JPS5922894B2 - 走行物体の表面品位識別方法 - Google Patents
走行物体の表面品位識別方法Info
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- JPS5922894B2 JPS5922894B2 JP5846277A JP5846277A JPS5922894B2 JP S5922894 B2 JPS5922894 B2 JP S5922894B2 JP 5846277 A JP5846277 A JP 5846277A JP 5846277 A JP5846277 A JP 5846277A JP S5922894 B2 JPS5922894 B2 JP S5922894B2
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- Japan
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- defect
- signal
- inspected
- defects
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は疵検出器からの走行物体の欠陥信号を信号処
理して、走行物体例えば鋼板の表面品位を識別する方法
に関するものである。
理して、走行物体例えば鋼板の表面品位を識別する方法
に関するものである。
鋼板は例えば熱間圧延以降でも酸洗、冷間圧延、電清、
焼鈍、および調質圧延など多くの工程を経て製造されて
おシ、また各工程での操業速度は高速化されている。
焼鈍、および調質圧延など多くの工程を経て製造されて
おシ、また各工程での操業速度は高速化されている。
この現状において、各工程での操業を乱すことなく、表
面欠陥の少ない製品を生産するとともに、不合格製品を
できるだけ少量に抑えるには、製造の中間工程例えば冷
間工程等において疵検査を行ない、疵検出器からの欠陥
信号を信号処理して、欠陥の程度に応じて表面品位を識
別することが肝要である。この表面品位情報を前工程に
フイードホワードしたり）後工程にフィードバックすれ
ば最適条件で操業できるのである。鋼板等の疵欠陥には
圧延ロール疵、スケール噛込み疵、へゲ疵、スリバー疵
など種々あわ、その疵の大きさも大小さまざまである。
しかして中間工程においては、前記疵のなかの軽欠陥に
ついてｉ は所定小単位長さあたわの疵数が許容個数以
下のときは無欠陥とみなして差しつかえない場合があわ
、さらに中間工程では所定長さ毎での欠陥の増減傾向の
チェック、および鋼板全長での欠陥程度から該全長に対
する表面品位の層別が要求される。以上のようなことか
ら中間工程では最終工程での製品疵検査と異なる欠陥信
号の処理をしなければならない。しかし従来の疵検出器
は製品検査用に使用されていて、１個毎の欠陥信号から
疵の大きさ、存在位置等を検出するものである。
面欠陥の少ない製品を生産するとともに、不合格製品を
できるだけ少量に抑えるには、製造の中間工程例えば冷
間工程等において疵検査を行ない、疵検出器からの欠陥
信号を信号処理して、欠陥の程度に応じて表面品位を識
別することが肝要である。この表面品位情報を前工程に
フイードホワードしたり）後工程にフィードバックすれ
ば最適条件で操業できるのである。鋼板等の疵欠陥には
圧延ロール疵、スケール噛込み疵、へゲ疵、スリバー疵
など種々あわ、その疵の大きさも大小さまざまである。
しかして中間工程においては、前記疵のなかの軽欠陥に
ついてｉ は所定小単位長さあたわの疵数が許容個数以
下のときは無欠陥とみなして差しつかえない場合があわ
、さらに中間工程では所定長さ毎での欠陥の増減傾向の
チェック、および鋼板全長での欠陥程度から該全長に対
する表面品位の層別が要求される。以上のようなことか
ら中間工程では最終工程での製品疵検査と異なる欠陥信
号の処理をしなければならない。しかし従来の疵検出器
は製品検査用に使用されていて、１個毎の欠陥信号から
疵の大きさ、存在位置等を検出するものである。
軽欠陥の処理が難かしく、これを過大評価する場合があ
るそのために前述のような中間工程に卦いて欠陥程度に
応じて所定長さ毎に表面品位を識別するには非常に複雑
な回路を必要とし問題がある。従つて、現状に卦ける中
間工程での表面欠陥検査はストロボ照明を使用して目視
検査である。そのため重欠陥を見誤つたＶ１また軽欠陥
を過大評価したｖするので、精度よく表面品位を識別す
るうえに問題であつた。この発明は上述の実情に鑑みて
なされたもので、被検材の疵検出器から欠陥信号を信号
処理して、所定長さごとに表面品位の識別をオンライン
中で行なうものであつて、その要旨は疵検出器からの欠
陥信号を少なくとも重欠陥信号と軽欠陥信号との２つに
弁別するとともに、被検材の移送長さを測定して、被検
所定小単位長さ毎に前記軽欠陥信号の数を計数し、その
数が許容設定数を越えたとき１つの軽欠陥密度信号とし
、該軽欠陥密度信号と前記重欠陥信号とから被検所定小
単位長さ毎の疵情報を得て、次いで被検所定中単位長さ
毎に前記重欠陥信号の数と軽欠陥密度信号の数を計数し
予め定めた許容個数と比較してオペレータ指示信号を得
るとともに、該被検所定中単位長さ単位で続行する次の
被検所定中単位長さとの欠陥数を比較し２疵の増減傾向
信号を得て、次いで、被検材全長の前記重欠陥信号の数
と軽欠陥密度信号の数を計数し、予め定めた許容数域と
比較して被検材全長の表面品位識別信号を得ることを特
徴とする ，表面品位識別方法にある。次にこの発明を
図面を参照して詳細に説明する。
るそのために前述のような中間工程に卦いて欠陥程度に
応じて所定長さ毎に表面品位を識別するには非常に複雑
な回路を必要とし問題がある。従つて、現状に卦ける中
間工程での表面欠陥検査はストロボ照明を使用して目視
検査である。そのため重欠陥を見誤つたＶ１また軽欠陥
を過大評価したｖするので、精度よく表面品位を識別す
るうえに問題であつた。この発明は上述の実情に鑑みて
なされたもので、被検材の疵検出器から欠陥信号を信号
処理して、所定長さごとに表面品位の識別をオンライン
中で行なうものであつて、その要旨は疵検出器からの欠
陥信号を少なくとも重欠陥信号と軽欠陥信号との２つに
弁別するとともに、被検材の移送長さを測定して、被検
所定小単位長さ毎に前記軽欠陥信号の数を計数し、その
数が許容設定数を越えたとき１つの軽欠陥密度信号とし
、該軽欠陥密度信号と前記重欠陥信号とから被検所定小
単位長さ毎の疵情報を得て、次いで被検所定中単位長さ
毎に前記重欠陥信号の数と軽欠陥密度信号の数を計数し
予め定めた許容個数と比較してオペレータ指示信号を得
るとともに、該被検所定中単位長さ単位で続行する次の
被検所定中単位長さとの欠陥数を比較し２疵の増減傾向
信号を得て、次いで、被検材全長の前記重欠陥信号の数
と軽欠陥密度信号の数を計数し、予め定めた許容数域と
比較して被検材全長の表面品位識別信号を得ることを特
徴とする ，表面品位識別方法にある。次にこの発明を
図面を参照して詳細に説明する。
図に卦いて１は疵検出器で例えばレーザー光線疵検出器
等が使用され被検材Ｔ′ｌえば鋼板の全巾を走査するよ
うになつている。この例では第３図に Ｊ示すように連
続焼鈍工程に疵検出器１を設置してある。この第３図で
ａは連続焼鈍ラインの概要を示し、３１は前面クリーニ
ングセクシヨン、３２は前面ストランドルーパ一、３３
は加熱冷却炉、３４は後面ストランドルーパ一であり、
疵検出器 ４１は最終段に設けられ、その拡大図を同図
ｂに示す。この第３図ｂで３５は駆動ロール、３６はピ
ンチロール、３７はスニツプシエアである。また第１図
で２は弁別器で、前記疵検出器１からの欠陥信号ａをそ
の信号の大きさから少なくとも重欠陥信号ｂと軽欠陥信
号ｃの２つに弁別する。３は被検材測長器で例えばパル
ス発生器が使用され、被検材移送ローラ（図示しない）
に連結されローラの回転に応じてパルスを発生する。
等が使用され被検材Ｔ′ｌえば鋼板の全巾を走査するよ
うになつている。この例では第３図に Ｊ示すように連
続焼鈍工程に疵検出器１を設置してある。この第３図で
ａは連続焼鈍ラインの概要を示し、３１は前面クリーニ
ングセクシヨン、３２は前面ストランドルーパ一、３３
は加熱冷却炉、３４は後面ストランドルーパ一であり、
疵検出器 ４１は最終段に設けられ、その拡大図を同図
ｂに示す。この第３図ｂで３５は駆動ロール、３６はピ
ンチロール、３７はスニツプシエアである。また第１図
で２は弁別器で、前記疵検出器１からの欠陥信号ａをそ
の信号の大きさから少なくとも重欠陥信号ｂと軽欠陥信
号ｃの２つに弁別する。３は被検材測長器で例えばパル
ス発生器が使用され、被検材移送ローラ（図示しない）
に連結されローラの回転に応じてパルスを発生する。
４はパルスカウンター、５は被検所定小単位長さｔ１が
設定されている被検長さ設定器、６は軽欠陥カウンター
で、前記軽欠陥信号Ｃの数を被検所定小単位長さＴ，毎
に計数する。
設定されている被検長さ設定器、６は軽欠陥カウンター
で、前記軽欠陥信号Ｃの数を被検所定小単位長さＴ，毎
に計数する。
７は欠陥密度判定回路で、前記軽欠陥カウンター６から
の軽欠陥数が許容設定数Ｎ，を越えたとき軽欠陥密度信
号ｄを出力するようになつている。
の軽欠陥数が許容設定数Ｎ，を越えたとき軽欠陥密度信
号ｄを出力するようになつている。
８は前記重欠陥信号６ａと軽欠陥密度信号ｄが入力され
るオア回路、９は被検所定中単位長さＴ２が設定された
被検長さ設定器で、前記パルス発生器３に連絡されてい
る。
るオア回路、９は被検所定中単位長さＴ２が設定された
被検長さ設定器で、前記パルス発生器３に連絡されてい
る。
１０は欠陥カウンターで、前記オア回路８′からの前記
信号Ａ，ｄの数を被検所定中単位長さＴ２毎に計数する
。
信号Ａ，ｄの数を被検所定中単位長さＴ２毎に計数する
。
１１は欠陥判定回路で、前記欠陥カウンター１０からの
計数値と予め設定された許容欠陥数Ｎ２と比較し、オペ
レータ指示信号を出力するものである。
計数値と予め設定された許容欠陥数Ｎ２と比較し、オペ
レータ指示信号を出力するものである。
１２は記憶回路、１３は比較回路で、前記記憶回路１２
で記憶された直前の被検所定中単位長さＴ２の欠陥数と
、前記欠陥カウンター１０からの欠陥計数値と比較し、
疵の増減傾向信号を出力する。
で記憶された直前の被検所定中単位長さＴ２の欠陥数と
、前記欠陥カウンター１０からの欠陥計数値と比較し、
疵の増減傾向信号を出力する。
また１４は被検長さ設定器で前記パルスカウンター４に
連結されており、該設定器１４は被検材Ｔの全長Ｔ３を
その設定長さとする。
連結されており、該設定器１４は被検材Ｔの全長Ｔ３を
その設定長さとする。
１５は欠陥カウンターで、前記オア回路８からの重欠陥
信号ｂと軽欠陥密度信号ｄの数を被検材Ｔの全長Ｔ３に
わた勺計数する。
信号ｂと軽欠陥密度信号ｄの数を被検材Ｔの全長Ｔ３に
わた勺計数する。
１６，１７は被検材全長Ｔ３の欠陥判定回路で、前者１
６は許容欠陥数Ｎ３が、後者１７は許容上限欠陥数Ｎ４
がそれぞれ設定されている。
６は許容欠陥数Ｎ３が、後者１７は許容上限欠陥数Ｎ４
がそれぞれ設定されている。
１８は判定回路で、前記欠陥カウンター１５からの欠陥
計数値と前記欠陥判定回路１６，１７の許容欠陥数Ｎ３
、許容上限欠陥数Ｎ４と比較して、被検材Ｔの表面品位
識別信号を出力する。
計数値と前記欠陥判定回路１６，１７の許容欠陥数Ｎ３
、許容上限欠陥数Ｎ４と比較して、被検材Ｔの表面品位
識別信号を出力する。
１９−１、１９−２、１９−３は表示器である。
前記被検所定小単位長さｔ１は５〜２０ｍに、被検所定
中単位長さＴ２は前記所定小単位長さＴ，の約１００倍
が望ましい。この構成は上述のようであ勺次に表面品位
識別についてのべる。疵検出器１からの欠陥信号ａは弁
別器２で重欠陥信号ｂと軽欠陥信号ｃに弁別される。
中単位長さＴ２は前記所定小単位長さＴ，の約１００倍
が望ましい。この構成は上述のようであ勺次に表面品位
識別についてのべる。疵検出器１からの欠陥信号ａは弁
別器２で重欠陥信号ｂと軽欠陥信号ｃに弁別される。
この弁別に際して軽欠陥信号ｃの大きさは実験的に求め
られ、被検所定小単位長さｔ１あたｖの疵数が許容設定
数ｎ１以下のとき無欠陥とみなして差しつかえない程度
の大きさの欠陥である。さて、軽欠陥信号ｃの数は軽欠
陥カウンター６によつて被検所定小単位長さｔ１ごとに
計数され、この計数値が許容設定数Ｎ，を越えると欠陥
密度判定回路７から１個の軽欠陥密度信号ｄが出力され
る。
られ、被検所定小単位長さｔ１あたｖの疵数が許容設定
数ｎ１以下のとき無欠陥とみなして差しつかえない程度
の大きさの欠陥である。さて、軽欠陥信号ｃの数は軽欠
陥カウンター６によつて被検所定小単位長さｔ１ごとに
計数され、この計数値が許容設定数Ｎ，を越えると欠陥
密度判定回路７から１個の軽欠陥密度信号ｄが出力され
る。
な訃計数値が許容設定数ｎ１以下のときは軽欠陥密度信
号ｄは出力されない。このようにして軽欠陥信号ｃは被
検所定小単位長さｔ１ごとに処理され、被検所定小単位
長さｔ１における重欠陥信号ｂと軽欠陥密度信号ｄが表
示器１９−１に示される。次いで、重欠陥信号ｂととも
に軽欠陥密度信号ｄはオア回路８に入力される。第２図
に各回路での信号の一例を示す、この第２図に卦いて２
０は疵検出器１からの欠陥信号Ａｌ２ｌは弁別器２で弁
別された重欠陥信号ｂと軽欠陥信号ｃであり、２２はパ
ルス発生器３からのパルス信号、２３は被検長さ設定器
５からの被検所定小単位長さｔ１信号、２４は欠陥密度
判定回路７からの軽欠陥密度信号ｄである。オア回路８
からの重欠陥信号ｂと軽欠陥密度信号ｄは欠陥カウンタ
ー１０によつて被検所定中単位長さＴ２ごとに計数され
、該計数値は欠陥判定回路１１で許容欠陥数Ｎ２と比較
されて、被検材Ｔの所定中単位長さ４ごとのオペレータ
指示信号が得られる即ち前記計数値が許容欠陥数Ｎ２以
下であれば検査不要で最高速度通板可能の指示、許容欠
陥数Ｎ２以上であれば次工程の検査要などの情報が得ら
れる。
号ｄは出力されない。このようにして軽欠陥信号ｃは被
検所定小単位長さｔ１ごとに処理され、被検所定小単位
長さｔ１における重欠陥信号ｂと軽欠陥密度信号ｄが表
示器１９−１に示される。次いで、重欠陥信号ｂととも
に軽欠陥密度信号ｄはオア回路８に入力される。第２図
に各回路での信号の一例を示す、この第２図に卦いて２
０は疵検出器１からの欠陥信号Ａｌ２ｌは弁別器２で弁
別された重欠陥信号ｂと軽欠陥信号ｃであり、２２はパ
ルス発生器３からのパルス信号、２３は被検長さ設定器
５からの被検所定小単位長さｔ１信号、２４は欠陥密度
判定回路７からの軽欠陥密度信号ｄである。オア回路８
からの重欠陥信号ｂと軽欠陥密度信号ｄは欠陥カウンタ
ー１０によつて被検所定中単位長さＴ２ごとに計数され
、該計数値は欠陥判定回路１１で許容欠陥数Ｎ２と比較
されて、被検材Ｔの所定中単位長さ４ごとのオペレータ
指示信号が得られる即ち前記計数値が許容欠陥数Ｎ２以
下であれば検査不要で最高速度通板可能の指示、許容欠
陥数Ｎ２以上であれば次工程の検査要などの情報が得ら
れる。
また欠陥カウンター１０からの被検所定中単位長さＴ２
ごとの欠陥数は記憶回路１２で記憶され、該記憶値と続
行する次の被検所定中単位長さＴ２の欠陥数と比較回路
１３で比較して欠陥の増減傾向信号が得られ、前記オペ
レータ指示信号とともに表示器１９−２にそれぞれ示さ
れる。被検材Ｔ全長Ｔ３の表面品位識別は次の如くして
行なわれる。
ごとの欠陥数は記憶回路１２で記憶され、該記憶値と続
行する次の被検所定中単位長さＴ２の欠陥数と比較回路
１３で比較して欠陥の増減傾向信号が得られ、前記オペ
レータ指示信号とともに表示器１９−２にそれぞれ示さ
れる。被検材Ｔ全長Ｔ３の表面品位識別は次の如くして
行なわれる。
オア回路８からの重欠陥信号ｂと軽欠陥密度信号ｄは欠
陥カウンター１５で全長Ｔ３ｖｃわたつて計数され、こ
の計数値が欠陥判定回路１６，１７の許容欠陥数Ｎ３許
容上限欠陥数Ｎ４と比較され、判定器１８から許容欠陥
数Ｎ３以下であれば合格材、許容欠陥数Ｎ３と許容上限
欠陥数Ｎ４の間であれば注意材、卦よび許容上限欠陥数
Ｎ４以上であれは不合格材として被検材Ｔは表面欠陥程
度に応じて層別されて表示器１９−３に表示される。こ
の結果は例えば後工程にフイードフオードして、合格材
は最高速度で処理し、注意材は検査を強化したり、規格
のゆるい製品に振替える等の手段が直ちにとられる。ま
た不合材であればその疵対策が早期にとられ、大量不合
格品の発生が防止される。この発明は上述の如くし表面
欠陥に応じて表面品位の識別がオンラインで行なわれる
ので、後工程でのトラブル発生が防止でき、円滑な操業
が行なえる。
陥カウンター１５で全長Ｔ３ｖｃわたつて計数され、こ
の計数値が欠陥判定回路１６，１７の許容欠陥数Ｎ３許
容上限欠陥数Ｎ４と比較され、判定器１８から許容欠陥
数Ｎ３以下であれば合格材、許容欠陥数Ｎ３と許容上限
欠陥数Ｎ４の間であれば注意材、卦よび許容上限欠陥数
Ｎ４以上であれは不合格材として被検材Ｔは表面欠陥程
度に応じて層別されて表示器１９−３に表示される。こ
の結果は例えば後工程にフイードフオードして、合格材
は最高速度で処理し、注意材は検査を強化したり、規格
のゆるい製品に振替える等の手段が直ちにとられる。ま
た不合材であればその疵対策が早期にとられ、大量不合
格品の発生が防止される。この発明は上述の如くし表面
欠陥に応じて表面品位の識別がオンラインで行なわれる
ので、後工程でのトラブル発生が防止でき、円滑な操業
が行なえる。
また疵発生材は規格のゆるい製品に振替えることが直ち
にでき歩留向上に役立つ。また疵が早期発見できるので
不合格製品を非常に減少されることができる等の効果を
有する。
にでき歩留向上に役立つ。また疵が早期発見できるので
不合格製品を非常に減少されることができる等の効果を
有する。
第１図はこの発明の一実施例を示すプロツク図、第２図
はこの一実施例での各回路での信号の一例を示す図、第
３図はこの一実施例での疵検出器１の設置工程を示す図
である。 １・・・疵検出器、２・・・弁別器、３・・・パルス発
生器、４・・・パルスカウンター、５，９，１４・・・
被検長さ設定器、６・・・軽欠陥カウンター、７・・・
欠陥密度判定回路、８・・・オア回路、１０，１５・・
・欠陥カウンコ一、１１，１６，１７・・・欠陥判定回
路、１２・・・記憶回路、１３・・・比較回路、１８・
・・判定回路、１９−１，１９−２，１９−３・・・表
示器、２０・・・疵検出器からの信号、２１・・・弁別
器からの信号、２２・・・パルス発生器からの信号、２
３・・・被検長さ設定器５からの信号、２４・・・欠陥
密度判定回路からの信号、Ｔ・・・被検材、ａ・・・欠
陥信号、ｂ・・・重欠陥信号、ｃ・・・軽欠陥信号、ｄ
・・・軽欠陥密度信号。
はこの一実施例での各回路での信号の一例を示す図、第
３図はこの一実施例での疵検出器１の設置工程を示す図
である。 １・・・疵検出器、２・・・弁別器、３・・・パルス発
生器、４・・・パルスカウンター、５，９，１４・・・
被検長さ設定器、６・・・軽欠陥カウンター、７・・・
欠陥密度判定回路、８・・・オア回路、１０，１５・・
・欠陥カウンコ一、１１，１６，１７・・・欠陥判定回
路、１２・・・記憶回路、１３・・・比較回路、１８・
・・判定回路、１９−１，１９−２，１９−３・・・表
示器、２０・・・疵検出器からの信号、２１・・・弁別
器からの信号、２２・・・パルス発生器からの信号、２
３・・・被検長さ設定器５からの信号、２４・・・欠陥
密度判定回路からの信号、Ｔ・・・被検材、ａ・・・欠
陥信号、ｂ・・・重欠陥信号、ｃ・・・軽欠陥信号、ｄ
・・・軽欠陥密度信号。
Claims (1)
- １ 疵検出器からの被検材の欠陥信号を少なくとも重欠
陥信号と軽欠陥信号とに弁別するとともに、被検材の移
送長さを測定して、被検所定小単位長さ毎に前記軽欠陥
信号の数を計数し、その計数値が許容設定数を越えたと
き１つの軽欠陥密度信号とし、該軽欠陥密度信号の数と
前記重欠陥信号の数を被検所定中単位長さ毎に計数し、
予め定めた許容個数と比較してオペレータ指示信号を得
るとともに、該被検所定中単位長さ単位で続行する次の
被検所定中単位長さとの欠陥数を比較して欠陥の増減傾
向信号を得て、次いで被検材全長の前記軽欠陥密度信号
の数と、前記重欠陥信号の数を計数し予め定めた許容数
域と比較して被検材全長の表面品位を識別することを特
徴とする走行物体の表面品位識別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5846277A JPS5922894B2 (ja) | 1977-05-20 | 1977-05-20 | 走行物体の表面品位識別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5846277A JPS5922894B2 (ja) | 1977-05-20 | 1977-05-20 | 走行物体の表面品位識別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53143387A JPS53143387A (en) | 1978-12-13 |
| JPS5922894B2 true JPS5922894B2 (ja) | 1984-05-29 |
Family
ID=13085084
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5846277A Expired JPS5922894B2 (ja) | 1977-05-20 | 1977-05-20 | 走行物体の表面品位識別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5922894B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6246793U (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-23 | ||
| JPS6345802U (ja) * | 1986-09-08 | 1988-03-28 | ||
| JPH05894U (ja) * | 1991-06-20 | 1993-01-08 | 亀吉 立花 | ブラインド |
| JPH0594498U (ja) * | 1992-05-25 | 1993-12-24 | 喜一郎 石川 | ブラインド |
| JP2010249624A (ja) * | 2009-04-15 | 2010-11-04 | Jfe Steel Corp | 走行材の表面品質判定装置および表面品質判定方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5967860B2 (ja) * | 2010-09-29 | 2016-08-10 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 表面欠陥検査方法及びその装置 |
-
1977
- 1977-05-20 JP JP5846277A patent/JPS5922894B2/ja not_active Expired
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6246793U (ja) * | 1985-09-05 | 1987-03-23 | ||
| JPS6345802U (ja) * | 1986-09-08 | 1988-03-28 | ||
| JPH05894U (ja) * | 1991-06-20 | 1993-01-08 | 亀吉 立花 | ブラインド |
| JPH0594498U (ja) * | 1992-05-25 | 1993-12-24 | 喜一郎 石川 | ブラインド |
| JP2010249624A (ja) * | 2009-04-15 | 2010-11-04 | Jfe Steel Corp | 走行材の表面品質判定装置および表面品質判定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53143387A (en) | 1978-12-13 |
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