JPS5920972B2 - 欠点検出装置 - Google Patents
欠点検出装置Info
- Publication number
- JPS5920972B2 JPS5920972B2 JP6609677A JP6609677A JPS5920972B2 JP S5920972 B2 JPS5920972 B2 JP S5920972B2 JP 6609677 A JP6609677 A JP 6609677A JP 6609677 A JP6609677 A JP 6609677A JP S5920972 B2 JPS5920972 B2 JP S5920972B2
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- defects
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は帯状材の品質判定に適した欠点検出装置に関す
る。
る。
帯状材を走行させながらその幅の方に走査して欠点検出
を行い、帯状材の一定長さ毎にその中に含まれる欠点の
数又は長さ（帯状材の長さ方向の長さ）の総計が或る設
定限度以上あれば帯状材のその一定長さの部分全部を不
良とする方法が通常用いられている。
を行い、帯状材の一定長さ毎にその中に含まれる欠点の
数又は長さ（帯状材の長さ方向の長さ）の総計が或る設
定限度以上あれば帯状材のその一定長さの部分全部を不
良とする方法が通常用いられている。
この方法によると例えば第１図ａ、ｂ、ｃの３種の欠点
の在り方は区別できない５ ことになる。これらの図で
ｚが帯状材でありｅが欠点を表わす。第１図ａは欠点が
一本の線でＸの長さがあり、第１図ｂは幅方向の一つの
線上に５本の傷が並んで各傷の長さの和がｘであり、第
１図ｃは２つの傷は幅方向に並び他の２つの傷は帯１０
の長さ方向に並んで各傷の長さの和がｘに等しい。これ
ら３種の場合とも帯状材の一定長さ中に含まれる欠点（
傷）の長さの総和によつて良否判定をする場合、全部同
じ品質と判定される。しかし実際はその帯状材がどう云
う用途に用いられるかに１５より材料取りの関係等で第
１図ａは不良だが同ｂは傷の所だけ切取れば良く良品で
ある、又は第１図ａは良いがをは悪い等種々な場合があ
り、それらを一律に傷等の総延長又は総数で良否判定す
るのは不合理であり不経済である。２０本発明は帯状材
において欠点を検出すると共に検出信号を適当に処理し
て上記第１図ａ−ｃのような欠点の分布様式の差異を明
かにし良否判別を種々の目的に応じた合理的なものとな
し得るようにすることを目的としている。
の在り方は区別できない５ ことになる。これらの図で
ｚが帯状材でありｅが欠点を表わす。第１図ａは欠点が
一本の線でＸの長さがあり、第１図ｂは幅方向の一つの
線上に５本の傷が並んで各傷の長さの和がｘであり、第
１図ｃは２つの傷は幅方向に並び他の２つの傷は帯１０
の長さ方向に並んで各傷の長さの和がｘに等しい。これ
ら３種の場合とも帯状材の一定長さ中に含まれる欠点（
傷）の長さの総和によつて良否判定をする場合、全部同
じ品質と判定される。しかし実際はその帯状材がどう云
う用途に用いられるかに１５より材料取りの関係等で第
１図ａは不良だが同ｂは傷の所だけ切取れば良く良品で
ある、又は第１図ａは良いがをは悪い等種々な場合があ
り、それらを一律に傷等の総延長又は総数で良否判定す
るのは不合理であり不経済である。２０本発明は帯状材
において欠点を検出すると共に検出信号を適当に処理し
て上記第１図ａ−ｃのような欠点の分布様式の差異を明
かにし良否判別を種々の目的に応じた合理的なものとな
し得るようにすることを目的としている。
２５本発明は帯状材の一定長或は全長において、欠点の
総数又は総延長と、帯状材の一つの幅方向の線上に並ん
だ欠点はその数の如何にかゝわらず一個（又は一単位長
）の欠点として計算した欠点総数又は総延長の二つの情
報を提供する欠点検査装３０置を要旨とする、上述本発
明によると帯状材の一定長における欠点の総延長をＬ、
幅方向に略一列に並んだ欠点は一個（一単位長）の欠点
とした欠点の総延長をｌとすると、第１図ａではＬ＝１
であり、同ｂでは３５Ｌ＞１（具体的には１＝Ｌ１５）
であり、同ｃでもＬ＞１であるが、この場合のｌは第１
図ｂの場合のｌより大である。
総数又は総延長と、帯状材の一つの幅方向の線上に並ん
だ欠点はその数の如何にかゝわらず一個（又は一単位長
）の欠点として計算した欠点総数又は総延長の二つの情
報を提供する欠点検査装３０置を要旨とする、上述本発
明によると帯状材の一定長における欠点の総延長をＬ、
幅方向に略一列に並んだ欠点は一個（一単位長）の欠点
とした欠点の総延長をｌとすると、第１図ａではＬ＝１
であり、同ｂでは３５Ｌ＞１（具体的には１＝Ｌ１５）
であり、同ｃでもＬ＞１であるが、この場合のｌは第１
図ｂの場合のｌより大である。
このようにＬ）ｌの大小関係及び１のＬに対する比率等
により欠点の分布状態が把握できる。以下実施例によつ
て本発明を説明する。第２図においてｚは検査すべき帯
状材で図の紙面に垂直の方向に走査しており、１は欠点
検出器である。
により欠点の分布状態が把握できる。以下実施例によつ
て本発明を説明する。第２図においてｚは検査すべき帯
状材で図の紙面に垂直の方向に走査しており、１は欠点
検出器である。
この欠点検出器は帯状材ｚの光学的な像を作り、それを
帯状材の幅方向に走査し光電変換によつてビデオ信号を
得る。この信号は増幅器２で増幅した後弁別回路３でレ
ベル選別して欠点を検出するものであり、第３図ａはそ
のビデオ信号を示し、Ｔの範囲が一回の走査に相当し、
Ｖ８が欠点の信号である。第３図ｂはレベル選別により
第３図ａから欠点信号。のみを取出したものである。欠
点が帯状材の長さ方向に長く延びているときはビデオ信
号の毎走査分毎に同じ所に欠点信号が現れる。従つて第
３図ｂの信号をカウンタで計数すれば欠点の総延長が得
られる。増幅器２の出力即ち第３図ａのビデオ信号はレ
ベルＣに設定されたレベル選別器４によりビデオ信号の
立上りが検出され、この立上り検出信号は遅延回路５を
通してフリツプフロツプ６のりセツト入力端子に印加さ
れる。同フリツプフロツプのセツト入力端子には弁別回
路３の出力即ち第３図ｂの信号が印加される。遅延回路
５の遅延時間は第３図でｔに採つてある。従つてフリツ
プフロツプ６は第３図ｂの信号でセツトされ、ビデオ信
号の一走査の終りｒにおいてりセツトされる。第３図ｃ
は遅延回路５の出力信号、同ｄはフリツプフロツプ６の
セツト出力を示す。フリツプフロツプ６は弁別回路３よ
り欠点検出信号が出ればセツトされ以後一走査の間に何
回欠点が検出されてもセツトのまＸであり走査の終りに
りセツトされるから、フリツプフロツプ６のセツト出力
は欠点が帯状材の幅方向にト列に並んでいる場合これを
一つの欠点として計算する信号となつている。そこで弁
別器３の出力（第３図ｂ）をカウンタ７にまたフリツプ
フロツプ６のセツト出力をカウンタ８によつて計数する
と、カウンタ７は前述したＬ即ち欠点の総延長を表わし
、カウンタ８は幅方向に並んだ欠点は一つとして計算し
た欠点の全長１を与えることになる。
帯状材の幅方向に走査し光電変換によつてビデオ信号を
得る。この信号は増幅器２で増幅した後弁別回路３でレ
ベル選別して欠点を検出するものであり、第３図ａはそ
のビデオ信号を示し、Ｔの範囲が一回の走査に相当し、
Ｖ８が欠点の信号である。第３図ｂはレベル選別により
第３図ａから欠点信号。のみを取出したものである。欠
点が帯状材の長さ方向に長く延びているときはビデオ信
号の毎走査分毎に同じ所に欠点信号が現れる。従つて第
３図ｂの信号をカウンタで計数すれば欠点の総延長が得
られる。増幅器２の出力即ち第３図ａのビデオ信号はレ
ベルＣに設定されたレベル選別器４によりビデオ信号の
立上りが検出され、この立上り検出信号は遅延回路５を
通してフリツプフロツプ６のりセツト入力端子に印加さ
れる。同フリツプフロツプのセツト入力端子には弁別回
路３の出力即ち第３図ｂの信号が印加される。遅延回路
５の遅延時間は第３図でｔに採つてある。従つてフリツ
プフロツプ６は第３図ｂの信号でセツトされ、ビデオ信
号の一走査の終りｒにおいてりセツトされる。第３図ｃ
は遅延回路５の出力信号、同ｄはフリツプフロツプ６の
セツト出力を示す。フリツプフロツプ６は弁別回路３よ
り欠点検出信号が出ればセツトされ以後一走査の間に何
回欠点が検出されてもセツトのまＸであり走査の終りに
りセツトされるから、フリツプフロツプ６のセツト出力
は欠点が帯状材の幅方向にト列に並んでいる場合これを
一つの欠点として計算する信号となつている。そこで弁
別器３の出力（第３図ｂ）をカウンタ７にまたフリツプ
フロツプ６のセツト出力をカウンタ８によつて計数する
と、カウンタ７は前述したＬ即ち欠点の総延長を表わし
、カウンタ８は幅方向に並んだ欠点は一つとして計算し
た欠点の全長１を与えることになる。
９は帯状材ｚに接して回転するパルス発生器で、帯状材
ｚの一定走行長毎に１個のパルス信号を出し、カウンタ
７，８をりセツトする。
ｚの一定走行長毎に１個のパルス信号を出し、カウンタ
７，８をりセツトする。
１０，１１は予め一定数に設定された比較器でカウンタ
７，８の何れかの計数出力がその一定数と比較され、一
定数を超えたとき、対応する比較器から信号が出され、
これはオア回路０Ｒを通して不良信号としてレコーダＲ
に送られ、帯状材の単位長さの信号と共に記録される。
７，８の何れかの計数出力がその一定数と比較され、一
定数を超えたとき、対応する比較器から信号が出され、
これはオア回路０Ｒを通して不良信号としてレコーダＲ
に送られ、帯状材の単位長さの信号と共に記録される。
比較器１０，１１に設定される数ぱもちろん互に独立で
あり、帯状材の用途等により任意適当に選ばれる。本発
明装置は上述したような構成で、単に帯状材の単位長に
おける欠点の総数とか総延長だけでなくその分布様式の
差異をも数量化して表わすので帯状材の用途等に適した
合理的な良否判別ができることになる。
あり、帯状材の用途等により任意適当に選ばれる。本発
明装置は上述したような構成で、単に帯状材の単位長に
おける欠点の総数とか総延長だけでなくその分布様式の
差異をも数量化して表わすので帯状材の用途等に適した
合理的な良否判別ができることになる。
第１図は帯状材の欠点の分布様式の三代表を示す図、第
２図ぱ本発明の一実施例を示すプロツク図、第３図は上
記の動作を説明するタイムチヤートであるらｚ・・・・
・・検査される帯状材、１・・・・・・欠点検出器、９
・・・・・・パルス発生器、Ｒ・・・・・・レコーダ。
２図ぱ本発明の一実施例を示すプロツク図、第３図は上
記の動作を説明するタイムチヤートであるらｚ・・・・
・・検査される帯状材、１・・・・・・欠点検出器、９
・・・・・・パルス発生器、Ｒ・・・・・・レコーダ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 走行する被検査材を幅方向に走査する欠点検出器と
、一回の走査における欠点検出信号のうちの最初のもの
のみに対し応答信号を出す手段と、走行する被検査材の
全長又は一定長さの間の上記欠点検出器の検出信号を計
数する装置及び上記応答信号を計数する装置と、前記各
計数する装置の出力を入力し、それぞれ予め設定された
一定数と比較する比較器とを有し、各比較器の超過信号
を被検査材の走行長さ信号と共にレコーダで記録するよ
うにしたことを特徴とする欠点検出装置。 ２ 欠点検出器の一回の走査における最初の欠点検出信
号のみに対して応答信号を出す手段が、上記最初の欠点
検出信号によりセットされ走査の終了後リセットされる
フリップフロップである特許請求の範囲第１項記載の欠
点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6609677A JPS5920972B2 (ja) | 1977-06-03 | 1977-06-03 | 欠点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6609677A JPS5920972B2 (ja) | 1977-06-03 | 1977-06-03 | 欠点検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS541082A JPS541082A (en) | 1979-01-06 |
| JPS5920972B2 true JPS5920972B2 (ja) | 1984-05-16 |
Family
ID=13305995
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6609677A Expired JPS5920972B2 (ja) | 1977-06-03 | 1977-06-03 | 欠点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5920972B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61107143A (ja) * | 1984-10-30 | 1986-05-26 | Mitsubishi Electric Corp | 光学的表面検査装置 |
| JPS626022A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-13 | Sekisui Plastics Co Ltd | 杭基礎の施工方法および埋め込み杭 |
-
1977
- 1977-06-03 JP JP6609677A patent/JPS5920972B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS541082A (en) | 1979-01-06 |
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