JPS589361A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子

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Publication number
JPS589361A
JPS589361A JP56105580A JP10558081A JPS589361A JP S589361 A JPS589361 A JP S589361A JP 56105580 A JP56105580 A JP 56105580A JP 10558081 A JP10558081 A JP 10558081A JP S589361 A JPS589361 A JP S589361A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
region
substrate
field oxide
film
oxide film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56105580A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiki Suzuki
鈴木 敏樹
Masayuki Hikiba
正行 引場
Koji Yamashita
浩二 山下
Koichi Mayama
真山 晃一
Michio Yamamura
道男 山村
Hideaki Nakanishi
秀明 中西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP56105580A priority Critical patent/JPS589361A/ja
Publication of JPS589361A publication Critical patent/JPS589361A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/10—Integrated devices
    • H10F39/12—Image sensors
    • H10F39/18—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors
    • H10F39/186—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors having arrangements for blooming suppression

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ウェル層を含む3層構造を有する固体撮像素
子に関するものである。
従来用いられているこの種の固体撮像素子を鮪1#AK
示す。同図において、態形基板1の一生表面Kp形ウェ
ル層2を形成し、ζζに、1形のソース3およびドレイ
ン4ならびにゲート電極5からなるMOlt )ランジ
スタ詳が構成しである。前記ソース3は、p形つェル層
2と共に光ダイオードをも構成してシシ、この光ダイオ
ードと前記MoBトランジスタとからなる各光電変換素
子は、フィールド酸化膜6および層間絶縁膜7,8によ
シ互に絶縁されると共に、AI配線9によって接続され
ている。また、各フィールド酸化IIIの上方にあたる
層間絶縁膜−の上&1ムj層1・が設けである。
上記構成を有する固体撮像素子において、A1層10を
設けることKよシ、前記ソース3およびp形つェル層2
によって構成される光ダイオードの部分以外から1j!
1#光電変換素子に光が入〕込むことを防止する構造が
とられている。
しかしながら、AI層10は、−直に入射して米る光に
対しては有効な防止手段となるが、第2図に示すように
斜め方向に入射し走光11 、11’は該A4層10を
避けて光電変換素子内に入ル込み、ドレイン4の近傍で
光電子12を発生させる。発生した光電子12は拡散な
いしドリフトによシトレイ74に入り込み、垂直スメア
を発生させる原因となっている。
零発−はこのような状況に鑑みてなされたものであ〉、
その目的は漏れ光成分による垂直スメアを防止し九固体
撮像素子を提供することKToる。
このような目的を達成するために、本発明による固体撮
像素子は、フィールド酸化膜下のウェル層幅を、他部分
よりも薄く構成し九ものである。
以下、実施例を用いて本発明による固体撮像素子を詳細
に説明する。
第3図は、本発明による固体撮像素子の一実施例を示す
断面図であシ、第2図と同一部分は同一記号を用いてそ
の詳細説明を省略する。第3図において、態形基板1の
上のシ形ウェル層2は、フィールド酸化膜6の下の部分
において他部分よシ薄く形成しである。このため、p形
つェル層2とn形基板1とKよって形成される空乏層1
3が、フィールド酸化膜6の直15下まで到達している
。
上記構成を有する固体撮像素子において、空乏層ISK
は、n形基板1の方向にプラスの電界がかかつている。
従って、漏れ光成分11によってp形つェル層2の内部
に発生し走光電子12は、この電界によってn形基板1
へ流れ込み、ドレイン4の側へは殆んど流れなくなる。
このため、垂直スメアの発生が大幅に軽減できる。
なお、上述した実施例においては態形基板1の上にp形
つェル層2を設叶、その上Km形ソース。
ドレイン等を形成したn −p −n構造のものについ
てのみ説明し九が、導電形を逆にし九p−n−p構造の
吃のKついても全く同様に、漏れ光成分によって発生し
た電荷を基板側に吸収して垂直スメアを防止する効果が
得られることは言うまでもない。
以上説明したように1本発明による固体撮像素子によれ
ば、フィールド酸化膜下のウェル層幅を他部分よシも薄
く構成したことによシ、当該フィールド酸化膜上方にあ
るムj層を避けて入ル込んで来た漏れ光成分によ)嶋該
部分のウェル層に発生する電荷を、そζに発生する空乏
層を利用して11□ 基板側へ流出させてしまうことができる。従って、前記
漏れ電流成分によって発生した電荷がドレインに流れ込
むことを防止でき、垂直スメアを低減させることができ
るため、S/N比が大幅に増加して性能が向上するとい
う優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は従来の一体操像素子を示す断面図
、第3図は本発明による固体撮像素子の断面図である。 1・・・・態形基板、2・−・・p形りエル層、3・・
・・ソース、4・・・Φドレイン、5・・・・ゲート電
極、6・・・・フィールド酸化膜。 2

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1導電形を有する半導体基板の一主表面に館2導電形
    を有する半導体からなるウェル層を設け、このウェル層
    上に光ダイオードとこの光ダイオードを構成要素の一部
    とするスイッチ用トランジスタとからな)それヤれ1画
    素に対応する複数の光電変換素子を亙にフィールド酸化
    膜で分離して配置し、前記ウェル層は、前記フィールド
    酸化膜の下において他部分よ〉も薄く構成しであること
    を特徴とする固体撮像素子。
JP56105580A 1981-07-08 1981-07-08 固体撮像素子 Pending JPS589361A (ja)

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JPS589361A true JPS589361A (ja) 1983-01-19

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59207640A (ja) * 1983-05-11 1984-11-24 Hitachi Ltd 半導体装置
EP1178534B1 (en) * 2000-06-28 2009-04-08 Kabushiki Kaisha Toshiba MOS type solid-state imager with an isolation region

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