JPS58743A - 傷検査装置 - Google Patents
傷検査装置Info
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- JPS58743A JPS58743A JP9832781A JP9832781A JPS58743A JP S58743 A JPS58743 A JP S58743A JP 9832781 A JP9832781 A JP 9832781A JP 9832781 A JP9832781 A JP 9832781A JP S58743 A JPS58743 A JP S58743A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、例えば薬剤カプセルの如き円筒物体を光学
的にヘリカルスキヤンして傷の有無を検査する傷検査装
置に関するものである。
的にヘリカルスキヤンして傷の有無を検査する傷検査装
置に関するものである。
第１図（１）は正常に動作している従来の傷検査装置を
示す斜視図である。同図において、被検査物体である円
筒物体４は、矢印Ｂ方向に回転する回転ロー？５により
回転駆動されながら矢印入方向に送られているものとす
る。一方、円筒物体４に対して照明装置２．３より光が
照射されており、円筒物体４上の成る一点からの反射波
が光電センｔｌＫ入力し、そこで電気信号に変換される
。すなわち光電センサｌから得られる出力信号は、円筒
物体４０周辺をヘリカルスキャンした結果得られた信号
であると云える。
示す斜視図である。同図において、被検査物体である円
筒物体４は、矢印Ｂ方向に回転する回転ロー？５により
回転駆動されながら矢印入方向に送られているものとす
る。一方、円筒物体４に対して照明装置２．３より光が
照射されており、円筒物体４上の成る一点からの反射波
が光電センｔｌＫ入力し、そこで電気信号に変換される
。すなわち光電センサｌから得られる出力信号は、円筒
物体４０周辺をヘリカルスキャンした結果得られた信号
であると云える。
このよ５Ｋして光電センｆ１から得られる出力信号の波
形は、円筒物体４０周辺に例えばピンホールのよ５な傷
Ｐがあったとすると、その部分からの反射光量は他の正
常部分からの反射光量に比して非常に少なくなるので、
第１ｗＡ（ｂ）Ｋ示す如くなる。すなわち第１図〜）Ｋ
おける変化点Ｐ′が円筒物体４の傷ＰＫ起因する出力変
化を示している。
形は、円筒物体４０周辺に例えばピンホールのよ５な傷
Ｐがあったとすると、その部分からの反射光量は他の正
常部分からの反射光量に比して非常に少なくなるので、
第１ｗＡ（ｂ）Ｋ示す如くなる。すなわち第１図〜）Ｋ
おける変化点Ｐ′が円筒物体４の傷ＰＫ起因する出力変
化を示している。
そこで光電セン＋１からの出力信号を微分すると、第１
図（Ｃ） Ｋ示す出力波形が得られ、傷ＰＫ対応する信
号変化Ｐ′の検出が容易となる。円筒物体４０周辺に傷
がなければ、このような信号変化Ｐ′は検出されないか
ら、肯該円筒物体は傷のないＪ１品と判定される。
図（Ｃ） Ｋ示す出力波形が得られ、傷ＰＫ対応する信
号変化Ｐ′の検出が容易となる。円筒物体４０周辺に傷
がなければ、このような信号変化Ｐ′は検出されないか
ら、肯該円筒物体は傷のないＪ１品と判定される。
所が従来の傷検査装置において、円筒物体を駆動するは
ずの回転ローラ５が、第２図（１）において示すように
、故障のため回転しないか、或いは円筒物体４が異形状
のため回転しない場合には、円筒物体４が矢印入方向に
通過しても、円筒物体の周辺をヘリカルスキャンして全
面検査したことにはならない。
ずの回転ローラ５が、第２図（１）において示すように
、故障のため回転しないか、或いは円筒物体４が異形状
のため回転しない場合には、円筒物体４が矢印入方向に
通過しても、円筒物体の周辺をヘリカルスキャンして全
面検査したことにはならない。
しかじ光電センサ１の出力信号は第２図（ｂ）に示す如
く異常の見られない平坦な波形となり、従ってその微分
出力も第２図（Ｃ） Ｋ示す如く信号変化を含まないか
ら、ｍ＃円筒物体の周辺を全面検査したわけでもないの
罠、尚諌円筒物体を嵐品と判定してしまう恐れが従来の
傷検査装置にはあった。
く異常の見られない平坦な波形となり、従ってその微分
出力も第２図（Ｃ） Ｋ示す如く信号変化を含まないか
ら、ｍ＃円筒物体の周辺を全面検査したわけでもないの
罠、尚諌円筒物体を嵐品と判定してしまう恐れが従来の
傷検査装置にはあった。
この発明は、上述の如き従来の傷検査装置の欠点を除去
するため罠なされたものであり、従ってこの発明の目的
は、回転ローラが回転していないにもかかわらず、被検
査物体である円筒物体を良品と速断することのないよう
Ｋした傷検査装置を提供することにある。
するため罠なされたものであり、従ってこの発明の目的
は、回転ローラが回転していないにもかかわらず、被検
査物体である円筒物体を良品と速断することのないよう
Ｋした傷検査装置を提供することにある。
この発明の構成の要点は、被検査物体の傷の有−を検出
する回路のほか、被検査物体の回転の有無を検出する一
路を備え、両崗路の検出結果により被検査物体の良否の
判定を行なう構成とした点にある。
する回路のほか、被検査物体の回転の有無を検出する一
路を備え、両崗路の検出結果により被検査物体の良否の
判定を行なう構成とした点にある。
次に図を参照してこの発明の一実施例を説明する。
第３図はこの発明の一実施例を示すブロック図である。
同図において、６は信号増幅用アンプ、７は傷検知回路
、８は回転検知回路、９は総合判定囲路、１０は不嵐品
排出部、であり、その他、第１１ｍ！、第２ＨＫおける
のと同じｉ号は同一・物を指す。
、８は回転検知回路、９は総合判定囲路、１０は不嵐品
排出部、であり、その他、第１１ｍ！、第２ＨＫおける
のと同じｉ号は同一・物を指す。
第３図において、被検査物体である円筒物体４は回転ロ
ーラ５によって回転させられながら進む。
ーラ５によって回転させられながら進む。
円筒物体４は照明装置２，３により照明され、その照明
された個所の明るさの変化な光電センす１によって電気
信号に変換する。この光電センサ１の出力を信号増幅用
アンプ６において増幅し、傷検知回路７と回転検知回路
８に入力する。傷検知回路７は傷の有無を検知してその
ｌｌＩ果を鱒倉判定回路９に出力し、回転検知回路８は
円筒物体４０回転の有無を検知してその結果を総会判定
回路９に出力する。Ｉｌ会判定回路９では、回転検知回
路６からの出力が「回転有」の場合のみ、傷検知回路７
の出力を有効と判晰し、「回転有」で「傷有」の場合に
は不ｊＬＩ＆排出部１０へ指令を発してＩＡ咳円筒物体
を不棗品として排出させる。
された個所の明るさの変化な光電センす１によって電気
信号に変換する。この光電センサ１の出力を信号増幅用
アンプ６において増幅し、傷検知回路７と回転検知回路
８に入力する。傷検知回路７は傷の有無を検知してその
ｌｌＩ果を鱒倉判定回路９に出力し、回転検知回路８は
円筒物体４０回転の有無を検知してその結果を総会判定
回路９に出力する。Ｉｌ会判定回路９では、回転検知回
路６からの出力が「回転有」の場合のみ、傷検知回路７
の出力を有効と判晰し、「回転有」で「傷有」の場合に
は不ｊＬＩ＆排出部１０へ指令を発してＩＡ咳円筒物体
を不棗品として排出させる。
第４１ｍは傷検知回路７の構成例を示す回路図、ｊＩｓ
図は第４図における条部信号のタイ建ングチャート、で
ある。
図は第４図における条部信号のタイ建ングチャート、で
ある。
第４図において、１１は微分器、１２．１３はそれぞれ
比較器、１４は例えば単安定マルチバイブレータの如き
タイｆｆ−，１５はカウンタ、１６はディジタル比較器
、である。
比較器、１４は例えば単安定マルチバイブレータの如き
タイｆｆ−，１５はカウンタ、１６はディジタル比較器
、である。
第４図、第５図を参照して動作を説明する。光電センす
から増幅用アンプを介して送られてくる出力信号■は微
分器１１に入力されて微分される。
から増幅用アンプを介して送られてくる出力信号■は微
分器１１に入力されて微分される。
出力信号■に、［５図において見られるように、傷信号
が含まれていると、その微分出力＠は、同じく第５図に
示される如き波形となる。この微分出力＠を比較器１３
において成る基準電圧Ｔ’）−１１と比較して２値化す
ると、インバータＩを介して、第５図に示す如き立上り
信号θが得られる。他方、微分出力＠を比較器１２にお
いて他の基準電圧ＴＨ！と比較して２値化すると、第５
図に示す如き立下り信号Ｏが得られる。更にこの立下り
信号Ｏの立下りエツジで、例えば単安定マルチパイブレ
ー貞から成るタイマー１４を動作させると、第５図に示
す如きタイマー出力のが得られる。このタイマー出力の
と立上り信号θの論理積をアンドゲートＡから出力する
と、これが第５図に見られる如き傷検知信号θであり、
カウンタ１５に入力される、つまり円＃愉体に、ピンホ
ールのような傷があると、その個所からは光の反射量が
少なくなるので光電センサの出力が変化するから、この
変化を傷検知回路で検出しているわけである。
が含まれていると、その微分出力＠は、同じく第５図に
示される如き波形となる。この微分出力＠を比較器１３
において成る基準電圧Ｔ’）−１１と比較して２値化す
ると、インバータＩを介して、第５図に示す如き立上り
信号θが得られる。他方、微分出力＠を比較器１２にお
いて他の基準電圧ＴＨ！と比較して２値化すると、第５
図に示す如き立下り信号Ｏが得られる。更にこの立下り
信号Ｏの立下りエツジで、例えば単安定マルチパイブレ
ー貞から成るタイマー１４を動作させると、第５図に示
す如きタイマー出力のが得られる。このタイマー出力の
と立上り信号θの論理積をアンドゲートＡから出力する
と、これが第５図に見られる如き傷検知信号θであり、
カウンタ１５に入力される、つまり円＃愉体に、ピンホ
ールのような傷があると、その個所からは光の反射量が
少なくなるので光電センサの出力が変化するから、この
変化を傷検知回路で検出しているわけである。
この傷知信号θをカウンタ１５でカウントし、そのカウ
ント結果をディジタル比較器１１１において成る基準値
と比較し、基準値を越えていれば傷有と判定し、越えて
いなければ偏熱と判定し、その結果を出力する。
ント結果をディジタル比較器１１１において成る基準値
と比較し、基準値を越えていれば傷有と判定し、越えて
いなければ偏熱と判定し、その結果を出力する。
第６図は翻転検知回路８の構成例を示す回路図、１１１
７１０は第６１１における各部信号のタイミングチャー
ト、である。
７１０は第６１１における各部信号のタイミングチャー
ト、である。
禦６図において、１７は微分器、１８は比較器、１９は
単安定マルチバイブレータの如きタイマー、２・はカウ
ンタ、２１はディジタル比Ｉ！器、である。
単安定マルチバイブレータの如きタイマー、２・はカウ
ンタ、２１はディジタル比Ｉ！器、である。
第６図、第７図を参照して動作を説明する。充電セン量
から増幅用アンプを介して送られてくる出力信号のは微
分ｉ１１７に入力されて微分される。
から増幅用アンプを介して送られてくる出力信号のは微
分ｉ１１７に入力されて微分される。
この微分出力＠は、第７図に見られるように、円筒物体
の側転によるゆらｒＫ起因して１円筒物体の回転周波数
に応じたレベル変動を含んでいる。
の側転によるゆらｒＫ起因して１円筒物体の回転周波数
に応じたレベル変動を含んでいる。
この微分出力＠を比較器１８において成る基準値ＶＴＨ
と比較して２値化すると、インバータＩを介して第７図
に示す如き比較器出力θが得られる。
と比較して２値化すると、インバータＩを介して第７図
に示す如き比較器出力θが得られる。
この比ＩＩＲＩＩ出力θは、円筒体の回転周波数に応じ
た繰り返し周波数をもつパルス列信号となる。比較器出
力θの各パルスの立下りエツジで、例えばモノＴルチバ
イブレータからなるタイマー１９を動作させると、第７
図に示す如きタイマー出力＠が得られる。タイマー出力
Ｏと比較器出力θの論理積出力をアンドゲートＡから出
力し、カウンタ２０への入力のを第７ｍＫ示す如く得る
。カウンタ２０ではこの人力信号をカウントし、カウン
ト結果はディジタル比較１１２１において成る基準値と
比較され、基準値を越えていれば円筒物体の回転有、越
えていなければ回転無と判定し、判定結果が出力される
。
た繰り返し周波数をもつパルス列信号となる。比較器出
力θの各パルスの立下りエツジで、例えばモノＴルチバ
イブレータからなるタイマー１９を動作させると、第７
図に示す如きタイマー出力＠が得られる。タイマー出力
Ｏと比較器出力θの論理積出力をアンドゲートＡから出
力し、カウンタ２０への入力のを第７ｍＫ示す如く得る
。カウンタ２０ではこの人力信号をカウントし、カウン
ト結果はディジタル比較１１２１において成る基準値と
比較され、基準値を越えていれば円筒物体の回転有、越
えていなければ回転無と判定し、判定結果が出力される
。
以上説明したように１本発ｌｌＫよる傷検査装置におい
ては、円筒体の傷検知と回転検知を行ない、傷を検出せ
ず回転検知した場合のみ被検査物体を嵐晶と判定する。
ては、円筒体の傷検知と回転検知を行ない、傷を検出せ
ず回転検知した場合のみ被検査物体を嵐晶と判定する。
それ以外は不良であると判定し、不良品排出部１０で不
良側へ排出する。
良側へ排出する。
この発明によれば、傷検知回路に回転検知回路を組み合
わせた構成としたために１正常に回転しない円筒物体は
、不良であると判定できるようになった。つまり、円筒
物体がつぶれてうまく回転しない時でも回転検知回路で
回転を検知できないので不良と判定できる。
わせた構成としたために１正常に回転しない円筒物体は
、不良であると判定できるようになった。つまり、円筒
物体がつぶれてうまく回転しない時でも回転検知回路で
回転を検知できないので不良と判定できる。
今までの説明は、反射光センサを用いて不透明な物質か
ら成る円筒物体を検査する場合について述べたが、遣嘴
な物質から成る円筒物体でも岡じよ５に検査できる。透
明な円筒物体の場合は、傷検知回路の構成が着干異なり
、立上り信号でタイマーを作動してゲート信号を作り、
立下り信号との論理積で傷検知信号をつくる。つまり透
明な円筒物体に大がおいていると穴のふちでのみ光が反
射してきてこの信号をつかまえることになる。また、透
過光センサでも同じような考え方で検査性能を上げるこ
とができる。
ら成る円筒物体を検査する場合について述べたが、遣嘴
な物質から成る円筒物体でも岡じよ５に検査できる。透
明な円筒物体の場合は、傷検知回路の構成が着干異なり
、立上り信号でタイマーを作動してゲート信号を作り、
立下り信号との論理積で傷検知信号をつくる。つまり透
明な円筒物体に大がおいていると穴のふちでのみ光が反
射してきてこの信号をつかまえることになる。また、透
過光センサでも同じような考え方で検査性能を上げるこ
とができる。
第１図（及）は正常に動作している従来の傷検査装置を
示す斜視図、同図（ｂ）は同図（りＫおける光電センサ
の出力波形図、同図（Ｃ）は同出力波形の微分波形図、
露２図（Ｊｌ）は回転ローラが停止した場合の従来の傷
検査装置を示す斜視図、第２図（ｂ）は第２図（１）Ｋ
おける光電センサの出力波形図、第２図（Ｃ）は同出力
波形の微分波形図、第３図はこの発明の一実施例を示す
ブロック図、第４図は第３図における傷検知回路７の構
成例を示す回路図、第５図は第４図における各部償号の
タイミングチャート、第６図は嬉３図における回転検知
回路８の構成例を示す回路図、第７図は第６図における
各部信号のタイミングチャート、である。 符号説明 １・・・光電センす、２，３・・・照明装置、４・・・
円筒物体、５・・・回転ローラ、６・・・信号増幅用ア
ンプ、７・・・傷検知回路、８・・・回転検知回路、９
・・・総会判定回路、１０・・・不良品排出部、１１，
１７°°“微分器、１２，１３．１８・・・比＠５．１
４．１９・・・りイマー、１５，２０・・・カウンタ、
１．６ 、２１・・・ディジタル比較器 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 根 崎 清 第１図 （（１） （ｂ） ρ′ （Ｃ） 第２図 （Ｇ） （ｂ） （Ｃ）
示す斜視図、同図（ｂ）は同図（りＫおける光電センサ
の出力波形図、同図（Ｃ）は同出力波形の微分波形図、
露２図（Ｊｌ）は回転ローラが停止した場合の従来の傷
検査装置を示す斜視図、第２図（ｂ）は第２図（１）Ｋ
おける光電センサの出力波形図、第２図（Ｃ）は同出力
波形の微分波形図、第３図はこの発明の一実施例を示す
ブロック図、第４図は第３図における傷検知回路７の構
成例を示す回路図、第５図は第４図における各部償号の
タイミングチャート、第６図は嬉３図における回転検知
回路８の構成例を示す回路図、第７図は第６図における
各部信号のタイミングチャート、である。 符号説明 １・・・光電センす、２，３・・・照明装置、４・・・
円筒物体、５・・・回転ローラ、６・・・信号増幅用ア
ンプ、７・・・傷検知回路、８・・・回転検知回路、９
・・・総会判定回路、１０・・・不良品排出部、１１，
１７°°“微分器、１２，１３．１８・・・比＠５．１
４．１９・・・りイマー、１５，２０・・・カウンタ、
１．６ 、２１・・・ディジタル比較器 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 根 崎 清 第１図 （（１） （ｂ） ρ′ （Ｃ） 第２図 （Ｇ） （ｂ） （Ｃ）
Claims (1)
- １）回転しながら送られる円筒物体に光を照射すること
Ｋより皺物体＊＊をヘリカルスキャンし、その反射光な
光電センサにより電気信号に変換して出力し、該出力液
形を処理することによって前記円筒物体表両の傷の有無
を判定する傷検査装置であって、センナ出力を微分する
微分回路と、微分出力を第４および第２の各しきい値に
よりスライスして得られる第１および第２の出力の連続
発生タイオングから傷の有無を検出する第１の検出回路
と、前記微分出力を第３のし館い値によりスライスして
得られる第３の出力におけるパルス列の周期性から円筒
物体の回転の有無を検出する第２の検出回路とを有して
成り、前記第１の検出回路により傷を検出せず、第２の
検出回路により回転有を検出したときのみ、円筒物体を
東品と判定するようにしたことを特徴とする傷検査装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9832781A JPS58743A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 傷検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9832781A JPS58743A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 傷検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58743A true JPS58743A (ja) | 1983-01-05 |
| JPS6355653B2 JPS6355653B2 (ja) | 1988-11-04 |
Family
ID=14216803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9832781A Granted JPS58743A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 傷検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58743A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59226974A (ja) * | 1983-06-09 | 1984-12-20 | Fuji Electric Co Ltd | 外観検査装置 |
-
1981
- 1981-06-26 JP JP9832781A patent/JPS58743A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59226974A (ja) * | 1983-06-09 | 1984-12-20 | Fuji Electric Co Ltd | 外観検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6355653B2 (ja) | 1988-11-04 |
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