JPH0136592B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0136592B2 JPH0136592B2 JP56194909A JP19490981A JPH0136592B2 JP H0136592 B2 JPH0136592 B2 JP H0136592B2 JP 56194909 A JP56194909 A JP 56194909A JP 19490981 A JP19490981 A JP 19490981A JP H0136592 B2 JPH0136592 B2 JP H0136592B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- yatoi
- component
- guide rail
- docking
- test jig
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野
本発明は、電子部品テスタに接続することによ
り集積回路（以下「IC」という）等の電子部品
の特性試験及びそのテスト結果の良否の判定等を
自動的に処理する電子部品テスタ用オートハンド
ラにおいて、電子部品を収納する部品ケースをテ
スト治具に内蔵された部品ガイドレールに順次連
結するドツキング機構に関する。
り集積回路（以下「IC」という）等の電子部品
の特性試験及びそのテスト結果の良否の判定等を
自動的に処理する電子部品テスタ用オートハンド
ラにおいて、電子部品を収納する部品ケースをテ
スト治具に内蔵された部品ガイドレールに順次連
結するドツキング機構に関する。
(2) 技術の背景
IC、特にリニアICは、各製造業者によつて放
熱板の取付位置、形状、寸法等がバラバラで、リ
ニアIC全体の形状、寸法がそれぞれ異なつてい
るのが現状である。従来、このような各種の形
状、寸法を有するリニアIC等の特性試験をする
際に、そのリニアICを測定部へ自動的に供給し
たり、測定後のリニアICを所定の箇所に自動的
に収納する装置はほとんどなく、測定部へ１個ず
つ手で挿入したり抜去したりして試験を行つてい
た。このため上記のような各種の形状、寸法のリ
ニアIC等の電子部品でも自動的に処理すること
ができる電子部品テスタ用オートハンドラが要望
され、特に電子部品を収納する各種の部品ケース
を測定部に順次連結するドツキング機構が要望さ
れている。
熱板の取付位置、形状、寸法等がバラバラで、リ
ニアIC全体の形状、寸法がそれぞれ異なつてい
るのが現状である。従来、このような各種の形
状、寸法を有するリニアIC等の特性試験をする
際に、そのリニアICを測定部へ自動的に供給し
たり、測定後のリニアICを所定の箇所に自動的
に収納する装置はほとんどなく、測定部へ１個ず
つ手で挿入したり抜去したりして試験を行つてい
た。このため上記のような各種の形状、寸法のリ
ニアIC等の電子部品でも自動的に処理すること
ができる電子部品テスタ用オートハンドラが要望
され、特に電子部品を収納する各種の部品ケース
を測定部に順次連結するドツキング機構が要望さ
れている。
(3) 発明の目的
本発明は上記事情に対処してなされたもので、
各種の形状、寸法の電子部品でも自動的に処理す
る電子部品テスタ用オートハンドラにおいて、電
子部品を収納する部品ケースをテスト治具に内蔵
された部品ガイドレールに順次連結することがで
きるドツキング機構を提供することを目的とす
る。
各種の形状、寸法の電子部品でも自動的に処理す
る電子部品テスタ用オートハンドラにおいて、電
子部品を収納する部品ケースをテスト治具に内蔵
された部品ガイドレールに順次連結することがで
きるドツキング機構を提供することを目的とす
る。
(4) 発明の構成
そしてこの目的は本発明によれば、架台に設置
された制御部に隣接して一側方に傾斜して設けら
れたテーブルと、このテーブルの中央部に設けら
れ内部に上記テーブルの傾斜方向に沿う部品ガイ
ドレールを有し且つ交換可能とされたテスト治具
と、上記テーブルの上部に設けられこれからテス
トすべき電子部品を収納した部品ケースが上下動
可能に整列して格納された供給側ヤトイと、上記
テーブルの下部に設けられテスト終了後の電子部
品を収納する部品ケースが上下動可能に整列して
格納された受け側ヤトイとを有する電子部品テス
タ用オートハンドラにおいて、上記テスト治具の
部品ガイドレールの上端及び下端にそれぞれ供給
側ヤトイ及び受け側ヤトイの部品ケースの端部を
挿入しうるドツキングガイドレールを設け、上記
テスト治具の部品ガイドレールと同一軸線上に配
置され上記テーブルの上端及び下端の中央部から
それぞれ供給側ヤトイ及び受け側ヤトイの上方に
張り出されると共に下面側に突出して上記部品ケ
ースを押し下げる押えバーを有する供給側ドツキ
ング機構部及び受け側ドツキング機構部を設け、
上記供給側ヤトイ及び受け側ヤトイを送り機構に
より連動して横方向にピツチ送りすると共に上記
両ドツキング機構部の押えバーでそれぞれの部品
ケースを順次下方に押し下げてドツキングガイド
レールに挿入連結するようにしたことを特徴とす
る電子部品テスタ用オートハンドラにおける部品
ケースドツキング機構を提供することによつて達
成される。
された制御部に隣接して一側方に傾斜して設けら
れたテーブルと、このテーブルの中央部に設けら
れ内部に上記テーブルの傾斜方向に沿う部品ガイ
ドレールを有し且つ交換可能とされたテスト治具
と、上記テーブルの上部に設けられこれからテス
トすべき電子部品を収納した部品ケースが上下動
可能に整列して格納された供給側ヤトイと、上記
テーブルの下部に設けられテスト終了後の電子部
品を収納する部品ケースが上下動可能に整列して
格納された受け側ヤトイとを有する電子部品テス
タ用オートハンドラにおいて、上記テスト治具の
部品ガイドレールの上端及び下端にそれぞれ供給
側ヤトイ及び受け側ヤトイの部品ケースの端部を
挿入しうるドツキングガイドレールを設け、上記
テスト治具の部品ガイドレールと同一軸線上に配
置され上記テーブルの上端及び下端の中央部から
それぞれ供給側ヤトイ及び受け側ヤトイの上方に
張り出されると共に下面側に突出して上記部品ケ
ースを押し下げる押えバーを有する供給側ドツキ
ング機構部及び受け側ドツキング機構部を設け、
上記供給側ヤトイ及び受け側ヤトイを送り機構に
より連動して横方向にピツチ送りすると共に上記
両ドツキング機構部の押えバーでそれぞれの部品
ケースを順次下方に押し下げてドツキングガイド
レールに挿入連結するようにしたことを特徴とす
る電子部品テスタ用オートハンドラにおける部品
ケースドツキング機構を提供することによつて達
成される。
(5) 発明の実施例
以下、本発明の実施例を添付図面に基いて詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は本発明に係る電子部品テスタ用オート
ハンドラの全体を示す斜視図である。架台１は上
記オートハンドラをささえる台となるもので、こ
の架台１の上面には制御部２が設置されている。
この制御部２はオートハンドラの作動を制御する
もので、その上面には操作パネル３が設けられて
いる。
ハンドラの全体を示す斜視図である。架台１は上
記オートハンドラをささえる台となるもので、こ
の架台１の上面には制御部２が設置されている。
この制御部２はオートハンドラの作動を制御する
もので、その上面には操作パネル３が設けられて
いる。
上記制御部２の側方には、これに隣接して一側
方に傾斜し適宜の幅と長さを有するテーブル４が
設けられている。このテーブル４は、後述のテス
ト治具５やヤトイ１３，１８をセツトするための
もので、テストすべきIC等の電子部品が重力の
作用で供給側から受け側に流れるように、例えば
45゜程度の傾斜がつけられている。
方に傾斜し適宜の幅と長さを有するテーブル４が
設けられている。このテーブル４は、後述のテス
ト治具５やヤトイ１３，１８をセツトするための
もので、テストすべきIC等の電子部品が重力の
作用で供給側から受け側に流れるように、例えば
45゜程度の傾斜がつけられている。
上記テーブル４の長手方向中央部には、テスト
治具５及びこれに隣接して信号受渡し部６が設け
られている。このテスト治具５は、第３図に示す
ように、その内部に上記テーブル４の長手方向す
なわち傾斜方向に沿つて部品ガイドレール７が設
けられており、この部品ガイドレール７の上流部
にはIC等を給送、遮断するシヤツタ部８を有し、
中央部にはIC等のリードにコンタクトピンが接
触してテストする測定部９を有し、さらに下流部
にはテスト結果の良否を判定して良品、不良品を
選別する判定部１０を有している。そして上記部
品ガイドレール７の上端及び下端には、後述の供
給側ヤトイ１３及び受け側ヤトイ１８に整列格納
された部品ケース１４，１４の端部を挿入しうる
形状とされたドツキングガイドレール１１，１２
がそれぞれ設けられている。なお、このテスト治
具５は、テーブル４の所定位置において着脱可能
とされており、テストすべきIC等の形状、寸法
に応じた部品ガイドレール７を有する他のテスト
治具５と交換することができる。上記信号受渡し
部６は、テスト治具５の測定部９と電子部品テス
タとの間で特性試験に必要な信号の送受を行うも
のである。該テスタからのテスト結果信号は制御
部２へ送られ、この制御部から判定駆動部へ出力
信号が出され、治具５の判定部１０にて判定作業
を行なう。
治具５及びこれに隣接して信号受渡し部６が設け
られている。このテスト治具５は、第３図に示す
ように、その内部に上記テーブル４の長手方向す
なわち傾斜方向に沿つて部品ガイドレール７が設
けられており、この部品ガイドレール７の上流部
にはIC等を給送、遮断するシヤツタ部８を有し、
中央部にはIC等のリードにコンタクトピンが接
触してテストする測定部９を有し、さらに下流部
にはテスト結果の良否を判定して良品、不良品を
選別する判定部１０を有している。そして上記部
品ガイドレール７の上端及び下端には、後述の供
給側ヤトイ１３及び受け側ヤトイ１８に整列格納
された部品ケース１４，１４の端部を挿入しうる
形状とされたドツキングガイドレール１１，１２
がそれぞれ設けられている。なお、このテスト治
具５は、テーブル４の所定位置において着脱可能
とされており、テストすべきIC等の形状、寸法
に応じた部品ガイドレール７を有する他のテスト
治具５と交換することができる。上記信号受渡し
部６は、テスト治具５の測定部９と電子部品テス
タとの間で特性試験に必要な信号の送受を行うも
のである。該テスタからのテスト結果信号は制御
部２へ送られ、この制御部から判定駆動部へ出力
信号が出され、治具５の判定部１０にて判定作業
を行なう。
上記テーブル４の上部には、供給側ヤトイ１３
が設けられている。この供給側ヤトイ１３は、上
記テスト治具５にこれからテストすべきIC等を
供給するもので、その上面には第１図に示すよう
に、テーブル４の長手方向すなわち傾斜方向に沿
つてこれからテストすべきIC等が収納された部
品ケース１４が整列して格納されている。この部
品ケース１４は、収納するIC等の形状、寸法に
応じて例えば断面矩形状等の細長筒状に形成され
ており、第２図に示すように、上記供給側ヤトイ
１３の内部底面に設けられたフローテイングバネ
１５，１５の上方から該ヤトイ１３の上面側に整
列され、両端部の押え部材１６，１６で上記フロ
ーテイングバネ１５，１５をやや押圧して格納さ
れている。従つて、上記部品ケース１４は、ヤト
イ１３に格納された状態で上記フローテイングバ
ネ１５，１５の弾性作用によつて上下動可能とさ
れている。そして、上記供給側ヤトイ１３は、第
１図に示すテーブル４の孔部１７内に設けられた
駆動モータとボールネジ等からなる送り機構によ
つて矢印Ａ，Ｂ方向にピツチ送りされるようにな
つている。
が設けられている。この供給側ヤトイ１３は、上
記テスト治具５にこれからテストすべきIC等を
供給するもので、その上面には第１図に示すよう
に、テーブル４の長手方向すなわち傾斜方向に沿
つてこれからテストすべきIC等が収納された部
品ケース１４が整列して格納されている。この部
品ケース１４は、収納するIC等の形状、寸法に
応じて例えば断面矩形状等の細長筒状に形成され
ており、第２図に示すように、上記供給側ヤトイ
１３の内部底面に設けられたフローテイングバネ
１５，１５の上方から該ヤトイ１３の上面側に整
列され、両端部の押え部材１６，１６で上記フロ
ーテイングバネ１５，１５をやや押圧して格納さ
れている。従つて、上記部品ケース１４は、ヤト
イ１３に格納された状態で上記フローテイングバ
ネ１５，１５の弾性作用によつて上下動可能とさ
れている。そして、上記供給側ヤトイ１３は、第
１図に示すテーブル４の孔部１７内に設けられた
駆動モータとボールネジ等からなる送り機構によ
つて矢印Ａ，Ｂ方向にピツチ送りされるようにな
つている。
上記テーブル４の下部には、受け側ヤトイ１８
が設けられている。この受け側ヤトイ１８は、テ
スト終了後に上記テスト治具５から送り出された
IC等を受けるもので、その上面には第１図及び
第２図に示すように、テーブル４の長手方向すな
わち傾斜方向に沿つてテスト終了後のIC等を収
納する前述と同様の部品ケース１４が整列して格
納されている。そしてこの受け側ヤトイ１８は、
第１図に示すテーブル４の孔部１９内に設けられ
た前述と同様の送り機構によつて矢印Ａ，Ｂ方向
にピツチ送りされるようになつている。
が設けられている。この受け側ヤトイ１８は、テ
スト終了後に上記テスト治具５から送り出された
IC等を受けるもので、その上面には第１図及び
第２図に示すように、テーブル４の長手方向すな
わち傾斜方向に沿つてテスト終了後のIC等を収
納する前述と同様の部品ケース１４が整列して格
納されている。そしてこの受け側ヤトイ１８は、
第１図に示すテーブル４の孔部１９内に設けられ
た前述と同様の送り機構によつて矢印Ａ，Ｂ方向
にピツチ送りされるようになつている。
上記テーブル４の上端及び下端の中央部から
は、第１図に示すように、上記テスト治具５の部
品ガイドレール７（第３図参照）及びドツキング
ガイドレール１１，１２と同一軸線上に配置さ
れ、供給側ヤトイ１３及び受け側ヤトイ１８の部
品ケース１４，１４の上方にてその長手方向に沿
つてテーブル４に平行に供給側ドツキング機構部
２０及び受け側ドツキング機構部２１が張り出し
ている。上記両ドツキング機構部２０，２１の下
面側には、第３図及び第４図に示すように、そこ
から下方に突出して上記部品ケース１４，１４の
上面を押圧する押えバー２２が設けられている。
この押えバー２２は、例えば両ドツキング機構部
２０，２１内に設けられたエアシリンダ２５の作
動によつて第４図に示すレバー２３を回動操作す
ることにより下方に突出される。なお、第２図な
いし第４図において符号２４は、部品ケース１４
が上下動する際にその両端開口部に蓋をするよう
に両ヤトイ１３，１８に設けられた端板である。
は、第１図に示すように、上記テスト治具５の部
品ガイドレール７（第３図参照）及びドツキング
ガイドレール１１，１２と同一軸線上に配置さ
れ、供給側ヤトイ１３及び受け側ヤトイ１８の部
品ケース１４，１４の上方にてその長手方向に沿
つてテーブル４に平行に供給側ドツキング機構部
２０及び受け側ドツキング機構部２１が張り出し
ている。上記両ドツキング機構部２０，２１の下
面側には、第３図及び第４図に示すように、そこ
から下方に突出して上記部品ケース１４，１４の
上面を押圧する押えバー２２が設けられている。
この押えバー２２は、例えば両ドツキング機構部
２０，２１内に設けられたエアシリンダ２５の作
動によつて第４図に示すレバー２３を回動操作す
ることにより下方に突出される。なお、第２図な
いし第４図において符号２４は、部品ケース１４
が上下動する際にその両端開口部に蓋をするよう
に両ヤトイ１３，１８に設けられた端板である。
次に、本発明による電子部品テスタ用オートハ
ンドラにおける部品ケースドツキング機構の作動
について説明する。まず、テストの準備段階とし
てこれからテストすべきIC等を収納した部品ケ
ース１４を供給側ヤトイ１３の上面に整列格納す
る。一方、受け側ヤトイ１８の上面には上記供給
側の部品ケース１４と形状、寸法が同一で空の部
品ケース１４を整列格納する。このような状態
で、上記供給側ヤトイ１３及び受け側ヤトイ１８
を第１図に示すように矢印Ｂ方向に一杯に後退さ
せておく。次に、上記供給側ヤトイ１３に格納さ
れた部品ケース１４に収納されているこれからテ
ストすべきIC等の形状、寸法に応じた形状、寸
法を有する部品ガイドレール７を内蔵したテスト
治具５をテーブル４の中央部の所定位置にセツト
する。このとき、テスト治具５のパーフオマンス
ボード（プリント板）の端子は信号受渡し部６の
コネクタへ挿入される。このようにして準備が完
了したところで、制御部２の操作パネル３の操作
ボタン２６を操作すると起動する。まず、孔部１
７，１９内に設けられた送り機構によつて供給側
ヤトイ１３及び受け側ヤトイ１８が連動して第１
図において矢印Ａ方向にピツチ送りされる。この
ようにしてそれぞれのヤトイ１３，１８の第一番
目の部品ケース１４，１４が、第３図に示すよう
に、それぞれ供給側ドツキング機構部２０及び受
け側ドツキング機構部２１の真下で停止したとこ
ろで、該ドツキング機構部２０，２１の下面側に
設けられた押えバー２２が、エアシリンダ２５の
作動により第４図に示す矢印のように回動操作さ
れるレバー２３により下方に突出される。この結
果、上記部品ケース１４，１４は、その上面を上
記押えバー２２により押圧されてそれぞれのヤト
イ１３，１８の内部底面に設けられたフローテイ
ングバネ１５に抗して下方に押し下げられ、第４
図に示すように、テスト治具５の部品ガイドレー
ル７の上端及び下端に設けられたドツキングガイ
ドレール１１及び１２にその端部が挿入されて連
結される。このようになつたところで、供給側ヤ
トイ１３の部品ケース１４からテストすべきIC
等の重力の作用によりテスト治具５内の部品ガイ
ドレール７に送り込まれ、シヤツタ部、測定部、
判定部の所定の行程を経てテストが行われる。
ンドラにおける部品ケースドツキング機構の作動
について説明する。まず、テストの準備段階とし
てこれからテストすべきIC等を収納した部品ケ
ース１４を供給側ヤトイ１３の上面に整列格納す
る。一方、受け側ヤトイ１８の上面には上記供給
側の部品ケース１４と形状、寸法が同一で空の部
品ケース１４を整列格納する。このような状態
で、上記供給側ヤトイ１３及び受け側ヤトイ１８
を第１図に示すように矢印Ｂ方向に一杯に後退さ
せておく。次に、上記供給側ヤトイ１３に格納さ
れた部品ケース１４に収納されているこれからテ
ストすべきIC等の形状、寸法に応じた形状、寸
法を有する部品ガイドレール７を内蔵したテスト
治具５をテーブル４の中央部の所定位置にセツト
する。このとき、テスト治具５のパーフオマンス
ボード（プリント板）の端子は信号受渡し部６の
コネクタへ挿入される。このようにして準備が完
了したところで、制御部２の操作パネル３の操作
ボタン２６を操作すると起動する。まず、孔部１
７，１９内に設けられた送り機構によつて供給側
ヤトイ１３及び受け側ヤトイ１８が連動して第１
図において矢印Ａ方向にピツチ送りされる。この
ようにしてそれぞれのヤトイ１３，１８の第一番
目の部品ケース１４，１４が、第３図に示すよう
に、それぞれ供給側ドツキング機構部２０及び受
け側ドツキング機構部２１の真下で停止したとこ
ろで、該ドツキング機構部２０，２１の下面側に
設けられた押えバー２２が、エアシリンダ２５の
作動により第４図に示す矢印のように回動操作さ
れるレバー２３により下方に突出される。この結
果、上記部品ケース１４，１４は、その上面を上
記押えバー２２により押圧されてそれぞれのヤト
イ１３，１８の内部底面に設けられたフローテイ
ングバネ１５に抗して下方に押し下げられ、第４
図に示すように、テスト治具５の部品ガイドレー
ル７の上端及び下端に設けられたドツキングガイ
ドレール１１及び１２にその端部が挿入されて連
結される。このようになつたところで、供給側ヤ
トイ１３の部品ケース１４からテストすべきIC
等の重力の作用によりテスト治具５内の部品ガイ
ドレール７に送り込まれ、シヤツタ部、測定部、
判定部の所定の行程を経てテストが行われる。
このようにして次々にIC等をテストするがそ
のテストした個数はカウンタによつて計数し、第
一番目の供給側の部品ケース１４内に収納された
すべてのIC等のテストが終了したら、それぞれ
のドツキング機構部２０，２１の押えバー２２
が、エアシリンダ２５の上記とは逆作動によるレ
バー２３の逆の回動操作により浮き上がり、それ
ぞれのヤトイ１３，１８の対応する部品ケース１
４，１４がフローテイングバネ１５の弾性力によ
つて上昇されてそれぞれのドツキングガイドレー
ル１１，１２からその端部が上方に抜けて連結が
解かれる。次に、両ヤトイ１３，１８がその送り
機構により矢印Ａ方向にピツチ送りされて、次な
る部品ケース１４，１４がそれぞれのドツキング
機構部２０，２１の真下で停止する。以下、上記
と同様の作動を繰り返して、供給側ヤトイ１３及
び受け側ヤトイ１８の部品ケース１４，１４を自
動的に順次下方に押し下げてはドツキングガイド
レール１１，１２に挿入連結したり、それを解除
したりする。このようにして、供給側のすべての
部品ケース１４内に収納されたIC等のテストが
自動的に行われる。
のテストした個数はカウンタによつて計数し、第
一番目の供給側の部品ケース１４内に収納された
すべてのIC等のテストが終了したら、それぞれ
のドツキング機構部２０，２１の押えバー２２
が、エアシリンダ２５の上記とは逆作動によるレ
バー２３の逆の回動操作により浮き上がり、それ
ぞれのヤトイ１３，１８の対応する部品ケース１
４，１４がフローテイングバネ１５の弾性力によ
つて上昇されてそれぞれのドツキングガイドレー
ル１１，１２からその端部が上方に抜けて連結が
解かれる。次に、両ヤトイ１３，１８がその送り
機構により矢印Ａ方向にピツチ送りされて、次な
る部品ケース１４，１４がそれぞれのドツキング
機構部２０，２１の真下で停止する。以下、上記
と同様の作動を繰り返して、供給側ヤトイ１３及
び受け側ヤトイ１８の部品ケース１４，１４を自
動的に順次下方に押し下げてはドツキングガイド
レール１１，１２に挿入連結したり、それを解除
したりする。このようにして、供給側のすべての
部品ケース１４内に収納されたIC等のテストが
自動的に行われる。
(6) 発明の効果
本発明は以上のように構成されたので、供給側
ヤトイ１３及び受け側ヤトイ１８に多数整列格納
された部品ケース１４を供給側ドツキング機構部
２０及び受け側ドツキング機構部２１の押えバー
２２により順次下方に押し下げてテスト治具５の
部品ガイドレール７の上端及び下端に設けられた
ドツキングガイドレール１１，１２に挿入連結す
ることができる。また、テスト治具５の部品ガイ
ドレール７の両端部に直接供給側及び受け側の部
品ケース１４，１４を連結するので、上記部品ガ
イドレール７の長さ及びその上方及び下方に連結
される部品ケース１４，１４の長さだけの範囲内
で電子部品のテストの処理を行うことができ、オ
ートハンドラの全体形状を小型化することができ
る。
ヤトイ１３及び受け側ヤトイ１８に多数整列格納
された部品ケース１４を供給側ドツキング機構部
２０及び受け側ドツキング機構部２１の押えバー
２２により順次下方に押し下げてテスト治具５の
部品ガイドレール７の上端及び下端に設けられた
ドツキングガイドレール１１，１２に挿入連結す
ることができる。また、テスト治具５の部品ガイ
ドレール７の両端部に直接供給側及び受け側の部
品ケース１４，１４を連結するので、上記部品ガ
イドレール７の長さ及びその上方及び下方に連結
される部品ケース１４，１４の長さだけの範囲内
で電子部品のテストの処理を行うことができ、オ
ートハンドラの全体形状を小型化することができ
る。
第１図は本発明に係る電子部品テスタ用オート
ハンドラの全体を示す斜視図、第２図は供給側ヤ
トイ（又は受け側ヤトイ）を示す斜視図、第３図
及び第４図は本発明による部品ケースドツキング
機構の作動状態を示す第１図にＡ−Ａ線断面図
で、第３図は連結前の状態を第４図は連結後の状
態を示すものである。 １……架台、２……制御部、４……テーブル、
５……テスト治具、７……部品ガイドレール、１
１，１２……ドツキングガイドレール、１３……
供給側ヤトイ、１４……部品ケース、１５……フ
ローテイングバネ、１８……受け側ヤトイ、２０
……供給側ドツキング機構部、２１……受け側ド
ツキング機構部、２２……押えバー、２３……レ
バー、２５……エアシリンダ。
ハンドラの全体を示す斜視図、第２図は供給側ヤ
トイ（又は受け側ヤトイ）を示す斜視図、第３図
及び第４図は本発明による部品ケースドツキング
機構の作動状態を示す第１図にＡ−Ａ線断面図
で、第３図は連結前の状態を第４図は連結後の状
態を示すものである。 １……架台、２……制御部、４……テーブル、
５……テスト治具、７……部品ガイドレール、１
１，１２……ドツキングガイドレール、１３……
供給側ヤトイ、１４……部品ケース、１５……フ
ローテイングバネ、１８……受け側ヤトイ、２０
……供給側ドツキング機構部、２１……受け側ド
ツキング機構部、２２……押えバー、２３……レ
バー、２５……エアシリンダ。
Claims (1)
- １ 架台に設置された制御部に隣接して一側方に
傾斜して設けられたテーブルと、このテーブルの
中央部に設けられ内部に上記テーブルの傾斜方向
に沿う部品ガイドレールを有し且つ交換可能とさ
れたテスト治具と、上記テーブルの上部に設けら
れこれからテストすべき電子部品を収納した部品
ケースが上下動可能に整列して格納された供給側
ヤトイと、上記テーブルの下部に設けられテスト
終了後の電子部品を収納する部品ケースが上下動
可能に整列して格納された受け側ヤトイとを有す
る電子部品テスタ用オートハンドラにおいて、上
記テスト治具の部品ガイドレールの上端及び下端
にそれぞれ供給側ヤトイ及び受け側ヤトイの部品
ケースの端部を挿入しうるドツキングガイドレー
ルを設け、上記テスト治具の部品ガイドレールと
同一軸線上に配置され上記テーブルの上端及び下
端の中央部からそれぞれ供給側ヤトイ及び受け側
ヤトイの上方にて該テーブルに平行に張り出され
ると共に下面側に突出して上記部品ケースを押し
下げる押えバーを有する供給側ドツキング機構部
及び受け側ドツキング機構部を設け、上記供給側
ヤトイ及び受け側ヤトイを送り機構により連動し
て横方向にピツチ送りすると共に上記両ドツキン
グ機構部の押えバーでそれぞれの部品ケースを順
次下方に押し下げてドツキングガイドレールに挿
入連結するようにしたことを特徴とする電子部品
テスタ用オートハンドラにおける部品ケースドツ
キング機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56194909A JPS5896258A (ja) | 1981-12-03 | 1981-12-03 | 電子部品テスタ用オ−トハンドラにおける部品ケ−スドツキング機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56194909A JPS5896258A (ja) | 1981-12-03 | 1981-12-03 | 電子部品テスタ用オ−トハンドラにおける部品ケ−スドツキング機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5896258A JPS5896258A (ja) | 1983-06-08 |
| JPH0136592B2 true JPH0136592B2 (ja) | 1989-08-01 |
Family
ID=16332349
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56194909A Granted JPS5896258A (ja) | 1981-12-03 | 1981-12-03 | 電子部品テスタ用オ−トハンドラにおける部品ケ−スドツキング機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5896258A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0479998U (ja) * | 1990-11-22 | 1992-07-13 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4647269A (en) * | 1985-07-01 | 1987-03-03 | Micro Component Technology, Inc. | Automatic integrated circuit transportation tube elevating and tilting device |
| DE3539968A1 (de) * | 1985-11-11 | 1987-05-14 | Willberg Hans Heinrich | Vorrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauelementen |
| DE3539965A1 (de) * | 1985-11-11 | 1987-05-14 | Ueberreiter Ekkehard | Vorrichtung zum pruefen und sortieren von elektronischen bauelementen |
| DE3638430A1 (de) * | 1986-11-11 | 1988-05-19 | Multitest Elektronische Syst | Vorrichtung zum testen und sortieren von elektronischen bauelementen, insbesondere ic's |
| JPH01266662A (ja) * | 1988-04-19 | 1989-10-24 | Canon Inc | 文書処理装置 |
| JPH0216071U (ja) * | 1988-07-19 | 1990-02-01 | ||
| KR100337571B1 (ko) * | 2000-06-22 | 2002-05-24 | 김정곤 | 스프링 실린더를 갖는 모듈아이씨 테스터 도킹장치 |
-
1981
- 1981-12-03 JP JP56194909A patent/JPS5896258A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0479998U (ja) * | 1990-11-22 | 1992-07-13 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5896258A (ja) | 1983-06-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100232260B1 (ko) | 테스트 소켓 및 그를 이용한 모듈 테스트 장치 | |
| CN216050659U (zh) | 一种工件的夹紧检测装置 | |
| JPS5896258A (ja) | 電子部品テスタ用オ−トハンドラにおける部品ケ−スドツキング機構 | |
| JPS628751B2 (ja) | ||
| TW381180B (en) | Scan test machine for densely spaced test sites | |
| CN109932612A (zh) | 一种移动通讯应用接口测试装置 | |
| JP4450081B2 (ja) | 部品試験装置 | |
| CN218956697U (zh) | 一种产品老化测试设备用弹性机构 | |
| JPH05506541A (ja) | モジュラーコネクタプレス | |
| JPH0982437A (ja) | Ｉｃ測定治具及びｉｃ測定方法 | |
| JPH0480347B2 (ja) | ||
| JPH0336197B2 (ja) | ||
| JPH085503A (ja) | 振動試験装置 | |
| JP3307166B2 (ja) | 回路基板の検査装置 | |
| JPS5890155A (ja) | 印刷配線板接栓部の接触抵抗値検出装置 | |
| CN214750676U (zh) | 一种pcba电压测试装置 | |
| JPH1079455A (ja) | Ｉｃ挿入抜取装置 | |
| JPH04289467A (ja) | Ｉｃデバイスの電気的特性測定装置 | |
| CN212060471U (zh) | 整流桥自动检测机构 | |
| JPS61228362A (ja) | Ｉｃ自動試験装置 | |
| JPH068512Y2 (ja) | コンタクトピン自動保持力チエツク装置 | |
| JPH06281698A (ja) | Ｉｃオートハンドラ方法 | |
| JPH056348B2 (ja) | ||
| JPH051831Y2 (ja) | ||
| JP2606442B2 (ja) | 半導体装置のテスト治工具 |