JPS59135703A - 正特性磁器半導体素子 - Google Patents
正特性磁器半導体素子Info
- Publication number
- JPS59135703A JPS59135703A JP58009748A JP974883A JPS59135703A JP S59135703 A JPS59135703 A JP S59135703A JP 58009748 A JP58009748 A JP 58009748A JP 974883 A JP974883 A JP 974883A JP S59135703 A JPS59135703 A JP S59135703A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor
- electrode
- semiconductor element
- ohmic electrode
- temperature coefficient
- Prior art date
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- Granted
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- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、加熱装置に用いて好都合な正特性磁器半導体
素子に関するものである。
素子に関するものである。
従来のものは、正特性磁器半導体の相対向した面に電極
を付与した構造であり、線面の全域あるいはその面の中
央領域を上記電極が占めCいるのが一般的である。
を付与した構造であり、線面の全域あるいはその面の中
央領域を上記電極が占めCいるのが一般的である。
しかしながら、かかる従来例のものによれば、上記半導
体の形状が大型化になったときには、通電によって熱応
力の作用で半導体目角に割れを生じるという不具合があ
る。
体の形状が大型化になったときには、通電によって熱応
力の作用で半導体目角に割れを生じるという不具合があ
る。
そこで、本発明考は鋭意研究の結果、電極の付与領域を
半導体の中央領域とすることにより、半導体中央領域で
の過大な熱の発生を防いで半導体の熱分布を均一にし、
熱応力を緩和して上記の割れを防ぐようにしたものであ
る。
半導体の中央領域とすることにより、半導体中央領域で
の過大な熱の発生を防いで半導体の熱分布を均一にし、
熱応力を緩和して上記の割れを防ぐようにしたものであ
る。
以下本発明を具体的実施例により説明する。第1図(a
l、(blにおいて、1はチタン酸バリウムを主成分と
する公知組成の正特性磁器半導体であり、板状の形状を
有している。この半導体1の相対向する面には、その中
央部領域を除いて環状にオーミック電極2が4=J与し
Cある。
l、(blにおいて、1はチタン酸バリウムを主成分と
する公知組成の正特性磁器半導体であり、板状の形状を
有している。この半導体1の相対向する面には、その中
央部領域を除いて環状にオーミック電極2が4=J与し
Cある。
この電極2は無電解ニッケルメッキで例えば形成してあ
り、半導体1の全面領域にニッケルメッキを施した後、
エソヂングにより不必要な部分を除くことで電掘2の形
状が得られる。
り、半導体1の全面領域にニッケルメッキを施した後、
エソヂングにより不必要な部分を除くことで電掘2の形
状が得られる。
3はカバー電極であり、この電極3は上記オーミック電
極2の全体を覆うよ・)に半導体1の両面に形成しであ
る。このカバー電極3は、例えば銀ベースI・を塗布、
焼付Uることによって得られる。
極2の全体を覆うよ・)に半導体1の両面に形成しであ
る。このカバー電極3は、例えば銀ベースI・を塗布、
焼付Uることによって得られる。
第2図(al、(blは従来構造を示すもので、ごれは
半導体1の略全域に、無電解ニッケルメッキで形成しま
たオーミック電極2が付与してあり、かつ該オーミック
電極2を覆うように銀ペーストの塗布、焼イ・jlJに
よるカバー3が形成し2である。
半導体1の略全域に、無電解ニッケルメッキで形成しま
たオーミック電極2が付与してあり、かつ該オーミック
電極2を覆うように銀ペーストの塗布、焼イ・jlJに
よるカバー3が形成し2である。
へに、第1図(a)、(blの本発明実施例と、第2図
(a)、(blの従来例との性能比較実験について説明
する。第3図(δ)、(1))は各々本発明実施例、従
来例の試料を説明するもので、各図中の15.28.3
0は長さ寸法(単位;+i+1)を表わしている。なお
、半導体1の肉厚は各々1.1 +uである。また、A
−ミノク電極2の材質はニッケル、カバー電極3の材質
は銀であり、その形成方法は上述したとおりである。
(a)、(blの従来例との性能比較実験について説明
する。第3図(δ)、(1))は各々本発明実施例、従
来例の試料を説明するもので、各図中の15.28.3
0は長さ寸法(単位;+i+1)を表わしている。なお
、半導体1の肉厚は各々1.1 +uである。また、A
−ミノク電極2の材質はニッケル、カバー電極3の材質
は銀であり、その形成方法は上述したとおりである。
第3図(C1から明白なように、従来例(イ)のものは
印加電圧20Vあたりから半導体に割れが発生しCいる
。これに対し、本実施例(ロ)では約35Vで割れが発
生しCいる。従って、同一印加電圧では本実施例のもの
は割れを発生しないことがわかる。また、第3図tc+
かられかるごとく、半導体に対する印加電圧を上げても
本実施例のものは割れ発生が低い。
印加電圧20Vあたりから半導体に割れが発生しCいる
。これに対し、本実施例(ロ)では約35Vで割れが発
生しCいる。従って、同一印加電圧では本実施例のもの
は割れを発生しないことがわかる。また、第3図tc+
かられかるごとく、半導体に対する印加電圧を上げても
本実施例のものは割れ発生が低い。
第4図(a)、(b)乃至第0図(a)、(+3)は本
発明の他の実施例を示している。
発明の他の実施例を示している。
なお、本発明は」二記した実施例に限定されず、以Fの
ごとく種々の変形が可能である。
ごとく種々の変形が可能である。
(1)半導体1にはオーミック電極2を付与したが、非
オーミツク電極を付すしてもよい。この非オーミツク電
極の材質としては銀、金、パラジウノ5、銅などがあり
、これらを無電解メッキ、印刷焼付、溶射などの方法で
付り゛すればよい。
オーミツク電極を付すしてもよい。この非オーミツク電
極の材質としては銀、金、パラジウノ5、銅などがあり
、これらを無電解メッキ、印刷焼付、溶射などの方法で
付り゛すればよい。
(2)オーミック電極2の材質としては、ニッケルの他
にアルミニウム、ススなどがある。こわらの付与方法は
上記(1)の非オーミツク電極の場合と・同じである。
にアルミニウム、ススなどがある。こわらの付与方法は
上記(1)の非オーミツク電極の場合と・同じである。
(3)半導体の中央部領域を除く部位に電極を(カJ−
リする方法としては、マスキング法でもよい。
リする方法としては、マスキング法でもよい。
(4)半導体の−・方の面にオーミック電極、他方の血
に非オーミツク電極を付り、形成してもよい。
に非オーミツク電極を付り、形成してもよい。
(5)半導体の形状としては、前記第6図(alのよう
に部分的に貫通孔1aを有し°Cいるものでもよく、あ
るいはハニカム形状であってもよい。
に部分的に貫通孔1aを有し°Cいるものでもよく、あ
るいはハニカム形状であってもよい。
以」二述べたごとく、本発明によれば、半導体の割れを
防ぐことができ、その実用上の効果は大きい。
防ぐことができ、その実用上の効果は大きい。
第1図fa)、(blは本発明の実施例を示すもので、
第1図(alは平面図、第1図fblは第1図(alの
A−A断面図、第2図(al、(blは従来例を示すも
ので、第2図(alは平面図、第2図(blは第2図(
a)のE−E断面図、第3図(a)、(b)、(C)は
本発明の詳細な説明に供する図であり、第3図(al、
(blは試料を示す平面図、第3図ta)は特性図、第
4図(a)、(b)乃至第6図(81、tb+は本発明
の他の実施例を示すもので、各図(alは平面図、各図
(b)は各図fa)のB−B、C−C。 1) −D断面図である。 ■・・・半導体、2・・・電極。 代理人弁理士 岡 部 隆 千 続 輔 jl−書(1″4発) 昭TIJ 58 ’l−2月7[1 特許n且宮 殿 昭fil 5B ’I”l JI Z 41’1例提出
の’lH’l願(1、発明の名称 jli’tk性磁器≧1′、導体素子 3禎正をする昔 事jf+との関係 特許出願人 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 (426)日本電装株式会社 代表者 戸ill憲吾 4代 理 人 〒448 愛知県刈谷市昭和町IJ目1番地5補正の
対象 明細書の発明のll′f細な説明の欄。 6hli正の内容 (1)明細書の第2頁第1行乃至同頁第2行のr 71
t極の(−1’+領領域・・・することにより、]を1
半導体の中央領域を除いて電極を付与することにより、
」に削正する。 (2)同書第2頁第19行の「得られる。」を1−得ら
れるもので、非オーミツクである。」に訂正゛多る。 (3)同書第3頁第4行の1−カバー3」を「非オーミ
ツクなカバー電極3」に訂正する。 (4)同書第4頁第6行乃至同頁第7行の「半導体1に
は・・・付与してもよい。」を[半導体1にオーミック
電極単独、あるいは非オーミ・ツク電極単独を形成して
もよい。この場合、これら電極は、半導体1の中央領域
を除いて該半導体1に0惇することは勿論である。なお
、前述の第1図の実施例では非オーミツク電極3が半導
体1の中央領域までも付与しであるが、この第1図の実
施例のようにオーミック電極と非オーミツク電極との組
合せでは電流のほとんど全°Cがオーミック電極に流れ
るため、)1」−ミック電極をゝl’1体の中央領域に
付すし、゛(も差支えない。つまり、本発明では半導体
に1電流を流′4ための電極を゛l′導体の中央領域を
除いて該31′λダ体に付りずればよいの一ζある。、
−1(5)同書第4r1第16fjの1−マスキング法
でもよい。」の後に次の文を追加する。 1−また、活性化ペース1法でもよい。これは、パラジ
ウムを含む活性化ベーストを、電極を付Ijしたい)Y
、導体部分に印刷焼付し、その後前記のごとく無電解N
iメッキをする方法゛Cある。これによると、ベースト
焼付部分に短時間でNiがメッキされる。−1
第1図(alは平面図、第1図fblは第1図(alの
A−A断面図、第2図(al、(blは従来例を示すも
ので、第2図(alは平面図、第2図(blは第2図(
a)のE−E断面図、第3図(a)、(b)、(C)は
本発明の詳細な説明に供する図であり、第3図(al、
(blは試料を示す平面図、第3図ta)は特性図、第
4図(a)、(b)乃至第6図(81、tb+は本発明
の他の実施例を示すもので、各図(alは平面図、各図
(b)は各図fa)のB−B、C−C。 1) −D断面図である。 ■・・・半導体、2・・・電極。 代理人弁理士 岡 部 隆 千 続 輔 jl−書(1″4発) 昭TIJ 58 ’l−2月7[1 特許n且宮 殿 昭fil 5B ’I”l JI Z 41’1例提出
の’lH’l願(1、発明の名称 jli’tk性磁器≧1′、導体素子 3禎正をする昔 事jf+との関係 特許出願人 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 (426)日本電装株式会社 代表者 戸ill憲吾 4代 理 人 〒448 愛知県刈谷市昭和町IJ目1番地5補正の
対象 明細書の発明のll′f細な説明の欄。 6hli正の内容 (1)明細書の第2頁第1行乃至同頁第2行のr 71
t極の(−1’+領領域・・・することにより、]を1
半導体の中央領域を除いて電極を付与することにより、
」に削正する。 (2)同書第2頁第19行の「得られる。」を1−得ら
れるもので、非オーミツクである。」に訂正゛多る。 (3)同書第3頁第4行の1−カバー3」を「非オーミ
ツクなカバー電極3」に訂正する。 (4)同書第4頁第6行乃至同頁第7行の「半導体1に
は・・・付与してもよい。」を[半導体1にオーミック
電極単独、あるいは非オーミ・ツク電極単独を形成して
もよい。この場合、これら電極は、半導体1の中央領域
を除いて該半導体1に0惇することは勿論である。なお
、前述の第1図の実施例では非オーミツク電極3が半導
体1の中央領域までも付与しであるが、この第1図の実
施例のようにオーミック電極と非オーミツク電極との組
合せでは電流のほとんど全°Cがオーミック電極に流れ
るため、)1」−ミック電極をゝl’1体の中央領域に
付すし、゛(も差支えない。つまり、本発明では半導体
に1電流を流′4ための電極を゛l′導体の中央領域を
除いて該31′λダ体に付りずればよいの一ζある。、
−1(5)同書第4r1第16fjの1−マスキング法
でもよい。」の後に次の文を追加する。 1−また、活性化ペース1法でもよい。これは、パラジ
ウムを含む活性化ベーストを、電極を付Ijしたい)Y
、導体部分に印刷焼付し、その後前記のごとく無電解N
iメッキをする方法゛Cある。これによると、ベースト
焼付部分に短時間でNiがメッキされる。−1
Claims (1)
- 正の抵抗温度特性を有した磁器半導体の相対向した面に
電極を付与した正特性磁器半導体素子てあっ゛C1前記
少なくとも一方の面の電極を、線面の中央領域を除い゛
C付与し”C成る正特性磁器半導体素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58009748A JPS59135703A (ja) | 1983-01-24 | 1983-01-24 | 正特性磁器半導体素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58009748A JPS59135703A (ja) | 1983-01-24 | 1983-01-24 | 正特性磁器半導体素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59135703A true JPS59135703A (ja) | 1984-08-04 |
| JPH0226761B2 JPH0226761B2 (ja) | 1990-06-12 |
Family
ID=11728920
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58009748A Granted JPS59135703A (ja) | 1983-01-24 | 1983-01-24 | 正特性磁器半導体素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59135703A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0911838A1 (en) * | 1997-10-27 | 1999-04-28 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | PTC thermistor with improved flash pressure resistance |
| EP0867895A3 (en) * | 1997-03-27 | 1999-07-21 | Ngk Insulators, Ltd. | Current limiter and/or circuit breaker with PTC element |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS411170Y1 (ja) * | 1964-09-28 | 1966-02-01 |
-
1983
- 1983-01-24 JP JP58009748A patent/JPS59135703A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS411170Y1 (ja) * | 1964-09-28 | 1966-02-01 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0867895A3 (en) * | 1997-03-27 | 1999-07-21 | Ngk Insulators, Ltd. | Current limiter and/or circuit breaker with PTC element |
| EP0911838A1 (en) * | 1997-10-27 | 1999-04-28 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | PTC thermistor with improved flash pressure resistance |
| US6133821A (en) * | 1997-10-27 | 2000-10-17 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | PTC thermistor with improved flash pressure resistance |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0226761B2 (ja) | 1990-06-12 |
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