JPS5913069A - スパツタリング装置 - Google Patents

スパツタリング装置

Info

Publication number
JPS5913069A
JPS5913069A JP11954782A JP11954782A JPS5913069A JP S5913069 A JPS5913069 A JP S5913069A JP 11954782 A JP11954782 A JP 11954782A JP 11954782 A JP11954782 A JP 11954782A JP S5913069 A JPS5913069 A JP S5913069A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
film
tension
work roll
reel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11954782A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6160911B2 (ja
Inventor
Tomoshiro Shioda
潮田 友四郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokuda Seisakusho Co Ltd
Original Assignee
Tokuda Seisakusho Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokuda Seisakusho Co Ltd filed Critical Tokuda Seisakusho Co Ltd
Priority to JP11954782A priority Critical patent/JPS5913069A/ja
Publication of JPS5913069A publication Critical patent/JPS5913069A/ja
Publication of JPS6160911B2 publication Critical patent/JPS6160911B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • C23C14/562Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks for coating elongated substrates

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Thin Magnetic Films (AREA)
  • Treatments Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、フィルム状基体の両面に機能薄膜としてスノ
fツタ薄膜を連続的に形成するスパッタリング装置に関
する。
〔発明の背景技術およびその問題点〕
近年、記録媒体層がスパッタ薄膜によって形成された磁
気記録媒体が出現している。スノfツタ薄膜は、通常、
低圧の不活性ガス中でグロー放電を行なわせ、この放電
によって生じた陽イオンをターゲットに衝突させ、この
衝突によってターゲットからたたき出された金属微粒子
を所定の支持基体の表面に付着させることによって形成
される。したがって、ターゲットとして磁気記録性に富
んだ材料を選択すれば、良好な記録媒体層を形成するこ
とができる。
ところで、最近では、フィルム状基体の両面にス・臂ツ
タ薄膜で形成された記録媒体層を有する磁気記録媒体の
出現が望まれ、この磁気記録媒体を製造し得るスフ4ツ
タリング装置の提案も幾つかなされている。
スパッタリングによって形成された磁気記録媒体層の磁
気的特性の均一性は、スパッタリング時における不活性
ガス圧力、基体とターゲットとの間の距離、スノ譬ツタ
速度、基体温度等によって左右され、このうち、基体と
ターゲットの間の距離および基体温度を一定に保つこと
は重要である。このような点を考慮に入れると、フィル
ム状基体の両面にスパッタ薄膜を連続的に形成するには
ワークレールによってフィルム状基体を保持させる方式
が何かと有利である。
すなわち、内部を通流する冷媒によって冷却され、かつ
回転駆動されるワークロールの外周面に沿わせてフィル
ム状基体を移送させるとともに上記フィルム状基体の上
記ワークロールの外周面に接触している部分の表面にス
フ4ツタ薄膜を連続的に形成するようにする。このよう
にすると、フィルム状基体がワークロールに接触してい
る時間を長くでき、これによって基体を良好に冷却でき
るとともにワークロールによって基体とターゲットとの
間の距離を常に一定に保つことができる。
しかしながら、スi+ yり薄膜のなかには、たとえば
、まず、下地層を形成し、その上に木屑を形成する二層
構造にすることが望ましいものもある、このような二層
構造のスパッタ薄膜をフィルム状基体の両面に亘って形
成するには、片面にスパッタ薄膜を形成するために、少
なくとも2個、両面で少なくとも4個のワークロールを
必要とする。したがって、スパッタリングによって基体
が加熱される回数は1個所につき最低4回となる。基体
のなかには、加熱温度がそれ程高い値でなくても、加熱
によって、いわゆる伸びを生じるものがある。このよう
な基体にあっては一方の面へのスA?ツタ薄膜形成工程
が終了して他方の面へのスノfツタ薄膜形成工程へ移行
させたとき)この工程を実行するワークロールとの間の
スリップが必然的に大きくなる−ち− この場合、上記他方の面へのスフ4ツタ薄膜形成工程を
実行するワークロールの外周面に、すでに形成されてい
る一方の面のスパッタ薄膜が接触することになるので、
上記スリップによって、すでに形成されているスパッタ
薄膜が傷つけられてしまう虞れが多分にある。また、ス
リップによってワークロールを介しての基体の冷却が低
下し、この結果、基体そのものが熱的な損傷を受ける虞
れも多分にあった。
〔発明の目的〕
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、そ
の目的とするところは、基体の保持にワークロールを使
用するものにおいて、基体とワークロールとの間に生じ
易いスリップをなくすことができ、もって基体の両面に
良好なスパッタ薄膜を連続的に形成できるスパッタリン
グ装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明に係るスパッタリング装置は、各ワークロールの
外周面に沿って通過するフィルム状6一 基体の進行速度と各ワークロールの回転速度との間の相
対速度差を上記フィルム状基体に加わる張力を制御して
零に近ずける張力制御装置を設けたことを特徴としてい
る。
上記張力制御装置は、各ワークロール間を進行するフィ
ルム状基体の張力を検出して後段に位置するワークロー
ルの速度を補正する方式、予め各ワークロール間に速度
差を設定する方式、ワークロールを駆動するモータの入
力電流に基いて対応するワークロールの回転速度を補正
する方式あるいは各ワークロール間を進行するフィルム
状基体に一定荷重を印加する方式などを実現できる構成
となっている。
〔発明の効果〕
上記構成であると、スノ臂ツタリングによってフィルム
状基体に、たとえ伸びが生じた場合であっても、このフ
ィルム状基体を各9−クロールの外周面に沿わわせて両
者間のスリツノが非常に小さい状態で進行させることが
できる。このため、片面へのスフ4ツタ薄膜形成工程後
、他面へのスフ4ツタ薄膜形成工程に移行したときでも
、すでに形成されている片面のスパッタ薄膜が上記工程
を実行するワークロールによって傷つけられる虞れがな
い。したがって、高品質の両面スフ4ツタ薄膜付きのも
のを製造することができる。また、スリツノの非常に小
さい状態でフィルム状基体を各ワークロールの外周面に
沿わせて進行させることができるので、各ワーク四−ル
を介して基体を良好に冷却でき、基体の熱損傷を防止で
きる。したがって、スパッタリングツ臂ワーを増加させ
ることによって薄膜形成速度を増加させることができ、
短時間に所望膜厚のものを両面に形成することができる
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する
。なお、この実施例は、高分子フィルムの両面に磁気記
録媒体層を形成する装置に本発明を適用した例である。
第1図において、図中1は、たとえば金属材製の真空容
器であり、この真空容器1は、軸心線が重力方向に対し
て直交するように配置された円筒部2と、この円筒部2
の両端開口部を気密に蓋する蓋体3a、3b(但し3b
は図示せず。)とで構成されている。そして、円筒部2
には図示しない排気系に通じる排気口4と、同じく図示
しない不活性ガス供給系に通じるガス導入口5とが形成
されている。なお、前記蓋体3bは選択的に開閉できる
構造に形成されてい・ る。
しかして、真空容器1内には、この真空容器1内におい
て、フィルム状基体Pを前記円筒部2の軸心線に対して
直交する進路で、かつ下から上へとコ字状の経路で案内
走行させる案内機構11が設けられている。この案内機
構11は、真空容器1内の上下2分割仮想線より下方に
図中左方から右方に亘って配置された供給リール12お
よびワークロール13.14と、上下2分割仮想線より
上方に図中右方から左方に亘って配置されたワークロー
ル15.16および巻取り−ル17と、これらの間にそ
れぞれ配置さ9− れたフリーロール18とで構成されている。これらフリ
ーロール18.ワークロール13゜14.15.16.
供給リール12および巻取リール17は、それぞれ、そ
の軸心線が前記円筒部2の軸心線と平行するように配置
されている。そして、供給リール12から巻戻されたフ
ィルム状基体Pは、ワークロール13 e 14 m1
5.16の順に各ワークロールの外周面に沿い、かつ各
ワークロール毎にその最下面位置において折り返す関係
に案内され、最終的に巻取リール17に巻取られるよう
に案内される。
上記供給リール12および巻取リール17には、それぞ
れ駆動軸(図示せず)が連結されており、これら駆動軸
は、蓋体3aを上記蓋体3aとの間が絶縁された状態で
気密にかつ回転自在に貫通して、第2図にそれぞれaを
付して示す直流分巻形のモータ12h、17mの回転軸
に連結されている。また、前記ワークロール13.14
.15.16は、それぞれ二重筒状に形成されており、
これらワークロール13゜10− 1 ’4 # 15 、 J 6には、それぞれ二重筒
状に形成された駆動軸が対応する空間どうしを連通させ
た状態に連結され工いる。そして、二重筒状に形成され
た各駆動軸は、蓋体3aを上記蓋体3aとの間が絶縁さ
れた状態で気密にかつ回転自在に貫通して第2図にそれ
ぞれaを付して示す直流分巻形のモータI J a @
 14 a r 151L*16aの回転軸に連結され
ている。なお、二重筒状に形成された上記各駆動軸の真
空容器1外に位置する部分には、それぞれ、上記駆動軸
の中央部に存在する空間を通してワークロールの中央部
に存在する空間に熱媒体を送り込み、この熱媒体をワー
クロール内の外側空間および駆動軸内の外側空間を介し
て外部へ排出させるロータリジヨイント機構が設けてあ
り、これらロータリジヨイント機構はそれぞれ高温液体
源および低温液体源に選択的に接続されるようになって
いる。
しかして、前記真空容器1内には、各ワークロール13
.14,15.16の外周面に2個づつ対向する関係に
合計8個のスパッタ源21゜22、・・・28が配置さ
れている。これらスフ9ツタ源21.22.・・・28
は、それぞれ円板状に形成されたターゲットの外側にこ
れと同心円状にリング状の陽極を上記ターゲットとは絶
縁させて配置するとともにターゲットの背面に一方の磁
極面が接触するように永久磁石を配置したマグネトロン
形の平板状構造に形成されている。
そして、各スパッタ源21.22.・・・28は、各ワ
ークロール13,14,15.16の外周面に対し、各
ワークロールの軸心線を通る垂直線を基準にし、この垂
直線とターゲットの軸心線との間の開き角θが30〜6
0度の範囲で斜下方から対面する関係にそれぞれ設けら
れている。
なお、この実施例の場合、スパッタ源21゜22.25
.26のターゲットはノぐ一マロイで形成されており、
スノf2夕源J 3 、24 、27゜28のターゲッ
トはCo−Cr合金で形成されている。そして、各スノ
母ツタ源21,22.・・・28のターゲットと陽極と
は蓋体31Lを気密に貫通して設けられた図示しないリ
ード線を介してそれぞれ独立的に図示しない直流電源の
出力端に接続されている。
一方、前記供給リール12とワークロール13との間、
ワークロール13.14間、ワークロール14,15間
、ワークロール15゜16問およびワークロール16と
巻取リール17との間には、これらの間を進行するフィ
ルム状基体Pの張力を検出する張力検出器31゜32、
・・・35が設置されている。これら張力検出器31,
32.・・・35は、たとえば張力を機械的な変位に変
換し、この変位量を電気信号として出力するように構成
されている。また、ワークロール13および16の図中
左方には、正転、逆転操作に連動して各ワークロールに
選択的に押圧接触するピンチローラ37.38が設けら
れている。
しかして、前記各モータ12h、13m。
14a、・・・27mは、第2図に示すようにサーが制
御回路41.42.・・・46によって独立的13− に駆動される。この回路41.42.・・・46は、入
力信号として導入された設定速度信号とモータに直結さ
れた直流発電機48で得られた現実の速度信号との偏差
が常に零となるようにモータの速度を制御するように構
成されている。そして、上記各サーが制御回路41,4
2.・・・46の入力端には、速度設定器51.を正転
逆転切換器52および速度補正器53 、54 、55
゜56.57を介して設定速度信号が導入される。
上記速度補正器53,54.55,56゜52は、それ
ぞれ張力設定器61で与えられた張力信号Z、と各張力
検出器で得ら、れた張力信号z1との偏差を求める回路
62と、この回路62で求められた偏差信号で前記速度
設定器51から与えられた設定速度信号を補正する回路
63とで構成されている。すなわち、Zoに対してzl
が小さいときには、両者の差に対応した分だけ設定速度
信号を増加させ、また、逆の場合には設定速度信号を減
少させるようにしている。また、回路63は正転逆転切
換器52に応動して、14− 増減信号分の極性を切換えるようにしている。
しかして、この実施例の場合には、供給リール12、各
ワークロール13.14.15.16および巻取リール
17を第1図中実線矢印で示すように回転駆動させてフ
ィルム状基体Pを走行させている状態を正転とし、この
正転状態においては、モータ12mを制御するサーボ制
御回路4ノに信号源64から低速度設定信号に対応する
信号を直接導入し、また、モータ13mを制御するサー
ボ制御回路42に正転逆転切換器52を通った設定速度
信号を直接導入し、さらにモータ14m、15*、16
h、llaを制御するサーが制御回路43,44,45
゜46に、上記モータによって駆動されるワークロール
および巻取リールの位置の直前に位置する張力検出器の
出力が導入される速度補正器を通った信号を設定速度信
号として導入するようにしている。そして、逆転状態に
おいては、これらの関係を切換えるようにしている。し
たがって、第2図に示すように、正転逆転切換器52の
切換操作に連動して切換わるスイッチ66が設けてあり
、この第2図は正転状態を示している。そして、図中6
8は逆転状態時にサーが制御回路46に低速度信号を与
える信号源を示している。また、第1図中70.71は
スパッタ源を保持するホルダを示し、また、72は仕切
板を示し、73はスノJ?ツタリングによって薄膜が形
成される領域を規制するマスクを示している。また、ピ
ンチルーラ37は正転逆転切換器52の切換操作に応動
して正転のときだけワークロール13に押圧接触するよ
うに制御され、また、ピンチルーラ38は逆転のときだ
けワークロール16に押圧接触するように制御される。
次に上記のように構成された装置を使ってフィルム状基
体Pの両面にパーマロイ層およびCo −Cr層からな
る二層構造のスパッタ薄膜を形成する場合の使用例を説
明する。
まず、真空容器1の蓋体3bを開け、フィルム状基体P
の巻回された巻取リールを第1図にに示すようにセット
し、次に、上記巻取リール17に巻回されているフィル
ム状基体Pを所定の長さ巻戻し、これを第1図に示すよ
うに各フリーロール18.張力検出器35m34eSL
32.31および各ワークロール16,15゜14.1
3に沿わせた後、その遊端を供給り−ル12に巻き付け
、所定の張力が加わるように調整し、蓋体3bを閉じる
。次に排気系を作動させて真空容器1内を十分低圧に排
気する。次に、各ワークロール13 t 14 t 1
5 e 16の二重筒状に形成された駆動軸を介して高
温液体を各ワークロール13e14.IB、16内に通
流し、これによって、各ワークロール13゜14.15
.16の表面温度を定められた一定の高温度に保持する
。次に、正転逆転切換器52を逆転側に切換える。この
切換えによって、各スイッチ66は第2図に示す状態と
は逆の関係に切換わる。また、ピンチローラ38がフィ
ルム状基体Pを介してワークロール16に圧接する。次
に、張力設定器61から所定の張力信17− 号z0を出力させるとともに速度設定器51がら所定の
設定速度信号を出力させる。この状態で、各サーボ制御
回路41,42.・・・46に始動指令Sを与える。
このように始動指令Sが与えられると、各サーボ制御回
路41942,43・・・46が作動し、モータ12m
、13as14m・・・17hが一斉に回転を開始する
。すなわち、モータ17mは、信号源68の出力信号に
よって決まる値に低速回転し、また、モータ16mは速
度設定器52の設定速度信号に対応した速度で回転し、
さらにモータ15a、14a+13a、12mは速度設
定器52の設定速度信号を速度補正器56゜55.54
.53で補正した信号に対応した速度で回転する。この
ため、巻取リール17.ワークロール16.15.14
,13および供給リール12が第1図に実線矢印で示す
方向とは反対方向に回転し、これによって、フィルム状
基体Pは、巻取リール17から供給リール12に徐々に
巻取られる。この場合、各ワークロー18− ルx3m14,15.16は、前述の如く、高温液体に
よって高温に保持されているので、これに接触するフィ
ルム状基体Pも加熱され、この結果、フィルム状基体P
に付着している不純ガスが放出される。すなわち、上述
した動作によってフィルム状基体Pの前処理が実行され
る。
なお、巻取リール17を低速で回転させるのは、慣性に
よって巻取リール17が回り過ぎるのを防止するためで
あり、したがって、信号源68(64)としては巻厚の
減少に伴なって出力信号が徐々に増加するものが望まし
い。しかして、上記のように前処理を行ない、巻厚表示
器の指示値からフィルム状基体Pの終端が巻取リール1
7を離れる直前に至った時点で各サーが制御回路41,
42.・・・46への始動指令Sの供給を停止し、これ
によって、巻取リール17.各ワークロール16.15
.14tlBおよび供給リール12の回転を停止させて
前処理工程を終了する。この前処理工程によってフィル
ム状基体Pに付着しているガスのほとんどは排気系に移
行して除去される。
次に、各ワークロール13 * 14 # 15 t1
6内への高温液体の通流を停止させ、続いて各ワークロ
ール13,14,15.16内へ、たとえば−15℃の
低温液体を通流させる。この低温液体の通流によって各
ワークロール13゜14.15.16の表面は十分低温
に冷却される。
次に、正転逆転切換器52を操作して正転側に切換える
。この切換えによって各スイッチ66は第2図の状態に
切換わる。また、速度設定器51および張力設定器61
の出力をそれぞれ所望の値に設定する。
この状態で各サーが制御器41,42.・・・46に始
動指令Sを与える。この結果、供給リール12.ワーク
ロールI J e 14 y 15 e16および巻取
リール17が第1図中実線矢印で示す方向に回転を開始
し、フィルム状基体Pは、供給リール12から巻取リー
ル17側へと移行を開始する。次に、ガス導入口5から
たとえばArガスを連続的に導入するとともに、この状
態で真空容器1内が、たとえば3〜7 X 10”−’
Torrの圧力となるように排気系およびArガス供給
系を調整し、続いて各スフ4ツタ源21゜22、・・・
28の陽極とターゲットとの間に数百がルトの直流電圧
を印加する。この印加によって陽極とターゲットとの間
にルー放電が生じ、これによって、よく知られている原
理に基づき、ターゲットを構成している金属微粒子がた
たき出される。このたたき出された金属微粒子の一部は
、ターゲットの前面をワークロールの外周面に沿って進
行するフィルム状基体Pの表面に付着する。前述の如く
、スノ4 ツタ源21.22のターゲットはノ9−マロ
イで形成されており、また、スノぐツタ源23.24の
ターゲットはCo−Cr合金で形成されている。したが
って、フィルム状基体PがワークロールIB、14の外
周面に沿って通過する間に、このフィルム状基体Pの一
方の表面にA?−マロイ層およびCo−Cr層からなる
二層構造のスi+ツタ薄膜層が形21− 成されることになる。そして、フィルム状基体Pがワー
クロール15.16の外周面に沿って進行するときには
、すてにスフ4ツタ薄膜層が形成されている面がワーク
四−ル15.16の外周面に接触する関係に案内される
。したがって、この区間内を通過するときにはフィルム
状基体Pの他方の表面にパーマロイ層およびCo−Cr
層からなる二層構造のスフ4ツタ薄膜層が形成されるこ
とになり、結局、巻取リール11には、フィルム状基体
Pの両面に二層構造のスミ4ツタ薄膜の形成されたもの
が巻取られることになる。そして、上記のようにスフ9
.タリングが行なわれると、このスノ量ツタリングによ
ってフィルム状基体Pが加熱されようとするが、この熱
は各ワークロール13,14,15.16を介して各ワ
ークロール内を通流している低温液体に伝達される。し
たがって、フィルム状基体Pが熱的な損傷を受けるよう
なことはない。また、上記熱によって万一、フィルム状
基体Pに伸びが生じた場合には、次のように動作する。
22− すなわち、上記のようにフィルム状基体Pが伸びると、
この伸びは、各ワークロール間を進行する基体に加わる
張力の低下となって表われる。
たとえば今、ワークロール14と15との間を進行する
基体の張力が低下すると、この低下は張力検出器33に
よって検出される。このように、張力検出器33の出力
が低下すると、第2図に示す速度補正器55の回路62
の出力が増加し、この結果、回路63の出力も増加する
したがって、サーが制御器44の入力が増加するのでモ
ータ15aの回転速度が増加し、これに伴なってワーク
ロール15の回転速度が増加する。したがって、張力が
低下した分だけワークロール15の巻込みが早められる
ので、再び張力が増加することになり、結局ワークロー
ル15の外周面に沿って進行するフィルム状基体Pの進
行速度との相対速度差がほぼ零となるようにワークロー
ル15の回転速度が制御される。
このような制御は、他のワークロール14゜16および
巻取リール17についても同様に行なわれる。したがっ
て、フィルム状基体Pは、各ワークロール14.15.
16との間のスリップが常に非常に小さい状態で進行す
ることになる。このため、特に、ワークロール15゜1
6の外周面に沿って進行するとき、すでに形成されてい
るスパッタ薄膜にすシ傷等がつく虞れがない。また、ス
リップが増加したときに起こシ易い冷却性能の低下も発
生しない。
このように、各ワークロールの外周面に沿って通過する
フィルム状基体Pの進行速度と各ワークロールの回転速
度との間の相対速度差を上記フィルム状基体Pに加わる
張力を制御して零に近づける、いわゆる張力制御装置を
設けている。したがって、ワークロール保持方式を採用
して両面にスパッタ薄膜を形成する場合に、フィルム状
基体Pの伸びに起因して、すでに形成されているスパッ
タ薄膜がワークロールによって傷つけられる現象の発生
を防止でき、製品の品質向上化を図ることができる。ま
た、フィルム状基体Pをスリップがほぼ零の状態でワー
クロールの外周面に沿わせて進行させることができるの
で、ワークロールを介してフィルム状基体Pを良好に冷
却でき、フィルム状基体Pが熱的な損傷を受けるのを確
実に防止できる。このことは、スパッタリングツ臂ワー
を増加させて薄膜形成速度の増加を図れることに通じる
ので極めて有利なものとなる。
なお、上述した実施例では、いわゆる張力制御装置を複
数の張力検出器と、これら検出器の出力に基いて各ワー
クロール駆動モータの設定速度を補正する複数の速度補
正器とで構成しているが、これに限られるものではない
。すなわち、各ワークロールを駆動するモータの電流を
検出器で検出し、これら検出器の出力に応じて各モータ
の速度補正を行々うようにしてもよい。
また、フィルム状基体の伸び量がノ予め判明していると
きには、各モータの設定速度に予め差を設けるようにし
てもよい。また、各ワークロール間に、これらの間を進
行するフィルム状基体に一定荷重を加える重υ式荷重器
を設けるよう25− にしてもよい。さらに、前処理時に、各ワークロールと
たとえば真空容器との間に電圧全印加して各ワークロー
ル付近にプラズマを発生させ、このプラズマによってフ
ィルム状基体の表面を活性化させ、これによって脱ガス
と付着性の向上化とを図るようにしてもよい。この場合
、スパッタ源とフィルム状基体との間にシャッタを設け
、スパッタ源に不純物が付着するのを防止するようKし
てもよい。また、上述した実施例は二層構造のスパッタ
薄膜形成用のものに本発明を適用した例であるが、一層
構造形成用のものにも適用できることは勿論である。ま
た、各マスクを冷却する手段を設けてもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係るスノfツタリング装置
における要部の模式的縦断面図、第2図は同装置の制御
回路図でおる。 1・・・真空容器、12・・・供給リール、17・・・
巻取リール、J3.J4,25.26・・・ワークロー
ル、18・・・フリーロール、21.22.23゜26
− 24.25.26.21.28・・・スノ臂ツタ源、3
1.32.33.34.315・・・張力検出器、5B
、54.55,56.51・・・速度補正器、P・・・
フィルム状基体。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦特許庁長官 
若杉和夫  殿 1.事件の表示 特願昭57−119547号 2、発明の名称 スパッタリング装! 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 株式会社 徳用製作所 4、代理人 6、補正の対象 alIfIA書全文 7、補正の内容 明細S5つ浄こr内容に変更−し) 特許庁長官  若 杉 和 夫  殿 1、事件の表示 特願昭57−119547号 2 発明の名称 スパッタリング装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 株式会社 徳用製作所 4、代理人 6、補正の力]象 明細書 7、補正の内容 (1)明細書(昭和57年8月16日付提出の手続補正
書に添付された浄書明細書、以下同じ)の第12頁3行
目に「それぞれ円板状に」とあるのを「それぞれ、たと
えば円板状に」と訂正する。 (2)  明細書の第21m2行目に「3〜7×1σ番
」とあるのを[3〜7 X ] 0−34と訂正する。  2−

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  供給リールから巻戻されたフィルム状基体を
    複数のワークロールの外周面に順次沿わせて移送させた
    後に巻取リールで巻取るとともに上記フィルム状基体が
    上記供給リールから上記巻取リールに至る間に上記フィ
    ルム状基体の両面にスパッタ薄膜を形成するようにした
    スノ4゜タリング装置におい人前記各ワークロールの外
    周面に沿って通過する前記フィルム状基体の進行速度と
    各ワークロールの回転速度との間の相対速度差を上記フ
    ィルム状基体に加わる張力を制御して零に近づける張力
    制御装置を設けてなることを特徴とするスノ(、タリン
    グ装置。
  2. (2)前記張力制御装置は、前記各ワークロール間を進
    行する前記フィルム状基体の張力をそれぞれ検出する複
    数の張力検出器と、これら張力検出器の出力に基き、こ
    れ、ら張力検出器の直後に位置する上記ワークロールの
    回転速度を補正する複数の速度補正器とで構成されてな
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のスパッ
    タリング装置。
  3. (3)前記張力制御装置は、前記各ワークロール間□に
    予め設定された速度差を設ける複数の速度差設定系で構
    成されてなることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載のス/4’ツタリング装置0
  4. (4)前記・張力制御装置は、前記各ワークロール間を
    進行する前記フィルム状基体に一定の荷重を加える複数
    の重り式加重器で構成されてなることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載のスパッタリング装置。
  5. (5)前記張力制御装置は、前記フィルム状基体が最初
    ・に接する第1段目のワークロールを除く次段目以降の
    ワークロールを駆動するモータの入力電流をそれぞれ検
    出する複数の電流検出器と、これら電流検出器の出力に
    応じて対応するモータの回転速度を補正する複数の補正
    器とで構成されてなることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載のスi4 ツタリング装置。
JP11954782A 1982-07-09 1982-07-09 スパツタリング装置 Granted JPS5913069A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11954782A JPS5913069A (ja) 1982-07-09 1982-07-09 スパツタリング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11954782A JPS5913069A (ja) 1982-07-09 1982-07-09 スパツタリング装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5913069A true JPS5913069A (ja) 1984-01-23
JPS6160911B2 JPS6160911B2 (ja) 1986-12-23

Family

ID=14764001

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11954782A Granted JPS5913069A (ja) 1982-07-09 1982-07-09 スパツタリング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5913069A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61266574A (ja) * 1985-05-21 1986-11-26 Toyoda Gosei Co Ltd スパツタリング装置
JPH01224926A (ja) * 1988-03-04 1989-09-07 Fuji Photo Film Co Ltd 磁気記録媒体の製造方法
JP2013147701A (ja) * 2012-01-19 2013-08-01 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 長尺帯状体の搬送制御方法と長尺帯状体の表面処理方法
JP2014091848A (ja) * 2012-11-02 2014-05-19 Toray Eng Co Ltd 薄膜形成方法及び薄膜形成装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56143269U (ja) * 1980-03-25 1981-10-29

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56143269U (ja) * 1980-03-25 1981-10-29

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61266574A (ja) * 1985-05-21 1986-11-26 Toyoda Gosei Co Ltd スパツタリング装置
JPH01224926A (ja) * 1988-03-04 1989-09-07 Fuji Photo Film Co Ltd 磁気記録媒体の製造方法
JP2013147701A (ja) * 2012-01-19 2013-08-01 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 長尺帯状体の搬送制御方法と長尺帯状体の表面処理方法
JP2014091848A (ja) * 2012-11-02 2014-05-19 Toray Eng Co Ltd 薄膜形成方法及び薄膜形成装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6160911B2 (ja) 1986-12-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3342633A (en) Magnetic coating
JPS5913069A (ja) スパツタリング装置
JP2003129229A (ja) 金属酸化物膜つきフィルムの製造方法および製造装置
JPS5935580Y2 (ja) スパツタリング装置
JPS5913072A (ja) スパツタリング装置
JP2601358B2 (ja) スパッタリング方法
JPS5913071A (ja) スパツタリング装置
JPS5913070A (ja) スパツタリング装置
JPH0356668A (ja) スパッター装置
JPH01156473A (ja) 薄膜磁気記録媒体の製造装置及びその使用方法
JPH02277768A (ja) スパッタリング方法
JPS61278032A (ja) 磁気記録媒体の製造方法およびその装置
JPS59173268A (ja) 薄膜形成装置
JPH02105348A (ja) 光磁気記録媒体の製造方法
JPH02258975A (ja) スパッタリング方法
JPS59143066A (ja) 基板の冷却方法
JPS5881970A (ja) スパツタ装置
JPS6152361A (ja) 薄膜形成方法
JPH03130922A (ja) スパッタリング装置
JPS60138758A (ja) 磁気テ−プ摺接部材およびその製造方法
JPH0798868A (ja) 磁気記録媒体の製造装置
JPS61242332A (ja) 垂直磁気記録媒体の製造装置
JPH0375369A (ja) スパッタリング装置
JPH02105349A (ja) 光磁気記録媒体の製造方法
JPH04132015A (ja) CoCr垂直磁気記録テープおよびその製造方法