JPS59143376A - 光起電力装置の製造方法 - Google Patents
光起電力装置の製造方法Info
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- JPS59143376A JPS59143376A JP58017747A JP1774783A JPS59143376A JP S59143376 A JPS59143376 A JP S59143376A JP 58017747 A JP58017747 A JP 58017747A JP 1774783 A JP1774783 A JP 1774783A JP S59143376 A JPS59143376 A JP S59143376A
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- Japan
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- electrode layer
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F19/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one photovoltaic cell covered by group H10F10/00, e.g. photovoltaic modules
- H10F19/30—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one photovoltaic cell covered by group H10F10/00, e.g. photovoltaic modules comprising thin-film photovoltaic cells
- H10F19/31—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one photovoltaic cell covered by group H10F10/00, e.g. photovoltaic modules comprising thin-film photovoltaic cells having multiple laterally adjacent thin-film photovoltaic cells deposited on the same substrate
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明は光エネルギな直接゛嘔気エネルギに質則する光
起電力装置に関する・ ((ロ)従来技術 元エネルギを直接嘔気エネルギVC変換する光起電力装
置、所用太陽−也は無尽蔵な太陽光を主之るエネルギ資
源としているために、エネルギ資源の枯渇が問題となる
甲で脚光を浴ている。
起電力装置に関する・ ((ロ)従来技術 元エネルギを直接嘔気エネルギVC変換する光起電力装
置、所用太陽−也は無尽蔵な太陽光を主之るエネルギ資
源としているために、エネルギ資源の枯渇が問題となる
甲で脚光を浴ている。
第1図は所る元d′−刀装置を示し、(])はガラス・
透光性プラスチック等の絶縁基板、(2a)(2b)(
20)は該絶縁基板(1)の−主面に並設された第1〜
第6の光I冠斐換鎖板で、該y換if4 j或(2a
) (2b ) (2c 、) (/J各zLi、絶&
J 4 Fly、 1111111から酸化スズ(S
n O2) 、酸化インジウムスズ(In20?l−8
nO2)4!li;ノミ明j唆化7=4 it 利ノ第
1電極IM(5a)(5b)(50,)と、fll t
ハ光入射側からPIN接合を有するアモルファスシ薄 りコン等の、V状元半導体!曽(4a)(4b)(4C
〕と、該光半導体In(4a)(4b)(40)とオー
ミンク接触するアルミニウムAj等の第2箪極層(5a
、)(5b)C50)と、Y 11111次貞畳セーし
めた積層横這を成している。更に、上記並設されたNS
1〜第6の光箪変換叫」成(2a)(2b)(2C)
は第2図にその要部を拡大して示す如く、右隣りの光半
導体層(4b)(40)F面から絶縁基l1lIy、(
lj上に露出した第1嘔極層(5b)(60)の露出品
(3b’) (30’) VC,左隣りの元半纏体層(
4a)(4b)上面から延出して来た第2−極層(5a
)(5b)の延長部(5a’)(5b’)がrI!接結
合し、イ(fi ’ テ!1f51〜”Kl 6)光−
父挾唄域(2a)(2b)(2c)はL%Ucffi列
接続される。
透光性プラスチック等の絶縁基板、(2a)(2b)(
20)は該絶縁基板(1)の−主面に並設された第1〜
第6の光I冠斐換鎖板で、該y換if4 j或(2a
) (2b ) (2c 、) (/J各zLi、絶&
J 4 Fly、 1111111から酸化スズ(S
n O2) 、酸化インジウムスズ(In20?l−8
nO2)4!li;ノミ明j唆化7=4 it 利ノ第
1電極IM(5a)(5b)(50,)と、fll t
ハ光入射側からPIN接合を有するアモルファスシ薄 りコン等の、V状元半導体!曽(4a)(4b)(4C
〕と、該光半導体In(4a)(4b)(40)とオー
ミンク接触するアルミニウムAj等の第2箪極層(5a
、)(5b)C50)と、Y 11111次貞畳セーし
めた積層横這を成している。更に、上記並設されたNS
1〜第6の光箪変換叫」成(2a)(2b)(2C)
は第2図にその要部を拡大して示す如く、右隣りの光半
導体層(4b)(40)F面から絶縁基l1lIy、(
lj上に露出した第1嘔極層(5b)(60)の露出品
(3b’) (30’) VC,左隣りの元半纏体層(
4a)(4b)上面から延出して来た第2−極層(5a
)(5b)の延長部(5a’)(5b’)がrI!接結
合し、イ(fi ’ テ!1f51〜”Kl 6)光−
父挾唄域(2a)(2b)(2c)はL%Ucffi列
接続される。
この様な装置に於いて、光利用効率を左方する一つの要
因は、装置全体の受光面積(即ち、基板面積)VC対し
、実際に発電に寄弓する第1〜9A5の光’i4’R換
饋域(頭載a ) (2b) (20) cDb面袖の
占める゛副台いである。然るに各光電変挨頭載(2a)
(2b)(2c)coliJ接1’J隔re然a>c存
在する分離till域は上記面114割合いを低トさせ
る。
因は、装置全体の受光面積(即ち、基板面積)VC対し
、実際に発電に寄弓する第1〜9A5の光’i4’R換
饋域(頭載a ) (2b) (20) cDb面袖の
占める゛副台いである。然るに各光電変挨頭載(2a)
(2b)(2c)coliJ接1’J隔re然a>c存
在する分離till域は上記面114割合いを低トさせ
る。
従って、光利用効率を向上させるためには谷光屯変PA
mJJ戊(2a)(2b)(20)のMml”ll’M
である分離M4械2小さくしかければならない。
mJJ戊(2a)(2b)(20)のMml”ll’M
である分離M4械2小さくしかければならない。
ルする間隔縮小は各層の加1.粕1廷で決まり、従って
、411庄・加工性に優れている写真蝕刻技術が有望で
ある。この技術によるル合、基板(1)全面への第1゛
屯撤層の被着工A呈と、フォトレジスト及びエツチング
による各個別の第1電極層(5a)(5b)C50)の
分離、即ち各第1電極層1a)(5b)(5c)の隣接
間隔部分の除去工程と、を順次経た後、同様の被着工程
及び除去工程を光半導体層(4a)(4b)(40)並
び1c−1s2電偵層(5a)(5b)(50)ICつ
いても各々再度縁り返し行なうことになる。
、411庄・加工性に優れている写真蝕刻技術が有望で
ある。この技術によるル合、基板(1)全面への第1゛
屯撤層の被着工A呈と、フォトレジスト及びエツチング
による各個別の第1電極層(5a)(5b)C50)の
分離、即ち各第1電極層1a)(5b)(5c)の隣接
間隔部分の除去工程と、を順次経た後、同様の被着工程
及び除去工程を光半導体層(4a)(4b)(40)並
び1c−1s2電偵層(5a)(5b)(50)ICつ
いても各々再度縁り返し行なうことになる。
然し乍ら、上記写真蝕刻技術は水沫い等のクエットプロ
セス?含むために第2図に示す如く第1電極層(3b〕
の露出部(5b’)の先端(6b″)と、左隣りの光磁
変換頭載(2a〕から延出した光半導体層(4a〕の延
出端(4a’)と、の間に敞小な間隙δが形成されると
、該間11ホδに上記光半導体層(4a〕の写真蝕刻工
程vc於いて水、エッチャント若しくはフォトレジスト
等が僅かながらも残留することがあり、抜工&iVC於
いて被着される第2電極層(5a)の延長部(5a ’
)’と第1磁轍層(5b〕の露出部(5b’)との結合
界面に上記水等の残笛物が浸透する結果、上記延長部(
sa’)が露出部C5b’)から剥離する結合不良を招
く危惧Pr:何していた。
セス?含むために第2図に示す如く第1電極層(3b〕
の露出部(5b’)の先端(6b″)と、左隣りの光磁
変換頭載(2a〕から延出した光半導体層(4a〕の延
出端(4a’)と、の間に敞小な間隙δが形成されると
、該間11ホδに上記光半導体層(4a〕の写真蝕刻工
程vc於いて水、エッチャント若しくはフォトレジスト
等が僅かながらも残留することがあり、抜工&iVC於
いて被着される第2電極層(5a)の延長部(5a ’
)’と第1磁轍層(5b〕の露出部(5b’)との結合
界面に上記水等の残笛物が浸透する結果、上記延長部(
sa’)が露出部C5b’)から剥離する結合不良を招
く危惧Pr:何していた。
(ハ) 発明の目的
本発明の目的は、互いに隣接せる光岨変換頭載を一気的
に接続せしめる電41iIi層の剥離を解消することに
よって祈る剥離を主因とする結合不良ご防止することに
ある。
に接続せしめる電41iIi層の剥離を解消することに
よって祈る剥離を主因とする結合不良ご防止することに
ある。
に) 発明の構成
A友
本発す1光起′嘔力装置は、薄膜2元半導体1−が隣接
する光醸変換誼域の基板l1IIvC設けられた第1嵯
出部とは上記露出部先端を覆う光半導体層を越えて峨気
的に接続された、構成にある。
する光醸変換誼域の基板l1IIvC設けられた第1嵯
出部とは上記露出部先端を覆う光半導体層を越えて峨気
的に接続された、構成にある。
(ホ)実施例
第6図は本発明の要部拡大断面図であって、第2因の従
来例と同様第1の光′磁変挟唄域(2a)と第2の元“
屯愛換頭載(2b〕との隣接部に於ける接続箇所を示し
ている。即ち、図中左側に位置する第1の元屯変洟頭載
(2a)から延出するが 薄膜2元半導体層(4a〕の延出端(4a’)に右隣り
の第2の元′屯父換頭載(2b)から隣接部に露出した
第1電極層(3b〕の露出部元端(3b ”)を覆って
いる。更に、第1の光電質換哨岐(2a)?構成してい
る第2市極層(5a〕の延長部(5a′)は上記露出部
先端(5b ″)k i&っている光半導体層(4a〕
の延出端(4a’)を越えて第2の光電変換囲域(2b
)を形成する第1電極層(3b)の露出部(5b’)に
1で延化し、両党電変換w4域(2a)(2b)に於い
て発生した光用″屯力を直列的に相加する。
来例と同様第1の光′磁変挟唄域(2a)と第2の元“
屯愛換頭載(2b〕との隣接部に於ける接続箇所を示し
ている。即ち、図中左側に位置する第1の元屯変洟頭載
(2a)から延出するが 薄膜2元半導体層(4a〕の延出端(4a’)に右隣り
の第2の元′屯父換頭載(2b)から隣接部に露出した
第1電極層(3b〕の露出部元端(3b ”)を覆って
いる。更に、第1の光電質換哨岐(2a)?構成してい
る第2市極層(5a〕の延長部(5a′)は上記露出部
先端(5b ″)k i&っている光半導体層(4a〕
の延出端(4a’)を越えて第2の光電変換囲域(2b
)を形成する第1電極層(3b)の露出部(5b’)に
1で延化し、両党電変換w4域(2a)(2b)に於い
て発生した光用″屯力を直列的に相加する。
向、祈る構造は図示していない他の隣接部に於ける接続
箇所についても袂通である。
箇所についても袂通である。
この様vc第1電櫃層(3b〕の露出部先端(5b“)
を覆う光半導体層(4a)に、従来と同じく各床1’4
++kQrj(3a) (?+b) (50)上全面i
c被看形成後、細密加上件VC優れているウェットプロ
セスを含む写真蝕刻技術によりパターニングされる。こ
の際留意しなければならないことは、第1″−極層(5
b〕の露出部先端(s b//)を敗り光半導体層(4
a)が上記露出部先端(5b”)と光半導体層(4a)
を越える第2゛嘔極層(5a)の延長部(5a’)と共
に、第1〜第6の光′嘔友挟頭載(2a)〜(2C)K
於いて光電ずる光起゛醒力と逆極性の起電力が生せしめ
る結果、光利用効率を減小せしめるために上記光半導体
層(4a)の彼演婦dを可及的に小さくしカければなら
ないことである。祈る仮波幅dの具体例としては、最大
Mf 谷幅が光電変1突iMJ)t(2a)(2b)(
2c〕の各有効幅の1/10程度であり、最小許容幅は
写真蝕刻技術のバター二:ノグ精度を考慮して1μtn
程度である。
を覆う光半導体層(4a)に、従来と同じく各床1’4
++kQrj(3a) (?+b) (50)上全面i
c被看形成後、細密加上件VC優れているウェットプロ
セスを含む写真蝕刻技術によりパターニングされる。こ
の際留意しなければならないことは、第1″−極層(5
b〕の露出部先端(s b//)を敗り光半導体層(4
a)が上記露出部先端(5b”)と光半導体層(4a)
を越える第2゛嘔極層(5a)の延長部(5a’)と共
に、第1〜第6の光′嘔友挟頭載(2a)〜(2C)K
於いて光電ずる光起゛醒力と逆極性の起電力が生せしめ
る結果、光利用効率を減小せしめるために上記光半導体
層(4a)の彼演婦dを可及的に小さくしカければなら
ないことである。祈る仮波幅dの具体例としては、最大
Mf 谷幅が光電変1突iMJ)t(2a)(2b)(
2c〕の各有効幅の1/10程度であり、最小許容幅は
写真蝕刻技術のバター二:ノグ精度を考慮して1μtn
程度である。
不発り」者は本発明構造と従来構造とを対比するために
1万個の鷺産試作を施したところ、従来4596であワ
た歩留?本発明の実施によシ8596まで高められるこ
と?確認した。
1万個の鷺産試作を施したところ、従来4596であワ
た歩留?本発明の実施によシ8596まで高められるこ
と?確認した。
第4図は本発明の他の実施例要部?示し、第6図の元の
実施例と異なるところは第2嘔極j−(5a)とl!A
:l妾セる第1−極層(5b)のi山部(6b’)との
1妾続構造にある。即ち、上記第2′−極層(5b〕の
延長部(5b’)は上記露出部(Sb’Jの先端(5b
”)を鏡う光半導体層(4a〕と同/(ターン1a:有
し、従ってこの状LQ vCFいては互いに隣接する光
砿変換顧域(2a)(2b)の′嘔気的な直列接続がな
されないので、上記第2心極層(5a)のパターニング
後上記延長部(5aりと露出部(5b’)と?橋絡すべ
く結合′磁極1−(6a)が設けられている。
実施例と異なるところは第2嘔極j−(5a)とl!A
:l妾セる第1−極層(5b)のi山部(6b’)との
1妾続構造にある。即ち、上記第2′−極層(5b〕の
延長部(5b’)は上記露出部(Sb’Jの先端(5b
”)を鏡う光半導体層(4a〕と同/(ターン1a:有
し、従ってこの状LQ vCFいては互いに隣接する光
砿変換顧域(2a)(2b)の′嘔気的な直列接続がな
されないので、上記第2心極層(5a)のパターニング
後上記延長部(5aりと露出部(5b’)と?橋絡すべ
く結合′磁極1−(6a)が設けられている。
祈る構造によると、光半導体層(4a)(4b)(40
)と第2’M碌IM(5a)(5b)(50)とは同一
のパターンを何するために、光半導体層(4a)(ab
)(40)(/Jパターニングを第2電極層(5a)(
5b)(5c)v被着形成した後に施すことかでさ、第
2電極層(5a)(5b)(50)の被着形成に先立つ
光半導体層(4a)(ab)(ac)のパターニングの
1県発生することのあったピンホールによる第2電極層
(5a)(5b)(5c)と第1電極IFj (5a
) (5b)C50)との短絡事故防止VC有益である
。
)と第2’M碌IM(5a)(5b)(50)とは同一
のパターンを何するために、光半導体層(4a)(ab
)(40)(/Jパターニングを第2電極層(5a)(
5b)(5c)v被着形成した後に施すことかでさ、第
2電極層(5a)(5b)(50)の被着形成に先立つ
光半導体層(4a)(ab)(ac)のパターニングの
1県発生することのあったピンホールによる第2電極層
(5a)(5b)(5c)と第1電極IFj (5a
) (5b)C50)との短絡事故防止VC有益である
。
更に上記結合電極層(6a)として第2′屯極層(5a
)(5b)C5c)の形戚利料(例えばAIりより耐湿
性に富む月利(例λ、ばAg、Ti及びそれ等を少くと
も1種含む合金)を選択使用すれば、第1電極層(3b
)の露出部(5b’) との結合界面に於ける湿気を原
因とする接触抵抗の増加を抑圧することができる。
)(5b)C5c)の形戚利料(例えばAIりより耐湿
性に富む月利(例λ、ばAg、Ti及びそれ等を少くと
も1種含む合金)を選択使用すれば、第1電極層(3b
)の露出部(5b’) との結合界面に於ける湿気を原
因とする接触抵抗の増加を抑圧することができる。
(へ)発明の効果
本発明は以上の説り]からり]らかな如く、第1電′#
!、層の露出部先端を隣接せる光電賀換頭域の光半導体
層で覆うと共に、該露出品先端/a−演う光半導体+i
を越えて当該光゛嘔変換頭載の第2市礒層と上記第1i
:極層とを電気的に接続せしめたので、互いに隣接する
光′屯変換1011域の上記向心極層は強固に°献気的
lり機械的VC結合し、′−極1−の剥離を主因とする
結合不良の発生率’a’ 1lill aEすることか
でさ、歩冒の同上な図ることができる。
!、層の露出部先端を隣接せる光電賀換頭域の光半導体
層で覆うと共に、該露出品先端/a−演う光半導体+i
を越えて当該光゛嘔変換頭載の第2市礒層と上記第1i
:極層とを電気的に接続せしめたので、互いに隣接する
光′屯変換1011域の上記向心極層は強固に°献気的
lり機械的VC結合し、′−極1−の剥離を主因とする
結合不良の発生率’a’ 1lill aEすることか
でさ、歩冒の同上な図ることができる。
第1図#ま基本的な光起′岨力装置の一部を示す斜視図
、、第2図は従来例の要部拡大断面図、第6図は本発明
の一実施例に於ける要部拡大断面図、第4図は本発明の
他の実施例に於ける要部拡大断面図、?夫々示している
。 tl−S板、(2a)(2b)C2c)−9+st ・
第2・第6の光電変換頭載、(5a)(!1b)(50
)・・・第1電極層、(6b″)・・・露出部先端、(
4a ) (4b ) (4c )−・・光半導体層、
(5a)(5b)(5c)=・第2電極層、(6a )
−・・結合#i蝋層。
、、第2図は従来例の要部拡大断面図、第6図は本発明
の一実施例に於ける要部拡大断面図、第4図は本発明の
他の実施例に於ける要部拡大断面図、?夫々示している
。 tl−S板、(2a)(2b)C2c)−9+st ・
第2・第6の光電変換頭載、(5a)(!1b)(50
)・・・第1電極層、(6b″)・・・露出部先端、(
4a ) (4b ) (4c )−・・光半導体層、
(5a)(5b)(5c)=・第2電極層、(6a )
−・・結合#i蝋層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 fll 薄膜状光学専体層?挟んで対向する第1電極
層及び第2電極層を含む光電変換領域を複数個同一基板
上に配置した光起電力装置に於いて、上狭。 記薄膜、光半導体層は瞬接する光電変換領域の基板る頭
載の第1電極層露出部とは上記蕗出部先端を覆う光半導
体層を越えて電気的に接続されていることを特徴とした
元起′屯力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58017747A JPS59143376A (ja) | 1983-02-04 | 1983-02-04 | 光起電力装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58017747A JPS59143376A (ja) | 1983-02-04 | 1983-02-04 | 光起電力装置の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59143376A true JPS59143376A (ja) | 1984-08-16 |
| JPS649745B2 JPS649745B2 (ja) | 1989-02-20 |
Family
ID=11952334
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58017747A Granted JPS59143376A (ja) | 1983-02-04 | 1983-02-04 | 光起電力装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59143376A (ja) |
-
1983
- 1983-02-04 JP JP58017747A patent/JPS59143376A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS649745B2 (ja) | 1989-02-20 |
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