JPS5914564B2 - 繭糸の解じよ張力による繭の煮熟状態計測方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 繭糸数本を抱合して生糸を練製する際に発生する解じょ
張力には、面の煮熟状態に係わる多くの情報が含まれて
いる。

例えば、面の煮熟が着点の場合は、繭層内の膠着力が大
きく、それによって解じょ張力のばらつきの状態も大き
くなり、反面電点の場合、解じょ張力とそのばらつきは
小さくなる傾向を示す。

また、繭層の煮熟が均一に進まず煮えむらが生じた場合
、あるいは均一に煮熟が進んでいるように見えても繭層
内に硬膠着部位が多く存在する場合などは、膠着力が繭
糸の湿強力を上回わり、繭糸の切断を誘起し面の解じょ
性を低下させるに至る。

かくして解じょ張力のばらつきの状態や繭層内の硬膠着
点を計測・検出することができれば、面の煮熟状態や煮
えむらの状態を知ることが可能となる。

本発明は、繰糸中の繭糸の解じょ張力から面の煮熟度情
報を得る方法を提供することを目的とするもので、繰糸
中の繭糸の解じょ張力を計測する手段と、該手段から出
力した該解じょ張力信号を積分することによって平均値
を算出し、前記解じょ張力信号から該平均値を減算し次
いでその値を２乗し積分する分散算出手段と、該分散算
出手段の出力を開平する標準偏差算出手段と、画側体内
の繭糸と繭層間の硬膠着状態を示す解じょ張力信号から
前記平均値及び前記標準偏差算出手段の出力増幅値の加
算値を減算して前記硬膠着状態を示す解じょ張力信号を
パルス化する手段とを具備し、前記分散算出手段及び標
準算出手段の各出力から前記解じょ張力のばらつきを推
定するとともに前記パルス化する手段の出力パルスの発
生分布状態を解析することにより面の煮熟状態を評価す
ることを特徴とする。

まず、本発明における面の煮熟状態の計測原理について
解じょ張力のばらつき状態を評価する方法から説明すれ
ば、解じょ張力の検出信号は第１図Ａに示すような形状
を呈し、この連続変動をｘ（ｔ）とすればその平均値μ
は同図Ｂのようになり、μ＝＋１０Ｔｘ（ｔ） ａｔ（
Ｔ ：任意時間）と表わされる。

その分散σ２は４−ｆｏ Ｔ（Ｘ（ｔ）−μ）２ｄｔ、
！準偏差σはその平方根として同図Ｃのように表わさ
札σ２あるいはσによって波形のばらつき状態が評価さ
れる。

一方、繭層内の硬膠着点を検出するために同図りでｎσ
（ｎに例えば２，２．５．３）を求め、同図Ｆで（μ＋
ｎσ）を演算する。

かくて同図Ｆにおいて（μ十ｎσ）とその時点のｘ（ｔ
）とを比較して、同図Ｇ、Ｈでｘ（ｔ）が（μ十ｎσ）
より大きい点ヲパルス化し、このパルス発生状態から面
の煮熟状態を見い出そうとするものである。

次に、第２図に示す本発明の方法を実施するための装置
の電子回路のブロック図について説明する。

端子ｔよりストレイン・ゲージ等で測定された繰糸中の
生糸の解じょ張力信号ｘ（を功ｉ入力すると、この信号
はオペレーショナルアンプ（ＯＰアンプ］で構成される
増幅器Ａで増幅されｘ（ｔ）となって端子Ｏより出力す
る。

これは任意時定数を有する積分回路Ｂで時間積算されて
平均値μ−ｘ（ｔ）となり、次いでこの平均値７■が入
力する減算回路Ｃでは（Ｘ（ｔ）−Ｘ（ｔ） ）の演算
が行なわれ、この出力は全波整流回路りによりこの絶対
値１ ｘ（ｔ）−マωＮなり、これが２乗回路Ｅを通る
ことによって（ｘ（ｔ）−ｘ（ｔ） ） ２の演算が行
われる。

この出力は Ｔ 積分回路Ｆにより時間積分されると一７ｆ。

（ｘ（ｔ）−マω）２ｄｔとなり、これは分散を示す信
号σ２として端子Ｐから出力する。

一方、これは開平回路Ｇを通ることによって標準偏差を
示す信号σとなって端子ｑに出力すると共に可変倍率器
Ｈによって増幅（倍率ｎ）されてｎσとなり、加算回路
■に入力する。

この加算回路■では前記平均値μとｎσの加算が行わ払
次いで減算回路Ｊで解じょ張力ｘ（ｔ）から（μ十ｎσ
）の減算が行われ、この出力信号（Ｘ（１）−（μ＋ｎ
σ））はパルス信号整形回路Ｋによりパルス化される。

なお、繭糸の解じょ張力を観察すると第３図に示すよう
に接緒時点（第３図Ａ）で第３図Ｂに示すように張力が
突発的に大きくなる現象が見られこのまま波形を上述の
電子回路により変換すれば、同図Ｃに示すように接緒時
のパルス波も計測信号の中に含まれる可能性を有する。

従って繰糸機の接緒枠駆動動作をマイクロスイッチ等に
より検出して第２図に示すｙ（ｔ）として端子Ｕより入
力し、ＯＰアンプで構成する増幅器りにより増幅した後
、第２図に示す論理回路Ｍにより打ち消して（第３図Ｄ
）接緒に伴なう張力変動を検出しない回路構成とした。

このように、解じょ張力より繭糸と繭層間の硬膠着状態
をパルス信号として端子Ｓより出力し電子カウンタＮに
より計数される。

以上説明した方法の実施例につき説明すれば、先ず解じ
ょ張力の分散あるいは標準偏差によって表わされる解じ
ょ張力のばらつきの評価値により解じょ張力の分布状態
が推定され、繭糸と繭層間の膠着状態を評価することが
可能となる。

一方、繭糸と繭層間の硬膠着点を示すパルス発生状態に
ついて解析した結果、繰糸中の一定時間間隔内あるいは
生糸一定糸長内のパルス発生数はポアソン分布に従い、
パルス間の時間間隔あるいは生糸糸長分布は指数分布に
従うことがカイ二乗検定の結果知られた。

従ってこれら分布の平均値がわかれば、その分散、標準
偏差はただちに求められパルス発生分布状態を推定する
ことができる。

第４図にその計測結果例（実線で示す。

破線は理論値）を示すが、これは解じょ率Ａ３９％、８
７０％、Ｃ９３％と異なる面について（μ＋２σ）以上
の大きさを表わす張力のパルス発生状態を解析したもの
で、生糸４０ｍ間隔内のパルス発生頻度についてまとめ
たものである。

これによると解じょ率が３９係と低い繭では生糸一定糸
長内におけるパルス発生頻度は高く、解じょ率が７０％
の繭ではその発生頻度は低くなり、解じょ率が９３係と
高い繭ではパルスはあまり発生していないことがわかる
。

またこれら分布の平均値をみると解じょ率３９係と低い
繭では平均値λは４．１１と大きい力入解じょ率が７０
％の繭ではλは０．９２、解じょ率が９３％の繭ではλ
は０．３７を示し、面の解じょが良くなるに従ってλは
小さくなりその分布状態が大きく異なっており、解じょ
の良い繭と悪い繭ではパルス発生状態に歴然とした差の
表われることが知られる。

煮繭技術の要諦は、たとえば解じょ率３９褒の面のよう
に解じょの悪い面については繭糸のほぐれ具合が良くな
るように煮繭処理し、生糸品質および生糸収率を損なわ
ない範囲で繰糸能率を上げ、一方解じょの良い繭では繰
糸能率、生糸品質を損なわない範囲で生糸収率をなるべ
く上げるようにすることであるが、この計測結果例のよ
うにλが４．１１回も示すような繭は繰糸成績を悪くす
ることのない範囲でなるべくλが小さくなるように煮繭
処理することが望まれる。

したがって本方法による計測結果と繰糸試験成績との関
係から面の煮熟状態を制御する方法について検討した結
果で哄例えば生糸４０ｍ間隔におけるパルス数の平均値
λを２あるいはそれ以下になるようにすることが望まし
く、一方λが１以下を示すような解じょの良い繭では、
生糸収率および生糸品質を損なうことのないようλを０
．４以上にすることが必要とされた。

このようにパルス発生分布状態を解析すれば繭糸の膠着
状態を把握することが出来、面の煮熟状態をきめ細かく
制御することが可能となる。

また繭糸の硬膠着力の発生頻度が大きくなればなる私繭
糸の湿強力よりも膠着力が大きくなる状態が多く出現す
るため落緒する確率も高くなるので、パルス発生分布状
態を解析することにより面の解じょ性を把握することも
可能となる。

このように本発明方法によれば繭糸の解じょ張力を計測
することにより、繭糸と繭層間の膠着状態から面の煮熟
状態の制御が可能となり、更には繭糸と繭層間の硬膠着
状態をパルスとして検出することにより面の解じょ性が
推定され、面を最適な煮熟状態に制御するための一帰還
情報として有効なる情報を提供する効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図Ａ−Ｈは本発明の計測原理の説明図、第２図は本
発明の方法を実施するための装置の電子回路のブロック
図、第３図Ａ−Ｄは第２図において解じょ張力波形変換
を行う際の各部の波形図、第４図Ａ、Ｂ、Ｃは計測した
結果の解析事例を示す。 Ａ、Ｌ・・・・・・増幅器、Ｂ、Ｆ・・・・・・積分回
路、Ｃ２Ｊ・・・・・・減算回路、Ｄ−・−・・・全波
整流回路、Ｅ・・・・・・二乗回路、Ｇ・・・−・・開
平回路、Ｈ・・・・・・可変倍率器、Ｌ・・・・・・加
算回路、Ｋ・・・・・・パルス信号整形回路、Ｍ・・・
・・・論理回路、Ｎ・・・・・・カウンタ、Ｘ（ｔ）・
・・・・・解じょ張力信号、ｙ（ｔ）・・・・・・接緒
桿駆動信号。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 繰糸中の繭糸の解じょ張力を計測する手段と、該手
   段から出力した該解じょ張力信号を積分することによっ
   て平均値を算出し、前記解じょ張力信号から該平均値を
   減算し次いでその値を２乗し積分する分散算出手段と、
   該分散算出手段の出力を開平する標準偏差算出手段と、
   画側体内の繭糸と繭層間の硬膠着状態を示す解じょ張力
   信号から前記平均値及び前記標準偏差算出手段の出力増
   幅値の加算値を減算して前記硬膠着状態を示す解じょ張
   力信号をパルス化する手段とを具備し、前記分散算出出
   段及び標準算出出段の各出力から前記解じょ張力のばら
   つきを推定すると共に前記パルス化する手段の出力パル
   スの発生分布状態を解析することにより面の煮熟状態を
   評価することを特徴とする面の解じょ張力による面の煮
   熟状態計測方法。