JPS59128435A - 自動検査装置 - Google Patents
自動検査装置Info
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- JPS59128435A JPS59128435A JP459883A JP459883A JPS59128435A JP S59128435 A JPS59128435 A JP S59128435A JP 459883 A JP459883 A JP 459883A JP 459883 A JP459883 A JP 459883A JP S59128435 A JPS59128435 A JP S59128435A
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- Japan
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- sensor
- sample
- signal
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明１は、検体（被検査物）がセンサ検出範囲を通過
する間に該センサが検出するアナログ信号を基準値と比
較して検体の良否判別をする自動検査方式に関する。
する間に該センサが検出するアナログ信号を基準値と比
較して検体の良否判別をする自動検査方式に関する。
製造プロセスにおける原材料の受入ｎや製品の出荷の際
の検査工程では、ベルトコンベア等の搬送装置上を連続
的に移動する検体の状態を何らかの方法で検出し、その
検出値と基準となる状態と全比較して検体の良否を判別
する自動検査装置が用意される。
の検査工程では、ベルトコンベア等の搬送装置上を連続
的に移動する検体の状態を何らかの方法で検出し、その
検出値と基準となる状態と全比較して検体の良否を判別
する自動検査装置が用意される。
この種の自動検査装置は一般的には第１図に示す構成に
される。搬送装量／上を移送さ几る検体Ｊに対して、該
検体認の状態を何らかのアナログ信号として検出するセ
ンサＪと、検体コがセンサ３の検出範囲内に移送さｎた
ことを検出する位置センサダと、これらセンサＪ、ｌの
検出信号を受けて検体２の良否を判別するコントローラ
Ｓとを具える。コントローラｓＢ位置七ンサ４の検出信
号によって検体コがセンサ３の検出範囲内にあること全
確認した上でセンサ３からのアナログ信号を入力して検
体の良否を判別する。
される。搬送装量／上を移送さ几る検体Ｊに対して、該
検体認の状態を何らかのアナログ信号として検出するセ
ンサＪと、検体コがセンサ３の検出範囲内に移送さｎた
ことを検出する位置センサダと、これらセンサＪ、ｌの
検出信号を受けて検体２の良否を判別するコントローラ
Ｓとを具える。コントローラｓＢ位置七ンサ４の検出信
号によって検体コがセンサ３の検出範囲内にあること全
確認した上でセンサ３からのアナログ信号を入力して検
体の良否を判別する。
このような自動検査装置のコントローラＳとして、マイ
クロコンピュータを制御中枢部とする場合、マイクロコ
ンピュータで処理できる信号は全てディジタル信号であ
るため、センサ３がらのアナログ信号をディジタル信号
に変換する回路を持って構成することになる。また、一
般には各種プロセスの信号を計測側ａ１機器（Ｃ入力す
る場合には、ノイズなどを避けるためにプロセスからの
信号を計測制御機器内部に増込むのに信号絶縁を行なう
ようアナログ信号を信号絶縁器を介して入力する。
クロコンピュータを制御中枢部とする場合、マイクロコ
ンピュータで処理できる信号は全てディジタル信号であ
るため、センサ３がらのアナログ信号をディジタル信号
に変換する回路を持って構成することになる。また、一
般には各種プロセスの信号を計測側ａ１機器（Ｃ入力す
る場合には、ノイズなどを避けるためにプロセスからの
信号を計測制御機器内部に増込むのに信号絶縁を行なう
ようアナログ信号を信号絶縁器を介して入力する。
上述のように、マイクロコンピュータが外部アナログ信
号を信号絶縁を取りなから入力するに、その信号絶縁に
小型、低コスト、構成の簡単化を図った第２図に示す方
法がある。外部からのアナログ信号は電圧−周波数変換
回路乙によって周波数信号に変換し、この周波数信号は
フォトカプラによる光信号変換など電気的に絶縁する信
号絶縁器７を介してインターバルタイマざに取込み、イ
ンターバルタイマｇは周波数信号の周波数を測定し、こ
の測定信号からマイクロコンピュータ２が入力アナログ
信号電圧に対応した数値を算出する。
号を信号絶縁を取りなから入力するに、その信号絶縁に
小型、低コスト、構成の簡単化を図った第２図に示す方
法がある。外部からのアナログ信号は電圧−周波数変換
回路乙によって周波数信号に変換し、この周波数信号は
フォトカプラによる光信号変換など電気的に絶縁する信
号絶縁器７を介してインターバルタイマざに取込み、イ
ンターバルタイマｇは周波数信号の周波数を測定し、こ
の測定信号からマイクロコンピュータ２が入力アナログ
信号電圧に対応した数値を算出する。
電圧−周波数変換回路６ｔＩ′ｉ、第３図（ａ）に示す
ように、アナログ信号ｖＩ、ＩをコンデンサＣ８と抵抗
Ｐによる時定数で積分し定電流工。の定電流源１０で積
分コンデンサｃ１ ’１充電させる積分器／／と、積分
器ｌ／の出力電圧■。が零に達したことを検出するコン
パレータ／２と、コンパレータ／２の検出出力でトリガ
さｎて一定幅のパルスを周波数変換出力ｆＯとすると共
に定電流源１０を積分器／／に接続するワンショット回
路／３とを具える。
ように、アナログ信号ｖＩ、ＩをコンデンサＣ８と抵抗
Ｐによる時定数で積分し定電流工。の定電流源１０で積
分コンデンサｃ１ ’１充電させる積分器／／と、積分
器ｌ／の出力電圧■。が零に達したことを検出するコン
パレータ／２と、コンパレータ／２の検出出力でトリガ
さｎて一定幅のパルスを周波数変換出力ｆＯとすると共
に定電流源１０を積分器／／に接続するワンショット回
路／３とを具える。
この構成において、第３図（ｂ）に波形図を示す工うに
、コンパレータ／２の入力■。が零に達したときワンシ
ョット回路が動作し、その出力ｆｏｌ”ｌニ一定時間Ｔ
だけハイレベルになシ、同時に定電流源１０を積分器／
／の入力として与え、このときから積分器／／のコンデ
ンサＣ１が充電ヲ始めてワンショット回路／３の時間Ｔ
の間 ｖＩヨ ー＝（工。−Ｒ） ／Ｃｔ の傾きを持って積分器出力ｖｃが上昇する。時間Ｔの経
過で出力ｆＯがローレベルになシ、定電流源７０を切離
し、このときからコンデンサｃ１はの傾きを持って放間
を始め、この放電で■。が零になると再びワンショット
回路１３が時間Ｔだけハイレベルになる繰シ返し動作に
なる。
、コンパレータ／２の入力■。が零に達したときワンシ
ョット回路が動作し、その出力ｆｏｌ”ｌニ一定時間Ｔ
だけハイレベルになシ、同時に定電流源１０を積分器／
／の入力として与え、このときから積分器／／のコンデ
ンサＣ１が充電ヲ始めてワンショット回路／３の時間Ｔ
の間 ｖＩヨ ー＝（工。−Ｒ） ／Ｃｔ の傾きを持って積分器出力ｖｃが上昇する。時間Ｔの経
過で出力ｆＯがローレベルになシ、定電流源７０を切離
し、このときからコンデンサｃ１はの傾きを持って放間
を始め、この放電で■。が零になると再びワンショット
回路１３が時間Ｔだけハイレベルになる繰シ返し動作に
なる。
出力ｆｏのハイレベル時間Ｔ、ローレベル時間ｔとすれ
ば、アナログ入力Ｖ、、が一定ならばコンデンサｃ１の
充電電圧と放電電圧が同じことから（（工、） ／ Ｃ
Ｉ ） Ｘ Ｔ ：＝＝”−Ｌ’−Ｘ １゜ｖ重Ｎ ＲＲＯｌ すなわち、 となシ、マイクロコンピュータ９は出力ｆＯがローレベ
ルにある時間ｔｆ：インターバルタイマｉの出力として
得、他の定数に、Ｔによる上述の（１）式による演算か
らアナログ人力Ｖ＋ Ｎ ｋ算出することができる。こ
のとき、出力ｆｏの周波数信号の段階で信号絶縁するこ
とにニジ、アナログ信号の段階での信号絶縁に比して回
路の簡単化を図ることができる。
ば、アナログ入力Ｖ、、が一定ならばコンデンサｃ１の
充電電圧と放電電圧が同じことから（（工、） ／ Ｃ
Ｉ ） Ｘ Ｔ ：＝＝”−Ｌ’−Ｘ １゜ｖ重Ｎ ＲＲＯｌ すなわち、 となシ、マイクロコンピュータ９は出力ｆＯがローレベ
ルにある時間ｔｆ：インターバルタイマｉの出力として
得、他の定数に、Ｔによる上述の（１）式による演算か
らアナログ人力Ｖ＋ Ｎ ｋ算出することができる。こ
のとき、出力ｆｏの周波数信号の段階で信号絶縁するこ
とにニジ、アナログ信号の段階での信号絶縁に比して回
路の簡単化を図ることができる。
ところで、自動検査装＃、において、外部アナログ信号
ｖ、ヲ入力しである基準値Ｖ、との比較を行なう場合、
一般にはＶ、とｖｓｅ夫々入力して比較判別するという
動作を繰り返すが、アナログ信号の入力を上述の第２図
の回路方式で行なう場合には（１）式中の時間ｔ’ｌ測
定するに要する時間に加えて、（１）式に基づいた計算
に要する時間を必要とし、アナログ信号ｖ、 ｌ ｖ、
による比較判別動作の繰シ返し周期を短縮することがで
きず、このような自動検査方式置では高速測定ができな
い問題があった。
ｖ、ヲ入力しである基準値Ｖ、との比較を行なう場合、
一般にはＶ、とｖｓｅ夫々入力して比較判別するという
動作を繰り返すが、アナログ信号の入力を上述の第２図
の回路方式で行なう場合には（１）式中の時間ｔ’ｌ測
定するに要する時間に加えて、（１）式に基づいた計算
に要する時間を必要とし、アナログ信号ｖ、 ｌ ｖ、
による比較判別動作の繰シ返し周期を短縮することがで
きず、このような自動検査方式置では高速測定ができな
い問題があった。
本発明は、検体がセンサ検出範囲にある間は電圧−周波
数変換さ扛たパルス幅信号のみを連続的に取込んでその
パルス幅の最大値又は最小値のみを記憶しておき、検体
がセンサ検出範囲を通過した直後に入力値の計算と基準
値の入力を行なって両者の比較をすることに工り、精度
良い高床測定を可能にした自動検査方式を提供すること
を目的とする。
数変換さ扛たパルス幅信号のみを連続的に取込んでその
パルス幅の最大値又は最小値のみを記憶しておき、検体
がセンサ検出範囲を通過した直後に入力値の計算と基準
値の入力を行なって両者の比較をすることに工り、精度
良い高床測定を可能にした自動検査方式を提供すること
を目的とする。
本発明は、検体の状態を検出するアナログ信号の入力に
は電圧−周波数変換と周波数信号絶縁とインターバルタ
イマによるパルス幅検出によってアナログ入力電圧に対
応した周波数信号のパルス幅を測定し、所定の計算式を
もとに入力電圧を計算するが、アナログ信号の比較判断
に従来装置との違いがある。即ち、アナログ信号全入力
する場合、アナログ信号に対応する周波数信号のパルス
幅を測定し、こｆ’Ｌｋもとに入力電圧を測定するが、
本発明では検体がセンサの検出範囲にあることを位置セ
ンサで検出しておき、この間は連続的にパルス幅の測定
のみを行ない、この測定値のうち最大値又は最小値のみ
を記憶しておく。この最大値。
は電圧−周波数変換と周波数信号絶縁とインターバルタ
イマによるパルス幅検出によってアナログ入力電圧に対
応した周波数信号のパルス幅を測定し、所定の計算式を
もとに入力電圧を計算するが、アナログ信号の比較判断
に従来装置との違いがある。即ち、アナログ信号全入力
する場合、アナログ信号に対応する周波数信号のパルス
幅を測定し、こｆ’Ｌｋもとに入力電圧を測定するが、
本発明では検体がセンサの検出範囲にあることを位置セ
ンサで検出しておき、この間は連続的にパルス幅の測定
のみを行ない、この測定値のうち最大値又は最小値のみ
を記憶しておく。この最大値。
最小値はｉｆＴ述の（１）式から変換パルス幅の最大値
。
。
最小値に対応し、この最大値又は最小値をもとにアナロ
グ信号電圧を計算することは検体の状態の検出値の最小
値又は最大値を算出することを意味し、この算出値と入
力した基準値の比較によれば検体の良否・の判定が該検
体の状態を代表する１つの値を１回比較することで済ん
で検体の各部状態の検出値を多数回比較する場合に比べ
て比較判別回数を大幅に低減できることになる。
グ信号電圧を計算することは検体の状態の検出値の最小
値又は最大値を算出することを意味し、この算出値と入
力した基準値の比較によれば検体の良否・の判定が該検
体の状態を代表する１つの値を１回比較することで済ん
で検体の各部状態の検出値を多数回比較する場合に比べ
て比較判別回数を大幅に低減できることになる。
一般的には、検体がセンサの横１範囲にある時間が短か
く、その間の基準値が大きく変化することはないため、
本発明による上述の検査にあっても検体の状態を正確に
判別し得、しかも基準値と検体よりのアナログ信号との
大小判断をする毎に入力電圧を計算しなくて済み、その
分だけマイクロコンピュータによる処理時間の短縮にな
るし、検体がセンサの検出範囲を通過する時間を短縮し
て高速測定又は精度向上を図ることができる。
く、その間の基準値が大きく変化することはないため、
本発明による上述の検査にあっても検体の状態を正確に
判別し得、しかも基準値と検体よりのアナログ信号との
大小判断をする毎に入力電圧を計算しなくて済み、その
分だけマイクロコンピュータによる処理時間の短縮にな
るし、検体がセンサの検出範囲を通過する時間を短縮し
て高速測定又は精度向上を図ることができる。
本発明方法と従来方法の違いをフローチャートで示すと
第４図のようになる。検体の状態の検出アナログ値■、
検出基準値Ｖ、、夫々の値ＶＰ 、 Ｖｓに対する変換
パルス幅をｔｐ 、 ｉｓとすると、同図（ａ）に示す
従来方法では検体検出（ステップＳ／）後ＫＵアナログ
信号を大刀する毎に１． 、１．の測定（ステップＳ、
２，５４ｔ）とｖＰ ＋ ｖ、の計算（ステップＳ、？
、Ｓｊ）とＶ、とＶ、の比較（ステップ８４）ｉ行ない
、この一連の測定と計算は検体が検出範囲内にある限り
繰シ返しくステップ８７）、検体が検出範囲を外れると
ｖｐ、ｖｓの比軸結果がら検体の良否判１０１（ステッ
プｓ、ｒ）ｋするものであった。
第４図のようになる。検体の状態の検出アナログ値■、
検出基準値Ｖ、、夫々の値ＶＰ 、 Ｖｓに対する変換
パルス幅をｔｐ 、 ｉｓとすると、同図（ａ）に示す
従来方法では検体検出（ステップＳ／）後ＫＵアナログ
信号を大刀する毎に１． 、１．の測定（ステップＳ、
２，５４ｔ）とｖＰ ＋ ｖ、の計算（ステップＳ、？
、Ｓｊ）とＶ、とＶ、の比較（ステップ８４）ｉ行ない
、この一連の測定と計算は検体が検出範囲内にある限り
繰シ返しくステップ８７）、検体が検出範囲を外れると
ｖｐ、ｖｓの比軸結果がら検体の良否判１０１（ステッ
プｓ、ｒ）ｋするものであった。
これに対して、本発明では、第４図（ｂ）に示すように
、検体が検出範囲に入ると（ステップＳ ／／ ）、１
、測定（ステップＳ ／！ ）に次いでそれまでのｔ。
、検体が検出範囲に入ると（ステップＳ ／／ ）、１
、測定（ステップＳ ／！ ）に次いでそれまでのｔ。
測定値のうちの最大値（もしくは最小値）を抽出して該
最大値を記憶更新して行き（ステップｓ／３）、この操
作を検体が検出範囲を外するまで繰り返しくステップＳ
／＆ ） 、検体が検出範囲を外れると初めてｔ、の
測定（ステップＳ／！；） 、Ｖｉの計算（ステップＳ
ｌ＆）、Ｖ、の計算（ステップＥｌ ／１ ）及びｖ。
最大値を記憶更新して行き（ステップｓ／３）、この操
作を検体が検出範囲を外するまで繰り返しくステップＳ
／＆ ） 、検体が検出範囲を外れると初めてｔ、の
測定（ステップＳ／！；） 、Ｖｉの計算（ステップＳ
ｌ＆）、Ｖ、の計算（ステップＥｌ ／１ ）及びｖ。
とＶ、の比較判断（ステップｓ／８）を行なう。これで
より、検体がセンサの検出範囲内に存在する時間が同じ
ならば、本発明でｆｄアナログ信号の比較即ちアナログ
信号に対応するパルス幅の比較が従来方法に比べて多く
行なうことができ、検体の小さな異常も検出する精度良
い測定ができる１２、同じ精度を得るのに本発明方法で
は検体の移動速度を早くすることができる。
より、検体がセンサの検出範囲内に存在する時間が同じ
ならば、本発明でｆｄアナログ信号の比較即ちアナログ
信号に対応するパルス幅の比較が従来方法に比べて多く
行なうことができ、検体の小さな異常も検出する精度良
い測定ができる１２、同じ精度を得るのに本発明方法で
は検体の移動速度を早くすることができる。
第５図は本発明の一実施例を示す装置構成図であり、搬
送装置／上を連続的に移送さｎる検体コに対してその表
面に傷がある場合に該検体を排除することを目的とする
自動検査装置に適用した場合を示す。交流励磁の光源ラ
ンプ、２／は検体２が所定範囲内を移送されるときにそ
の検出面を光照射すると共に、該検体の検出範囲の近傍
に固定される比較基準面を持つ基準物体、７２を光照射
する。光センサ環は光源ランプ、２／からの光が検体２
表面の傷で乱反射さｎた光を捕捉し、乱反射光の強さに
対応した電気信号を得る。同様に光センサ２ダは基準物
体、２２の表面粗さによる乱反射光を電気信号として検
出する。位置センサー５は検体コが光センサ環の検出範
囲内にあるか否がを検出する。コントローラ、２６は位
置センサΔによる検出信号から検体がその検出範囲内に
あることを条件に光センサ２３゜Ｊのアナログ信号から
該検体の良否（傷の強さ）を判別し、検体不良のときは
排除機２７全駆動制御して該排除機２７による不良検体
の排除を行なわせる。なお、光源ランプ−２７ヲ交流ｆ
ｌｊＪ磁とするのは、光センサ）、３．２’ｌの光入力
に外来光（例えば照明光）の影１ｉ ｆ無くすもので、
光センサυ１ｗ内のセンスアンプでは検出信号から光源
ランプ−２７の励娠周波数成分のみを抽出して傷の有無
を振幅の大きさとして直流アナログレベルでコントロー
ラ、２６への出力とする。
送装置／上を連続的に移送さｎる検体コに対してその表
面に傷がある場合に該検体を排除することを目的とする
自動検査装置に適用した場合を示す。交流励磁の光源ラ
ンプ、２／は検体２が所定範囲内を移送されるときにそ
の検出面を光照射すると共に、該検体の検出範囲の近傍
に固定される比較基準面を持つ基準物体、７２を光照射
する。光センサ環は光源ランプ、２／からの光が検体２
表面の傷で乱反射さｎた光を捕捉し、乱反射光の強さに
対応した電気信号を得る。同様に光センサ２ダは基準物
体、２２の表面粗さによる乱反射光を電気信号として検
出する。位置センサー５は検体コが光センサ環の検出範
囲内にあるか否がを検出する。コントローラ、２６は位
置センサΔによる検出信号から検体がその検出範囲内に
あることを条件に光センサ２３゜Ｊのアナログ信号から
該検体の良否（傷の強さ）を判別し、検体不良のときは
排除機２７全駆動制御して該排除機２７による不良検体
の排除を行なわせる。なお、光源ランプ−２７ヲ交流ｆ
ｌｊＪ磁とするのは、光センサ）、３．２’ｌの光入力
に外来光（例えば照明光）の影１ｉ ｆ無くすもので、
光センサυ１ｗ内のセンスアンプでは検出信号から光源
ランプ−２７の励娠周波数成分のみを抽出して傷の有無
を振幅の大きさとして直流アナログレベルでコントロー
ラ、２６への出力とする。
コントローラ、２６は、第６図に示す構成にさｎる。
光センサ環の検出信号■、と光センサー１ｔｌ−の検出
信号■、とは夫々電圧−周波数変換回路２１Ａ、２１１
ＢＫよって対応する周波数のパルス信号に変換さ扛、こ
ｎら変換信号は夫々信号絶縁器２９に、、２９Ｂで絶縁
さｎてインターバルタイマ３０Ａ 、 ３０Ｂ Ｋ Ｌ
るノくルス幅検出がなされる。インターバルタイマ３０
Ａ。
信号■、とは夫々電圧−周波数変換回路２１Ａ、２１１
ＢＫよって対応する周波数のパルス信号に変換さ扛、こ
ｎら変換信号は夫々信号絶縁器２９に、、２９Ｂで絶縁
さｎてインターバルタイマ３０Ａ 、 ３０Ｂ Ｋ Ｌ
るノくルス幅検出がなされる。インターバルタイマ３０
Ａ。
？ＯＢの雨検出信号は位誼センサツタが検体検出中を条
件にマイクロコンピュータ７１に入力さｎ１該マイクロ
コンピユ一タ１１ハ第４図（ｂ）に示すフローチャート
に従った検体の良否判断をして必要に応じて排除機２７
に動作指令を与える。
件にマイクロコンピュータ７１に入力さｎ１該マイクロ
コンピユ一タ１１ハ第４図（ｂ）に示すフローチャート
に従った検体の良否判断をして必要に応じて排除機２７
に動作指令を与える。
こうした構成において、検体の表面及び基準物体表面か
らの検出信号Ｖ、 、 Ｖ、と変換ノくルス幅ｔ、。
らの検出信号Ｖ、 、 Ｖ、と変換ノくルス幅ｔ、。
ｔ、とは夫々次の（２） 、 （３）式の関係にある。
７・＝「τそ７ °−＝°（２）
ｖ、＝□ ・・・・・・（３）
１ ＋ ｔＪＴ＠
ここで、Ｋｓ ＋ Ｔｓ Ｉ Ｋｐ 、 Ｔｐは夫々の
アナログ入力手段の定数である。Ｋ、 、 ’ｒｐを例
えばに、＝ｌＯＶ。
アナログ入力手段の定数である。Ｋ、 、 ’ｒｐを例
えばに、＝ｌＯＶ。
Ｔｐ＝ｌＯＯμ８とすると、ＶＰ ＝ Ｉ Ｖ（７）と
きＫ ｔ ｐ ＝９００μｓでありＶ、 ）ＬＶ （７
）ときに’ｔ’ｉ ｔｐ ＜９００μｓである。従って
、マイクロコンピュータ１１がインターバルタイマ３０
Ａｆ用いてｔ、２人力するのに要する時間は１ミリ秒程
度又はそれ以下である。こねに対して、（２）式からｖ
ｐｅ計算するのに、マイクロコンピュータ７１でのプロ
グラムに従った計算では１０ミリ程度の時間を要するの
が普通であるＯこれらの時間を考慮すれば、第４図（ａ
）に示す従来方法による１回の測定時間は （１ｍｓ＋ＬＯｍｓ）Ｘ２＝２２ｍｓ 程度必要とし、アナログ信号の入力周期をこの時間より
も短縮できない。そ・して、検体がセンサの検出範囲に
ある時間が５０ミリ秒とすｎば検体の状態を２回（２箇
所）しか検査できないことになる０ こｎに対して、本発明方法では、第４図（ｂ） Ｋ示す
ように、検体がセンサの検出範囲にある間Ｆｌ ｔ Ｐ
のみを連続的に入力し、その間の最小値（もしくは最大
値）のみを記憶更新しておき、検体がその検出範囲を外
ｎたときに１．から計算したＶ、とｔ。
きＫ ｔ ｐ ＝９００μｓでありＶ、 ）ＬＶ （７
）ときに’ｔ’ｉ ｔｐ ＜９００μｓである。従って
、マイクロコンピュータ１１がインターバルタイマ３０
Ａｆ用いてｔ、２人力するのに要する時間は１ミリ秒程
度又はそれ以下である。こねに対して、（２）式からｖ
ｐｅ計算するのに、マイクロコンピュータ７１でのプロ
グラムに従った計算では１０ミリ程度の時間を要するの
が普通であるＯこれらの時間を考慮すれば、第４図（ａ
）に示す従来方法による１回の測定時間は （１ｍｓ＋ＬＯｍｓ）Ｘ２＝２２ｍｓ 程度必要とし、アナログ信号の入力周期をこの時間より
も短縮できない。そ・して、検体がセンサの検出範囲に
ある時間が５０ミリ秒とすｎば検体の状態を２回（２箇
所）しか検査できないことになる０ こｎに対して、本発明方法では、第４図（ｂ） Ｋ示す
ように、検体がセンサの検出範囲にある間Ｆｌ ｔ Ｐ
のみを連続的に入力し、その間の最小値（もしくは最大
値）のみを記憶更新しておき、検体がその検出範囲を外
ｎたときに１．から計算したＶ、とｔ。
入力による■、の計算値とを初めて比較するため、アナ
ログ信号Ｖ、の入力周期がｔｒｅ測定する時間とほぼ等
しくなって、例えば上述の例では約１ミリ秒まで短縮で
きる。即ち、検体が検出範囲を外ｎるまでの５０ミリ秒
間に検体の状態？５０回程変人力Ｃき、検出面全面に渡
った状態検出になって検出精度を大幅に向上できること
全意味するし、従来と同じ検出精度とすｉば２０倍以上
の高速測定を可能にすることを意味する。
ログ信号Ｖ、の入力周期がｔｒｅ測定する時間とほぼ等
しくなって、例えば上述の例では約１ミリ秒まで短縮で
きる。即ち、検体が検出範囲を外ｎるまでの５０ミリ秒
間に検体の状態？５０回程変人力Ｃき、検出面全面に渡
った状態検出になって検出精度を大幅に向上できること
全意味するし、従来と同じ検出精度とすｉば２０倍以上
の高速測定を可能にすることを意味する。
なお、アナログ信号ｖＰの入力に対応する時間幅信号ｔ
、の記憶更新には、最小値（又は最大値）１つだけでな
く最小値に近いいくつかの値も記憶更新しておき、最小
値が他の記憶飴よりも極端に小さいときにけこＣをノイ
ズによる最小値として無視して次に小さい値又は平均値
を最小値として採用することにニジ、突発的なノイズ例
えばランプの発光や電源ラインに乗るスパイクノイズ等
の外乱からの影響を増除いた信頼性の高い検査を可能に
する。
、の記憶更新には、最小値（又は最大値）１つだけでな
く最小値に近いいくつかの値も記憶更新しておき、最小
値が他の記憶飴よりも極端に小さいときにけこＣをノイ
ズによる最小値として無視して次に小さい値又は平均値
を最小値として採用することにニジ、突発的なノイズ例
えばランプの発光や電源ラインに乗るスパイクノイズ等
の外乱からの影響を増除いた信頼性の高い検査を可能に
する。
以上のとおり、本発明によれば、検体がセンサ検出範囲
にある間は該センサの検出信号に対応するパルス幅信号
の最大値又は最小値のみ全記憶史新しておき、検体がセ
ンサ検出範囲を外ｎたときにアナログ信号レベルの計算
と基準値の入力計算及び両者の比較を行なって検体の良
否判別をするため、検体状態の検出精度を向上しながら
高速測定も可能にする効果がある。
にある間は該センサの検出信号に対応するパルス幅信号
の最大値又は最小値のみ全記憶史新しておき、検体がセ
ンサ検出範囲を外ｎたときにアナログ信号レベルの計算
と基準値の入力計算及び両者の比較を行なって検体の良
否判別をするため、検体状態の検出精度を向上しながら
高速測定も可能にする効果がある。
第１図は従来の自動検査装置の構成図、第２図は第１図
におけるコントローラの構成図、第３図は電圧−周波数
変換器構成図（ａ）と要部波形図（ｂ）。 第４図はコントローラにおける信号処理を示す従来フロ
ーチャート（ａ）と本発明のフローチャー） （ｂ）、
第５図は本発明の一実施例を示す構成図、第６図は第５
図におけるコントローラの構成図である。 ／・・・搬送装置、λ・・・検体、ｔ・・・電圧−周波
数変換器、ン・・・信号絶縁器、ｇ・・・インターバル
タイマ、？・・・マイクロコンピュータ、ＩＯ・・・定
電流源、／ｌ・・・積分５ 、／１２・・・コンパレー
タ、／３・・・ワンショット回路１，２／・・・光源ラ
ンプ、Ｕ・・・基準物体１．ＺＪ 、 ７．４’・・・
光センサ、ＪＳ・・・位置セ／す、２Ａ・・・コントロ
ーラ１．２７・・・排除穢、ＪＡ 、 −ｚｇ１３・・
・電圧−周波数変換器、！９Ａ。
におけるコントローラの構成図、第３図は電圧−周波数
変換器構成図（ａ）と要部波形図（ｂ）。 第４図はコントローラにおける信号処理を示す従来フロ
ーチャート（ａ）と本発明のフローチャー） （ｂ）、
第５図は本発明の一実施例を示す構成図、第６図は第５
図におけるコントローラの構成図である。 ／・・・搬送装置、λ・・・検体、ｔ・・・電圧−周波
数変換器、ン・・・信号絶縁器、ｇ・・・インターバル
タイマ、？・・・マイクロコンピュータ、ＩＯ・・・定
電流源、／ｌ・・・積分５ 、／１２・・・コンパレー
タ、／３・・・ワンショット回路１，２／・・・光源ラ
ンプ、Ｕ・・・基準物体１．ＺＪ 、 ７．４’・・・
光センサ、ＪＳ・・・位置セ／す、２Ａ・・・コントロ
ーラ１．２７・・・排除穢、ＪＡ 、 −ｚｇ１３・・
・電圧−周波数変換器、！９Ａ。
Claims (1)
- 搬送さｎる被検査物の状態を検出してアナログ信号を出
力するセンサと、被検査物が上記センサの検出範囲にあ
ること全検出する位置センサと、この位置センサにエリ
被検査物が上記センサの検出範囲内にあるときに上記セ
ンサの検出信号を所定の基準値と比較して該被検査物の
良否を判別するコントローラとを備え、上記コントロー
ラは上記センサからのアナログ信号を対応する周波数を
持つパルス信号に変換し、該パルス信号の幅から該アナ
ログ信号のレベルを算出して上記基準値と比較判別をす
る自動検査装置であって、上記コントローラは被検査物
が上記セ／すの検出範囲内にある間は上記パルス信号の
幅信号を連続的に入力してその最大値又は最小値を記憶
更新しておき、被検査物が上記センサの検出範囲を外ｎ
たときに上記最大値又は最小値からのアナログ信号レベ
ルの算出をしこの算出値と上記基準値との比較判別によ
って被検者物の良否判定をすることを特徴とする自動検
査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP459883A JPS59128435A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 自動検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP459883A JPS59128435A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 自動検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59128435A true JPS59128435A (ja) | 1984-07-24 |
| JPH0445776B2 JPH0445776B2 (ja) | 1992-07-27 |
Family
ID=11588479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP459883A Granted JPS59128435A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 自動検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59128435A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6903813B2 (en) | 2002-02-21 | 2005-06-07 | Jjl Technologies Llc | Miniaturized system and method for measuring optical characteristics |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55147968U (ja) * | 1979-04-10 | 1980-10-24 | ||
| JPS5760974A (en) * | 1980-09-02 | 1982-04-13 | Honda Motor Co Ltd | Vehicle steering system |
-
1983
- 1983-01-14 JP JP459883A patent/JPS59128435A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55147968U (ja) * | 1979-04-10 | 1980-10-24 | ||
| JPS5760974A (en) * | 1980-09-02 | 1982-04-13 | Honda Motor Co Ltd | Vehicle steering system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0445776B2 (ja) | 1992-07-27 |
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