JPS59197810A - 光センサの検出光の背景光からの分離方法 - Google Patents
光センサの検出光の背景光からの分離方法Info
- Publication number
- JPS59197810A JPS59197810A JP7331583A JP7331583A JPS59197810A JP S59197810 A JPS59197810 A JP S59197810A JP 7331583 A JP7331583 A JP 7331583A JP 7331583 A JP7331583 A JP 7331583A JP S59197810 A JPS59197810 A JP S59197810A
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- Japan
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- detection light
- optical sensor
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 32
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 6
- 101100298295 Drosophila melanogaster flfl gene Proteins 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008676 import Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
オ(発明は非接触式センサである光センサの検出光の背
景光からの分離方法に関する。
景光からの分離方法に関する。
非接触式センサーである光センサを用いる場合、利点も
あるが欠点も多い。その欠点の1つに次のことか考えら
れる。
あるが欠点も多い。その欠点の1つに次のことか考えら
れる。
一般に屋内の照明灯、屋外の太陽光等背爾光か存在し、
この背景光が検出光に比して強い場合(ま、検出光を背
景光から分離するのが難しく使用不可能な場合が多い。
この背景光が検出光に比して強い場合(ま、検出光を背
景光から分離するのが難しく使用不可能な場合が多い。
更に、光センサのうちスリッ1−光を被測定物に照射し
、被測定物の形状を測定り−る光切断法等にあっては特
に背景光から検出光を正確に分離することが要求され、
測定精度はこの分離の如何に大きく左右される。
、被測定物の形状を測定り−る光切断法等にあっては特
に背景光から検出光を正確に分離することが要求され、
測定精度はこの分離の如何に大きく左右される。
本発明は斯かる実情に鑑みなしたものであり、検出光を
被測定物に間欠的に照則し、被測定物の検出光照射時の
状態と非照射時の状態とを比較し、検出光の背景光から
の分離を行う様にしたものである。
被測定物に間欠的に照則し、被測定物の検出光照射時の
状態と非照射時の状態とを比較し、検出光の背景光から
の分離を行う様にしたものである。
以下図面を参照しつつ本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明を光切断;去に係る光センサに実施した
場合である。
場合である。
図中1はテレビカメラであり、テレビカメラ1で得られ
た検出光のイ言号はA/D変換器3でデジタル化され、
記憶器4に入力される。
た検出光のイ言号はA/D変換器3でデジタル化され、
記憶器4に入力される。
5は検出光2の光源であり、発光体6はレーザダイオー
ド等高速スイッチングが可能な′bのが用いられ、該発
光体6は駆動回路7によって駆動される。
ド等高速スイッチングが可能な′bのが用いられ、該発
光体6は駆動回路7によって駆動される。
駆動回路7及び前記記憶器4はそれぞれコンピュータ8
に接続され、該コンピュータ8は駆動回路7を間欠的に
作動させて光源5から検出光2を照射する様にすると共
に駆動回路7の作φ)>と同IV1シて記便、器4より
データを取込み所要の処理をす゛る様になっている。
に接続され、該コンピュータ8は駆動回路7を間欠的に
作動させて光源5から検出光2を照射する様にすると共
に駆動回路7の作φ)>と同IV1シて記便、器4より
データを取込み所要の処理をす゛る様になっている。
尚、図中10はテレビカメラ1のレンス゛ユニット9(
こ組込んだバンドパスフィルタで′あり、11は光源5
の光学ユニットである。
こ組込んだバンドパスフィルタで′あり、11は光源5
の光学ユニットである。
テレビカメラ1による撮像は多数の走M線の明度差の集
合体であり、各走査線の明度差しよデジタル信号としC
記憶器4に入力されて一時点の一画面分の撮像が記1意
器4にスl〜アされる。
合体であり、各走査線の明度差しよデジタル信号としC
記憶器4に入力されて一時点の一画面分の撮像が記1意
器4にスl〜アされる。
更に光源5は間欠的に検出光2を投射して17)るので
、テレビカメラ1は被測定物に検出光2が照射している
状態と照射していない状態とを1最(象する。
、テレビカメラ1は被測定物に検出光2が照射している
状態と照射していない状態とを1最(象する。
次に、第2図(イ)が1最像画面で12か検出光2の像
であるとし、任意の位置の走査線nの明度信舅を示ずと
同図(ロ)(ハ)(ニ)で示される。
であるとし、任意の位置の走査線nの明度信舅を示ずと
同図(ロ)(ハ)(ニ)で示される。
第2図(ロ)は背景光が全くない状態であり、検出光2
に該当づ”る部分のみの明度が上るが、実際は同図(ハ
)に示される様に背景光に検出光シが上載せした状態と
なる。又、第2図〈二)は検出光2が投射されでいない
状態走査線nの明度信号であり、検出光の間欠グイタル
を一画面(走査線−巡の画面)毎に行えば、(ハ)で示
される背景光と(ニ)で示される背景光とは殆んど一致
し、(ハ)の明度信号と(ニ)の明度信号とを比較して
差を求めれば(ホ)で示づ一様な検出光のみの信号が得
られる。これを全走査線についで行えば背景光から分離
した検出光の像を得ることができる。
に該当づ”る部分のみの明度が上るが、実際は同図(ハ
)に示される様に背景光に検出光シが上載せした状態と
なる。又、第2図〈二)は検出光2が投射されでいない
状態走査線nの明度信号であり、検出光の間欠グイタル
を一画面(走査線−巡の画面)毎に行えば、(ハ)で示
される背景光と(ニ)で示される背景光とは殆んど一致
し、(ハ)の明度信号と(ニ)の明度信号とを比較して
差を求めれば(ホ)で示づ一様な検出光のみの信号が得
られる。これを全走査線についで行えば背景光から分離
した検出光の像を得ることができる。
即ち、検出光2照射状態で1画面分の信号を記憶器4に
取込み、次に検出光2の非照射状態(背景光のみ)で1
画面分の信号を記憶器41こ取込み、両画面の信号を比
較して異なった部分を抽出する。
取込み、次に検出光2の非照射状態(背景光のみ)で1
画面分の信号を記憶器41こ取込み、両画面の信号を比
較して異なった部分を抽出する。
又、検出光2の波長を背景光の波長と異なったものを選
択し、バンドパスフィルタ10を該検出光2に見合った
ものとすればより精度よく検出光2の会頭1かでさ″る
。
択し、バンドパスフィルタ10を該検出光2に見合った
ものとすればより精度よく検出光2の会頭1かでさ″る
。
更に、光jl!:j Jを第3図に示す様に1走査線毎
に段用−非投射をくり返して1最1象すると第4図(イ
)に示り拝な画面を1qる(第3図中1ト]は1走査線
分の信号を示す)。
に段用−非投射をくり返して1最1象すると第4図(イ
)に示り拝な画面を1qる(第3図中1ト]は1走査線
分の信号を示す)。
この両面では、隣り合う走査線は検出光投射時〈第4図
(ロ)〉か非投射時(第4図(ハ))である以外は非常
に似かよった情報を持っている。
(ロ)〉か非投射時(第4図(ハ))である以外は非常
に似かよった情報を持っている。
そこで隣り合う走査線同志のデータを比較して大キクS
¥なる部分を抽出すれば、スリット光と背雨光を会頭し
たことになる(第4図(ニ)入この方法によれば、デー
タ取得に際して1画面のみ11ル像すれば良いので、計
測時間の短縮とメモリの1ii)約が行える。
¥なる部分を抽出すれば、スリット光と背雨光を会頭し
たことになる(第4図(ニ)入この方法によれば、デー
タ取得に際して1画面のみ11ル像すれば良いので、計
測時間の短縮とメモリの1ii)約が行える。
尚、−1−、一実施例は撮像装置としてテレビカメラを
用いたが、半導体素子を用いた撮像装置でdうってもJ
ζい。又、本発明は光切断法以外の光センサに実施でき
ることは言うまでもなく、検出光のty、4川状態、非
照射状態のいずれの1iiB i象を先に記憶装置に取
込んでもよい。
用いたが、半導体素子を用いた撮像装置でdうってもJ
ζい。又、本発明は光切断法以外の光センサに実施でき
ることは言うまでもなく、検出光のty、4川状態、非
照射状態のいずれの1iiB i象を先に記憶装置に取
込んでもよい。
以上述べた如く本発明によれば、撮像の図形分析を行う
必要がなく、単に比較操作だけで検出光を背景光から分
離し得るので処理手順が簡単で高速化が可能であり、回
路装置を簡潔にでき、検出光の分離精度も向上する。
必要がなく、単に比較操作だけで検出光を背景光から分
離し得るので処理手順が簡単で高速化が可能であり、回
路装置を簡潔にでき、検出光の分離精度も向上する。
第1図は本発明の一実施例を示す概略図、第2図(イ)
(ロ)(ハ)(ニ)(ホ)は同実施例に於ける検出光の
分離手順を説明する説明図、第3図は他の実流例のタイ
ミングチャート、第4図(イ)(ロ)(ハ) (二〉は
同実施例に於ける検出光の分離手順を説明する説明図で
ある。 1はテレビカメラ、2は検出光、3はA/D変換器、4
は記憶器、5は光源、7は駆動回路、8はコンピュータ
を示す。 第2図 12 手 続 補 正 、8(方式)+、 ’li
f隼の表示 昭和58年 特 許 願 第73315号2発明の名称 光センサの検出光の背景光からの分解方法;3手続をす
る者 特d′[出願人 東京都千代田区大手町二丁目2番1七 東京都千代田区内神田三丁目5番3号矢萩第二ビル昭和
58年7月6日 (発送日58・7・26)6補正の対
象 明よII+ ’!tの図面の節、qi Q :jp明の
欄、図面7鉤11正の内容 第6頁第8行乃至同第13行に於ける 「 第1図は・・である。」 を下記の如く補正する。 「 第1図は本発明の一実施例を示す概略図であり、第
2図(イ)(ロ)(ハ)(ニ)(ホ)は同実施例に於け
る検出光の/A離手順を説明する説明図にして第2図(
イ)は撮像画1nj、第2図(ロ)(ハ)に)は任意の
位置に於ける走査線の明度信号を夫々示すものであり、
第2図(ロ)は背景光が全くないと仮定した状態、第2
は131)は背景光がある状態、第2図←)は検出光か
投射されていない状態を夫々示し、第2図(ホ)は第2
図(ハ)と(ニ)とに示す明度信号の差を示すものであ
る。又第3図は本発明の他の実施例のタイミングチャー
トであり、第4図(イ)(ロ)(ハ)(ニ)は同実施例
Sこ於ける検出光の分解手順を説明する説明図にして第
4図@)は1走査線毎に投射−非投射をくり返して撮像
した画商、第4図(ロ)は検出光投射時、第4図(ハ)
は検出光非投射時、第4図(ニ)はスリフト光と背、1
;:尤を分離した状!四を夫々示すものである。−1 (11)図面の補正 第2図(イ) (o) H(こ)(ポ)を、添イ」図面
の如く補正する。
(ロ)(ハ)(ニ)(ホ)は同実施例に於ける検出光の
分離手順を説明する説明図、第3図は他の実流例のタイ
ミングチャート、第4図(イ)(ロ)(ハ) (二〉は
同実施例に於ける検出光の分離手順を説明する説明図で
ある。 1はテレビカメラ、2は検出光、3はA/D変換器、4
は記憶器、5は光源、7は駆動回路、8はコンピュータ
を示す。 第2図 12 手 続 補 正 、8(方式)+、 ’li
f隼の表示 昭和58年 特 許 願 第73315号2発明の名称 光センサの検出光の背景光からの分解方法;3手続をす
る者 特d′[出願人 東京都千代田区大手町二丁目2番1七 東京都千代田区内神田三丁目5番3号矢萩第二ビル昭和
58年7月6日 (発送日58・7・26)6補正の対
象 明よII+ ’!tの図面の節、qi Q :jp明の
欄、図面7鉤11正の内容 第6頁第8行乃至同第13行に於ける 「 第1図は・・である。」 を下記の如く補正する。 「 第1図は本発明の一実施例を示す概略図であり、第
2図(イ)(ロ)(ハ)(ニ)(ホ)は同実施例に於け
る検出光の/A離手順を説明する説明図にして第2図(
イ)は撮像画1nj、第2図(ロ)(ハ)に)は任意の
位置に於ける走査線の明度信号を夫々示すものであり、
第2図(ロ)は背景光が全くないと仮定した状態、第2
は131)は背景光がある状態、第2図←)は検出光か
投射されていない状態を夫々示し、第2図(ホ)は第2
図(ハ)と(ニ)とに示す明度信号の差を示すものであ
る。又第3図は本発明の他の実施例のタイミングチャー
トであり、第4図(イ)(ロ)(ハ)(ニ)は同実施例
Sこ於ける検出光の分解手順を説明する説明図にして第
4図@)は1走査線毎に投射−非投射をくり返して撮像
した画商、第4図(ロ)は検出光投射時、第4図(ハ)
は検出光非投射時、第4図(ニ)はスリフト光と背、1
;:尤を分離した状!四を夫々示すものである。−1 (11)図面の補正 第2図(イ) (o) H(こ)(ポ)を、添イ」図面
の如く補正する。
Claims (1)
- l) 検出光を被測定物に間欠的に照射し、照射時と非
照射時とのflfl像を比較して検出光を抽出Jること
を特徴とする光センサの検出光の背景光からの分離方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7331583A JPS59197810A (ja) | 1983-04-26 | 1983-04-26 | 光センサの検出光の背景光からの分離方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7331583A JPS59197810A (ja) | 1983-04-26 | 1983-04-26 | 光センサの検出光の背景光からの分離方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59197810A true JPS59197810A (ja) | 1984-11-09 |
Family
ID=13514612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7331583A Pending JPS59197810A (ja) | 1983-04-26 | 1983-04-26 | 光センサの検出光の背景光からの分離方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59197810A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63163102A (ja) * | 1986-12-25 | 1988-07-06 | Toshiba Corp | 位置検出方法 |
| JP2008197048A (ja) * | 2007-02-15 | 2008-08-28 | Honda Motor Co Ltd | 環境認識装置 |
| JP2009198342A (ja) * | 2008-02-22 | 2009-09-03 | Kobe Steel Ltd | 表面形状測定装置,表面形状測定方法 |
| JP2018524066A (ja) * | 2015-06-12 | 2018-08-30 | アキュレイ インコーポレイテッド | 画素単位減衰因子を導き出すために色空間情報を用いる周囲光抑制 |
-
1983
- 1983-04-26 JP JP7331583A patent/JPS59197810A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63163102A (ja) * | 1986-12-25 | 1988-07-06 | Toshiba Corp | 位置検出方法 |
| JP2008197048A (ja) * | 2007-02-15 | 2008-08-28 | Honda Motor Co Ltd | 環境認識装置 |
| EP2112466A4 (en) * | 2007-02-15 | 2010-03-24 | Honda Motor Co Ltd | ENVIRONMENT DETECTION DEVICE |
| US8233079B2 (en) | 2007-02-15 | 2012-07-31 | Honda Motor Co., Ltd. | Environment recognition method and apparatus for a three-dimensional vision sensor |
| JP2009198342A (ja) * | 2008-02-22 | 2009-09-03 | Kobe Steel Ltd | 表面形状測定装置,表面形状測定方法 |
| JP2018524066A (ja) * | 2015-06-12 | 2018-08-30 | アキュレイ インコーポレイテッド | 画素単位減衰因子を導き出すために色空間情報を用いる周囲光抑制 |
| JP2021094418A (ja) * | 2015-06-12 | 2021-06-24 | アキュレイ インコーポレイテッド | 画素単位減衰因子を導き出すために色空間情報を用いる周囲光抑制 |
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