JPS5873880A - 絶縁抵抗測定方法 - Google Patents

絶縁抵抗測定方法

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JPS5873880A
JPS5873880A JP17259681A JP17259681A JPS5873880A JP S5873880 A JPS5873880 A JP S5873880A JP 17259681 A JP17259681 A JP 17259681A JP 17259681 A JP17259681 A JP 17259681A JP S5873880 A JPS5873880 A JP S5873880A
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JP
Japan
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voltage
insulation resistance
wave
frequency component
leakage current
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JP17259681A
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JPH0312259B2 (ja
Inventor
Tatsuji Matsuno
松野 辰治
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Toyo Communication Equipment Co Ltd
Original Assignee
Toyo Communication Equipment Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/025Measuring very high resistances, e.g. isolation resistances, i.e. megohm-meters

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は活線状態もしくは非油−状態で電路等の絶縁抵
抗を検出する方法に関する。
従来変圧器の第2柚接地細管して、銅11定用信号であ
る低胸波電圧の印加されたトランスのコアを貫通せしめ
るか、または第2種接地縁を切断し、これに低周波電比
を印加するかの方法によりこの接地線を通して電路に低
周波電圧全印加し、接地線に帰還するth8市#L全検
出し、この漏洩電流(商用周波数成分と印加した四周波
成分の両者からなる。)中に含まれるカ゛縄波成分の有
効分(電路や負荷の対地浮遊容量によって生ずる電流は
無効分であり電路や負荷の絶縁抵抗によって生ずる印加
電圧と同相成分の電流が即ち有効分である。)を同M検
波もしくはかけ算演算等の操作を経て検出し絶縁姐拐(
1i+に逆比例した電圧1に得て、これにより絶縁想拐
を測定する方法や低絢am圧t−接地線でなく電路に後
述の方法で印加する方法等各柚の方法が提案されている
。   □ しかしこれら従来の方法には、漏洩電流の中から商用周
波成分と印カロしたt両波成分を分離するフィルタ、高
精度な有効分検出回路郷を必要とする欠点があった。本
発明の方法は極めて簡単に絶縁抵抗を測定する新しい方
法?提案するものである。
第1園は電路の集成を簡単に説明する図であリ、同一は
単相24)+1の場合を示しているが、本発明はこれに
限定されない。高圧回路2 、2”i1次側とする高圧
変圧器TOIの2次側は第2株接地線ELで接地されて
いる。寒路1,3には対地浮遊容量Cと絶縁抵抗Rがあ
る。接地縁ELは低周波の矩形波電圧を発振する発振器
O8Cの発振トランスTooまたは低絢波の矩形波電圧
の印加されたトランスのコアを貫通(単に貫通あるいは
数ターン巻装して貰A)している。
、また接地l1IllELは漏洩1に流検出用のカレン
トプローブCDを貫通(率に貫通あるいは数ターン巻装
して貫通)している。またこれらの関係は電路1.1”
i)ランスTooならひにカレントプローブCDを貫通
させても同じ結果の得られることは明らかである。
wJ2図は第1図の等価回路であるが、商用周波成分の
動勢は無視して示しである。これについては後述する。
rは低勉波印加回路の出力インピーダンスである。矩形
波発振器O8Cの負相特性をラプラス1換してH(81
とし、その電流のインディシャル応答を求めると次の如
くなる。
ただし矩形波パルスの振幅iEとしている。
’FL>rとすれば 第3図は入力波形V (t+に対するインディシャル応
答i 1(t)を示す。
一般KrO値は十分低く出来る(例えば数Ω)うえ、C
の値は大きくても島々10μ)&1度のため定数Crは
数m、’s、ec以下となる。また入力波形V(t)O
t = 11 テ(D’立下t) tllRa形i 2
(t) Ia属      l となる。
i 1(tl+ i 2(11の直流分を算出すれば−
となるととは明らかである。
したがって、時定数Cγにくらべて十分に時間t1が大
きければ、第4図の■の如く入力V(tlとしてtlを
半胸期とする(即ちit”)m鵞 期Tのくりかえし矩形波信号を選びこれ全印加すれば、
第4図の■の如き応答電流波形を得ることができる。第
4図のO)の電流波形の1周期Tの直流分は零となる。
したがって1=0からt=−までの半周期の電流波形i
 5(11Fiとなる。’ro<−としてi=oからt
=TOまでのi 5(t)の積分値Aを求めると(積分
定数をKOとする。)、 c r < t、とすれば一般にn>rなることがら同
様Kt=・からi’==7.(y、≦T)までのi 3
(11の積分値Bを求めると ところで、実際の活鯉状態では漏洩電流中には電流波形
1B(tl以外に商用周波成分による漏f!1.電流が
含まれている。例えば第1図の単相zlk回路の電路電
圧voボルトとし、燭波数をfoとすれば、商用周波成
分による電流14(tlは、・0=2πfoとすると となシ、検出期間である1=0〜−内の電流はi 5(
t)+ i 4(t)となる。
ところで、上記■、■における積分時間TQまたはTl
t曲用周波成分の基本周期1/foの整数倍にしておく
ならば は零となりi 5(tl+ i 4(tlのt=〒Oま
たはj = T %までの積分値A、まfcriBへの
商用周波数成分の影響のなくなることは明らかである。
即ち検出電流i 5(tl+ i 4(tlから商用周
波成分をフィルタ等で除去する必要はなくなる。またた
とえ、漏洩電流中に商用周波成分以外に商用周波成分の
高調波成分が含まれていても〒O゛もしくはTtt”商
用周波成分の基本周期の整数倍にしておけば上述の平均
値にFi例ら4替はなくなる。上記説明では単相2Iw
式の場合を0式で示したのであったが、単相3紐、3相
3線等の回路でも[相]式は上述と異なったものにな2
”が、上記条件の下では上述の平均値への影◆はなくな
る。
さてCR(T0まfcはCR(□τ1であるならば、■
、または0式で表わされる平均値A、Bで絶縁抵抗を直
ちに算出測定することができる。
A  →  □ ・ □ sKg     R ■ T1 B  →  □ ・ − ル◎    翼 しかし、例えばc=10 itk’ 、 R=100に
Ωのときではcm=1[秒〕となり、0式を満たすため
O!@またはT1に数10秒のものが必要となりこのよ
うな低い周波数の矩形波電圧を電路にトランス結合等で
印加する場合困難を伴う。この間wA¥を次の如く解決
する。
■、■式から となる。、To 、 ’?”’7fl、を固定値とすれ
は、A、Bを算出することによ、9CItとは無関係に
0式によ9絶縁抵抗に逆比例した値□t−l+i Mす
ることR ができる。
例えば 〒1= 2 T oに選定すれば[相]式はと
なる。
また に比例する値が得られる。このとき〒1−TOは商用周
波成分周期の整数倍であればよく、T0゜T1 は商用
周波成分周期の整数倍でなくてもよいO 第5図は本発明の1実施例を示している。第1図の記号
と同一部分については説明を省略する。商用電圧回路4
に分圧トランスtowを接続し降圧した後、波形整形回
路WSで波形整形し矩形波列t−得る。商用周波数f 
o =50 HZのときVv8の出力の周期1 / f
 oは20晶3となり、これを分周器DIVで例えt!
l/4に分周して1.圧注入回路08に加え、この出方
を接地線ELもしくは電路1,3t−貫通するトランス
Toof介して第4図の■で示される矩形波信号を印加
する。接地線ELK帰還する漏洩電流は例えば電流検出
プローブCDで検出し、増幅器Ah/1Pで増幅すれは
、AMPの出力にはw、4図の■で示される電流波形と
商用周波成分の漏洩電流成分の加算されたものが得られ
るO AMPの出力は積分器I N ’1” E Gに導びか
れる。
例えば0式で説明したように積分器lNT12Gの積分
時間を〒1−〒0とし、かつこの積分時間を商用周波成
分周期の整数倍に選び、仁こでは〒1−〒o−1 / 
f oとする。これらの関係は第4図の過シでおる。第
4図の■は曲用胸波成分波形を意味する。j−’:TQ
から積分を開始して上述の積分時間T1で積分を終了す
るように、分周器DIV出力を制御信号発生器CUNT
に加え、積分−始・終了を制御する信号INTで積分器
を制御する。かくしたとき積分器INTEGの出力とし
て#E4−■の出力波形が得られる。第4図の1=T4
における積分値は9式のB−Aに相当する。積分器出力
1i=74の時刻のみにスイッチSWI tオンしてコ
ンデンサC1とバッファ・アンプBFからなるホルダー
に記憶させた後t=〒3で積分器をリセット信号RES
ETでリセットする(?4<T3<〒)。
このような操作を崗期Tで(り返せば、バッファアンプ
HF出力には第4図の■゛゛の波形が得られ、これを抵
抗”2wコンデンサC2からなるローパスフィルタを通
すことにより出力OUTには絶縁抵抗値に逆比例した電
圧を得ることができ、これにより絶縁抵抗11411定
することができる。
なお、電路への低周波矩形波電圧の印加に当ってはトラ
ンス結合でもまた、例えば接地線ELi切断しこれに直
列に印加する処tz−とってもよい。また漏洩電流の検
出に当っては零相変流器を使用してもよいし、必景に応
じては接地−に直列に揖抗會挿入しこれの両端電圧を検
出してもよい。
本方法は活線状態で絶縁測定を可能にする長所を有する
が、これを停電状態で動作させるためには、第5図の各
回路金バッテリーで動作させると共に波形整形回路WS
の入力に商用周波数に相当する周波数の発伽器1を接続
すれはよい。
本発明の方法は極めて簡易であるがその測定精度は高く
、工業上の価値は大なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は−j定の鴇成例を示す図。 $2図は翻意系′f)郷価回路を示す図。 第3図は第2図の等価回路のインティシャル応答を示す
図。 第4図は各部の波形管示す図。 第5図は本発明の実施例を示す図。 〒oo  : ト□ランス 1み ”ol  :  トランス tow  :分圧トランス R:絶縁抵抗 C:対地浮遊容量 Z  :負 荷 O8=電圧注入回路 CD :電流検出プローブ 1.3,4:低圧電路 2  :高圧電路 W8 :波形整形回路 DIV :分周器 AMP :増幅器 INTEG:積分器 8W1  :スイッチ OSC:矩形波発珈器 C0NT:制御信号発生器 特許出願人  東洋通信機株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 変圧器の接地線を通じて電路に測定信号である低周波の
    矩形波電圧を電磁鋳導によりまたは直列結合によって印
    加し、該接地線に帰還する漏洩電流を検出して該電路の
    絶縁抵抗を測定する方法において該低周波の矩形波電圧
    に同期してその各半胸期の区間について、核漏洩電流を
    商用周波数成分の基本胸期の整数倍からなる秋分時間で
    積分することにより絶縁#A抗會算出淘」定することを
    特徴とする絶縁抵扮模11定方法。
JP17259681A 1981-10-27 1981-10-27 絶縁抵抗測定方法 Granted JPS5873880A (ja)

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JP17259681A JPS5873880A (ja) 1981-10-27 1981-10-27 絶縁抵抗測定方法

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JP17259681A JPS5873880A (ja) 1981-10-27 1981-10-27 絶縁抵抗測定方法

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JPS5873880A true JPS5873880A (ja) 1983-05-04
JPH0312259B2 JPH0312259B2 (ja) 1991-02-19

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230000730A (ko) * 2021-06-25 2023-01-03 충북대학교 산학협력단 절연 감시 장치 및 측정 오류를 개선하는 방법

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5433769A (en) * 1977-08-19 1979-03-12 Masami Fujii Method of measuring deeply buried earth electrode

Patent Citations (1)

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