JPS5892931A - 分光分析装置 - Google Patents
分光分析装置Info
- Publication number
- JPS5892931A JPS5892931A JP19324081A JP19324081A JPS5892931A JP S5892931 A JPS5892931 A JP S5892931A JP 19324081 A JP19324081 A JP 19324081A JP 19324081 A JP19324081 A JP 19324081A JP S5892931 A JPS5892931 A JP S5892931A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switch
- output
- sensitivity
- converter
- spectrometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は分光分析装置において特に測光系の感度調整装
置に関する。
置に関する。
従来の分光分析装置では測光系の感度調整は表示部の表
示を見ながら手動的に可変抵抗等を調節することによっ
て行っていた。本発明はこのような手動的な感度調整を
ワンタッチで自動的に行えるようにすることを目的とし
てなされた。
示を見ながら手動的に可変抵抗等を調節することによっ
て行っていた。本発明はこのような手動的な感度調整を
ワンタッチで自動的に行えるようにすることを目的とし
てなされた。
本発明の目的を具体的に説明するため第1図に示す従来
例について述べる。第1図は原子吸光分析装置を示し、
HCLは検出しようとする元素の輝線を出している光源
、ATMは試料原子化部の炎、MCは分光器、PMは光
検出器のフォトマルチプライヤ、PAはプリアンプ、L
OGは測光出力を吸光度値に変換する対数変換器、Mは
表示部で、DDは検出器PMのダイ、ノードに高電圧を
与える直流−直流変換器であり、可変抵抗VRIを調節
して検出器PMの感度を調整している。この調整手順は
光源HCLを点灯し、試料を供給しない状態で分光器の
波長を目的の輝線波長に合せ、スリット幅を調整した後
、LO()の出力■0が略0になるようにVRIを調節
する。このような調整は吸光度変換器LOGの直線性の
良好な範囲に同変換器への入力v1を設定するためであ
り、更には吸収のない状態で表示部Mの表示がOである
ことが望ましいからである。しかし分光分析に先立って
一々このよりな調整を目視に頼り手動で行うことは大へ
ん面倒である。本発明は単なるスイツチの一操作によっ
て上述した感度調整を自動的に行い得るようにするもの
である。以下実施例によって本発明を説明する。
例について述べる。第1図は原子吸光分析装置を示し、
HCLは検出しようとする元素の輝線を出している光源
、ATMは試料原子化部の炎、MCは分光器、PMは光
検出器のフォトマルチプライヤ、PAはプリアンプ、L
OGは測光出力を吸光度値に変換する対数変換器、Mは
表示部で、DDは検出器PMのダイ、ノードに高電圧を
与える直流−直流変換器であり、可変抵抗VRIを調節
して検出器PMの感度を調整している。この調整手順は
光源HCLを点灯し、試料を供給しない状態で分光器の
波長を目的の輝線波長に合せ、スリット幅を調整した後
、LO()の出力■0が略0になるようにVRIを調節
する。このような調整は吸光度変換器LOGの直線性の
良好な範囲に同変換器への入力v1を設定するためであ
り、更には吸収のない状態で表示部Mの表示がOである
ことが望ましいからである。しかし分光分析に先立って
一々このよりな調整を目視に頼り手動で行うことは大へ
ん面倒である。本発明は単なるスイツチの一操作によっ
て上述した感度調整を自動的に行い得るようにするもの
である。以下実施例によって本発明を説明する。
第2図は本発明の一実施例装置を示す。第1図の各部と
同じ部分には第1図と同じ符号をつけて一々の説明は略
す。プリアンプFAの出力即ち測光出力Viは吸光度変
換部LOG及び誤差増幅器EAの一方の入力端子に印加
される。誤°差増幅器の他方の入力端子には基準電圧V
rが印加しである。SHはサンプルホールド回路であり
、SWlはサンプリングスイッチである。サンプルホー
ルド回路SHの出力が直流−直流変換器DDで直流高電
圧に変換されて検出器PMのダイノードに印加される。
同じ部分には第1図と同じ符号をつけて一々の説明は略
す。プリアンプFAの出力即ち測光出力Viは吸光度変
換部LOG及び誤差増幅器EAの一方の入力端子に印加
される。誤°差増幅器の他方の入力端子には基準電圧V
rが印加しである。SHはサンプルホールド回路であり
、SWlはサンプリングスイッチである。サンプルホー
ルド回路SHの出力が直流−直流変換器DDで直流高電
圧に変換されて検出器PMのダイノードに印加される。
従ってスイッチE1wlを閉じると、測光出力v1が基
準電圧Vrと比較され、両者の差が直流−直流変換器D
Dを介して検出器PMにフィードバックされて■1がV
rに等くなるように動作する。V i = V rのと
き吸光度変換器LOGの出力が0になるようにVrが設
定しである。
準電圧Vrと比較され、両者の差が直流−直流変換器D
Dを介して検出器PMにフィードバックされて■1がV
rに等くなるように動作する。V i = V rのと
き吸光度変換器LOGの出力が0になるようにVrが設
定しである。
以上の構成で感度調整は次のように行われる。
光源HCLを点灯し、分光器MCの波長合せとスリット
幅の調整を行う。こ\までは従来装置と変らない。この
間においてスイッチSWIをオンにしておく。感度調整
操作としてはこの後SWIをオフするだけでよい。当初
スイッチSW1がオンになっているので、分光器MCの
波長合せ、スリット幅調整が終った段階で光検出器PM
は測光出力v1が基準電圧Vrと等しくなるようにダイ
ノード印加電圧が調整されており、直流−直流変換器D
Dの入力電圧はサンプルホールド回路SHのコンデンサ
Cに記憶されている。従ってその後スイッチ8vrlを
開いてもPMの感゛度はSwlを開く直前の感度に保持
され、この状態にあってはVi=Vrである。Vrは吸
光度変換器LOGの出力がVi=’VrのときOとなる
ように設定してあ。
幅の調整を行う。こ\までは従来装置と変らない。この
間においてスイッチSWIをオンにしておく。感度調整
操作としてはこの後SWIをオフするだけでよい。当初
スイッチSW1がオンになっているので、分光器MCの
波長合せ、スリット幅調整が終った段階で光検出器PM
は測光出力v1が基準電圧Vrと等しくなるようにダイ
ノード印加電圧が調整されており、直流−直流変換器D
Dの入力電圧はサンプルホールド回路SHのコンデンサ
Cに記憶されている。従ってその後スイッチ8vrlを
開いてもPMの感゛度はSwlを開く直前の感度に保持
され、この状態にあってはVi=Vrである。Vrは吸
光度変換器LOGの出力がVi=’VrのときOとなる
ように設定してあ。
るので、以上の操作で所要の調整が自動的に終り、操作
はスイッチSwlのオンオフだけで第1図に示しだ可変
抵抗VRIを表示部の表示が0になるように調節すると
云った手間は全く不要である。
はスイッチSwlのオンオフだけで第1図に示しだ可変
抵抗VRIを表示部の表示が0になるように調節すると
云った手間は全く不要である。
第3図は本発明の他の実施例を示す。この実施例の装置
も原子吸光分析装置であるが、輝線スペクトル光源1(
CLの他に連続スペクトル光源りを用いてパックグラウ
ンド補正を行うようになっている。これら2種の光源の
光はハーフミラ−HMを通して同一光路上に乗り、試料
原子化部ATM、分光器MCを通り光検出器PMに入射
するようにな、っている。ハーフミラ−HMは円周方向
に透過率と反射率の比が変っており、回転の角位置を変
えることで両光源の光の比率を変えられるようにしであ
る。。MTはハーフミラ−HMの角位置をの信号により
制御されている。D、Cは信号選別器で発振器OBCの
出力信号により制御され、プリアンプPAの出力(測光
出力)をHC−Lの光によるものe)1とDの光による
ものeDとに選別する。
も原子吸光分析装置であるが、輝線スペクトル光源1(
CLの他に連続スペクトル光源りを用いてパックグラウ
ンド補正を行うようになっている。これら2種の光源の
光はハーフミラ−HMを通して同一光路上に乗り、試料
原子化部ATM、分光器MCを通り光検出器PMに入射
するようにな、っている。ハーフミラ−HMは円周方向
に透過率と反射率の比が変っており、回転の角位置を変
えることで両光源の光の比率を変えられるようにしであ
る。。MTはハーフミラ−HMの角位置をの信号により
制御されている。D、Cは信号選別器で発振器OBCの
出力信号により制御され、プリアンプPAの出力(測光
出力)をHC−Lの光によるものe)1とDの光による
ものeDとに選別する。
θH1θDは夫々吸光度変換器LOG:L、LOG2で
吸光度値eHL及びeDLに変換されて引算回路5UB
Iによって引算されバックグラウンド補正された吸光度
値が表示部Mlにおいて表示される。
吸光度値eHL及びeDLに変換されて引算回路5UB
Iによって引算されバックグラウンド補正された吸光度
値が表示部Mlにおいて表示される。
SHは第2図におけると同じサンプルホールド回路であ
るが、スイッチSWIは手動でなくビームバランス制御
部BBCから指令信号で自動的に操作され名。誤差増幅
器KAには連続スペクトル光源りの光の測光出力θDが
入力されて基準電圧Vrと比較される。従って光検出器
PMは9])=Vrとなるように感度調整がなされる。
るが、スイッチSWIは手動でなくビームバランス制御
部BBCから指令信号で自動的に操作され名。誤差増幅
器KAには連続スペクトル光源りの光の測光出力θDが
入力されて基準電圧Vrと比較される。従って光検出器
PMは9])=Vrとなるように感度調整がなされる。
引算器5UBIの出力vOが比較器CPI及びCF2に
印加されて基準電圧+War及び−rVcrと比較され
る。CPUは入力vOがVo)十Verのとき出力1.
その他出力0.CP2は入力VoがvO(−V e r
のとき出力IIその他出力0である。
印加されて基準電圧+War及び−rVcrと比較され
る。CPUは入力vOがVo)十Verのとき出力1.
その他出力0.CP2は入力VoがvO(−V e r
のとき出力IIその他出力0である。
従って−Vcr≦Vo≦VcrのときはCPI。
CF2の出力は共に00ビ一ムバランス制御部BBCは
CPl、、CF2(7)出力が共ニo、即ち−Vc r
< V o≦VQrとなるようにモー2りMTを駆動
しでハーフミラ−)IMの角位置を設定する。前述した
ようにハーフミラ−HMは円周方向に透過率と反射率と
の比率が変っている゛ので、この動作により引算器5U
BIの出力■0の絶対値がVer以下となるように調整
される。この動作は試料が供給されていないときに輝線
光源HCLの光と連続スペクトル光源りの光の測光出力
を略一致させ吸光度信号が0となるように2つの光源の
光をバランスさせるものである。スイッチSw2はビー
ムバランス制御部BBCの動作をスタートさせる手動ス
イッチである。
CPl、、CF2(7)出力が共ニo、即ち−Vc r
< V o≦VQrとなるようにモー2りMTを駆動
しでハーフミラ−)IMの角位置を設定する。前述した
ようにハーフミラ−HMは円周方向に透過率と反射率と
の比率が変っている゛ので、この動作により引算器5U
BIの出力■0の絶対値がVer以下となるように調整
される。この動作は試料が供給されていないときに輝線
光源HCLの光と連続スペクトル光源りの光の測光出力
を略一致させ吸光度信号が0となるように2つの光源の
光をバランスさせるものである。スイッチSw2はビー
ムバランス制御部BBCの動作をスタートさせる手動ス
イッチである。
第4図は上述ビームバランス制御部BBCの動作のフロ
ーチャートである。装置のオペレータは2つの光源HC
L及びDを点灯し、分光器Mの波長設定、スリット幅調
整を行った後スイッチSw2を押すだけでよい。スイッ
チSV2オン(第4図イ)によってサンプルホールド回
路SHのサンプリングスイッチSw1がオンされ(第4
図口)、判定ハにおいて比較器cp1.CP2の各出力
VC1,■C2ともOか否か判定され、判定Noのとき
はハーフミラ−HMを回転させ(第4図二)、判定ハが
YESになったら8wlオフとしく第4図ホ)サンプル
ホールド回路EIHをホールド状態にする。以上でBB
Cの動作が稍り、分析装置の感度調整が終る。
ーチャートである。装置のオペレータは2つの光源HC
L及びDを点灯し、分光器Mの波長設定、スリット幅調
整を行った後スイッチSw2を押すだけでよい。スイッ
チSV2オン(第4図イ)によってサンプルホールド回
路SHのサンプリングスイッチSw1がオンされ(第4
図口)、判定ハにおいて比較器cp1.CP2の各出力
VC1,■C2ともOか否か判定され、判定Noのとき
はハーフミラ−HMを回転させ(第4図二)、判定ハが
YESになったら8wlオフとしく第4図ホ)サンプル
ホールド回路EIHをホールド状態にする。以上でBB
Cの動作が稍り、分析装置の感度調整が終る。
上の動作で連続スペクトル光の測光出力θD’に対する
吸光度変換器LOG2に対してのみθD−Vrとなるよ
うにフィードバック回路は構成されているが、ビームバ
ランス動作によって試料が供給されていないときのeH
が略eDと等しくなるように調整されるので、この場合
eHも亦略Vrとなっている。従ってVrを吸光度変換
部LOG1、LOG2夫々に対し直線性の最も良い範囲
にあるように選定しておくことにより、L OG 1゜
LOG2両方に対し最適の感度調整がなされることにな
る。なお、またこの実施例ではeDについてフィードバ
ックを行っているが、eHについてフィードバックを行
うように構成してもよい。
吸光度変換器LOG2に対してのみθD−Vrとなるよ
うにフィードバック回路は構成されているが、ビームバ
ランス動作によって試料が供給されていないときのeH
が略eDと等しくなるように調整されるので、この場合
eHも亦略Vrとなっている。従ってVrを吸光度変換
部LOG1、LOG2夫々に対し直線性の最も良い範囲
にあるように選定しておくことにより、L OG 1゜
LOG2両方に対し最適の感度調整がなされることにな
る。なお、またこの実施例ではeDについてフィードバ
ックを行っているが、eHについてフィードバックを行
うように構成してもよい。
なお引算器5UB2はeDLとeDLoとの差奪求めて
表示部M+に表示:するもので、θDLOはeD=Vr
のときの1.OG2の出力であり、調整動作完了によっ
てMlの表示はOになる。
表示部M+に表示:するもので、θDLOはeD=Vr
のときの1.OG2の出力であり、調整動作完了によっ
てMlの表示はOになる。
本発明装置は上述したような構成で、スイッチのオンオ
フと云う単一操作だけでかつ表示を目視しながら操作す
る必要もなく、きわめて簡単に分光光度計の感度調整が
でき、オペレータの負担軽減1分析作業の能率化が可能
となる。
フと云う単一操作だけでかつ表示を目視しながら操作す
る必要もなく、きわめて簡単に分光光度計の感度調整が
でき、オペレータの負担軽減1分析作業の能率化が可能
となる。
第1図は従来例のブロック図、第2図は本発明の一実施
例装置のブロック図、第3図は本発明の他の一実施例装
置のブロック図、第4図は第3図の装置の動作を示すフ
ローチャートである。 FM・・・光検出器、LOG・・・吸光度変換器、M・
・・表示部、EA・・・誤差増幅器、SH・・・サンプ
ルホールド回路、Swl・・・サンプリングスイッチ、
DD、、。 直流−直流変換器、HCL・・・輝線スペクトル光源、
ATM・・・試料原子化部、MC・・・分光器、D・・
・連続スペクトル光源、BBC・・・ビームバランス制
御部、5UBI、5UB2・・・引算器。 代理人 弁理士 孫 浩 介
例装置のブロック図、第3図は本発明の他の一実施例装
置のブロック図、第4図は第3図の装置の動作を示すフ
ローチャートである。 FM・・・光検出器、LOG・・・吸光度変換器、M・
・・表示部、EA・・・誤差増幅器、SH・・・サンプ
ルホールド回路、Swl・・・サンプリングスイッチ、
DD、、。 直流−直流変換器、HCL・・・輝線スペクトル光源、
ATM・・・試料原子化部、MC・・・分光器、D・・
・連続スペクトル光源、BBC・・・ビームバランス制
御部、5UBI、5UB2・・・引算器。 代理人 弁理士 孫 浩 介
Claims (1)
- 測光出力を基準値と比較する誤差増幅器と、サンプリン
グスイッチを介して上記誤差増幅器の出力が入力される
サンプルホールド回路とによってフィードバック回路が
構成され利得制御がなされ、上記サンプリングスイッチ
をオフとした場合、上記サンプルホールド回路の記憶信
号によシ感度が制御されるようにした測光系を備えた分
光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19324081A JPS5892931A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19324081A JPS5892931A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5892931A true JPS5892931A (ja) | 1983-06-02 |
| JPS6246822B2 JPS6246822B2 (ja) | 1987-10-05 |
Family
ID=16304656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19324081A Granted JPS5892931A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5892931A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4726679A (en) * | 1986-03-03 | 1988-02-23 | The Perkin-Elmer Corporation | Flame atomic absorption spectrophtometer including apparatus and method for logarithmic conversion |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5443492A (en) * | 1977-08-17 | 1979-04-06 | Westinghouse Electric Corp | Electroacoustic transducer |
-
1981
- 1981-11-30 JP JP19324081A patent/JPS5892931A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5443492A (en) * | 1977-08-17 | 1979-04-06 | Westinghouse Electric Corp | Electroacoustic transducer |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4726679A (en) * | 1986-03-03 | 1988-02-23 | The Perkin-Elmer Corporation | Flame atomic absorption spectrophtometer including apparatus and method for logarithmic conversion |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6246822B2 (ja) | 1987-10-05 |
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