JPS6311633Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6311633Y2 JPS6311633Y2 JP1981074204U JP7420481U JPS6311633Y2 JP S6311633 Y2 JPS6311633 Y2 JP S6311633Y2 JP 1981074204 U JP1981074204 U JP 1981074204U JP 7420481 U JP7420481 U JP 7420481U JP S6311633 Y2 JPS6311633 Y2 JP S6311633Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration
- gas
- section
- electronic circuit
- solenoid valve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は自動校正装置付のガス濃度計の改良
に関する。
に関する。
従来の自動校正装置付のガス濃度計は、予め設
定した一定の周期で自動的に、ゼロガスあるいは
スパンガスを濃度計へ導入しゼロあるいはスパン
を校正する方法によるものであつた。
定した一定の周期で自動的に、ゼロガスあるいは
スパンガスを濃度計へ導入しゼロあるいはスパン
を校正する方法によるものであつた。
この方法の欠点は、予め設定した一定の周期で
校正の動作を行うので、校正不要の場合でも校正
時間中、試料ガスを濃度計へ導入できないことに
よる測定不能状態即ち欠測が生じてしまうことで
ある。校正不要の場合とは、ゼロあるいはスパン
のドリフトが測定精度内にある場合である。まず
従来のこの種ガス濃度計について説明する。
校正の動作を行うので、校正不要の場合でも校正
時間中、試料ガスを濃度計へ導入できないことに
よる測定不能状態即ち欠測が生じてしまうことで
ある。校正不要の場合とは、ゼロあるいはスパン
のドリフトが測定精度内にある場合である。まず
従来のこの種ガス濃度計について説明する。
第１図は従来の自動校正装置付ガス濃度計の構
成の代表例であるが、この考案の説明に直接関与
しない部分は示していない。第１図の構成におい
て、分析部１が赤外線吸収法、紫外線吸収法、化
学発光法等の原理によりガス濃度分析を行う部分
である。通常の測定モードでは、ガス用電磁弁２
が開かれ、試料ガスG1がポンプ３により吸引さ
れ、分析部１に導かれる。分析部１で上記のよう
な光学的手法で検出された上記ガスG1に対応す
る信号は電子回路部４で処理されガス濃度が求め
られる。一方自動校正は次のように行われる。タ
イマー回路５で予め設定した校正周期、例えば１
時間毎に制御回路６の制御信号によりゼロガス
G2用電磁弁７（スパン校正の場合はスパンガス
G3用電磁弁８）が開かれ空気または窒素ガス
（スパン校正の場合は一酸化窒素、二酸化硫黄等
の校正ガス）が分析部１に導かれる。そして電子
回路部４の出力は校正回路９に入れられ、制御回
路６の制御信号によりゼロ点がずれていれば（ス
パン校正の場合は校正ガス濃度値からずれていれ
ば）サーボが動作し、電子回路部４内の増幅器に
ゼロ点ずれを相殺する方向に電位が加えられ（ス
パン校正の場合は出力と校正ガス濃度値が一致す
るよう上記増幅器のゲインが変えられ）校正が行
われる。
成の代表例であるが、この考案の説明に直接関与
しない部分は示していない。第１図の構成におい
て、分析部１が赤外線吸収法、紫外線吸収法、化
学発光法等の原理によりガス濃度分析を行う部分
である。通常の測定モードでは、ガス用電磁弁２
が開かれ、試料ガスG1がポンプ３により吸引さ
れ、分析部１に導かれる。分析部１で上記のよう
な光学的手法で検出された上記ガスG1に対応す
る信号は電子回路部４で処理されガス濃度が求め
られる。一方自動校正は次のように行われる。タ
イマー回路５で予め設定した校正周期、例えば１
時間毎に制御回路６の制御信号によりゼロガス
G2用電磁弁７（スパン校正の場合はスパンガス
G3用電磁弁８）が開かれ空気または窒素ガス
（スパン校正の場合は一酸化窒素、二酸化硫黄等
の校正ガス）が分析部１に導かれる。そして電子
回路部４の出力は校正回路９に入れられ、制御回
路６の制御信号によりゼロ点がずれていれば（ス
パン校正の場合は校正ガス濃度値からずれていれ
ば）サーボが動作し、電子回路部４内の増幅器に
ゼロ点ずれを相殺する方向に電位が加えられ（ス
パン校正の場合は出力と校正ガス濃度値が一致す
るよう上記増幅器のゲインが変えられ）校正が行
われる。
校正の周期は、通常１時間から24時間までのい
ずれかに設定される。これらの校正周期は測定精
度を維持するために必要十分な周期が設定される
のが望ましい。
ずれかに設定される。これらの校正周期は測定精
度を維持するために必要十分な周期が設定される
のが望ましい。
ここで、ゼロドリフトあるいはスパンドリフト
は機器の相異、同じ濃度計であつても調整の相
異、使用環境条件の相異、使用期間の相異等によ
りドリフト量が変るのでどんな条件でも同じ周期
で校正することは適確ではない。ただ、このよう
に種々の相異に対し、個々の濃度計ごとに、また
使用期間を終るに従い最適な同期を設定すること
は技術的にも経済的にも非常に困難な為に通常使
用される殆どの場合に対し測定精度を維持できる
周期が予め設定される場合が多い。
は機器の相異、同じ濃度計であつても調整の相
異、使用環境条件の相異、使用期間の相異等によ
りドリフト量が変るのでどんな条件でも同じ周期
で校正することは適確ではない。ただ、このよう
に種々の相異に対し、個々の濃度計ごとに、また
使用期間を終るに従い最適な同期を設定すること
は技術的にも経済的にも非常に困難な為に通常使
用される殆どの場合に対し測定精度を維持できる
周期が予め設定される場合が多い。
従つて、上記のような条件、状態が良い場合に
は設定された校正周期は過剰となり不要な欠測時
間を多くしてしまう結果となる。特に短時間の周
期で校正を行うような場合は、必要だから行うよ
うに配慮されなければならないが、個々に必要な
周期を定めることは前述のように現実的ではな
い。そこでこの考案においては最適な校正の周期
をガス濃度計が自動的に選択するようにし、上記
の問題点の解決を図つたものである。第２図はこ
の考案によるガス濃度計の構成を示すもので、第
１図で示した従来の構成の他に比較回路１０を設
けて、ゼロ点の許容誤差あるいはスパンの許容誤
差を例えば夫々測定最大濃度の±２％というよう
な値を電圧値で設定し出力がこれらの許容誤差以
内か以外かを判別する。そしてタイマー回路５は
種々の周期が得られるようにしてあり、比較回路
１０からの制御信号１１により周期が選択される
ようにしておく。
は設定された校正周期は過剰となり不要な欠測時
間を多くしてしまう結果となる。特に短時間の周
期で校正を行うような場合は、必要だから行うよ
うに配慮されなければならないが、個々に必要な
周期を定めることは前述のように現実的ではな
い。そこでこの考案においては最適な校正の周期
をガス濃度計が自動的に選択するようにし、上記
の問題点の解決を図つたものである。第２図はこ
の考案によるガス濃度計の構成を示すもので、第
１図で示した従来の構成の他に比較回路１０を設
けて、ゼロ点の許容誤差あるいはスパンの許容誤
差を例えば夫々測定最大濃度の±２％というよう
な値を電圧値で設定し出力がこれらの許容誤差以
内か以外かを判別する。そしてタイマー回路５は
種々の周期が得られるようにしてあり、比較回路
１０からの制御信号１１により周期が選択される
ようにしておく。
このような構成においてはじめ適当な周期を手
動で設定しておく。前述のような手順で自動校正
の動作になると、出力が設定された許容誤差以内
であれば校正はしないで校正の周期を一段上げる
（例えば６時間を７時間に上げる）制御信号１１
をタイマー回路５に与える。許容誤差からずれれ
ば校正を行ない、かつ校正の周期を一段下げる
（例えば６時間を５時間に下げる）制御信号１１
をタイマー回路５に与える。
動で設定しておく。前述のような手順で自動校正
の動作になると、出力が設定された許容誤差以内
であれば校正はしないで校正の周期を一段上げる
（例えば６時間を７時間に上げる）制御信号１１
をタイマー回路５に与える。許容誤差からずれれ
ば校正を行ない、かつ校正の周期を一段下げる
（例えば６時間を５時間に下げる）制御信号１１
をタイマー回路５に与える。
このような動作を順次行ない、タイマー回路５
から出る校正周期信号はそのときの機器の性能に
応じて必要十分な校正周期を求めて自動的に変え
られる。
から出る校正周期信号はそのときの機器の性能に
応じて必要十分な校正周期を求めて自動的に変え
られる。
上記実施例では、校正回路から電子回路部４内
の増幅器にそのゼロ点又はゲインを変化させる信
号を加え、電子回路部４の出力を校正するように
なつているが、電子回路部４の出力は直接校正し
ないで、出力側に別途、増幅器を設け、この増幅
器の出力を前述と同様の方法で校正してもよい。
このような構成はガス濃度計本体と自動校正装置
とを容易に分離又は付加するのに都合がよい。
の増幅器にそのゼロ点又はゲインを変化させる信
号を加え、電子回路部４の出力を校正するように
なつているが、電子回路部４の出力は直接校正し
ないで、出力側に別途、増幅器を設け、この増幅
器の出力を前述と同様の方法で校正してもよい。
このような構成はガス濃度計本体と自動校正装置
とを容易に分離又は付加するのに都合がよい。
なお、説明の便宜上、アナログ回路の構成にて
述べたが、マイコンを導入した構成でも本考案を
実現できることは言う迄もない。
述べたが、マイコンを導入した構成でも本考案を
実現できることは言う迄もない。
この考案は従来の校正周期を一定値に設定する
方法と異なり、機器の性能に対応して機器自ら最
適な校正周期を求めることを特徴としている。こ
のため、精度維持に必要な校正のみ行い過剰な校
正は行なわないので、校正による欠測を低減させ
ることができる。
方法と異なり、機器の性能に対応して機器自ら最
適な校正周期を求めることを特徴としている。こ
のため、精度維持に必要な校正のみ行い過剰な校
正は行なわないので、校正による欠測を低減させ
ることができる。
第１図は従来の自動校正装置付のガス濃度計の
構成例を示すブロツク図、第２図はこの考案によ
るガス濃度計の構成を示すブロツク図であり、図
中、１は分析部、２はガス用電磁弁、３はポン
プ、４は電子回路部、５はタイマー回路、６は制
御回路、７はゼロ用電磁弁、８はスパン用電磁
弁、９は校正回路、１０は比較回路、G1は試料
ガス、G2はゼロガス、G3はスパンガスである。
なお、図中同一あるいは相当部分には同一符号を
付して示してある。
構成例を示すブロツク図、第２図はこの考案によ
るガス濃度計の構成を示すブロツク図であり、図
中、１は分析部、２はガス用電磁弁、３はポン
プ、４は電子回路部、５はタイマー回路、６は制
御回路、７はゼロ用電磁弁、８はスパン用電磁
弁、９は校正回路、１０は比較回路、G1は試料
ガス、G2はゼロガス、G3はスパンガスである。
なお、図中同一あるいは相当部分には同一符号を
付して示してある。
Claims (1)
- ゼロ点校正、スパン校正のための校正用ガス
と、試料ガスと上記校正用ガスを導入するため上
記各ガスに対応して設けた電磁弁と、上記ガスを
上記電磁弁を介して導くためのポンプと、上記電
磁弁およびポンプを介して導入されたガスの濃度
分析を行う分析部と、上記分析部での分析結果を
電気信号に変換する電子回路部と、校正周期を設
定するタイマー回路と、校正時、上記タイマー回
路で設定された時間ごとに上記電磁弁を制御して
上記校正用ガスを上記分析部に導入させる制御回
路と、上記校正用ガスに対する上記電子回路部の
出力を入力し上記制御回路の制御信号により上記
電子回路部の出力が所定の値となるように上記電
子回路部へ校正信号を出力する校正回路とを備え
たガス濃度計において、校正時、上記校正用ガス
に対する上記電子回路部の出力をあらかじめ設定
してある測定濃度に対するゼロ点又はスパンの許
容誤差値と比較し、その比較結果に応じて上記タ
イマー回路の校正周期を変化させる比較器を設け
たことを特徴とするガス濃度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981074204U JPS6311633Y2 (ja) | 1981-05-22 | 1981-05-22 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981074204U JPS6311633Y2 (ja) | 1981-05-22 | 1981-05-22 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57186846U JPS57186846U (ja) | 1982-11-27 |
| JPS6311633Y2 true JPS6311633Y2 (ja) | 1988-04-05 |
Family
ID=29869982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1981074204U Expired JPS6311633Y2 (ja) | 1981-05-22 | 1981-05-22 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6311633Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012124269A1 (ja) * | 2011-03-11 | 2012-09-20 | パナソニックヘルスケア株式会社 | 窒素酸化物濃度測定装置 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6131952A (ja) * | 1984-07-25 | 1986-02-14 | Horiba Ltd | 自動校正機能付濃度計 |
| JP3274656B2 (ja) * | 1999-04-14 | 2002-04-15 | 日本酸素株式会社 | ガスの分光分析方法および分光分析装置 |
| JP4591105B2 (ja) * | 2004-05-31 | 2010-12-01 | 横河電機株式会社 | 校正方法 |
| JP2006253556A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Jeol Ltd | 荷電粒子ビーム描画装置の校正方法 |
| JP5084395B2 (ja) * | 2007-08-10 | 2012-11-28 | 紀本電子工業株式会社 | ガス計測器 |
| EP2518466B1 (en) * | 2009-12-25 | 2020-01-22 | Horiba, Ltd. | Gas analysis system |
| JP2012013573A (ja) * | 2010-07-01 | 2012-01-19 | Ibaraki Univ | オゾン濃度計及び該オゾン濃度計を備えたオゾン濃度監視用キット |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6329251Y2 (ja) * | 1980-11-28 | 1988-08-05 |
-
1981
- 1981-05-22 JP JP1981074204U patent/JPS6311633Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012124269A1 (ja) * | 2011-03-11 | 2012-09-20 | パナソニックヘルスケア株式会社 | 窒素酸化物濃度測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57186846U (ja) | 1982-11-27 |
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