JPS5862040A - 帯電防止されたプラスチツクフイルム - Google Patents
帯電防止されたプラスチツクフイルムInfo
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- JPS5862040A JPS5862040A JP56161293A JP16129381A JPS5862040A JP S5862040 A JPS5862040 A JP S5862040A JP 56161293 A JP56161293 A JP 56161293A JP 16129381 A JP16129381 A JP 16129381A JP S5862040 A JPS5862040 A JP S5862040A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はプラスチックフィルムの帯電防止に関するもの
である。更に詳しく言えばプラスチックフィルムに透明
て、かつ電導性をもつ金属酸化物中導体層を付与するこ
とに関するものである。
である。更に詳しく言えばプラスチックフィルムに透明
て、かつ電導性をもつ金属酸化物中導体層を付与するこ
とに関するものである。
一般にプラスチックフィルムは電気絶縁性であシ表面抵
抗率に、常温常温下でio Ω〜、l 4(1以上で
ある。従って、これらのプラスチックフィルムを取扱う
時、同種又は異種物質と間での接触摩擦や接触剥離の操
作が入ると、静電荷を帯ひ1埃を付着したり作業者に電
撃を与えたシ、あるいは放電を生じ、重大故障をひきお
こすことがしばしばある。
抗率に、常温常温下でio Ω〜、l 4(1以上で
ある。従って、これらのプラスチックフィルムを取扱う
時、同種又は異種物質と間での接触摩擦や接触剥離の操
作が入ると、静電荷を帯ひ1埃を付着したり作業者に電
撃を与えたシ、あるいは放電を生じ、重大故障をひきお
こすことがしばしばある。
これら静電気による故障をなくす最も良い方法に、表面
の電気伝導性を上げて静電荷を短時間に漏洩させてしま
うことである。その危めにプラスチックフィルムの帯電
防止K11r1無機塩をe湿性物質と共に塗布し、導電
層とし次り、界面活性剤や高分子電解質を含有する層を
設は導電層としたりする方法が良く知られている。こバ
らの方法は友とえば、丸茂秀雄“帯電防止剤ゝ(幸書房
)に詳しく記述されている。
の電気伝導性を上げて静電荷を短時間に漏洩させてしま
うことである。その危めにプラスチックフィルムの帯電
防止K11r1無機塩をe湿性物質と共に塗布し、導電
層とし次り、界面活性剤や高分子電解質を含有する層を
設は導電層としたりする方法が良く知られている。こバ
らの方法は友とえば、丸茂秀雄“帯電防止剤ゝ(幸書房
)に詳しく記述されている。
しかしこれらのイオン性化合物を塗布して、帯電防止を
する方法では、帯電防止性能に1湿度依存性があ゛る。
する方法では、帯電防止性能に1湿度依存性があ゛る。
すなわち塗布層の導電性は湿度が低くなると減少し、目
的とする帯電防止性を果さなくなる。
的とする帯電防止性を果さなくなる。
これらの欠点を改良するものとして、プラスチックフィ
ルムの表面に金属酸化物の層を蒸着して導電性を付与す
る方がある。例えば、米[1411許第J、I7’l、
179号、同第3,174A、171号、同第3,10
/ 、321号、特開昭10−/4t/3コJなどKは
写真用支持体あるいはプラスチックフィルムの帯電防止
のために金属酸化物の蒸着膜を使用する技術が開示され
ている。
ルムの表面に金属酸化物の層を蒸着して導電性を付与す
る方がある。例えば、米[1411許第J、I7’l、
179号、同第3,174A、171号、同第3,10
/ 、321号、特開昭10−/4t/3コJなどKは
写真用支持体あるいはプラスチックフィルムの帯電防止
のために金属酸化物の蒸着膜を使用する技術が開示され
ている。
じゃ−じながらこれらの特許明細書からもわかるように
、完全に酸化され几金属酸化智は導電性がなくなるため
、非化学量論的な酸化状態で導電性のある状lieして
いる。その危め導電性の蒸着膜は空気中にさらされ長時
間経時すると、次第に酸化状態が進み導電性は減少して
いく、又、この酸素欠陥酸化物はハロゲン化銀写真材料
などと接触すると、接触している感光材料を還元し、悪
影響を及はすことがしばしばある。
、完全に酸化され几金属酸化智は導電性がなくなるため
、非化学量論的な酸化状態で導電性のある状lieして
いる。その危め導電性の蒸着膜は空気中にさらされ長時
間経時すると、次第に酸化状態が進み導電性は減少して
いく、又、この酸素欠陥酸化物はハロゲン化銀写真材料
などと接触すると、接触している感光材料を還元し、悪
影響を及はすことがしばしばある。
これを防ぐ危め、導電性状態の金属酸化物の上に更に保
醗層を蒸着する方法などがとられるが、この方法では1
租が複雑となりコスト高にもなる。
醗層を蒸着する方法などがとられるが、この方法では1
租が複雑となりコスト高にもなる。
本発明の第1の目的は、帯電防止さn友プラスチックフ
ィルムを提供することである。
ィルムを提供することである。
本発明の第λの目的汀、低湿時においても帯電防止性の
すぐれたプラスチックフィルムを提供スゐことである。
すぐれたプラスチックフィルムを提供スゐことである。
本発明の第3の目的は、安価で透明性のすぐれた帯電防
止フィルムを提供することである。
止フィルムを提供することである。
本発明の第グの目的は、経時による費化のない帯電防止
性を有するプラスチックフィルムを提供することである
へ 本発明のこれらの目的は、透明性のある金属酸化物導電
膜の上に酸素透過率がλOwd / tm ”・hr−
atan(2ooc ao嘔RH)以下の膜を付与す
ることによって達せられることがわかった。
性を有するプラスチックフィルムを提供することである
へ 本発明のこれらの目的は、透明性のある金属酸化物導電
膜の上に酸素透過率がλOwd / tm ”・hr−
atan(2ooc ao嘔RH)以下の膜を付与す
ることによって達せられることがわかった。
酸素透過率の低い塗膜(以下、「酸素不透過層」と記す
)t−設ける事により金属酸化物の導電膜層の酸化が更
に進むことを防ぎ、導電性の経時変化を防ぐことができ
ることがわかった。
)t−設ける事により金属酸化物の導電膜層の酸化が更
に進むことを防ぎ、導電性の経時変化を防ぐことができ
ることがわかった。
本発明の酸素不透過層の酸素透過率は、コQ−/m2e
hreatom(コ0’C4AO’1RH)以下により
目的が達せられるが、好ましくaコ@g / Ill
2ehr−atom (20°CF04RH)以下で
ある。
hreatom(コ0’C4AO’1RH)以下により
目的が達せられるが、好ましくaコ@g / Ill
2ehr−atom (20°CF04RH)以下で
ある。
本発明の酸素不透過層の厚さVC%に制限はなく、酸素
透過率がコOgd1w2ahr−1tOm (20″
IC$−0IRH)以下になるような厚さにすればよい
訳であるが、好ましくは、o、z−iooμm%に/、
10μ偽であることが望ましい。
透過率がコOgd1w2ahr−1tOm (20″
IC$−0IRH)以下になるような厚さにすればよい
訳であるが、好ましくは、o、z−iooμm%に/、
10μ偽であることが望ましい。
本発明の酸素不透過層は、バインダーとしてのポリマー
の他に1必IFVCよ抄、酸化チタ/、硫酸バリウムの
如きフィラー、螢光増白剤、紫外線吸収剤を含有するこ
とができる。酸化チタン及び硫酸バリウムの如きフィラ
ーを含有する時はバインダーに対してJO重量憾以下で
あることが好ましい。
の他に1必IFVCよ抄、酸化チタ/、硫酸バリウムの
如きフィラー、螢光増白剤、紫外線吸収剤を含有するこ
とができる。酸化チタン及び硫酸バリウムの如きフィラ
ーを含有する時はバインダーに対してJO重量憾以下で
あることが好ましい。
本発明の酸素不透過層を構成するバインダーとしてのポ
リマーは、アクリロニトリル、アクリル酸アルキルエス
テル(例えばアクリル酸ブチル、アクリル酸エチル、ア
クリル酸ブチルなど)、メタクリル酸アルキルエステル
(例えばメタクリル酸メチル、メタクリル酸エチルなど
)、メタクリロニトリル、アルキルビニルエステル(例
工ばビニルアセテート、ビニルプロピオネート、ビニル
エチルブチレート、ビニルフェニルアセテートな □ト
)、アルキルビニルエーテル(例えばメチルビニルエー
テル、ブチルビニルエーテル、クロルエチルビニルエー
テルなト)、ビニルアルコール、塩化ビニル、塩化ビニ
リデン、フッ素化ビニル、スチレン、酢酸ビニル等のホ
舌ポリマー及びコポリマー(コモノマーとしては上記の
他にエチル/、プロピレン)、酢酸セルロース(例えば
ジアセチルセルロニス1、トリアセチルセルロース)、
ポリニスf ル(fl、t tf ホ!Jエチレンテレ
フタレート)、フッ素樹脂、ポリアミド(ナイロン)、
ポリカーボネート、ポリサッカライド、ブルラ/及びセ
ロファン等を挙けることがでさゐがこれらに限定される
ものではない。
リマーは、アクリロニトリル、アクリル酸アルキルエス
テル(例えばアクリル酸ブチル、アクリル酸エチル、ア
クリル酸ブチルなど)、メタクリル酸アルキルエステル
(例えばメタクリル酸メチル、メタクリル酸エチルなど
)、メタクリロニトリル、アルキルビニルエステル(例
工ばビニルアセテート、ビニルプロピオネート、ビニル
エチルブチレート、ビニルフェニルアセテートな □ト
)、アルキルビニルエーテル(例えばメチルビニルエー
テル、ブチルビニルエーテル、クロルエチルビニルエー
テルなト)、ビニルアルコール、塩化ビニル、塩化ビニ
リデン、フッ素化ビニル、スチレン、酢酸ビニル等のホ
舌ポリマー及びコポリマー(コモノマーとしては上記の
他にエチル/、プロピレン)、酢酸セルロース(例えば
ジアセチルセルロニス1、トリアセチルセルロース)、
ポリニスf ル(fl、t tf ホ!Jエチレンテレ
フタレート)、フッ素樹脂、ポリアミド(ナイロン)、
ポリカーボネート、ポリサッカライド、ブルラ/及びセ
ロファン等を挙けることがでさゐがこれらに限定される
ものではない。
これらのポリマーの内、本発明rc%に好ましく用いら
れるのけ、ビニルアルコールのホモポ177−及びコポ
リマーである。
れるのけ、ビニルアルコールのホモポ177−及びコポ
リマーである。
*rc好ましいのは1 ビニルアルコールとエチレンの
コポリマーであり、例えばエバール(クラレ(株)製)
なる商品名で市販されている。
コポリマーであり、例えばエバール(クラレ(株)製)
なる商品名で市販されている。
本発明に於て、酸素不透過層を設ける方法に特に制限は
なく、通常、ポリマーの皮膜を形成するのじ用いられる
方法を用いることができる。
なく、通常、ポリマーの皮膜を形成するのじ用いられる
方法を用いることができる。
例えば溶融押出し法(エクストル−ジョン法)、コーテ
ィング法、及びラミネート法ケ挙げることが出来る。
ィング法、及びラミネート法ケ挙げることが出来る。
溶融押出し法としてa1融解し友ポリマーを押出し機の
先端の線状のスリット金有するダイス(T−ダイ)から
フィルム状に押出すことにより、支持体上に酸素不透過
rfkヲ設ける方法が有利である。コーティング法とし
ては、ポリマーを水又は有機溶剤に溶解し、これを導電
層上に均一に塗布し熱風で乾燥する方法と、ポリマーの
エマルジョンを塗布・乾燥する方法がある。
先端の線状のスリット金有するダイス(T−ダイ)から
フィルム状に押出すことにより、支持体上に酸素不透過
rfkヲ設ける方法が有利である。コーティング法とし
ては、ポリマーを水又は有機溶剤に溶解し、これを導電
層上に均一に塗布し熱風で乾燥する方法と、ポリマーの
エマルジョンを塗布・乾燥する方法がある。
本発qAK於て、酸素不透過層は、プラスチックフィル
ムに設けた導電層上に直接設けてもよいし、該導電性層
上に別の機能の層を設け、その上に設けてもよい。
ムに設けた導電層上に直接設けてもよいし、該導電性層
上に別の機能の層を設け、その上に設けてもよい。
プラスチックフィルム上へ導電層を設けるKHl特に制
御11%はないが、たとえば特開昭30−117参67
、同60−/≠/3λ3、米国特許第Jl!$/JJ号
等に記載の方法ycより蒸着層ケ設けい。一般flct
rl、支持体となるプラスチックフィルムに直接あるい
は表面処理しで、金属を単独本しくに組合せて高膚空下
(友とえばto torr〜10 torr)
で間接抵抗加熱法あるいは電子ビーム加熱法により蒸発
させ、その蒸気を支持体表面に凝縮させて、金属又は金
1[化物の蒸着膜を支持体表面に形成させる。次いでこ
の膜を強制酸化させる。この強制酸化処理法と]7ては
、減圧下(たとえば、真空度1o torr−io
torr)、あるいt−r*素置換された減圧下(た
とえば、真空度/ Otorr 〜/ Otorr)で
のグロー放電;無電極放電及び大気圧下での陽極酸化、
有機酸化剤による酸化などがある。
御11%はないが、たとえば特開昭30−117参67
、同60−/≠/3λ3、米国特許第Jl!$/JJ号
等に記載の方法ycより蒸着層ケ設けい。一般flct
rl、支持体となるプラスチックフィルムに直接あるい
は表面処理しで、金属を単独本しくに組合せて高膚空下
(友とえばto torr〜10 torr)
で間接抵抗加熱法あるいは電子ビーム加熱法により蒸発
させ、その蒸気を支持体表面に凝縮させて、金属又は金
1[化物の蒸着膜を支持体表面に形成させる。次いでこ
の膜を強制酸化させる。この強制酸化処理法と]7ては
、減圧下(たとえば、真空度1o torr−io
torr)、あるいt−r*素置換された減圧下(た
とえば、真空度/ Otorr 〜/ Otorr)で
のグロー放電;無電極放電及び大気圧下での陽極酸化、
有機酸化剤による酸化などがある。
この蒸着層の電気抵抗値としては、帯電防止の目的から
表面抵抗率で1012Ω以下にする必要があり、’fi
rci o 10Ω以下であることが好ましい。
表面抵抗率で1012Ω以下にする必要があり、’fi
rci o 10Ω以下であることが好ましい。
本発明に於る導電層は、酸化によシ更に導電性が減少し
、光学濃度が低下しうる層である。導電層の厚さは、光
学濃度を上げないために、IO〜i、ooθオングスト
ロームであることが好ましいが%VCjO〜jOOオン
グストロームであることが好ましい。
、光学濃度が低下しうる層である。導電層の厚さは、光
学濃度を上げないために、IO〜i、ooθオングスト
ロームであることが好ましいが%VCjO〜jOOオン
グストロームであることが好ましい。
本発明の透明帯“電防正性マイルムの支持体としては、
例えばポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフ
タレート、ポリカーボネート、セルロースアセテート、
セルロースナイトレート、セルロースアセテートプロピ
オネート、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル、ポリエチレ
/、ポリプロピレンなどが使用しうる。
例えばポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフ
タレート、ポリカーボネート、セルロースアセテート、
セルロースナイトレート、セルロースアセテートプロピ
オネート、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル、ポリエチレ
/、ポリプロピレンなどが使用しうる。
支持体の厚さに特に制限はないが、lO〜300μ愼、
特KJO〜−〇〇μ集であることが好ましい。
特KJO〜−〇〇μ集であることが好ましい。
本発明の導電層及びWR1不透過層を有するプラスチッ
クフィルムは、ノ・ロゲン化鋏写真感光材料用支持体、
電子写真用支持体、オー/9−ヘッドプロジェクタ−用
フィルム支持体として用いうる、本発明のプラスチック
フィルムtノ・ロゲン化鋏写真感光材料用支持体として
用いる場合について述べる。
クフィルムは、ノ・ロゲン化鋏写真感光材料用支持体、
電子写真用支持体、オー/9−ヘッドプロジェクタ−用
フィルム支持体として用いうる、本発明のプラスチック
フィルムtノ・ロゲン化鋏写真感光材料用支持体として
用いる場合について述べる。
例えば、〜ポリエチレンテレフタレートフィルム上に蒸
着法により導電層を設け、その上Kll!素不遺過層を
設けた後、さらにハロゲン化銀乳剤層、中間層、表面保
護層等の写真層を設ける。
着法により導電層を設け、その上Kll!素不遺過層を
設けた後、さらにハロゲン化銀乳剤層、中間層、表面保
護層等の写真層を設ける。
又、1つの例は、ポリエチレンテレフタレートフィルム
上に上記の如く、導電層及び酸素不透過層を設け、反対
側の面に下11を介して写真層ケ設ける。
上に上記の如く、導電層及び酸素不透過層を設け、反対
側の面に下11を介して写真層ケ設ける。
写真層を構成する各穫素材、例えば親水性コロイドバイ
/グー、ハ【1ゲンイヒ銀粒子、カブリ防止剤、増感剤
、カラーカプラー、界面活性剤、硬膜剤、分光増感剤等
についても特に制限はなく、リサーチディスクロージャ
ー誌(ResearchDrsclosure)第17
01@2 /〜u P頁(/P7を年12月)の記載を
参考にすることが出来る。
/グー、ハ【1ゲンイヒ銀粒子、カブリ防止剤、増感剤
、カラーカプラー、界面活性剤、硬膜剤、分光増感剤等
についても特に制限はなく、リサーチディスクロージャ
ー誌(ResearchDrsclosure)第17
01@2 /〜u P頁(/P7を年12月)の記載を
参考にすることが出来る。
以下に実施例を挙げて説明するが本発明はこれに限定さ
れるものではない。
れるものではない。
実施例1゜
厚さlOOμのポリエチレンテレフタレートフィルムを
、真空度コX10 torr(D酸素雰囲気中のグ
ロー放電(放電出力zooW、z秒間)により表面活性
化処理をし、引続いて同−真空槽内代でチタ:yfjO
kの厚さに蒸着(蒸着源温度f17!O”C,真空度コ
×10 torr)l。
、真空度コX10 torr(D酸素雰囲気中のグ
ロー放電(放電出力zooW、z秒間)により表面活性
化処理をし、引続いて同−真空槽内代でチタ:yfjO
kの厚さに蒸着(蒸着源温度f17!O”C,真空度コ
×10 torr)l。
た。
更に同−真空槽内にて、酸素雰囲気中のグロー放電(真
空度zxio”””torr、放電出力10QW、処理
時間70秒)により強制酸化し、酸化チタン薄膜とした
。この時の酸化チタン薄膜の光学濃度はo、ojであり
薄膜の表面抵抗率7×10Ωであった。
空度zxio”””torr、放電出力10QW、処理
時間70秒)により強制酸化し、酸化チタン薄膜とした
。この時の酸化チタン薄膜の光学濃度はo、ojであり
薄膜の表面抵抗率7×10Ωであった。
こうして得られたフィルムの蒸着面にエパール(クラレ
■製の商品名)!ik水コOCX、メタノールJOCL
、プロ、Rノールzocr、の混合溶剤に溶解し、乾燥
働布量がlμになるようvc、m布し、乾燥した。
■製の商品名)!ik水コOCX、メタノールJOCL
、プロ、Rノールzocr、の混合溶剤に溶解し、乾燥
働布量がlμになるようvc、m布し、乾燥した。
酸化チタン蒸着のみの試料(A)と酸化チタン蒸着後エ
バーAlt−塗布した試料(B)とを温f参0′C1相
対湿度jo*RHの雰囲気中で強制経時試験を行い表面
抵抗率の変化をしらぺ几。結果は表面抵抗率の変化が小
さいことがわかる。
バーAlt−塗布した試料(B)とを温f参0′C1相
対湿度jo*RHの雰囲気中で強制経時試験を行い表面
抵抗率の変化をしらぺ几。結果は表面抵抗率の変化が小
さいことがわかる。
実施例2
厚さlOOμのポリエチレ/テレフタレートフィルム支
持体表面を、真空度jx10 torrの酸素雰囲
気中のグロー放電(放電比カフ40W。
持体表面を、真空度jx10 torrの酸素雰囲
気中のグロー放電(放電比カフ40W。
1秒間)により表面活性処理を施し引続いて、同一真空
槽内にてスズを真空度j×10 torrの酸素雰
囲気中で蒸着(蒸着源温度lコア0 ”C。
槽内にてスズを真空度j×10 torrの酸素雰
囲気中で蒸着(蒸着源温度lコア0 ”C。
膜厚ro人)せしめ友。jll同−真空槽IE3ICで
、酸素雰囲気中のグロー放電(真空度!×10 to
rr。
、酸素雰囲気中のグロー放電(真空度!×10 to
rr。
放電出力zooW、放電時間λ参秒)Kより強制酸化せ
しめ酸化スズの薄膜を形成させた。
しめ酸化スズの薄膜を形成させた。
この時の酸化スズ蒸着薄膜の光学濃度は0.0Jであシ
薄膜の表rki抵抗率は、!×10’Ωであった。
薄膜の表rki抵抗率は、!×10’Ωであった。
この蒸着層に、エバールコtを水JにIcc、メタノー
ルコOal:、プロパツールよocco混台浴剤に溶解
し、乾燥塗布厚が0.jμになるように塗布し、乾燥し
た。
ルコOal:、プロパツールよocco混台浴剤に溶解
し、乾燥塗布厚が0.jμになるように塗布し、乾燥し
た。
蒸着面と反斜面にはゼラチン下fXkをし、更に間接X
−レイ用ハロゲン化銀4真乳剤を塗布し、感光性写真フ
ィルムとした。このフィルムのエパール向に電&をあて
表面抵抗量を測定した結果3×io”Ωであった。これ
を21 ’C,Aj俤RHの雰囲気中へコケ月放置して
おき、再度表面抵抗高を測足し九結果、何ら変化はみら
れなかつ九。
−レイ用ハロゲン化銀4真乳剤を塗布し、感光性写真フ
ィルムとした。このフィルムのエパール向に電&をあて
表面抵抗量を測定した結果3×io”Ωであった。これ
を21 ’C,Aj俤RHの雰囲気中へコケ月放置して
おき、再度表面抵抗高を測足し九結果、何ら変化はみら
れなかつ九。
%許出願人 富士与臭フィルム株式会社手続補正書(7
j劃 昭和17年 155/〆(I 特許庁長官 島 1)春 樹 殿 1、事件の表示 昭和!1年特願第11/λり3
号2、発明の名称 帯電防止され九プラスチックフィ
ルム3、補正をする者 事件との関係 特許出願人件 所 神奈
川県南足柄市中沼210番地表 補正指令書の日付
昭和54年λ月参日& 補正の対象 明細書 1 補正の内容 明細書の浄書(内容に変更なし)を提出致します。
j劃 昭和17年 155/〆(I 特許庁長官 島 1)春 樹 殿 1、事件の表示 昭和!1年特願第11/λり3
号2、発明の名称 帯電防止され九プラスチックフィ
ルム3、補正をする者 事件との関係 特許出願人件 所 神奈
川県南足柄市中沼210番地表 補正指令書の日付
昭和54年λ月参日& 補正の対象 明細書 1 補正の内容 明細書の浄書(内容に変更なし)を提出致します。
Claims (1)
- 表面抵抗率が7612Ω以下の金lI4酸化物よりなる
導電層及び酸素透過率が一〇 m/−2qh r−at
m(コ0@(:1 ≠04RH)以下の層を有すること
t%黴とするプラスチックフィルム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56161293A JPS5862040A (ja) | 1981-10-09 | 1981-10-09 | 帯電防止されたプラスチツクフイルム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56161293A JPS5862040A (ja) | 1981-10-09 | 1981-10-09 | 帯電防止されたプラスチツクフイルム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5862040A true JPS5862040A (ja) | 1983-04-13 |
Family
ID=15732349
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56161293A Pending JPS5862040A (ja) | 1981-10-09 | 1981-10-09 | 帯電防止されたプラスチツクフイルム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5862040A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50156588A (ja) * | 1974-06-10 | 1975-12-17 | ||
| JPS548670A (en) * | 1977-06-22 | 1979-01-23 | Teijin Ltd | Formation of transparent conductive coating |
| JPS5512927A (en) * | 1978-07-12 | 1980-01-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Electrostatic recorder |
| JPS55135817A (en) * | 1979-04-12 | 1980-10-23 | Seiko Epson Corp | Plastic substrate for display element |
-
1981
- 1981-10-09 JP JP56161293A patent/JPS5862040A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50156588A (ja) * | 1974-06-10 | 1975-12-17 | ||
| JPS548670A (en) * | 1977-06-22 | 1979-01-23 | Teijin Ltd | Formation of transparent conductive coating |
| JPS5512927A (en) * | 1978-07-12 | 1980-01-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Electrostatic recorder |
| JPS55135817A (en) * | 1979-04-12 | 1980-10-23 | Seiko Epson Corp | Plastic substrate for display element |
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