JPS5892931A - 分光分析装置 - Google Patents

分光分析装置

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JPS5892931A
JPS5892931A JP19324081A JP19324081A JPS5892931A JP S5892931 A JPS5892931 A JP S5892931A JP 19324081 A JP19324081 A JP 19324081A JP 19324081 A JP19324081 A JP 19324081A JP S5892931 A JPS5892931 A JP S5892931A
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JP
Japan
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switch
output
sensitivity
converter
spectrometer
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JP19324081A
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English (en)
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JPS6246822B2 (ja
Inventor
Kikuo Sasaki
佐々木 菊夫
Kenji Kawasaki
健治 川崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPS5892931A publication Critical patent/JPS5892931A/ja
Publication of JPS6246822B2 publication Critical patent/JPS6246822B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は分光分析装置において特に測光系の感度調整装
置に関する。
従来の分光分析装置では測光系の感度調整は表示部の表
示を見ながら手動的に可変抵抗等を調節することによっ
て行っていた。本発明はこのような手動的な感度調整を
ワンタッチで自動的に行えるようにすることを目的とし
てなされた。
本発明の目的を具体的に説明するため第1図に示す従来
例について述べる。第1図は原子吸光分析装置を示し、
HCLは検出しようとする元素の輝線を出している光源
、ATMは試料原子化部の炎、MCは分光器、PMは光
検出器のフォトマルチプライヤ、PAはプリアンプ、L
OGは測光出力を吸光度値に変換する対数変換器、Mは
表示部で、DDは検出器PMのダイ、ノードに高電圧を
与える直流−直流変換器であり、可変抵抗VRIを調節
して検出器PMの感度を調整している。この調整手順は
光源HCLを点灯し、試料を供給しない状態で分光器の
波長を目的の輝線波長に合せ、スリット幅を調整した後
、LO()の出力■0が略0になるようにVRIを調節
する。このような調整は吸光度変換器LOGの直線性の
良好な範囲に同変換器への入力v1を設定するためであ
り、更には吸収のない状態で表示部Mの表示がOである
ことが望ましいからである。しかし分光分析に先立って
一々このよりな調整を目視に頼り手動で行うことは大へ
ん面倒である。本発明は単なるスイツチの一操作によっ
て上述した感度調整を自動的に行い得るようにするもの
である。以下実施例によって本発明を説明する。
第2図は本発明の一実施例装置を示す。第1図の各部と
同じ部分には第1図と同じ符号をつけて一々の説明は略
す。プリアンプFAの出力即ち測光出力Viは吸光度変
換部LOG及び誤差増幅器EAの一方の入力端子に印加
される。誤°差増幅器の他方の入力端子には基準電圧V
rが印加しである。SHはサンプルホールド回路であり
、SWlはサンプリングスイッチである。サンプルホー
ルド回路SHの出力が直流−直流変換器DDで直流高電
圧に変換されて検出器PMのダイノードに印加される。
従ってスイッチE1wlを閉じると、測光出力v1が基
準電圧Vrと比較され、両者の差が直流−直流変換器D
Dを介して検出器PMにフィードバックされて■1がV
rに等くなるように動作する。V i = V rのと
き吸光度変換器LOGの出力が0になるようにVrが設
定しである。
以上の構成で感度調整は次のように行われる。
光源HCLを点灯し、分光器MCの波長合せとスリット
幅の調整を行う。こ\までは従来装置と変らない。この
間においてスイッチSWIをオンにしておく。感度調整
操作としてはこの後SWIをオフするだけでよい。当初
スイッチSW1がオンになっているので、分光器MCの
波長合せ、スリット幅調整が終った段階で光検出器PM
は測光出力v1が基準電圧Vrと等しくなるようにダイ
ノード印加電圧が調整されており、直流−直流変換器D
Dの入力電圧はサンプルホールド回路SHのコンデンサ
Cに記憶されている。従ってその後スイッチ8vrlを
開いてもPMの感゛度はSwlを開く直前の感度に保持
され、この状態にあってはVi=Vrである。Vrは吸
光度変換器LOGの出力がVi=’VrのときOとなる
ように設定してあ。
るので、以上の操作で所要の調整が自動的に終り、操作
はスイッチSwlのオンオフだけで第1図に示しだ可変
抵抗VRIを表示部の表示が0になるように調節すると
云った手間は全く不要である。
第3図は本発明の他の実施例を示す。この実施例の装置
も原子吸光分析装置であるが、輝線スペクトル光源1(
CLの他に連続スペクトル光源りを用いてパックグラウ
ンド補正を行うようになっている。これら2種の光源の
光はハーフミラ−HMを通して同一光路上に乗り、試料
原子化部ATM、分光器MCを通り光検出器PMに入射
するようにな、っている。ハーフミラ−HMは円周方向
に透過率と反射率の比が変っており、回転の角位置を変
えることで両光源の光の比率を変えられるようにしであ
る。。MTはハーフミラ−HMの角位置をの信号により
制御されている。D、Cは信号選別器で発振器OBCの
出力信号により制御され、プリアンプPAの出力(測光
出力)をHC−Lの光によるものe)1とDの光による
ものeDとに選別する。
θH1θDは夫々吸光度変換器LOG:L、LOG2で
吸光度値eHL及びeDLに変換されて引算回路5UB
Iによって引算されバックグラウンド補正された吸光度
値が表示部Mlにおいて表示される。
SHは第2図におけると同じサンプルホールド回路であ
るが、スイッチSWIは手動でなくビームバランス制御
部BBCから指令信号で自動的に操作され名。誤差増幅
器KAには連続スペクトル光源りの光の測光出力θDが
入力されて基準電圧Vrと比較される。従って光検出器
PMは9])=Vrとなるように感度調整がなされる。
引算器5UBIの出力vOが比較器CPI及びCF2に
印加されて基準電圧+War及び−rVcrと比較され
る。CPUは入力vOがVo)十Verのとき出力1.
その他出力0.CP2は入力VoがvO(−V e r
のとき出力IIその他出力0である。
従って−Vcr≦Vo≦VcrのときはCPI。
CF2の出力は共に00ビ一ムバランス制御部BBCは
CPl、、CF2(7)出力が共ニo、即ち−Vc r
 < V o≦VQrとなるようにモー2りMTを駆動
しでハーフミラ−)IMの角位置を設定する。前述した
ようにハーフミラ−HMは円周方向に透過率と反射率と
の比率が変っている゛ので、この動作により引算器5U
BIの出力■0の絶対値がVer以下となるように調整
される。この動作は試料が供給されていないときに輝線
光源HCLの光と連続スペクトル光源りの光の測光出力
を略一致させ吸光度信号が0となるように2つの光源の
光をバランスさせるものである。スイッチSw2はビー
ムバランス制御部BBCの動作をスタートさせる手動ス
イッチである。
第4図は上述ビームバランス制御部BBCの動作のフロ
ーチャートである。装置のオペレータは2つの光源HC
L及びDを点灯し、分光器Mの波長設定、スリット幅調
整を行った後スイッチSw2を押すだけでよい。スイッ
チSV2オン(第4図イ)によってサンプルホールド回
路SHのサンプリングスイッチSw1がオンされ(第4
図口)、判定ハにおいて比較器cp1.CP2の各出力
VC1,■C2ともOか否か判定され、判定Noのとき
はハーフミラ−HMを回転させ(第4図二)、判定ハが
YESになったら8wlオフとしく第4図ホ)サンプル
ホールド回路EIHをホールド状態にする。以上でBB
Cの動作が稍り、分析装置の感度調整が終る。
上の動作で連続スペクトル光の測光出力θD’に対する
吸光度変換器LOG2に対してのみθD−Vrとなるよ
うにフィードバック回路は構成されているが、ビームバ
ランス動作によって試料が供給されていないときのeH
が略eDと等しくなるように調整されるので、この場合
eHも亦略Vrとなっている。従ってVrを吸光度変換
部LOG1、LOG2夫々に対し直線性の最も良い範囲
にあるように選定しておくことにより、L OG 1゜
LOG2両方に対し最適の感度調整がなされることにな
る。なお、またこの実施例ではeDについてフィードバ
ックを行っているが、eHについてフィードバックを行
うように構成してもよい。
なお引算器5UB2はeDLとeDLoとの差奪求めて
表示部M+に表示:するもので、θDLOはeD=Vr
のときの1.OG2の出力であり、調整動作完了によっ
てMlの表示はOになる。
本発明装置は上述したような構成で、スイッチのオンオ
フと云う単一操作だけでかつ表示を目視しながら操作す
る必要もなく、きわめて簡単に分光光度計の感度調整が
でき、オペレータの負担軽減1分析作業の能率化が可能
となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例のブロック図、第2図は本発明の一実施
例装置のブロック図、第3図は本発明の他の一実施例装
置のブロック図、第4図は第3図の装置の動作を示すフ
ローチャートである。 FM・・・光検出器、LOG・・・吸光度変換器、M・
・・表示部、EA・・・誤差増幅器、SH・・・サンプ
ルホールド回路、Swl・・・サンプリングスイッチ、
DD、、。 直流−直流変換器、HCL・・・輝線スペクトル光源、
ATM・・・試料原子化部、MC・・・分光器、D・・
・連続スペクトル光源、BBC・・・ビームバランス制
御部、5UBI、5UB2・・・引算器。 代理人 弁理士  孫   浩  介

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 測光出力を基準値と比較する誤差増幅器と、サンプリン
    グスイッチを介して上記誤差増幅器の出力が入力される
    サンプルホールド回路とによってフィードバック回路が
    構成され利得制御がなされ、上記サンプリングスイッチ
    をオフとした場合、上記サンプルホールド回路の記憶信
    号によシ感度が制御されるようにした測光系を備えた分
    光分析装置。
JP19324081A 1981-11-30 1981-11-30 分光分析装置 Granted JPS5892931A (ja)

Priority Applications (1)

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JP19324081A JPS5892931A (ja) 1981-11-30 1981-11-30 分光分析装置

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JP19324081A JPS5892931A (ja) 1981-11-30 1981-11-30 分光分析装置

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Publication Number Publication Date
JPS5892931A true JPS5892931A (ja) 1983-06-02
JPS6246822B2 JPS6246822B2 (ja) 1987-10-05

Family

ID=16304656

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4726679A (en) * 1986-03-03 1988-02-23 The Perkin-Elmer Corporation Flame atomic absorption spectrophtometer including apparatus and method for logarithmic conversion

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5443492A (en) * 1977-08-17 1979-04-06 Westinghouse Electric Corp Electroacoustic transducer

Patent Citations (1)

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JPS6246822B2 (ja) 1987-10-05

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