JPS59108907A - ３次元物体の位置検出装置 - Google Patents
３次元物体の位置検出装置Info
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- JPS59108907A JPS59108907A JP57219440A JP21944082A JPS59108907A JP S59108907 A JPS59108907 A JP S59108907A JP 57219440 A JP57219440 A JP 57219440A JP 21944082 A JP21944082 A JP 21944082A JP S59108907 A JPS59108907 A JP S59108907A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、組立てや溶接用のロボットなどの３次元物体
を扱う産業機器において対象物体の位置ズレ等を検出す
るような場合に使用できる３次元物体の位置検出装置に
関するものである。
を扱う産業機器において対象物体の位置ズレ等を検出す
るような場合に使用できる３次元物体の位置検出装置に
関するものである。
従来例の構成とその問題点
近年、いわゆる知能ロボットの出現により生産システム
の自動化が急速に進んでいる。その方向は、従来のプレ
イバック型から更に進んで各種センサーによって物体の
位置補正を行ない、完全自動化を試みるようになってき
ている。撮像装置を使った視覚センサ一方式がその主流
であり、２次元物体を対象とする装置では多くの実用例
があけられる。
の自動化が急速に進んでいる。その方向は、従来のプレ
イバック型から更に進んで各種センサーによって物体の
位置補正を行ない、完全自動化を試みるようになってき
ている。撮像装置を使った視覚センサ一方式がその主流
であり、２次元物体を対象とする装置では多くの実用例
があけられる。
しかし、３次元物体を扱うものとしては実用的なものは
少ないのが現状である。３次元物体の扱いが困難な理由
の最大のものは、２次元物体のように透過光方式で簡単
に２値画像が得られないことにある。多値入力画像を処
理して３次元物体のエツジ部分を抽出し物体の認識を行
なう方法も種々検討されているが処理時間・回路コスト
・信頼性などの点で多くの解決すべき問題点が残ってい
る。
少ないのが現状である。３次元物体の扱いが困難な理由
の最大のものは、２次元物体のように透過光方式で簡単
に２値画像が得られないことにある。多値入力画像を処
理して３次元物体のエツジ部分を抽出し物体の認識を行
なう方法も種々検討されているが処理時間・回路コスト
・信頼性などの点で多くの解決すべき問題点が残ってい
る。
一方、これに対する１つの解決策として、スリット光像
を使う方式が提案されている。
を使う方式が提案されている。
１ず、第１図に一般的なスリット光像を用いた位置検出
方法の例を示す。スリット光源１から照射されたスリッ
ト光像２は、対象となる３次元物体３および、物体の置
かれる床面４上に一同図に示すようなかぎ型のパターン
を形成する。これをビデオ・カメラ６で撮像して２値化
し、スリット光像のパターンを得ることによって物体の
位置検出を行なう。物体のエツジ位置は、各スリット光
像の折点６（照射されたスリット光像のパターンが折れ
曲がる点）を結ぶことによって得られるわけであるが、
従来例においては、折点の検出方法に問題点が指摘され
ている。
方法の例を示す。スリット光源１から照射されたスリッ
ト光像２は、対象となる３次元物体３および、物体の置
かれる床面４上に一同図に示すようなかぎ型のパターン
を形成する。これをビデオ・カメラ６で撮像して２値化
し、スリット光像のパターンを得ることによって物体の
位置検出を行なう。物体のエツジ位置は、各スリット光
像の折点６（照射されたスリット光像のパターンが折れ
曲がる点）を結ぶことによって得られるわけであるが、
従来例においては、折点の検出方法に問題点が指摘され
ている。
折点の検出方法としては、各スリット光像を一方から追
跡して方向の変化する点を折点として検出する方法と、
スリット光像を交差する２本の直線として近似し、その
交点を折点とする方法が考えられている。前者の場合に
は、スリット光像の追跡に時間がかかることと、追跡の
始点および終７壱の決定が難しいこと、および折点近傍
に物体の傷や汚れなどのノイズ成分があった時に大きな
影響を受けることなどが問題となる。一方、後者の場合
には、複数本のスリット光像の直線近似（近似すべきデ
ータ列の抽出も含めて）に時間がかかることが問題とな
る。
跡して方向の変化する点を折点として検出する方法と、
スリット光像を交差する２本の直線として近似し、その
交点を折点とする方法が考えられている。前者の場合に
は、スリット光像の追跡に時間がかかることと、追跡の
始点および終７壱の決定が難しいこと、および折点近傍
に物体の傷や汚れなどのノイズ成分があった時に大きな
影響を受けることなどが問題となる。一方、後者の場合
には、複数本のスリット光像の直線近似（近似すべきデ
ータ列の抽出も含めて）に時間がかかることが問題とな
る。
１だ、従来例の構成によっては、１本のスリット光像を
順次走査しながら処理する方法もあるが一画像入力の回
数が増えるため、かえって処理時間がふえるだけで問題
点は同様である。
順次走査しながら処理する方法もあるが一画像入力の回
数が増えるため、かえって処理時間がふえるだけで問題
点は同様である。
発明の目的
本発明は、上述のような従来のスリット光像を用いた位
置検出装置の問題点を解消するもので一簡単な回路を付
加することにより一高速で、しかも、ノイズ成分に対し
て強い、３次元物体の位置検出装置を提供することを目
的とするものである。
置検出装置の問題点を解消するもので一簡単な回路を付
加することにより一高速で、しかも、ノイズ成分に対し
て強い、３次元物体の位置検出装置を提供することを目
的とするものである。
発明の構成
本発明においては、複数本の平行なスリット光像を照射
するスリット光源と、撮像用ビデオ・カメラと一物体の
置かれる床面に照射されるスリット像パターンの傾きに
一致する方向のエツジ成分のみをリアルタイムで抽出し
計数して縦および横方間のエツジ成分の度数分布を求め
るエツジ計数部と−このエツジ成分の度数分布データか
らスリット光像を照射された３次元物体の位置偏位を求
める位ｉｔが山部とを備えるようにしたものであり。
するスリット光源と、撮像用ビデオ・カメラと一物体の
置かれる床面に照射されるスリット像パターンの傾きに
一致する方向のエツジ成分のみをリアルタイムで抽出し
計数して縦および横方間のエツジ成分の度数分布を求め
るエツジ計数部と−このエツジ成分の度数分布データか
らスリット光像を照射された３次元物体の位置偏位を求
める位ｉｔが山部とを備えるようにしたものであり。
最も安定した床面に出来るスリット像パターンを統計的
に処理することにより一３次元物体の２次元的位置偏位
を高速にしかもノイズ成分の影響を少なくして検出する
ことができるものである０実施例の説明 本発明の詳細な説明する前にまず一本発明の原理につい
て簡単に説明する。
に処理することにより一３次元物体の２次元的位置偏位
を高速にしかもノイズ成分の影響を少なくして検出する
ことができるものである０実施例の説明 本発明の詳細な説明する前にまず一本発明の原理につい
て簡単に説明する。
第２図は、本発明の詳細な説明するだめの図である。同
図ではスリット光ではなく帯状の光が３次元物体に照射
されておシースリット光の場合と同様に、床面上にＡ
、Ｂ 、Ｃ、Ｄ−物体の側面上にＡ 、Ｂ 、１！：
、Ｆという折れ曲がったパターンが形成される。ここで
−物体が第２図の点線で示す位置１で移動すると、床面
上のパターンはＡ／ 、 Ｂ／。
図ではスリット光ではなく帯状の光が３次元物体に照射
されておシースリット光の場合と同様に、床面上にＡ
、Ｂ 、Ｃ、Ｄ−物体の側面上にＡ 、Ｂ 、１！：
、Ｆという折れ曲がったパターンが形成される。ここで
−物体が第２図の点線で示す位置１で移動すると、床面
上のパターンはＡ／ 、 Ｂ／。
０、Ｄに、物体の側面上のパターンはＡ’、 Ｂ’、
Ｅ’。
Ｅ’。
Ｆ′に、それぞれ変化する。このときビデオ・カメラに
よる入力画像中の床面上に形成されるパターンＡ、Ｂ、
Ｃ，ＤおよびＡ’、 Ｂ’、 Ｃ、ＤノＸ軸とＹ軸方向
への面積写像をとると第２図の７，８出力が得られる。
よる入力画像中の床面上に形成されるパターンＡ、Ｂ、
Ｃ，ＤおよびＡ’、 Ｂ’、 Ｃ、ＤノＸ軸とＹ軸方向
への面積写像をとると第２図の７，８出力が得られる。
床面にできるパターンのＣ，Ｄ側は一物体の位置偏位に
関係なく一定であり、物体の位置偏位は面積写像７，８
においてそれぞれＡ、Ｂ４たはＡ′。
関係なく一定であり、物体の位置偏位は面積写像７，８
においてそれぞれＡ、Ｂ４たはＡ′。
Ｂ′の位置変化として現われる。従って、Ｘ軸およびＹ
軸方向への面積写像７．８のデータからＡ点とＢ点の２
次元的位置（床面上におけるｘ、Ｙ座標）を一意的にし
かも容易に求めることができる。
軸方向への面積写像７．８のデータからＡ点とＢ点の２
次元的位置（床面上におけるｘ、Ｙ座標）を一意的にし
かも容易に求めることができる。
このように−床面上に形成されるパターンの面積に着目
する理由は、傷や汚れなどのノイズ成分を含む可能性の
多い対象物体の側面よシも床面の方が条件を安定に保ち
やすいこと一床面上に形成されるパターンのＣ，Ｄ側が
物体の位置偏位に関係なく一定であり面積写像の解析お
よび検証が容易なこと、大局的なデータ処理を行なうた
めに対象物体のエツジ部等に欠けや傷などのノイズ成分
があっても大きな影響を受けないこと、などによるＯ ところで、実際の入力画像では床面上に形成されるパタ
ーンと共に物体の側面上に形成されるパターンも同様に
存在するため、画像中から床面上のパターンのみを分離
して面積写像を求めることは容易ではない。
する理由は、傷や汚れなどのノイズ成分を含む可能性の
多い対象物体の側面よシも床面の方が条件を安定に保ち
やすいこと一床面上に形成されるパターンのＣ，Ｄ側が
物体の位置偏位に関係なく一定であり面積写像の解析お
よび検証が容易なこと、大局的なデータ処理を行なうた
めに対象物体のエツジ部等に欠けや傷などのノイズ成分
があっても大きな影響を受けないこと、などによるＯ ところで、実際の入力画像では床面上に形成されるパタ
ーンと共に物体の側面上に形成されるパターンも同様に
存在するため、画像中から床面上のパターンのみを分離
して面積写像を求めることは容易ではない。
そこで本発明では、スリット光の特徴を積極的に利用す
ることによって、この問題を解決している。
ることによって、この問題を解決している。
以下、実施例とともに本発明の詳細な説明する。
第３図は、第２図における帯状の光のかわりにスリット
光像を照射した時に得られるパターンを示している。こ
の時、床面上には斜め方向のスリットパターンが、物体
の側面上にはたて方向のスリットパターンがそれぞれ形
成される。
光像を照射した時に得られるパターンを示している。こ
の時、床面上には斜め方向のスリットパターンが、物体
の側面上にはたて方向のスリットパターンがそれぞれ形
成される。
本装置では、このスリットパターンの方向の違いによっ
て床面上のパターンのみを分離する。
て床面上のパターンのみを分離する。
第４図は本発明にかかる第１の実施例の装置を示すブロ
ック図である。ここで−人力画像９はエツジ計数部１０
に入力される。エツジ計数部１０では一空間フイルター
１１によってスリット像パターンのうちから床面上に形
成されることがあらかじめわかっている特定方向のエツ
ジ成分のみを抽出し、これを計数回路１２によってＸ−
Ｙ軸方向の各ライン毎に集計して第２図の面積写像に対
応する度数分布データ１３．１４を作成する。次に、位
置検出部１６では、エツジ計数部１ｏで得られたＸ−Ｙ
軸方向の度数分布データ１３．１４から対象物体のエツ
ジ部に対応するＡ、８点の座標値を求め、これを結ぶ直
線として３次元物体のエツジを検出する。
ック図である。ここで−人力画像９はエツジ計数部１０
に入力される。エツジ計数部１０では一空間フイルター
１１によってスリット像パターンのうちから床面上に形
成されることがあらかじめわかっている特定方向のエツ
ジ成分のみを抽出し、これを計数回路１２によってＸ−
Ｙ軸方向の各ライン毎に集計して第２図の面積写像に対
応する度数分布データ１３．１４を作成する。次に、位
置検出部１６では、エツジ計数部１ｏで得られたＸ−Ｙ
軸方向の度数分布データ１３．１４から対象物体のエツ
ジ部に対応するＡ、８点の座標値を求め、これを結ぶ直
線として３次元物体のエツジを検出する。
第３図、第４図では、簡単のために３本のスリｙ）像の
みを示しているが、実際には小さな間隔で多くのスリッ
ト像を照射すればよい。これによって、第２図で示した
床面上のパターン面積の写像を求める場合と同等の結果
を得ることができる。
みを示しているが、実際には小さな間隔で多くのスリッ
ト像を照射すればよい。これによって、第２図で示した
床面上のパターン面積の写像を求める場合と同等の結果
を得ることができる。
第５図にスリット像を照射した時のパターンと。
Ｘ−Ｙ軸方向の度数分布データ１３．１４とを示す。本
装置では、たとえばフィルター１１と計数回路１２を／
・−ドウエアで構成し、ビデオ・カメラからの画像入力
に合せて常に全面処理を行なうため、スリット像の本数
は処理時間には関係しないＯ フィルター１１の具体的な構成例としては、たとえば従
来よく知られている空間演算オペレータを適用すればよ
い。その場合は、第６図（ａ）に示すように、入力画像
は２値化回路１６を経て一定査線の画素数に対応する３
段のソフトレジスタ群１了に入力される。各シフトレジ
スタは直列に接続されており、シフトレジスタの各段の
後部に接続されたレジスタ群１８には第６図ｔｂ）に示
すような３×３のマトリクス画素１９がラスクスキャン
状に順次切り出される。
装置では、たとえばフィルター１１と計数回路１２を／
・−ドウエアで構成し、ビデオ・カメラからの画像入力
に合せて常に全面処理を行なうため、スリット像の本数
は処理時間には関係しないＯ フィルター１１の具体的な構成例としては、たとえば従
来よく知られている空間演算オペレータを適用すればよ
い。その場合は、第６図（ａ）に示すように、入力画像
は２値化回路１６を経て一定査線の画素数に対応する３
段のソフトレジスタ群１了に入力される。各シフトレジ
スタは直列に接続されており、シフトレジスタの各段の
後部に接続されたレジスタ群１８には第６図ｔｂ）に示
すような３×３のマトリクス画素１９がラスクスキャン
状に順次切り出される。
い１、スリットｉ家の２値化ノぐターンが第７図（２Ｌ
）に示すように得られたとすると、これに対しては第７
口出）に示すような４種類の空間フイルターノくターン
をあらかじめ用意しておき、第６図（ｂ）のマトリクス
画素１９との間で比較を行ない、いずれかのパターンで
一致すればエツジ成分としてカウントするようにすれば
よい。床面上に形成されるスＩＪ ソ）像のパターンは
対象物体の形状等に関係なく常に一定であるから、あら
かじめエツジ成分として検出が容易な方向にスリット像
／％ターンを形成するようにスリット光源１とビデオカ
メラ６の角度を設定することも可能である。
）に示すように得られたとすると、これに対しては第７
口出）に示すような４種類の空間フイルターノくターン
をあらかじめ用意しておき、第６図（ｂ）のマトリクス
画素１９との間で比較を行ない、いずれかのパターンで
一致すればエツジ成分としてカウントするようにすれば
よい。床面上に形成されるスＩＪ ソ）像のパターンは
対象物体の形状等に関係なく常に一定であるから、あら
かじめエツジ成分として検出が容易な方向にスリット像
／％ターンを形成するようにスリット光源１とビデオカ
メラ６の角度を設定することも可能である。
計数回路１２の具体的な構成例としては、１ず横方向ラ
インに沿ってのカウントは、各走査線毎に通常のカウン
タを用いてエツジ成分の個数（）々ターンの一致回数）
をカウントし、走査線の終りにカウント値を順次メモリ
にストアしてゆくようにすればよい。
インに沿ってのカウントは、各走査線毎に通常のカウン
タを用いてエツジ成分の個数（）々ターンの一致回数）
をカウントし、走査線の終りにカウント値を順次メモリ
にストアしてゆくようにすればよい。
一方一縦方向ラインに沿ってのカウントには高速性が必
要である。そこで、各画素毎に縦方向ラインに対応する
メモリの内容（前の走査線までのカウント値）を読み出
し、その画素でノ々ターンが一致すれば１を加算し、一
致がなければ以前のデータをそのまま元のメモリに再書
き込みする。
要である。そこで、各画素毎に縦方向ラインに対応する
メモリの内容（前の走査線までのカウント値）を読み出
し、その画素でノ々ターンが一致すれば１を加算し、一
致がなければ以前のデータをそのまま元のメモリに再書
き込みする。
しかし１通常の解像度の画像であれば１画素当り約１６
０ｎ８程度の処理時間がとれるだめ−その時間内に前記
の読み出し→加算→再書き込みのザイクルを完了させる
ことは困難ではない。
０ｎ８程度の処理時間がとれるだめ−その時間内に前記
の読み出し→加算→再書き込みのザイクルを完了させる
ことは困難ではない。
位置検出部１６の構成には−ＣＰＵを用いるのが適当で
ある。
ある。
第８図には、Ｘ軸方向に沿った度数分布データからＡ、
Ｂ点の座標値を求めるだめの一例のフローチャートを示
す。Ｘ座標−〇に対応するメモリアドレスカラスタート
して一カウント数の変化があらかじめ設定された閾値θ
を越える点（Ａ点付近）を求める。その後は、カウント
数の変化が終了する点（Ｂ点付近）まで追跡を続ける。
Ｂ点の座標値を求めるだめの一例のフローチャートを示
す。Ｘ座標−〇に対応するメモリアドレスカラスタート
して一カウント数の変化があらかじめ設定された閾値θ
を越える点（Ａ点付近）を求める。その後は、カウント
数の変化が終了する点（Ｂ点付近）まで追跡を続ける。
この間に一定間隔でデータのサンプリングを行ない、最
ｌ］・２乗法などの手法によって直線Ａ、Ｂの式を求め
る。次に一平坦部Ｓ−Ａ、Ｂ−Ｄとの交点がらＡ、Ｂ点
の正確なＸ座標を求める。この間、ノイズ等による部分
的な変化を、ソフト的に吸収することによって、より正
確な値を求めることが可能である。
ｌ］・２乗法などの手法によって直線Ａ、Ｂの式を求め
る。次に一平坦部Ｓ−Ａ、Ｂ−Ｄとの交点がらＡ、Ｂ点
の正確なＸ座標を求める。この間、ノイズ等による部分
的な変化を、ソフト的に吸収することによって、より正
確な値を求めることが可能である。
全く同様な方法によって、Ｙ軸方向にａっだ度数分布デ
ータからＡ、Ｂ点のＹ座標値を求めることができる。
ータからＡ、Ｂ点のＹ座標値を求めることができる。
対象となる３次元物体の置かれる床面４上とスリット光
源１およびビデオ・カメラ６との位置関係はあらかじめ
規定できるので一カメラによる入力画像中の座標データ
から一意的に床面上における座標値を求めることができ
る。
源１およびビデオ・カメラ６との位置関係はあらかじめ
規定できるので一カメラによる入力画像中の座標データ
から一意的に床面上における座標値を求めることができ
る。
以上に説明してきた実施例では、直線Ａ、Ｈの式が求ま
るだけであるので、３次元物体の床面上における２次元
的な移動の自由度のうち１方向は固定されている必要が
あり、物理的なストッパーなどを併用する必要がある。
るだけであるので、３次元物体の床面上における２次元
的な移動の自由度のうち１方向は固定されている必要が
あり、物理的なストッパーなどを併用する必要がある。
これはスリット光を用いた位置検出手法に共通の問題点
である。
である。
これを解決するだめの方法を第２の実施例に示す。第９
図には第２の実施例によるスリット光像のパターンを示
す。同図の例では１つの３次元物体の隣接する側面にそ
れぞれ異なるスリット光源からのスリット像を照射して
いる。このとき、床面上には全く方向の異なる２組のス
リット像が形成される。２つの側面上に形成されるパタ
ーンは側面の傾きによっては同一方向となるが−これは
使用しないので問題はない。
図には第２の実施例によるスリット光像のパターンを示
す。同図の例では１つの３次元物体の隣接する側面にそ
れぞれ異なるスリット光源からのスリット像を照射して
いる。このとき、床面上には全く方向の異なる２組のス
リット像が形成される。２つの側面上に形成されるパタ
ーンは側面の傾きによっては同一方向となるが−これは
使用しないので問題はない。
第１Ｑ図に第２の実施例の構成図を示す。同図の例では
エツジ計数部１０を２組設け、それぞれ別の方向エツジ
を検出するフィルターを用いて並列的に方向の異なる２
絹のスリット像の度数分布を同時に求めている。位置検
出部１６では、Ｘ・Ｙ軸方向に沿った２組の度数分布デ
ータ１３．１４からそれぞれ直線Ａ、ＢとＧ、Ｈの式を
求めることができる。この２直線の交点を求めることに
より床面上に置かれた３次元物体の２次元的位置情報を
一意的に求めることが可能になる。
エツジ計数部１０を２組設け、それぞれ別の方向エツジ
を検出するフィルターを用いて並列的に方向の異なる２
絹のスリット像の度数分布を同時に求めている。位置検
出部１６では、Ｘ・Ｙ軸方向に沿った２組の度数分布デ
ータ１３．１４からそれぞれ直線Ａ、ＢとＧ、Ｈの式を
求めることができる。この２直線の交点を求めることに
より床面上に置かれた３次元物体の２次元的位置情報を
一意的に求めることが可能になる。
発明の効果
以−ヒのように、本発明にかかる３次元物体の位置検出
装置によれば、画像入力のほぼ１フィールド（または１
フレーム）時間で特定エツジ成分の度数分布を求め、後
は簡単な直線近似を数回行なう程度で位置検出が終了す
るので、従来のスリット光を用いた手法で大きな問題と
なっていた処理速度を大幅に高速化できる。
装置によれば、画像入力のほぼ１フィールド（または１
フレーム）時間で特定エツジ成分の度数分布を求め、後
は簡単な直線近似を数回行なう程度で位置検出が終了す
るので、従来のスリット光を用いた手法で大きな問題と
なっていた処理速度を大幅に高速化できる。
寸だ、大局的にデータ処理を行ない、しかも最も条件を
安定させやすい床面上のパターンを位置検出に利用して
いるため、傷や汚れなどのノイズ成分の影響を受けにく
いという利点もある。
安定させやすい床面上のパターンを位置検出に利用して
いるため、傷や汚れなどのノイズ成分の影響を受けにく
いという利点もある。
さらに−従来のスリット光を用いた手法では。
入力画面上での直線の追跡や近似が必要であったため１
フレ一ム分の画像メモリが必要であったが本発明にかか
る位置検出装置では、画像入力中に宇−夕処理の大部分
が終了するので、フレーム・シモリが不要になるという
利点もある。
フレ一ム分の画像メモリが必要であったが本発明にかか
る位置検出装置では、画像入力中に宇−夕処理の大部分
が終了するので、フレーム・シモリが不要になるという
利点もある。
スリット光を用いた手法の共通の問題点として物体の移
動範囲に限定が生ずるが、実際の産業上の応用において
は、対象物体が、でたらめに置かれる事は少なく−その
実用的効果は大きい。壕だ装置を実現する」二での技術
的な問題もない。
動範囲に限定が生ずるが、実際の産業上の応用において
は、対象物体が、でたらめに置かれる事は少なく−その
実用的効果は大きい。壕だ装置を実現する」二での技術
的な問題もない。
第１図は一般的なスリット光（ＩＪを用いた位置検出装
置を示す斜視図、第２図は本発明にかかる３次元物体の
位置検出装置の原理を説明する斜視図、第３図はスリッ
ト光像を３次元物体に照射した時のスリットパターンを
示す斜視図、第４図は本発明の第１の実施例における３
次元物体の位置検出装置の構成を示すブロック図、第６
図はそのスリット像パターンとＸ、Ｙ軸方向の度数分布
データを示す模式図、第６図は一般的な３×３マトリク
ス画像切り出し回路を示すブロック図、第７図は２値化
されたスリット像パターンとエツジ成分検温９図は２絹
のスリット光像を照射したときのスト・・・・・スリッ
ト光源−６・・・・・・ビデオ・カメラ−１０・・・・
°エツジ計数部、１１・・・・・・フィルター、１２・
・・・・計数回路、１６・・・・・・位置検出部。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名＠１
図 第 ２ 図 一郭 第３図 第５図 銀四す 第６図 ＠７図 第 ８ 図
置を示す斜視図、第２図は本発明にかかる３次元物体の
位置検出装置の原理を説明する斜視図、第３図はスリッ
ト光像を３次元物体に照射した時のスリットパターンを
示す斜視図、第４図は本発明の第１の実施例における３
次元物体の位置検出装置の構成を示すブロック図、第６
図はそのスリット像パターンとＸ、Ｙ軸方向の度数分布
データを示す模式図、第６図は一般的な３×３マトリク
ス画像切り出し回路を示すブロック図、第７図は２値化
されたスリット像パターンとエツジ成分検温９図は２絹
のスリット光像を照射したときのスト・・・・・スリッ
ト光源−６・・・・・・ビデオ・カメラ−１０・・・・
°エツジ計数部、１１・・・・・・フィルター、１２・
・・・・計数回路、１６・・・・・・位置検出部。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名＠１
図 第 ２ 図 一郭 第３図 第５図 銀四す 第６図 ＠７図 第 ８ 図
Claims (1)
- 複数本の平行なスリット光像を照射するスリット光源と
、３次元物体に照射された前記スリット光像を撮像する
ビデオ・カメラと、前記ビデオ・カメラの出力画像信号
から特定方向の明暗のエツジ成分をリアル・タイムで抽
出して計数し、縦および横方向の前記エツジ成分の度数
分布を求めるエツジ計数部と、前記エツジ計数部に蓄え
られたエツジ成分の度数分布データから前記スリット光
像を照射された３次元物体の２次元的位置偏位を求める
位置検出部とを少なくとも１組以上備えたことを特徴と
する３次元物体の位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57219440A JPS59108907A (ja) | 1982-12-14 | 1982-12-14 | ３次元物体の位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57219440A JPS59108907A (ja) | 1982-12-14 | 1982-12-14 | ３次元物体の位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59108907A true JPS59108907A (ja) | 1984-06-23 |
| JPS6352324B2 JPS6352324B2 (ja) | 1988-10-18 |
Family
ID=16735436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57219440A Granted JPS59108907A (ja) | 1982-12-14 | 1982-12-14 | ３次元物体の位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59108907A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01141306A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-02 | Ngk Insulators Ltd | 線パターンの直線性の判定方法 |
| US4846576A (en) * | 1985-05-20 | 1989-07-11 | Fujitsu Limited | Method for measuring a three-dimensional position of an object |
-
1982
- 1982-12-14 JP JP57219440A patent/JPS59108907A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4846576A (en) * | 1985-05-20 | 1989-07-11 | Fujitsu Limited | Method for measuring a three-dimensional position of an object |
| JPH01141306A (ja) * | 1987-11-27 | 1989-06-02 | Ngk Insulators Ltd | 線パターンの直線性の判定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6352324B2 (ja) | 1988-10-18 |
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