JPS5893367A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS5893367A
JPS5893367A JP56192522A JP19252281A JPS5893367A JP S5893367 A JPS5893367 A JP S5893367A JP 56192522 A JP56192522 A JP 56192522A JP 19252281 A JP19252281 A JP 19252281A JP S5893367 A JPS5893367 A JP S5893367A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
junction
type
power supply
semiconductor device
power source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56192522A
Other languages
English (en)
Inventor
Akitoshi Tetsuka
手束 明稔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS5893367A publication Critical patent/JPS5893367A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W20/00Interconnections in chips, wafers or substrates
    • H10W20/40Interconnections external to wafers or substrates, e.g. back-end-of-line [BEOL] metallisations or vias connecting to gate electrodes
    • H10W20/495Capacitive arrangements or effects of, or between wiring layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/50Bond wires
    • H10W72/59Bond pads specially adapted therefor
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/90Bond pads, in general

Landscapes

  • Bipolar Transistors (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体装置の構造に関し、特にバイボー2型半
導体装置の構造に関する。
一般に、パイボー2型半導体装置の製造工程では、p型
半導体基板上に、n型エピタキシャル層を成長させてい
る。さらに上記n型エピタキンヤル層を有する半導体基
板上に%フォトエッチの技法を用いて、半導体装置が形
成される。ウエノ1−上に半導体装置が完成すると1個
々の半導体装置に分割され容器に装着される。ここで容
器と装−との電気的接続は、装置の電極(ボンディング
・パッド)と容器の電極とを金などの金属線で接なぐこ
とにより行なわれる。
さて、近年半導体装置の製造技術は進歩し、半導体装置
を構成するトランジスター、ダイオード′などの素子の
特性は向上してきている。
特に、上記素子の分離を従来のp−n接合に変わり、酸
化膜が用いられるようになってき喪。酸化膜分離は、従
来のp−n接合分離に比べ素子の静電容量が小さい。静
電容量の減少により素子の動作スピードが向上し、半導
体装置のスイッチングが速くなっている。
ところで、酸化膜分離により静電容量が減少したため以
下のような問題が起きている。それは、装置内の回路の
スイッチング時に発生する電源電圧変動が従来に比べ大
金〈なったことである。
この電源電圧変動によ、す、装置のスイッチングが遅く
なっている。
これは、従来p−n接合により生じていた静電容量によ
り吸収されていた電源電圧変動が、静電容量の減少によ
り吸収しきれない為に増加するのでを、る。
さて、上記電源電圧変動を吸収するKは、装置の電源に
大きな静電容量を付ける必要があり、種々の案が出され
ている。
それらは、装置内部にコンデンサーを設けたり。
又は静電容量形成のためVc9−n接合を設けたりする
ものである。しかし、これらの案は、装置の面積を増大
させ、製造工程における収率を低下させている。また、
設計時の自由度を制限している。
本発明の目的は、装置め面□積を増大させることなく、
又設計の自由性を制限することなく電源に大きな静電容
量を付けた半導体装置を提供することKある。
本発明の概略は、電源用ポンディングパッド下VCp−
n接合を形成し、その接合容量を電源に付加することで
ある。
電源用ポンディングパッドの下には、トランジスター、
ダイオードなど装置を構成する素子は形成されていない
。又、その面積は一個当たり約0.01mm”と比較的
大きなものである。ポンディングパッド下においてp 
−n接合を形成すれば、大きな接合容量が得られる。
本発明の特徴は、たとえばn型エピタキシャル層内にお
いて、電源用ポンディングパッド下Kp−n接合を形成
し、n型拡散領域が半導体装置の高い電位の電源に接続
され、又pg拡散領域が低い側の電源に接続されている
ことである。
以下図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図において、高い電位の電源用ボンディング、1′
パッドにおいて本発iを夾施し九場合の1例を示すO 第1図において、p型半導体基板IJ=tcn型エピタ
キシャル層2がある。エビタキクヤル層表面から電源用
ポンディングパッド設置領域およびその周辺にn型不純
物を選択的に拡散し、さらにp型不純物を選択的に拡散
するととくより、n型拡散領域3およびp型拡散嶺域4
が形成されている。
上記2つの領域の界面にて、p−n接合が形成されてい
る。さらに、酸化膜5を介して、電源用ポンディングパ
ッド6がアルミ等により形成されている。ポンディング
パッド6はその一端において。
上記n型拡散領域と接続されている。又% p型拡散領
域4は、アルミ等の配線7により低い側め電源(図示せ
ず)に接続されている。
ここで、上述のn型拡散領域、p型拡散領域および配線
等は特別な工程を追加せず、通常の素子形成と同時に行
ないうろことは明白である。
以上説明したように1本発明によれば、装置の電源に大
きな容量を付加することができる。しかも、容量形成の
ために1装置面積の増加もない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す構造図であり。 本発明を高い電位の電源用ポンディングパッドに適用し
た場合を示す。 図において、1・・・・・・p型半導体基板、2・・・
・・・n型エピタキシャル層、3・・・・・・n型拡散
領域、4・・・・・・p型拡散領域、5・・・・・・酸
化膜、6・・印・電源用ポンディングパッド、7・・・
・・・低い側の電源に接ながる配線、である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 一導電型の半導体基体上に、逆導電型のエピタキシャル
    層を成長して得られる半導体基板を用いて形成された半
    導体装置において、前記逆導電型のエピタキシャル層内
    で、かつ、電源用ポンディングパッド下にp−n接合が
    形成され、該p−n接合の一導電型の不純物領域が上記
    半導体装置の電源のうち、最も低いIIIK接続され、
    逆導電型の不純物領域が高い側に接続されていることを
    特徴とする半導体装置。
JP56192522A 1981-11-30 1981-11-30 半導体装置 Pending JPS5893367A (ja)

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JP56192522A JPS5893367A (ja) 1981-11-30 1981-11-30 半導体装置

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JPS5893367A true JPS5893367A (ja) 1983-06-03

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JP56192522A Pending JPS5893367A (ja) 1981-11-30 1981-11-30 半導体装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02146850U (ja) * 1989-05-12 1990-12-13

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4911587A (ja) * 1972-06-01 1974-02-01

Patent Citations (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4911587A (ja) * 1972-06-01 1974-02-01

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