JPS60200141A - 鏡面物体の表面形状検出方式 - Google Patents

鏡面物体の表面形状検出方式

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JPS60200141A
JPS60200141A JP5604584A JP5604584A JPS60200141A JP S60200141 A JPS60200141 A JP S60200141A JP 5604584 A JP5604584 A JP 5604584A JP 5604584 A JP5604584 A JP 5604584A JP S60200141 A JPS60200141 A JP S60200141A
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JP
Japan
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screen
image
light
pattern
surface shape
Prior art date
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Pending
Application number
JP5604584A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Okabe
隆史 岡部
Seiji Hata
清治 秦
Takushi Okada
岡田　拓史
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS60200141A publication Critical patent/JPS60200141A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、画像処理システムの３次元的な特徴の抽出に
係り、特に鏡面物体の表面形状の詳細な解析が可能な検
出方式に関するものである。
〔発明の背景〕
従来の画像処理システムは、スリット元等の光を物体に
あて、その乱反射ｉを利用して物体の位置・形状の測定
をおこなう方式が中心であった。しかしこの方式では、
元が全反射する鏡面物体の場合、反射光が特定の方向に
決まってしまうため、ＴＶカメラでの入力が困難で、か
つ表面形状の詳細な解析ができないという欠点があった
。
〔発明の目的］ 本発明の目的は、鏡面物体の６次元的な表面形状の解析
が可能な方式を提供することにある。
〔発明の概要〕
従来の画像処理システムでは、物体に光をあて、その反
射光を利用して物体の３次元的特徴を抽出する方式が中
心であったが、この方式では、光が全反射する鏡面物体
の認諌は、反射光を撮像するのが困難で、かつ表面形状
の詳細な解析が不可能であった。本発明では、スクリー
ンを用いて容易に反射光を撮像し、詳ａな特徴を抽出す
るためにスリット元等のパターンを持つ光を投影し、そ
の解析を容易にするものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を説明する。
第１図は、本発明の適用される場合の構成例である。
第１図において、光源１、スクリーン２、及びＴＶ左カ
メラは一体化されており、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向に移動
可能である。光源１には、スリット状、あるいは格子状
等の、ある特定のパターンを持たせてお（。まず、光源
１より、元を作業台５上の鏡面物体４に投光する。元は
全反射し、スクリーン上九映し出される。この際、全反
射した光がスクリーン２上に映るように、光源１、スク
リーン２、及び作業台５の位置関係を調整しておく。ス
クリーン２上に映った像を、ＴＶ左カメラで撮像する。
その画像は、先ず画像処理装置６内のメモリに記憶され
、その後モニタ７に映し出される。一体化された光源１
、スクリーン２、ＴＶ左カメラをＸ軸、Ｙ軸方向にスキ
ャンさせることにより、鏡面物体４全体の反射データを
入力することが可能である。
以下、第２図、第３図に示した形状の鏡面物体に対して
、スリットパターン及び格子パターンの反射光がスクリ
ーン上に映し出された像を、それぞれ第４図、第５図に
示す。第２図は、鏡面状の平面の上に異物が載っている
ことを想定した図であり、スクリーン上には、第４図の
如き像が映し出される。第４図より、像は異物の部分で
不連続になっており、本画像を画像処理装置６で処理す
ることにより、異物の位置・大ぎさ等の検出が可能であ
る。第３図は、表面形状が波形の鏡面物体に格子状の光
をあてた場合の図で、スクリーン上の像は、第５図の如
きパターンとなる。この像のデータを画像処理装置６で
処理することにより、対象物体の形状を認識することか
可能である。
以上のように、本実施例によれば、特定のパターンを持
つ光源を投影してい゛ろので、従来不可能であった鏡面
物体の形状認識あるいは歪、異物の検出等の検査を可能
にするという効果がある。
〔発明の効果〕
本発明によれば、従来測定不可能であった鏡面物体の３
次元的な形状認識が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明を使用する装置構成例、第２図、第３
図は、被検査物の形状と投光した元のパターンを示す図
、第４図、第５図は、スクリーン上に映った像のパター
ンを示す図である。 １・・・光源、２・・・スクリーン、３・・・ＴＶ左カ
メラ４・・・鏡面物体、５・・・作業台、６・・・画像
処理装置、７・・・モニタ。 第　ｔ　図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 光の投影装置と、物体からの反射光な映すスクリーンと
    、これを撮像するだめのＴＶカメラと、ＴＶカメラのと
    らえた画像を解析する画像処理装置とからなる、鏡面物
    体の表面形状検出装置において、投影される光を特定の
    パターンを持った光線とし、そのパターンのスクリーン
    上での変形を観測することによって、物体の表面形状の
    変ＩＪＩＪを解析する事を特徴とする鏡面物体の表面形
    状検出方式。
JP5604584A 1984-03-26 1984-03-26 鏡面物体の表面形状検出方式 Pending JPS60200141A (ja)

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