。 １０・・・Ｘ線透視装置、１０ａ・・・Ｘ線発生器、１
０ｃ・・・被検査容器、１０ｄ・・・Ｘ線テレビカメラ
、１１・・・Ａ／Ｄ変換回路、１２・・・画像メモリ、
１３・・・２値化回路、１４・・・画像論理積回路、１
５・・・領域縮小回路、１６・・・結果表示装置、１７
・・・制御装置。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 一−Ｆ＋Ｆ＋５− 第７図 第８図
実施例を説明するために示したもので、第１図は本発明
装置の構成を示すブロック図、第２図は装置の動作を説
明する流れ図、第３図は電気的な濃淡透視画像を２値化
処理して得られた２値画像を示す図、第４図は容器画像
から容器枠に相当する厚さ分だけ画素数を削り取って縮
小した容器の２値画像を示す図、第５図および第６図は
それぞれ容器縮小のための画像処理を説明する図、第７
図および第８図は従来装置の問題点を説明するための図
である。 １０・・・Ｘ線透視装置、１０ａ・・・Ｘ線発生器、１
０ｃ・・・被検査容器、１０ｄ・・・Ｘ線テレビカメラ
、１１・・・Ａ／Ｄ変換回路、１２・・・画像メモリ、
１３・・・２値化回路、１４・・・画像論理積回路、１
５・・・領域縮小回路、１６・・・結果表示装置、１７
・・・制御装置。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 一−Ｆ＋Ｆ＋５− 第７図 第８図
Claims (5)
- （１）放射線の照射によって被検査容器から透過出力さ
れる放射線透視画像を放射線検出器により検出して前記
容器内部の内容物を判定する装置において、前記放射線
検出器から出力されるアナログ信号を量子化された濃淡
透視画像データに変換してメモリに記憶するデータ変換
手段と、この手段によって記憶された濃淡透視画像デー
タを所定の閾値をもって比較して２値化された容器領域
の画像を抽出する容器領域抽出手段と、この容器領域抽
出手段によって抽出された容器領域画像の輪郭側より所
望の画素数分削り取って縮小化された容器領域画像を得
る容器領域縮小手段と、この手段によって得られた縮小
された容器領域画像をマスクとし、このマスク画像と前
記メモリからの濃淡透視画像とを論理演算して前記容器
内部の内容物の画像を取り出す内容物抽出手段とを備え
たことを特徴とする内容物判定装置。 - （２）放射線検出器は、Ｘ線テレビカメラを用いたもの
である特許請求の範囲第１項記載の内容物判定装置。 - （３）容器領域抽出手段にて予め定められる閾値は、容
器の外輪郭部が明らかになる階調値である特許請求の範
囲第１項記載の内容物判定装置。 - （４）容器領域抽出手段による画像抽出は容器領域画像
を“１”、それ以外の領域画像を“０”とする２値画像
である特許請求の範囲第１項記載の内容物判定装置。 - （５）容器領域縮小手段は、複数の画素のうち中央画素
を注目画素とし、この注目画素近傍の複数の画素のすべ
てが“１”かまたは１つでも“０”を含むかに応じて前
記注目画素に対応する出力画像の画素値を“１”または
“０”とし、これを１画面分行なって容器輪郭部により
１画素削り取り、この処理を所望の画素数だけ繰り返す
ものである特許請求の範囲第１項記載の内容物判定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59135945A JPS6114592A (ja) | 1984-06-30 | 1984-06-30 | 内容物判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59135945A JPS6114592A (ja) | 1984-06-30 | 1984-06-30 | 内容物判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6114592A true JPS6114592A (ja) | 1986-01-22 |
| JPH0582556B2 JPH0582556B2 (ja) | 1993-11-19 |
Family
ID=15163514
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59135945A Granted JPS6114592A (ja) | 1984-06-30 | 1984-06-30 | 内容物判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6114592A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05172765A (ja) * | 1991-12-24 | 1993-07-09 | Sharp Corp | Ａｅｓ分析におけるドリフト補正方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3943099B2 (ja) * | 2003-06-09 | 2007-07-11 | アンリツ産機システム株式会社 | Ｘ線検査装置 |
| JP3943072B2 (ja) * | 2003-10-27 | 2007-07-11 | アンリツ産機システム株式会社 | Ｘ線検査装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5850453A (ja) * | 1981-09-21 | 1983-03-24 | Mitsubishi Electric Corp | 物品検査システム |
| JPS5938634A (ja) * | 1982-08-27 | 1984-03-02 | Toshiba Corp | 非破壊自動検査装置 |
-
1984
- 1984-06-30 JP JP59135945A patent/JPS6114592A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5850453A (ja) * | 1981-09-21 | 1983-03-24 | Mitsubishi Electric Corp | 物品検査システム |
| JPS5938634A (ja) * | 1982-08-27 | 1984-03-02 | Toshiba Corp | 非破壊自動検査装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05172765A (ja) * | 1991-12-24 | 1993-07-09 | Sharp Corp | Ａｅｓ分析におけるドリフト補正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0582556B2 (ja) | 1993-11-19 |
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