JPS59193095A - セラミツク配線基板及びその製造方法 - Google Patents
セラミツク配線基板及びその製造方法Info
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- JPS59193095A JPS59193095A JP6565483A JP6565483A JPS59193095A JP S59193095 A JPS59193095 A JP S59193095A JP 6565483 A JP6565483 A JP 6565483A JP 6565483 A JP6565483 A JP 6565483A JP S59193095 A JPS59193095 A JP S59193095A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramic
- wiring board
- intermediate layer
- green sheet
- hole
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- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、セラミック基板のクラック発生をなくシタセ
ラミック基板とその製造方法に関する。
ラミック基板とその製造方法に関する。
近年、安価に製造できるセラミック配線基板は、半導体
素子の搭載用、特にLSIチップ搭載用として幅広く用
いられるようになってきた。
素子の搭載用、特にLSIチップ搭載用として幅広く用
いられるようになってきた。
以下詳細な説明をするに当ってセラミック基板製造の概
要を説明する。
要を説明する。
セラミック配線基板は、一般にグリーンシート法によっ
て作製される。グリーンシート法とは、アルミナを主成
分とするセラミック粉末全樹脂で結合してなる柔軟なグ
リーンシートに、貫通孔力[1工をした後、スクリーン
印刷法で、タングステン。
て作製される。グリーンシート法とは、アルミナを主成
分とするセラミック粉末全樹脂で結合してなる柔軟なグ
リーンシートに、貫通孔力[1工をした後、スクリーン
印刷法で、タングステン。
モリブデン等の導体材料用金属イーストを用いて、前記
の貫通孔全充填するとともに、グリーンシート上に配線
パターンを形成した後、所定温度で焼成することによっ
てセラミック配線基板を製造する方法である。
の貫通孔全充填するとともに、グリーンシート上に配線
パターンを形成した後、所定温度で焼成することによっ
てセラミック配線基板を製造する方法である。
又LSIのような高密度化された半導体には、積層され
た配線層が用いられる。
た配線層が用いられる。
このように配線層全多層とする方法には、良く知られて
いるように、導体層と絶縁層を交互にスクリーン印刷す
る印刷法、および配線パターンを形成したグリーンンー
トヲ必要数だけ圧着して一体化する積層法とがある。
いるように、導体層と絶縁層を交互にスクリーン印刷す
る印刷法、および配線パターンを形成したグリーンンー
トヲ必要数だけ圧着して一体化する積層法とがある。
さてセラミック配線基板は、安価である反面、以下に説
明するような技術的な問題があり、その解決が急がれて
いる。
明するような技術的な問題があり、その解決が急がれて
いる。
即ち、セラミック配線基板内の配線の高密度化に伴い、
基板全体の体積に占める導体金属部の体積比の増加をも
たらし、第1図に示すような微小亀裂すなわちクラック
が発生する。
基板全体の体積に占める導体金属部の体積比の増加をも
たらし、第1図に示すような微小亀裂すなわちクラック
が発生する。
図において、1はセラミック、2は配線導体、3はクラ
ック、4は貫通孔である− このクラックは以下に述べる理由によって必然的に発生
する□ それは、セラミック配線基板を構成するセラミック材料
と導体金属材料の熱膨張率差に起因する応力の発生が原
因である。
ック、4は貫通孔である− このクラックは以下に述べる理由によって必然的に発生
する□ それは、セラミック配線基板を構成するセラミック材料
と導体金属材料の熱膨張率差に起因する応力の発生が原
因である。
丁なわち、セラミック配線基板は所定温度で焼成された
後冷却されろわけであるが、この冷却過程で、セラミッ
ク材料および導体材料とも+ffiイヒし始め、この時
点より両者σ)熱膨張率の差による応力が発生する、こ
れらセラミック配線基板σ)セラミック材料の熱膨張率
および導体金属の熱膨張率全図2に示す。図において曲
線5は導体材料1曲線6はセラミックの熱膨張率を示す
。図1力)られ力)るように、セラミックの熱膨張率は
導体ゼ料の熱膨張率よV大きい。従って応力は、セラミ
ック倶!1に引張り応力、また導体側に圧縮応力となり
、セラミック側にクラックが発生することになる。
後冷却されろわけであるが、この冷却過程で、セラミッ
ク材料および導体材料とも+ffiイヒし始め、この時
点より両者σ)熱膨張率の差による応力が発生する、こ
れらセラミック配線基板σ)セラミック材料の熱膨張率
および導体金属の熱膨張率全図2に示す。図において曲
線5は導体材料1曲線6はセラミックの熱膨張率を示す
。図1力)られ力)るように、セラミックの熱膨張率は
導体ゼ料の熱膨張率よV大きい。従って応力は、セラミ
ック倶!1に引張り応力、また導体側に圧縮応力となり
、セラミック側にクラックが発生することになる。
このクラックの発生は、■焼成後のめつき工程時に、め
っき液がクラックに侵入することによるショート、■配
線部に発生することによる断線σ)原因となるので、ク
ラックの発生全防止するための技術的解決が急がれてい
るのが実性である。
っき液がクラックに侵入することによるショート、■配
線部に発生することによる断線σ)原因となるので、ク
ラックの発生全防止するための技術的解決が急がれてい
るのが実性である。
本発明は、上記実情に鑑みなされたもQ)であり、上記
した従来技術の欠点をなくし、クラックの発生のないセ
ラミック配線基板とその製造方法を提供せんとするもの
でおる。
した従来技術の欠点をなくし、クラックの発生のないセ
ラミック配線基板とその製造方法を提供せんとするもの
でおる。
即ち本発明は、セラミックと配線基板との間に中間層全
介在して、セラミックと導体材料との間の熱膨張差全緩
和することによって両者間の熱応力を緩和したものであ
り、グリーンシートに貫通孔を穿設し、次いでこの貫通
孔に中間層を形成し7、然る後に導体ペーストラこの孔
内に充填し、次にこのように処理されたグリーン表面上
に配線層全形成し焼成して作られる、 このようにして作られたセラミック配線基板は、セラミ
ックと配線層との間に中間層全介在した構造に形成され
、この中間層によって両者間に発生する熱応力全緩和す
ることになり、クラックの発生を防止したことを特徴と
する。
介在して、セラミックと導体材料との間の熱膨張差全緩
和することによって両者間の熱応力を緩和したものであ
り、グリーンシートに貫通孔を穿設し、次いでこの貫通
孔に中間層を形成し7、然る後に導体ペーストラこの孔
内に充填し、次にこのように処理されたグリーン表面上
に配線層全形成し焼成して作られる、 このようにして作られたセラミック配線基板は、セラミ
ックと配線層との間に中間層全介在した構造に形成され
、この中間層によって両者間に発生する熱応力全緩和す
ることになり、クラックの発生を防止したことを特徴と
する。
以下本発明の実施例の内いくつかについて詳細に説明す
る。本発明の実施に当たっては、中間層に使用される材
料としては、熱膨張率が、セラミック材料と導体材料の
熱膨張率の中間にある材料、又は、発生する応力を緩和
できる材料が望ましい。
る。本発明の実施に当たっては、中間層に使用される材
料としては、熱膨張率が、セラミック材料と導体材料の
熱膨張率の中間にある材料、又は、発生する応力を緩和
できる材料が望ましい。
この条件金満すものとしては、セラミック、または金属
、または金属とセラミックの混合物があげられ、具体的
な組成として、セラミックについては、A120s +
5i02 、 MgO、CaO、TiO2等の単成分
またはこれらのうち2成分以上含むもの、金属としては
、W 、 Mo 、 Mn等の単体またはこれらのうち
2成分以上含むものが適している。
、または金属とセラミックの混合物があげられ、具体的
な組成として、セラミックについては、A120s +
5i02 、 MgO、CaO、TiO2等の単成分
またはこれらのうち2成分以上含むもの、金属としては
、W 、 Mo 、 Mn等の単体またはこれらのうち
2成分以上含むものが適している。
又セラミック基板配線板の貫通孔の構造は、第3図に示
すものがよい。
すものがよい。
図において、(a)は、セラミック1に穿設された貫通
孔4の内周面にのみ中間層7を形成したもの・iblは
、セラミック1に穿設した貫通孔4の内周面とセラミッ
ク1の裏表面の一部にまで中間層7全形成したもの、(
C)は、セラミック1に穿設された貫通孔4の内周面と
セラミック1の裏表面の全部に中間層7を形成したもの
をそれぞれ示て。なお、図中2は配線導体である。
孔4の内周面にのみ中間層7を形成したもの・iblは
、セラミック1に穿設した貫通孔4の内周面とセラミッ
ク1の裏表面の一部にまで中間層7全形成したもの、(
C)は、セラミック1に穿設された貫通孔4の内周面と
セラミック1の裏表面の全部に中間層7を形成したもの
をそれぞれ示て。なお、図中2は配線導体である。
以下実際に本発明に係る実施例により製造したセラミッ
ク配線基板と、従来の製造方法に基づき製造したセラミ
ック配線基板とを対比する。
ク配線基板と、従来の製造方法に基づき製造したセラミ
ック配線基板とを対比する。
先ず、セラミック配線基板に必要な、グリーンシートと
導体材料の製法について説明する。
導体材料の製法について説明する。
(グリーンシートの製造眞ついて)
粒子径数pmA−1下のAA!203・5i02 ・M
gO微粉末を重量百分率にしてそれぞれ、93%、5.
2%、1.8%となるように秤量して、これに有機バイ
ンダーとしてポリビニルブチラールを上記混合粉末の全
重量に対して8.5%加え、さらに溶剤としてアゼオド
ロープを同様の重量比で45%加える。次いで、これら
セラミック粉末、有機バインダー、有機溶剤の王者をボ
ールミルにて十分混合し、セラミック粉末を均一に分散
させたスラリーを作る。次にこのスラリーに数滴の脱泡
剤を加え、攪拌しながら低圧で脱気し、スラリー内部の
気泡を除去する。
gO微粉末を重量百分率にしてそれぞれ、93%、5.
2%、1.8%となるように秤量して、これに有機バイ
ンダーとしてポリビニルブチラールを上記混合粉末の全
重量に対して8.5%加え、さらに溶剤としてアゼオド
ロープを同様の重量比で45%加える。次いで、これら
セラミック粉末、有機バインダー、有機溶剤の王者をボ
ールミルにて十分混合し、セラミック粉末を均一に分散
させたスラリーを作る。次にこのスラリーに数滴の脱泡
剤を加え、攪拌しながら低圧で脱気し、スラリー内部の
気泡を除去する。
このスラリーをドクタープレイド法キャスティング装置
を用いて薄板化し、グリーンシー)k得る。
を用いて薄板化し、グリーンシー)k得る。
グリーンシートの厚さはドクタープレイドの高さを調節
することによって任意に変えることができる。本例では
0.25mm厚のグリーンシートラ作製した0 (導体材料(Wペースト)の製造にすし・て)W材料と
して0.5μrnW粉末と3.0μmW粉末が重量比で
3ニアの割合の混合粉末、ペースト用有機バインダーと
してエチルセルロース、および有機溶剤としてジエチレ
ングリコールをそれぞれ重量百分率にして80%、2.
5%、17.5%を加え、アルミナ製の乳鉢と乳棒から
なるらいかい機で3時間混合する。続いて、この混合物
を通常の3本ロー 。
することによって任意に変えることができる。本例では
0.25mm厚のグリーンシートラ作製した0 (導体材料(Wペースト)の製造にすし・て)W材料と
して0.5μrnW粉末と3.0μmW粉末が重量比で
3ニアの割合の混合粉末、ペースト用有機バインダーと
してエチルセルロース、および有機溶剤としてジエチレ
ングリコールをそれぞれ重量百分率にして80%、2.
5%、17.5%を加え、アルミナ製の乳鉢と乳棒から
なるらいかい機で3時間混合する。続いて、この混合物
を通常の3本ロー 。
ルにかげて加分間混練¥ろ、次に、配線印刷用て粘度を
調整するためにブチルカルピトールて製造した。
調整するためにブチルカルピトールて製造した。
始めに、従来法によるセラミック配線基板の製造につい
て第4図をもとに述べる。作製したグリーンシートを切
断しくa1図のように50#0のダリンシート8とする
。続いて超硬製プレス金型を用℃・て上記グリーンシー
ト8に貫通孔4を施丁(第4図(b))。貫通孔4の直
径は0.15mm+間隔は1胛,縦横とも30列づつで
ある。続いて、スクリーン印刷法で、前記導体ペースト
9を貫通孔4に充填するとともに、グリーンシート表面
に幅0,1個のラインの配線ツヤターンを形成する(第
4(9)(C))。次に、同様にして作製した配線層を
形成したグリーンシートをか枚加熱圧着して積層する(
第4図(d))。
て第4図をもとに述べる。作製したグリーンシートを切
断しくa1図のように50#0のダリンシート8とする
。続いて超硬製プレス金型を用℃・て上記グリーンシー
ト8に貫通孔4を施丁(第4図(b))。貫通孔4の直
径は0.15mm+間隔は1胛,縦横とも30列づつで
ある。続いて、スクリーン印刷法で、前記導体ペースト
9を貫通孔4に充填するとともに、グリーンシート表面
に幅0,1個のラインの配線ツヤターンを形成する(第
4(9)(C))。次に、同様にして作製した配線層を
形成したグリーンシートをか枚加熱圧着して積層する(
第4図(d))。
加熱圧着条件は100℃, 50ky/c4である、積
層工程を終えたグリーンシート8il″l:焼成工程金
繰てセラミック配線基板となる。焼成はMof発熱体と
する箱型電気炉を用いて行った。焼成条件は通常のセラ
ミック基板の焼成方法と同じく、室温から200°C/
時で昇温し、1000℃で1時間保持後、再び200℃
/時で1600℃まで昇温し、その温度に1時間保持後
冷却した。昇温時の雰囲気ガスとして窒素10004/
時、水素400 l/時の混合ガスを45℃に保持した
水50 lのバブラーを通したものを・また冷却時には
窒素1000A/時,水素400A/時の混合ガスを用
いた。得られた焼成セラミック基板は、密度3. 5
g/ crl 、収縮率15%であった。
層工程を終えたグリーンシート8il″l:焼成工程金
繰てセラミック配線基板となる。焼成はMof発熱体と
する箱型電気炉を用いて行った。焼成条件は通常のセラ
ミック基板の焼成方法と同じく、室温から200°C/
時で昇温し、1000℃で1時間保持後、再び200℃
/時で1600℃まで昇温し、その温度に1時間保持後
冷却した。昇温時の雰囲気ガスとして窒素10004/
時、水素400 l/時の混合ガスを45℃に保持した
水50 lのバブラーを通したものを・また冷却時には
窒素1000A/時,水素400A/時の混合ガスを用
いた。得られた焼成セラミック基板は、密度3. 5
g/ crl 、収縮率15%であった。
次に本発明の実施例のいくつかについての具体的な説明
に入る。
に入る。
実施例1
この実施例は、中間層としてWとA7,0,粉末の混合
物を用いた。中間層の製造方法は次の通りである。
物を用いた。中間層の製造方法は次の通りである。
前記で製造したW導体波−ス)80wt%に粒度0.5
μのA1203粉末20wt%を加えて、3本ロールに
かけて30分間混練した後にブチルカルピトールを加え
て粘度を調整する。
μのA1203粉末20wt%を加えて、3本ロールに
かけて30分間混練した後にブチルカルピトールを加え
て粘度を調整する。
以下に、前記で作製したグリーンシート、導体波ースト
,及び上記の中間層イーストヲ用℃・、積層によって配
線の多層化を行なうセラミック配線基板の製造について
述べる。
,及び上記の中間層イーストヲ用℃・、積層によって配
線の多層化を行なうセラミック配線基板の製造について
述べる。
前述の従来法と異なる点は、W−!!ースト充填σ)前
に、第3図にて示した中間層を形成する点である。中間
層の形成は、以下の方法で行なった。
に、第3図にて示した中間層を形成する点である。中間
層の形成は、以下の方法で行なった。
前記で製造したWとA12 0 s粉末σ)混合イース
トの粘度全3万cpsに調整する。続いて、真空吸引法
で貫通孔部にこの混合ペーストを通過させ貫通孔壁面に
中間層全形成する。これ全第5図に示す。
トの粘度全3万cpsに調整する。続いて、真空吸引法
で貫通孔部にこの混合ペーストを通過させ貫通孔壁面に
中間層全形成する。これ全第5図に示す。
図において4は貫通孔、8はグリーンシー) 、 10
は中間層である。以下の工程は前述の工程と同様である
。
は中間層である。以下の工程は前述の工程と同様である
。
この叉造工程を順に示せば次の通シである。
(1) グリーンシート外形切断
(2)貫通孔加工
(3)貫通孔壁面に中間層形成
(4)貫通孔VcWペースト充填、W配線層形成(5)
積層 (6)焼結 次に従来法で作製したセラミック配線基板と本実施例で
作製した中間層のあるセラミック配線基板の表面に発生
したクラック数を光学顕微鏡で調べた。倍率は100倍
で行ない、セラミック配線基板1牧当りに発生したクラ
ック数全調べた。結果を下表に示す□ 実施例2 中間層として、MO金金属用いた場合について述べる。
積層 (6)焼結 次に従来法で作製したセラミック配線基板と本実施例で
作製した中間層のあるセラミック配線基板の表面に発生
したクラック数を光学顕微鏡で調べた。倍率は100倍
で行ない、セラミック配線基板1牧当りに発生したクラ
ック数全調べた。結果を下表に示す□ 実施例2 中間層として、MO金金属用いた場合について述べる。
始めにM。ペーストの作製方法について述べる。
MO粉末としては、5μmのものを用し・、前述σ)W
投・−ストと同じ方法で、MO啄−ストを製造したーセ
ラミック配線基板の製造方法は実施例1と同様であるの
で説明は省略する。
投・−ストと同じ方法で、MO啄−ストを製造したーセ
ラミック配線基板の製造方法は実施例1と同様であるの
で説明は省略する。
上記で製造したセラミック配線基板におし・て実施例1
と同様クランクの発生数がなかった、実施例3 中間層として、2Mg0・3All 203・5SiO
2丁なわちコーディエライトヲ用いた場合について述べ
る。
と同様クランクの発生数がなかった、実施例3 中間層として、2Mg0・3All 203・5SiO
2丁なわちコーディエライトヲ用いた場合について述べ
る。
中間層ペーストの製造法は前記のW d−ストσ)製造
法と同じである。コーディエライト粉末としては、平均
粒径3μmのものを用い文。セラミック配線基板の製造
方法は前述と同様であるので省略するO 上記で製造したセラミック配線基板において実施例1と
同様、クランクの発生数がなかった。
法と同じである。コーディエライト粉末としては、平均
粒径3μmのものを用い文。セラミック配線基板の製造
方法は前述と同様であるので省略するO 上記で製造したセラミック配線基板において実施例1と
同様、クランクの発生数がなかった。
また、実施例1,2.3共に中間層の構造を第6図とし
ても同様の結果が得られた。
ても同様の結果が得られた。
第6図の構造は、上記ペースト’に低粘度とじた液中に
、貫通孔力θ工を施したグリーンシートを浸漬した後乾
燥させることによって得られる。
、貫通孔力θ工を施したグリーンシートを浸漬した後乾
燥させることによって得られる。
なお図中4は貫通孔、8はグリーンシート、10は中間
層である。実施例1,2及び3においてクラックが発生
しなかったのは、中間層の熱膨張率がセラミックと導体
材料の間にあるためセラミックと導体材料の熱膨張率差
によって発生する応力を中間層で低減するためであり、
また中間層が応力を緩和することに基づいている。
層である。実施例1,2及び3においてクラックが発生
しなかったのは、中間層の熱膨張率がセラミックと導体
材料の間にあるためセラミックと導体材料の熱膨張率差
によって発生する応力を中間層で低減するためであり、
また中間層が応力を緩和することに基づいている。
以上述べたように、本発明によれば、セラミック配線基
板においてセラミックと配線材料との間に中間層を介在
させた構造とすることによってクラックの発生が無いセ
ラミック配線基板全得ることができ、たとえ高密度化し
ても信頼性の高い半導体とすることが可能となシ、その
効果は多大なものがある。
板においてセラミックと配線材料との間に中間層を介在
させた構造とすることによってクラックの発生が無いセ
ラミック配線基板全得ることができ、たとえ高密度化し
ても信頼性の高い半導体とすることが可能となシ、その
効果は多大なものがある。
第1図は、セラミック配線基板表面に発生するクラック
を示した図、第2図は、セラミック配線基板を構成する
セラミック導体材料の熱膨張率を示した図、第3図(a
l〜(clは本発明の一実施例であり、セラミック配線
基板の貫通孔部の断面全模式的に示した縦断面図、第4
図fal〜[dlは従来のセラミック配線基板の工程図
、第5図および第6図は、本発明の一実施例であQ1グ
リーンシートに中間層を形成した時の縦断面図である。 1・・・セラミック、2・・・配線導体、3・・・クラ
ック、4・・・貫通孔、5・・・導体の熱膨張曲線、6
・・・セラミックの熱膨張曲線、7・・・中間層、8・
・・グリーンシート、9・・・導体波−スl−110・
・・中fiJ] 層< −スト。 代理人弁理士 秋 本 正 実 第1図 31 第2図 o4Q08ooI200 多7’1(0C) 第3図 1 2 ′ 第4図 ::; 団;1;工目
を示した図、第2図は、セラミック配線基板を構成する
セラミック導体材料の熱膨張率を示した図、第3図(a
l〜(clは本発明の一実施例であり、セラミック配線
基板の貫通孔部の断面全模式的に示した縦断面図、第4
図fal〜[dlは従来のセラミック配線基板の工程図
、第5図および第6図は、本発明の一実施例であQ1グ
リーンシートに中間層を形成した時の縦断面図である。 1・・・セラミック、2・・・配線導体、3・・・クラ
ック、4・・・貫通孔、5・・・導体の熱膨張曲線、6
・・・セラミックの熱膨張曲線、7・・・中間層、8・
・・グリーンシート、9・・・導体波−スl−110・
・・中fiJ] 層< −スト。 代理人弁理士 秋 本 正 実 第1図 31 第2図 o4Q08ooI200 多7’1(0C) 第3図 1 2 ′ 第4図 ::; 団;1;工目
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、アルミナを主成分とするグリーンシート上にW 、
Mo等の高融点金属にて配線層を形成した後に焼成し
て作られるセラミック基板において、上記グリーンシー
トと配線層との間に中間層を介在したこと全特徴とする
セラミック配線基板。 2、アルミナを主成分とするグリーンシート上にW、M
o等の高融点金属にて配線層全形成した後に焼成して作
られるセラミック基板において、上記グリーンシートに
貫通孔を穿設し、次いでこの貫通孔に中間層を形成した
後に、導体被−ストを充填し、このグリーン表面上に配
線層を形成し焼成したことを特徴とするセラミック配線
基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6565483A JPS59193095A (ja) | 1983-04-15 | 1983-04-15 | セラミツク配線基板及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6565483A JPS59193095A (ja) | 1983-04-15 | 1983-04-15 | セラミツク配線基板及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59193095A true JPS59193095A (ja) | 1984-11-01 |
Family
ID=13293205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6565483A Pending JPS59193095A (ja) | 1983-04-15 | 1983-04-15 | セラミツク配線基板及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59193095A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07307573A (ja) * | 1994-05-13 | 1995-11-21 | Nec Corp | 多層配線セラミック基板のビア構造及びその製造方法 |
| JPH10163068A (ja) * | 1996-12-04 | 1998-06-19 | Rohm Co Ltd | 積層セラミックコンデンサアレイ及びその製造方法 |
| WO2015076079A1 (ja) * | 2013-11-20 | 2015-05-28 | 太陽誘電株式会社 | コンデンサ |
-
1983
- 1983-04-15 JP JP6565483A patent/JPS59193095A/ja active Pending
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