JPS5884571A - 周波数位相特性又は伝達関数の測定方式 - Google Patents
周波数位相特性又は伝達関数の測定方式Info
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- JPS5884571A JPS5884571A JP56183443A JP18344381A JPS5884571A JP S5884571 A JPS5884571 A JP S5884571A JP 56183443 A JP56183443 A JP 56183443A JP 18344381 A JP18344381 A JP 18344381A JP S5884571 A JPS5884571 A JP S5884571A
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ビデオテープレコーダ(Vi’RJ等の配縁
又は伝送系の周波数位相特性測定方式に関てるものであ
る。
又は伝送系の周波数位相特性測定方式に関てるものであ
る。
Vl”ltK於いて、ビデオ信号中の輝度信号を丁、F
Mf調されてテープ上に記録され再生されるが、画像の
質は主として、 ■ テープヘッド系及びアンプ系のノイズ、■ テープ
ヘッド系及びアンプ系のMll波数振輸特性、 ■ テープヘッド系及びアンプ糸の胸波数位相%性、 の影*v受け、画像の’1itv良くするたr+に(言
、上記の特性を良好にしなければならない。ところが、
上記■と■の特性の#11足は容易であり、従って特性
を改害することも困難で目ないが、■の周波数位相q#
性の測定は因−であり、この%性改IIv適確に行うこ
とも1離であつ次。
Mf調されてテープ上に記録され再生されるが、画像の
質は主として、 ■ テープヘッド系及びアンプ系のノイズ、■ テープ
ヘッド系及びアンプ系のMll波数振輸特性、 ■ テープヘッド系及びアンプ糸の胸波数位相%性、 の影*v受け、画像の’1itv良くするたr+に(言
、上記の特性を良好にしなければならない。ところが、
上記■と■の特性の#11足は容易であり、従って特性
を改害することも困難で目ないが、■の周波数位相q#
性の測定は因−であり、この%性改IIv適確に行うこ
とも1離であつ次。
VTRのテープヘッド系及びアンプ系の周波数位相特性
が恐い場合に、画像が受ける影舎の一例を第1図V参照
して次に説明する。第19囚に示すようにビデオ信号が
黒レベルから白レベルに急に立ち上ると、プリエンファ
シスによって立上った部分にスパイクil+が生じる。
が恐い場合に、画像が受ける影舎の一例を第1図V参照
して次に説明する。第19囚に示すようにビデオ信号が
黒レベルから白レベルに急に立ち上ると、プリエンファ
シスによって立上った部分にスパイクil+が生じる。
第]9囚のビデオ信号−%−VTRで記録Tるた?i’
j周波数変調波(FMljl)Ve変換するとJg1図
(11111となる。第1図の1のF M l v*汲
数位相特性の恣いV i’ )Lで記録再生すると、@
1図(Oに示す如くゼロクロス点が欠落した波形となる
。もし、III数位数位性特性けれは、第1図(LIK
示すゼロクロス点の欠落のない再生鼓形を得ることが可
能である。第1図(Gl示すゼロクロス点が欠落し友再
生傷号をりSツタ回路を通した後に復調てれは、第1図
(妙に示す如く白レベルの部分が熱レベルVC格もこん
だ波形となり、白い部分の縁が破れ次ように尭える画面
が得られる。所關反転埃象が生じ次画面となる。これに
対して、第1図(口の波形の場合VCは、周波数信号の
欠落がないので、第1図(Alで示す波形V貴現するこ
とが可能であり、反転現象が生じない。
j周波数変調波(FMljl)Ve変換するとJg1図
(11111となる。第1図の1のF M l v*汲
数位相特性の恣いV i’ )Lで記録再生すると、@
1図(Oに示す如くゼロクロス点が欠落した波形となる
。もし、III数位数位性特性けれは、第1図(LIK
示すゼロクロス点の欠落のない再生鼓形を得ることが可
能である。第1図(Gl示すゼロクロス点が欠落し友再
生傷号をりSツタ回路を通した後に復調てれは、第1図
(妙に示す如く白レベルの部分が熱レベルVC格もこん
だ波形となり、白い部分の縁が破れ次ように尭える画面
が得られる。所關反転埃象が生じ次画面となる。これに
対して、第1図(口の波形の場合VCは、周波数信号の
欠落がないので、第1図(Alで示す波形V貴現するこ
とが可能であり、反転現象が生じない。
ところで、!IB波数位相等性又は伝達関数V6111
足する方式の]づに、第2図に示すよ5にデュアルチャ
ンネルF F 1゛を高速7−リエ変換)アナライザ(
21v使用する方式がある。この方式%j、FF’Tア
ナライザ+21 VC内蔵されてりる信号源(31から
送出した信号V第1のチャンネルL:H−11’c供給
すると共に、1111#IJ定伝送回路網+41 V通
して第2のチャンネルCH−Bw供給し、周波数位相特
性の影響を受けない第1チヤンネルCH−Aの信号と周
波数位相特性の影IIIv受けた第2チャンネルCH−
Bの信号との位相差及び蚕暢差V側足して周tII数位
相物性又は伝達関数を仰る方式である。しかし、VTR
の場合VCは、記録と再生とを同時に行うことが不可能
であるため、デュアルチャンネルFFTアナライザ(2
1で記録書生糸の周波数位相特性を求めることは不可能
であった。今、ν1’ Kを例にとって述べたが、入力
と出力とを同時に得ることが出来ない他の記録又は伝送
回路装置に於いても一様な問題がある。
足する方式の]づに、第2図に示すよ5にデュアルチャ
ンネルF F 1゛を高速7−リエ変換)アナライザ(
21v使用する方式がある。この方式%j、FF’Tア
ナライザ+21 VC内蔵されてりる信号源(31から
送出した信号V第1のチャンネルL:H−11’c供給
すると共に、1111#IJ定伝送回路網+41 V通
して第2のチャンネルCH−Bw供給し、周波数位相特
性の影響を受けない第1チヤンネルCH−Aの信号と周
波数位相特性の影IIIv受けた第2チャンネルCH−
Bの信号との位相差及び蚕暢差V側足して周tII数位
相物性又は伝達関数を仰る方式である。しかし、VTR
の場合VCは、記録と再生とを同時に行うことが不可能
であるため、デュアルチャンネルFFTアナライザ(2
1で記録書生糸の周波数位相特性を求めることは不可能
であった。今、ν1’ Kを例にとって述べたが、入力
と出力とを同時に得ることが出来ない他の記録又は伝送
回路装置に於いても一様な問題がある。
そこで、本発明の目的を言、上述の如き間Mv解決する
ことが可能な紀録又I丁伝送系の周波数位相特性又は伝
達関数の測定方式V提供することにある。
ことが可能な紀録又I丁伝送系の周波数位相特性又は伝
達関数の測定方式V提供することにある。
上記目的v4成する友めの本発明は、位相が固定された
複数の周波数成分を含んでおり且つ一足の系列周期%’
llして繰返して発生される測定用信g((I合信号J
v被測定記録又は伝送装置に人力させること、前記被測
定記録又は伝送装置から得られるit記醐測定信号に対
応した再生又は伝送出力信号の糸夕U周期信号を形成す
ること、前記被測定記録又は伝送装置に入力さぞ次前記
測定用信号と爽實的に同一の比較用信号を比較用信号発
生回路から繰返して発生させること、前記比戦用i号の
糸夕1j周期信号を形成すること、・PLL尋の位相同
期化回路によって前記比較用信号の糸タリ周期信号の位
相ケ前記再生又は伝送出力の系列周期信号の位相に一&
させること、前記再生又は伝送出力信号と前記比較用信
号発生回路から得られる前記比軟用信号との比較に基づ
いて前記被測定記録又は伝送装置の周波数位相特性又は
伝達関数を測定すること、から成る記録又會1伝送系の
周波数位相特性又を1伝達関数の測定方式に係わるもの
である〇上記本発明によれば、位相が固定され次複数の
周波数成分を含む測定用信号(複合信号)V紀録又を1
伝送し、七の系列周期信号に基づいて測定用信号に同期
した比軟用信号V解成するので、これV記録又を言伝送
前の入力信号とみな丁ことが可能になり、実軍的に入力
信号と出力信号とを同時に得ることが可能になる。従っ
て両信号の比ll2VC基づいて周波数位相%注文を1
伝達関数!容JJJK測定することが可能になる。
複数の周波数成分を含んでおり且つ一足の系列周期%’
llして繰返して発生される測定用信g((I合信号J
v被測定記録又は伝送装置に人力させること、前記被測
定記録又は伝送装置から得られるit記醐測定信号に対
応した再生又は伝送出力信号の糸夕U周期信号を形成す
ること、前記被測定記録又は伝送装置に入力さぞ次前記
測定用信号と爽實的に同一の比較用信号を比較用信号発
生回路から繰返して発生させること、前記比戦用i号の
糸夕1j周期信号を形成すること、・PLL尋の位相同
期化回路によって前記比較用信号の糸タリ周期信号の位
相ケ前記再生又は伝送出力の系列周期信号の位相に一&
させること、前記再生又は伝送出力信号と前記比較用信
号発生回路から得られる前記比軟用信号との比較に基づ
いて前記被測定記録又は伝送装置の周波数位相特性又は
伝達関数を測定すること、から成る記録又會1伝送系の
周波数位相特性又を1伝達関数の測定方式に係わるもの
である〇上記本発明によれば、位相が固定され次複数の
周波数成分を含む測定用信号(複合信号)V紀録又を1
伝送し、七の系列周期信号に基づいて測定用信号に同期
した比軟用信号V解成するので、これV記録又を言伝送
前の入力信号とみな丁ことが可能になり、実軍的に入力
信号と出力信号とを同時に得ることが可能になる。従っ
て両信号の比ll2VC基づいて周波数位相%注文を1
伝達関数!容JJJK測定することが可能になる。
9下、図面な参照して本発明の実施例について述べる。
1s3図はV TK151の周波数位相特性の測定方式
を示すブロック図であり、VTR151の記録人力熾子
I N K 42広帝域(1)M系列(Maximal
−length)’ulse 5equences
)疑似ランダムパルス発生回路(61が接続され、V’
l”R15+の再生出力端子(JUTはF Fi’7+
う4f121(F)g2+ヤyAルeH−BKサンプル
・ホールド回路(9;を介して接続されている池、記録
信号再現回路(7)とサンプル・ホールド回路+81と
?介して第1チャンネルC:H−AK@続されている。
を示すブロック図であり、VTR151の記録人力熾子
I N K 42広帝域(1)M系列(Maximal
−length)’ulse 5equences
)疑似ランダムパルス発生回路(61が接続され、V’
l”R15+の再生出力端子(JUTはF Fi’7+
う4f121(F)g2+ヤyAルeH−BKサンプル
・ホールド回路(9;を介して接続されている池、記録
信号再現回路(7)とサンプル・ホールド回路+81と
?介して第1チャンネルC:H−AK@続されている。
但し、記録信号内税回路(71にはM系列疑似ランダム
パルス発生回路が内蔵されているので、鎖線で示すよう
に記録信号再現回路(7)のM系列疑似ランダムパルス
発生(ロ)路の出力V V 1’ )t(51に入力さ
せてもよい。VTR+5+は記録と再生と1同時に行う
ことが出来ないので、測定用信号としてM系列疑似ラン
ダムパルスを記録した後にこれ!再生し、°この再生出
力信号と、再生出力信号に基づいて再現した記録信号即
ちM系列疑似ランダムパルスから成る比較用信号と1F
FTアナライf 121 K入力さぞ、両者の比較に基
づいてVTR−15u)I+l汲数位相特性v#J定す
る。
パルス発生回路が内蔵されているので、鎖線で示すよう
に記録信号再現回路(7)のM系列疑似ランダムパルス
発生(ロ)路の出力V V 1’ )t(51に入力さ
せてもよい。VTR+5+は記録と再生と1同時に行う
ことが出来ないので、測定用信号としてM系列疑似ラン
ダムパルスを記録した後にこれ!再生し、°この再生出
力信号と、再生出力信号に基づいて再現した記録信号即
ちM系列疑似ランダムパルスから成る比較用信号と1F
FTアナライf 121 K入力さぞ、両者の比較に基
づいてVTR−15u)I+l汲数位相特性v#J定す
る。
第4卸は第3図の記録信号再現回路(7;とサンプルホ
ールド回路+81191v示すものである。第3図のV
T R+5+の再生出力亀子OU 1” K接続され
たh生出力信号うインQ(Iには第5図(bl K示す
再生出力信号が伝送される。尚この再生出力信号は第5
1MJ(alに示すV 1” R(51の配録備考即ち
M系列疑似ランダムパルスから成る測定用信号を記録再
生したものである。記録する第5図(mlのM系列疑似
ランダムパルスは、第4図の一系列疑似ランダムパルス
発生回路aυと同一の回路で形成したものであり、パル
ス幅が比稜的広い第1のパルスPMとこれ!基準に位相
が固定されたパルス幅が狭い第2のパルスP、とを含み
、位相が固定された種々の周波数成分?含む複合信号で
ある。即ち広帯域の周波数スペクトラムY有する信号で
あり、基準の周波数に対して他の周波数の位相が固定さ
れた信号である。
ールド回路+81191v示すものである。第3図のV
T R+5+の再生出力亀子OU 1” K接続され
たh生出力信号うインQ(Iには第5図(bl K示す
再生出力信号が伝送される。尚この再生出力信号は第5
1MJ(alに示すV 1” R(51の配録備考即ち
M系列疑似ランダムパルスから成る測定用信号を記録再
生したものである。記録する第5図(mlのM系列疑似
ランダムパルスは、第4図の一系列疑似ランダムパルス
発生回路aυと同一の回路で形成したものであり、パル
ス幅が比稜的広い第1のパルスPMとこれ!基準に位相
が固定されたパルス幅が狭い第2のパルスP、とを含み
、位相が固定された種々の周波数成分?含む複合信号で
ある。即ち広帯域の周波数スペクトラムY有する信号で
あり、基準の周波数に対して他の周波数の位相が固定さ
れた信号である。
ライン0tlKli合されたローパスフィルタ0υは再
生出力信号の系列周期信号を形成するものであり、第5
図(UK示す波形を出力する゛。第5図(blの再生出
力信号の糸りり周期は、館5図(alのパルス系列の周
期TK対応する。この実施例の場合、M系列疑似ランダ
ムパルス発生回路(6)が3ビツト構成であるので、亀
5図(al IC示す如(、t、〜t4で第1のパルス
P1v発生し% t、〜t、で第2のパルスP*Y発圧
し、これが1.〜t、の周期Tで繰返され、広帯域の周
波数信号が配録再生される。S第5図(blに示す再生
出力信号にはパルスP、及びP、に対応し友妓形す、及
びす、が得られるが、ローパスフィルタ旧)を通すこと
によって第5図(clに示す周期1′の波形となる。
生出力信号の系列周期信号を形成するものであり、第5
図(UK示す波形を出力する゛。第5図(blの再生出
力信号の糸りり周期は、館5図(alのパルス系列の周
期TK対応する。この実施例の場合、M系列疑似ランダ
ムパルス発生回路(6)が3ビツト構成であるので、亀
5図(al IC示す如(、t、〜t4で第1のパルス
P1v発生し% t、〜t、で第2のパルスP*Y発圧
し、これが1.〜t、の周期Tで繰返され、広帯域の周
波数信号が配録再生される。S第5図(blに示す再生
出力信号にはパルスP、及びP、に対応し友妓形す、及
びす、が得られるが、ローパスフィルタ旧)を通すこと
によって第5図(clに示す周期1′の波形となる。
ローパスフィルタ011の出力VcWI合され九リミッ
タQ2+は第5図(clの波形を矩形波に波形整形する
た1のものであり、第5図(dlに示す矩形波の系列周
期信号を出力する。このリミッタa2の出力は次段
1の位相比III器a3の一方の入力となり、もう一
方の入力であるM系列疑似ランダムパルスの系列Jim
X13信号と比較される。即ち記録信号V再埃するた
めのM系列疑似ランダムパルスの位相の基準として第5
1i!J(dlの系列周期信号が使用される。
タQ2+は第5図(clの波形を矩形波に波形整形する
た1のものであり、第5図(dlに示す矩形波の系列周
期信号を出力する。このリミッタa2の出力は次段
1の位相比III器a3の一方の入力となり、もう一
方の入力であるM系列疑似ランダムパルスの系列Jim
X13信号と比較される。即ち記録信号V再埃するた
めのM系列疑似ランダムパルスの位相の基準として第5
1i!J(dlの系列周期信号が使用される。
a相比戦器(13112P L L (Phase L
ocked Loop )vIIII成するものであり
、PLLは、位相比較器a3、L P F IOチo−
パスフイルタQ41.VeO即ち電圧制御発振器09、
広帯域のM系列疑似ランダムパルス発生回路α6、系列
周期信号形成回路an、及び遅砥回路0から成る閉回路
で形成されている。
ocked Loop )vIIII成するものであり
、PLLは、位相比較器a3、L P F IOチo−
パスフイルタQ41.VeO即ち電圧制御発振器09、
広帯域のM系列疑似ランダムパルス発生回路α6、系列
周期信号形成回路an、及び遅砥回路0から成る閉回路
で形成されている。
M系列Ie但うンダムパルス発生向路a翰は、3つのL
)型フリップフロップ09(21)(2υから成る3ビ
ツトのシフトレジスタと排他的論理和回路な21との組
合せで構成さ4た公知の回路であり、L)型フリップフ
ロップQ9CIjQυのクロック端子に第5図−1に示
すycoasの出力がクロックパルスとして入力し、第
1 、#I 2 s 第3 tD 71J y 77
a yプQ!J Ca1211の出力趨子Qls QH
s QHK第5図(iHjl(11〕出力カ発生L、1
#侮的論珊和回路@ K Ql出力とQ、出力とが入力
してl1liEl(hlK示す出力が得られ、これが第
1の7リツプ70ツブa9のD入力端子に入力し、出力
ライン@に第5図(1)に示す第1のパルスLt ト第
217)パルスL、とで系列周期TのM系列疑似ランダ
ムパルスが得られるように構成されている。尚、この種
のM系列疑似ランダムパルス発生回路は、例えば雑誌「
トランジスタ技術」の1979年1月号の纂198真等
で公知であるので、史に許しい説f14は省略する。
)型フリップフロップ09(21)(2υから成る3ビ
ツトのシフトレジスタと排他的論理和回路な21との組
合せで構成さ4た公知の回路であり、L)型フリップフ
ロップQ9CIjQυのクロック端子に第5図−1に示
すycoasの出力がクロックパルスとして入力し、第
1 、#I 2 s 第3 tD 71J y 77
a yプQ!J Ca1211の出力趨子Qls QH
s QHK第5図(iHjl(11〕出力カ発生L、1
#侮的論珊和回路@ K Ql出力とQ、出力とが入力
してl1liEl(hlK示す出力が得られ、これが第
1の7リツプ70ツブa9のD入力端子に入力し、出力
ライン@に第5図(1)に示す第1のパルスLt ト第
217)パルスL、とで系列周期TのM系列疑似ランダ
ムパルスが得られるように構成されている。尚、この種
のM系列疑似ランダムパルス発生回路は、例えば雑誌「
トランジスタ技術」の1979年1月号の纂198真等
で公知であるので、史に許しい説f14は省略する。
M糸タリ疑似うンダムパルス発生回路a(へ)から得ら
れる第5図(1)の出力の位相とjR5図(blの再生
出力信号との位相1一定関係にするために、系列周期信
号形成回路Q7IKよって第5図(fl K示す系列周
期信号を形成する。系列周期信号形成回路α71は、イ
ンバータ(ハ)とANDゲート(至)とで構成され、#
I5図(41に示TJIHの7リツプフロツプa優のQ
I出力と、第、、5図り)に示す絶2の7リツプフロツ
プ■のQ、出力の反1出力である一第5図(k) K示
すQ、出力と、第5図(11に示す累3の7リツグ70
ツ13DのQ、出力と4=ANDゲート(至)に入力さ
せ、lI!、5図(fl [示すパルスL、V得るよう
に構成されている。尚第5図(flのパルスL、は11
5図(鳳)のパルスLet’抽出したものであり、周期
Tを有して繰返して発生する。従って、#5図(flの
信号はM系列疑似ランダムパルスの系列周期信号である
。
れる第5図(1)の出力の位相とjR5図(blの再生
出力信号との位相1一定関係にするために、系列周期信
号形成回路Q7IKよって第5図(fl K示す系列周
期信号を形成する。系列周期信号形成回路α71は、イ
ンバータ(ハ)とANDゲート(至)とで構成され、#
I5図(41に示TJIHの7リツプフロツプa優のQ
I出力と、第、、5図り)に示す絶2の7リツプフロツ
プ■のQ、出力の反1出力である一第5図(k) K示
すQ、出力と、第5図(11に示す累3の7リツグ70
ツ13DのQ、出力と4=ANDゲート(至)に入力さ
せ、lI!、5図(fl [示すパルスL、V得るよう
に構成されている。尚第5図(flのパルスL、は11
5図(鳳)のパルスLet’抽出したものであり、周期
Tを有して繰返して発生する。従って、#5図(flの
信号はM系列疑似ランダムパルスの系列周期信号である
。
^NL)ゲート(至)と位相比較器a3の1つの入力端
子との間に設けられたディレーラインから成る遅嬌回路
Q81は、ローパスフィルタ(Illとリミッタ[7!
Jとの遅れ分だけ纂5図(flの信号を遅らせて第5図
(6+の系列周期信号!得るものである。
子との間に設けられたディレーラインから成る遅嬌回路
Q81は、ローパスフィルタ(Illとリミッタ[7!
Jとの遅れ分だけ纂5図(flの信号を遅らせて第5図
(6+の系列周期信号!得るものである。
位相比較器a(では、第5図(blに示す再生出力信号
からローパスフィルタaDとりiツタalとの運れを有
して形成された第5図(dlに示す再生出力信号の系列
周期信号と、M5図(1)のM系列疑似ランダムパルス
の系列周期信号をローパスフィルタαυとりミッタ0の
遍れ分だけ運ら−V!−友第5図(elの信号とが比軟
され、両者の位相差に対応した出力が発生し、tv時点
に於ける第5図(diの矩形波の立上りと第5aQ(e
)の立上りとを一散させるようvc)’LLが動作する
0位相比戦器(13の出力を10−パスフイルタa署で
平渭され、vcoa51の制御電圧となり、VCO(+
51からは第5図(g)に示すクロックパルスが発生す
る1M糸ダ1j疑似ランダムパルス発生回路a。
からローパスフィルタaDとりiツタalとの運れを有
して形成された第5図(dlに示す再生出力信号の系列
周期信号と、M5図(1)のM系列疑似ランダムパルス
の系列周期信号をローパスフィルタαυとりミッタ0の
遍れ分だけ運ら−V!−友第5図(elの信号とが比軟
され、両者の位相差に対応した出力が発生し、tv時点
に於ける第5図(diの矩形波の立上りと第5aQ(e
)の立上りとを一散させるようvc)’LLが動作する
0位相比戦器(13の出力を10−パスフイルタa署で
平渭され、vcoa51の制御電圧となり、VCO(+
51からは第5図(g)に示すクロックパルスが発生す
る1M糸ダ1j疑似ランダムパルス発生回路a。
は、VCOQ51の出力で制御tlすれ、第5図(dl
(1) 波形と#I5 rI!tJ(elのIll形
とが同期するよ5なPLL制御がなされる。これにより
、M系列疑似ランダムパルス発生回路aυの出カライン
即ち記録信号再現回路(7;の出カラインcjK%#!
5図(al K示した記録信号と同一の絶5図+IIK
示す比較用信号が再現される。則ち、第5図(blの再
生出力信号に同期化された再現記録信号(比較用信号)
V得ることが出来る。
(1) 波形と#I5 rI!tJ(elのIll形
とが同期するよ5なPLL制御がなされる。これにより
、M系列疑似ランダムパルス発生回路aυの出カライン
即ち記録信号再現回路(7;の出カラインcjK%#!
5図(al K示した記録信号と同一の絶5図+IIK
示す比較用信号が再現される。則ち、第5図(blの再
生出力信号に同期化された再現記録信号(比較用信号)
V得ることが出来る。
第5図(bl及び(11の信号の周波数帝竣が狭ければ
、%J 、t ハヒューレット・パラカード社のFF1
’3582AのようなデュアルチャンネルFFTアナラ
イザ(21にこれ等を直!I!に入力させ、両信号の比
軟に基づいてJi11波数位相特性を求めればよい。即
ち第5図(1:の信号を基準にして第5図(blの再生
出力信号の位相がどのように変化したかを調べればよい
。
、%J 、t ハヒューレット・パラカード社のFF1
’3582AのようなデュアルチャンネルFFTアナラ
イザ(21にこれ等を直!I!に入力させ、両信号の比
軟に基づいてJi11波数位相特性を求めればよい。即
ち第5図(1:の信号を基準にして第5図(blの再生
出力信号の位相がどのように変化したかを調べればよい
。
しかし、VTJ5)の場合Vtは、数MHz 〜30数
MHz(F)ll1m数まで測定しなければならないの
で、測定jIIlfs数の上限が]00kHz8度のF
FTyナライずでは測定不可能となる。そこで、この実
施力では、サンプリングオシロスコープによるサンプリ
ングと同様な方式で得られるサンプリング出力vFFT
アナライザ(21の第1及び#!2チャンネルに入力さ
せている。このため、VCO(151の出力ラインに分
周器(至)が結合され、この分局器(至)の出力に結合
されたサンプリングパルス発生器−でサンプリングパル
スを作り、これVml及び第2のサンプル・ホールド回
路18+ 191 K供給している。この実施例では%
第1のサンプル・ホールド回路(81がD型フリップフ
ロップで構成され、このD入力肩子忙出カライン(ハ)
が結合され、クロック人力重子((、:k)Kサン1り
ングパルス発生器面が結合され、Q出力亀子が第3図に
示すFFTアナライザ(210チャンネルCH−AK後
接続れる。また第2のサンプル・ホールド回路+91は
、再生出力ライン(1(IK接続され、サンプリングパ
ルス発生器筒の出方で制御される。サンプリングスイッ
チ回路(至)とホールド用コンデンサ(ハ)とノ(ツフ
ァ増幅器(至)とから成り、増輪器圓の出力は第3図の
FFTアナライサ121(1)+’rン:IbルCH−
BK接I!!tされる。
MHz(F)ll1m数まで測定しなければならないの
で、測定jIIlfs数の上限が]00kHz8度のF
FTyナライずでは測定不可能となる。そこで、この実
施力では、サンプリングオシロスコープによるサンプリ
ングと同様な方式で得られるサンプリング出力vFFT
アナライザ(21の第1及び#!2チャンネルに入力さ
せている。このため、VCO(151の出力ラインに分
周器(至)が結合され、この分局器(至)の出力に結合
されたサンプリングパルス発生器−でサンプリングパル
スを作り、これVml及び第2のサンプル・ホールド回
路18+ 191 K供給している。この実施例では%
第1のサンプル・ホールド回路(81がD型フリップフ
ロップで構成され、このD入力肩子忙出カライン(ハ)
が結合され、クロック人力重子((、:k)Kサン1り
ングパルス発生器面が結合され、Q出力亀子が第3図に
示すFFTアナライザ(210チャンネルCH−AK後
接続れる。また第2のサンプル・ホールド回路+91は
、再生出力ライン(1(IK接続され、サンプリングパ
ルス発生器筒の出方で制御される。サンプリングスイッ
チ回路(至)とホールド用コンデンサ(ハ)とノ(ツフ
ァ増幅器(至)とから成り、増輪器圓の出力は第3図の
FFTアナライサ121(1)+’rン:IbルCH−
BK接I!!tされる。
第6図11サンプリングの動作を説明するためのタイミ
ングチャートであり、第5図のタイミングチャートより
も時間軸を圧縮して示すものである。
ングチャートであり、第5図のタイミングチャートより
も時間軸を圧縮して示すものである。
分周器に)の入力ラインにはVCO[I51から第6図
h)K示すクロックパルスが入力し、これが分局器(ハ
)で分局されることによってサンプリングパルス発生器
面からは第6図(ol K示すサンプリングパルスが得
られる。再生出力ラインQlから供給される第5 !!
u (b) V時間軸圧縮した第6図−1に示す再生出
力信号力JIa 図(o)のパルスでサンプル・ホール
トサれると、スイッチ回wI@の出力段に第6図(p)
に示すサン717ング出力信号が得られ、これがバッフ
ァ増幅器cnv通って平滑されることによって、出力ラ
インC(IIKはJge図mlの再生比カイ8号ケ低周
波数に変換した第6図(qsの信号が得られる。一方、
#5図(11の波形1時間軸圧縮し次第6図(rlの信
号が第1のサンプル・ホールド回路(8)!構成するD
1型フリツ170ツブのD入力重子に供給され、またク
ロック入力1子tcK)K1716図(qlのサンプリ
ングパルスが供給されると、出カラインωKm6図(r
)の(1!1号を低周波数に変換し次第6図($)の信
号が得られる。そして、第3図のFFTアナライザ(2
1のチャンネルCH−AK第6図(i)の波形が入力し
、チャンネルCH−BK#!6図(qlの波形が入力し
、周波数位相特注が求められる。即ち、第6図(slの
パルス系列に含まれる周波数成分と同一の第6図(ql
に含まれるjIIlI21i数成分の位相差及び憬幅差
が測定される。換言丁れば、再生出力信号と再現記録信
号との位相差及び振幅差が測定され、これにより周波数
位相特注が求められる。第6図($)のパル・ス系列を
1相互の位相が固足された種々のIIa波数成分を含む
ので、広帯域のMll波数位相特性特性時に測定するこ
とが出来る。
h)K示すクロックパルスが入力し、これが分局器(ハ
)で分局されることによってサンプリングパルス発生器
面からは第6図(ol K示すサンプリングパルスが得
られる。再生出力ラインQlから供給される第5 !!
u (b) V時間軸圧縮した第6図−1に示す再生出
力信号力JIa 図(o)のパルスでサンプル・ホール
トサれると、スイッチ回wI@の出力段に第6図(p)
に示すサン717ング出力信号が得られ、これがバッフ
ァ増幅器cnv通って平滑されることによって、出力ラ
インC(IIKはJge図mlの再生比カイ8号ケ低周
波数に変換した第6図(qsの信号が得られる。一方、
#5図(11の波形1時間軸圧縮し次第6図(rlの信
号が第1のサンプル・ホールド回路(8)!構成するD
1型フリツ170ツブのD入力重子に供給され、またク
ロック入力1子tcK)K1716図(qlのサンプリ
ングパルスが供給されると、出カラインωKm6図(r
)の(1!1号を低周波数に変換し次第6図($)の信
号が得られる。そして、第3図のFFTアナライザ(2
1のチャンネルCH−AK第6図(i)の波形が入力し
、チャンネルCH−BK#!6図(qlの波形が入力し
、周波数位相特注が求められる。即ち、第6図(slの
パルス系列に含まれる周波数成分と同一の第6図(ql
に含まれるjIIlI21i数成分の位相差及び憬幅差
が測定される。換言丁れば、再生出力信号と再現記録信
号との位相差及び振幅差が測定され、これにより周波数
位相特注が求められる。第6図($)のパル・ス系列を
1相互の位相が固足された種々のIIa波数成分を含む
ので、広帯域のMll波数位相特性特性時に測定するこ
とが出来る。
上述から明らかなように、本実施例によれば、記録信号
と再生出力信号とを同時に得ることが不可能なV 1’
Kであっても、記録信号再現回路(7)で紀@信号V
再現することにより、FFTアナライザ121で周波数
位相特注又は伝達関数y +3アルタイムで容易に測定
することが可能になる。従って、票】図(O及び閲に示
すような波形の発生ケ容易に防ぐことが可能になる。
と再生出力信号とを同時に得ることが不可能なV 1’
Kであっても、記録信号再現回路(7)で紀@信号V
再現することにより、FFTアナライザ121で周波数
位相特注又は伝達関数y +3アルタイムで容易に測定
することが可能になる。従って、票】図(O及び閲に示
すような波形の発生ケ容易に防ぐことが可能になる。
また、広帯域のm波数成分を含むM系列疑似ランダムパ
ルスを使用するので、同時Vc檀々の周波数成分の特性
側足が可能になる。
ルスを使用するので、同時Vc檀々の周波数成分の特性
側足が可能になる。
以上、本発明の実施tIIVcついて述べたが、不発I
jlIはこれに限定されるものではなく、更に変形可能
なものである0例えば、実施例で−は3ビツトのシフト
レジスタでM系列疑似ランダムパルス発生回路を構成し
友が、第7図に示す如くn個のL)型フリップフロップ
から成るnビットのシフトレジスタ關と排他的論理和回
路−とを組合せ、シフトレジスタ□□□の段数に応じて
選択された出力の排他的論理和の出力V初段のL)1j
li7リツプフロツプのD入力としてもよい、この際、
例えば5段のシフトレジスタであると、第3と第5の出
力の排他的論理和1作る。
jlIはこれに限定されるものではなく、更に変形可能
なものである0例えば、実施例で−は3ビツトのシフト
レジスタでM系列疑似ランダムパルス発生回路を構成し
友が、第7図に示す如くn個のL)型フリップフロップ
から成るnビットのシフトレジスタ關と排他的論理和回
路−とを組合せ、シフトレジスタ□□□の段数に応じて
選択された出力の排他的論理和の出力V初段のL)1j
li7リツプフロツプのD入力としてもよい、この際、
例えば5段のシフトレジスタであると、第3と第5の出
力の排他的論理和1作る。
また、実施例では785図(11のパルスL、V系列同
期信号として袖山したが、この代りにパルスLIv抽出
して系列周期信号としてもよい。
期信号として袖山したが、この代りにパルスLIv抽出
して系列周期信号としてもよい。
マタローパスフィルタat+とりミッタa邊との運嬌が
少ない場合又を1系列局期信号形成呵路Q71で鉛費な
i!1延が生じる場合には:11m回路a■1−てもよ
い口 また、V’l’RK限ることなく、F Mデータレコー
ダ等の記録再生装置又は伝送装置の周波数位相特性の測
定にも適用可能である。また第1のサンフル・ホール)
’ 回路181 v第1のサンプル・ホールド回路(9
)と同一構成としてもよい。
少ない場合又を1系列局期信号形成呵路Q71で鉛費な
i!1延が生じる場合には:11m回路a■1−てもよ
い口 また、V’l’RK限ることなく、F Mデータレコー
ダ等の記録再生装置又は伝送装置の周波数位相特性の測
定にも適用可能である。また第1のサンフル・ホール)
’ 回路181 v第1のサンプル・ホールド回路(9
)と同一構成としてもよい。
第1図+2 V T fLに於ける周波数位相特性を説
明するための波形図、第2図11FFTアナライブによ
るfIli足回路を示すブロック図、43図は本発明の
1実j1mflK係わる測定方式な示すブロック図・$
4図は第3図の1部を評しく示すブロック図、絶5図及
び第6図は側3図及び第4図の1〜3点の状11ケ示す
波形図、第7図はM系列疑似ランダムパルス発生回路の
一般的回路構成な示すブロック図である。 尚図rkvc用いられている符号に於いて、(21はF
ドTアナライブ、151を言VTR,161はM系列疑
似ランダムパルス発生回路、(7)は記録信号再現回路
、u1言ローパスフィルタ、01言リミツタ、(13I
2位相比*a、ub+目M目利系列疑似ランダムパルス
発生回路7)は系列周期信号形成回路である。
明するための波形図、第2図11FFTアナライブによ
るfIli足回路を示すブロック図、43図は本発明の
1実j1mflK係わる測定方式な示すブロック図・$
4図は第3図の1部を評しく示すブロック図、絶5図及
び第6図は側3図及び第4図の1〜3点の状11ケ示す
波形図、第7図はM系列疑似ランダムパルス発生回路の
一般的回路構成な示すブロック図である。 尚図rkvc用いられている符号に於いて、(21はF
ドTアナライブ、151を言VTR,161はM系列疑
似ランダムパルス発生回路、(7)は記録信号再現回路
、u1言ローパスフィルタ、01言リミツタ、(13I
2位相比*a、ub+目M目利系列疑似ランダムパルス
発生回路7)は系列周期信号形成回路である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 111 位相が固定された複数のjiIItI!数成
分を含んでgり且つ一定の系列周期を有して繰返して発
生される測定用信号V11#j定記録又は伝送装置に入
力させること、 前記I1m定記録又は伝送装置から得られる前記測定用
信号に対応した再生又は伝送出力信号の系列周期信号を
形成下ること、 前記僚醐定記録又は伝送装置に入力させた前記測定用信
号と実質的に同一の比軟用信号を比較用信号発生回路か
ら繰返し、て発生させること、前記比軟用信号の系列周
期信号を形成すること、位相同期化回路によって前記比
軟用信号の系列周期信号の位相を前記栴生又は伝送出方
の系列周期信号の位相に一致させること、 前記再生又は伝送出方信号と前記比軟用48号発生(ロ
)路から得られる前記比軟用信号との比較に基づいて前
記′11111J定記録又は伝送装置の周波数位相特注
又は伝達関数v#1足すること、 から成る記録又は伝送系の周波数位相特性又は伝達関数
の欄足方式。 (21171紀糊足用信号は広帯域の周波数成分を含む
M系列疑似ランダムパルスであり、前記比軟用信号発生
回路はM系列疑似ランダムパルス発生回路である籍FF
#I求の範囲第1項記載の周波数位相脅性掬定方式。 (3; 前記IlI測定l#2録又を1伝送装置はビ
デオテーグレコーダである特Fft*求の範囲第1項又
は第2項記載の周波数位相特性測定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56183443A JPS5884571A (ja) | 1981-11-16 | 1981-11-16 | 周波数位相特性又は伝達関数の測定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56183443A JPS5884571A (ja) | 1981-11-16 | 1981-11-16 | 周波数位相特性又は伝達関数の測定方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5884571A true JPS5884571A (ja) | 1983-05-20 |
| JPS628995B2 JPS628995B2 (ja) | 1987-02-25 |
Family
ID=16135852
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56183443A Granted JPS5884571A (ja) | 1981-11-16 | 1981-11-16 | 周波数位相特性又は伝達関数の測定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5884571A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61114672A (ja) * | 1984-11-09 | 1986-06-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 変調度調整装置 |
| JPS62165709A (ja) * | 1985-12-23 | 1987-07-22 | レ−・ミルトン・ドルビ | 記録・伝送システム校正装置および方法 |
-
1981
- 1981-11-16 JP JP56183443A patent/JPS5884571A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61114672A (ja) * | 1984-11-09 | 1986-06-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 変調度調整装置 |
| JPS62165709A (ja) * | 1985-12-23 | 1987-07-22 | レ−・ミルトン・ドルビ | 記録・伝送システム校正装置および方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS628995B2 (ja) | 1987-02-25 |
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