JPS589361A - 固体撮像素子 - Google Patents
固体撮像素子Info
- Publication number
- JPS589361A JPS589361A JP56105580A JP10558081A JPS589361A JP S589361 A JPS589361 A JP S589361A JP 56105580 A JP56105580 A JP 56105580A JP 10558081 A JP10558081 A JP 10558081A JP S589361 A JPS589361 A JP S589361A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- region
- substrate
- field oxide
- film
- oxide film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/18—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors
- H10F39/186—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors having arrangements for blooming suppression
Landscapes
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ウェル層を含む3層構造を有する固体撮像素
子に関するものである。
子に関するものである。
従来用いられているこの種の固体撮像素子を鮪1#AK
示す。同図において、態形基板1の一生表面Kp形ウェ
ル層2を形成し、ζζに、1形のソース3およびドレイ
ン4ならびにゲート電極5からなるMOlt )ランジ
スタ詳が構成しである。前記ソース3は、p形つェル層
2と共に光ダイオードをも構成してシシ、この光ダイオ
ードと前記MoBトランジスタとからなる各光電変換素
子は、フィールド酸化膜6および層間絶縁膜7,8によ
シ互に絶縁されると共に、AI配線9によって接続され
ている。また、各フィールド酸化IIIの上方にあたる
層間絶縁膜−の上&1ムj層1・が設けである。
示す。同図において、態形基板1の一生表面Kp形ウェ
ル層2を形成し、ζζに、1形のソース3およびドレイ
ン4ならびにゲート電極5からなるMOlt )ランジ
スタ詳が構成しである。前記ソース3は、p形つェル層
2と共に光ダイオードをも構成してシシ、この光ダイオ
ードと前記MoBトランジスタとからなる各光電変換素
子は、フィールド酸化膜6および層間絶縁膜7,8によ
シ互に絶縁されると共に、AI配線9によって接続され
ている。また、各フィールド酸化IIIの上方にあたる
層間絶縁膜−の上&1ムj層1・が設けである。
上記構成を有する固体撮像素子において、A1層10を
設けることKよシ、前記ソース3およびp形つェル層2
によって構成される光ダイオードの部分以外から1j!
1#光電変換素子に光が入〕込むことを防止する構造が
とられている。
設けることKよシ、前記ソース3およびp形つェル層2
によって構成される光ダイオードの部分以外から1j!
1#光電変換素子に光が入〕込むことを防止する構造が
とられている。
しかしながら、AI層10は、−直に入射して米る光に
対しては有効な防止手段となるが、第2図に示すように
斜め方向に入射し走光11 、11’は該A4層10を
避けて光電変換素子内に入ル込み、ドレイン4の近傍で
光電子12を発生させる。発生した光電子12は拡散な
いしドリフトによシトレイ74に入り込み、垂直スメア
を発生させる原因となっている。
対しては有効な防止手段となるが、第2図に示すように
斜め方向に入射し走光11 、11’は該A4層10を
避けて光電変換素子内に入ル込み、ドレイン4の近傍で
光電子12を発生させる。発生した光電子12は拡散な
いしドリフトによシトレイ74に入り込み、垂直スメア
を発生させる原因となっている。
零発−はこのような状況に鑑みてなされたものであ〉、
その目的は漏れ光成分による垂直スメアを防止し九固体
撮像素子を提供することKToる。
その目的は漏れ光成分による垂直スメアを防止し九固体
撮像素子を提供することKToる。
このような目的を達成するために、本発明による固体撮
像素子は、フィールド酸化膜下のウェル層幅を、他部分
よりも薄く構成し九ものである。
像素子は、フィールド酸化膜下のウェル層幅を、他部分
よりも薄く構成し九ものである。
以下、実施例を用いて本発明による固体撮像素子を詳細
に説明する。
に説明する。
第3図は、本発明による固体撮像素子の一実施例を示す
断面図であシ、第2図と同一部分は同一記号を用いてそ
の詳細説明を省略する。第3図において、態形基板1の
上のシ形ウェル層2は、フィールド酸化膜6の下の部分
において他部分よシ薄く形成しである。このため、p形
つェル層2とn形基板1とKよって形成される空乏層1
3が、フィールド酸化膜6の直15下まで到達している
。
断面図であシ、第2図と同一部分は同一記号を用いてそ
の詳細説明を省略する。第3図において、態形基板1の
上のシ形ウェル層2は、フィールド酸化膜6の下の部分
において他部分よシ薄く形成しである。このため、p形
つェル層2とn形基板1とKよって形成される空乏層1
3が、フィールド酸化膜6の直15下まで到達している
。
上記構成を有する固体撮像素子において、空乏層ISK
は、n形基板1の方向にプラスの電界がかかつている。
は、n形基板1の方向にプラスの電界がかかつている。
従って、漏れ光成分11によってp形つェル層2の内部
に発生し走光電子12は、この電界によってn形基板1
へ流れ込み、ドレイン4の側へは殆んど流れなくなる。
に発生し走光電子12は、この電界によってn形基板1
へ流れ込み、ドレイン4の側へは殆んど流れなくなる。
このため、垂直スメアの発生が大幅に軽減できる。
なお、上述した実施例においては態形基板1の上にp形
つェル層2を設叶、その上Km形ソース。
つェル層2を設叶、その上Km形ソース。
ドレイン等を形成したn −p −n構造のものについ
てのみ説明し九が、導電形を逆にし九p−n−p構造の
吃のKついても全く同様に、漏れ光成分によって発生し
た電荷を基板側に吸収して垂直スメアを防止する効果が
得られることは言うまでもない。
てのみ説明し九が、導電形を逆にし九p−n−p構造の
吃のKついても全く同様に、漏れ光成分によって発生し
た電荷を基板側に吸収して垂直スメアを防止する効果が
得られることは言うまでもない。
以上説明したように1本発明による固体撮像素子によれ
ば、フィールド酸化膜下のウェル層幅を他部分よシも薄
く構成したことによシ、当該フィールド酸化膜上方にあ
るムj層を避けて入ル込んで来た漏れ光成分によ)嶋該
部分のウェル層に発生する電荷を、そζに発生する空乏
層を利用して11□ 基板側へ流出させてしまうことができる。従って、前記
漏れ電流成分によって発生した電荷がドレインに流れ込
むことを防止でき、垂直スメアを低減させることができ
るため、S/N比が大幅に増加して性能が向上するとい
う優れた効果を有する。
ば、フィールド酸化膜下のウェル層幅を他部分よシも薄
く構成したことによシ、当該フィールド酸化膜上方にあ
るムj層を避けて入ル込んで来た漏れ光成分によ)嶋該
部分のウェル層に発生する電荷を、そζに発生する空乏
層を利用して11□ 基板側へ流出させてしまうことができる。従って、前記
漏れ電流成分によって発生した電荷がドレインに流れ込
むことを防止でき、垂直スメアを低減させることができ
るため、S/N比が大幅に増加して性能が向上するとい
う優れた効果を有する。
第1図および第2図は従来の一体操像素子を示す断面図
、第3図は本発明による固体撮像素子の断面図である。 1・・・・態形基板、2・−・・p形りエル層、3・・
・・ソース、4・・・Φドレイン、5・・・・ゲート電
極、6・・・・フィールド酸化膜。 2
、第3図は本発明による固体撮像素子の断面図である。 1・・・・態形基板、2・−・・p形りエル層、3・・
・・ソース、4・・・Φドレイン、5・・・・ゲート電
極、6・・・・フィールド酸化膜。 2
Claims (1)
- 第1導電形を有する半導体基板の一主表面に館2導電形
を有する半導体からなるウェル層を設け、このウェル層
上に光ダイオードとこの光ダイオードを構成要素の一部
とするスイッチ用トランジスタとからな)それヤれ1画
素に対応する複数の光電変換素子を亙にフィールド酸化
膜で分離して配置し、前記ウェル層は、前記フィールド
酸化膜の下において他部分よ〉も薄く構成しであること
を特徴とする固体撮像素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56105580A JPS589361A (ja) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | 固体撮像素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56105580A JPS589361A (ja) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | 固体撮像素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS589361A true JPS589361A (ja) | 1983-01-19 |
Family
ID=14411438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56105580A Pending JPS589361A (ja) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | 固体撮像素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS589361A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59207640A (ja) * | 1983-05-11 | 1984-11-24 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
| EP1178534B1 (en) * | 2000-06-28 | 2009-04-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | MOS type solid-state imager with an isolation region |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51150288A (en) * | 1975-06-09 | 1976-12-23 | Philips Nv | Video sensor |
| JPS53127283A (en) * | 1977-04-13 | 1978-11-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Semiconductor device |
| JPS54152870A (en) * | 1978-05-23 | 1979-12-01 | Pioneer Electronic Corp | Semiconductor device |
| JPS55110476A (en) * | 1979-02-19 | 1980-08-25 | Hitachi Ltd | Solidstate image sensor |
| JPS5755672A (en) * | 1980-09-19 | 1982-04-02 | Nec Corp | Solid-state image pickup device and its driving method |
-
1981
- 1981-07-08 JP JP56105580A patent/JPS589361A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51150288A (en) * | 1975-06-09 | 1976-12-23 | Philips Nv | Video sensor |
| JPS53127283A (en) * | 1977-04-13 | 1978-11-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Semiconductor device |
| JPS54152870A (en) * | 1978-05-23 | 1979-12-01 | Pioneer Electronic Corp | Semiconductor device |
| JPS55110476A (en) * | 1979-02-19 | 1980-08-25 | Hitachi Ltd | Solidstate image sensor |
| JPS5755672A (en) * | 1980-09-19 | 1982-04-02 | Nec Corp | Solid-state image pickup device and its driving method |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59207640A (ja) * | 1983-05-11 | 1984-11-24 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
| EP1178534B1 (en) * | 2000-06-28 | 2009-04-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | MOS type solid-state imager with an isolation region |
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