JPS592584Y2 - マイクロプログラム拡張テスト装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案はマイクロプログラム制御によるテ゛−タ処理
装置におけるマイクロプログラムによるテスト機構、特
にそのテスト対象点数を拡張する装置に関する。

従来のマイクロプログラム制御のテ゛−タ処理装置にお
けるマイクロプログラムによるテストは第１図に示すよ
うにマイクロプログラムを記憶する制御記憶ユニット１
から読出されたマイクロ命令がマイクロ命令レジスタ２
に蓄えられ、そのテストフィールド２ａの３ビツトがマ
ルチプレクサ３へ供給される。

マルチプレクサ３の８つの入力端子４□〜４８には８つ
のテスト対象点の各状態がそれぞれ与えられていて、マ
イクロ命令のテストフィールド２ａの３ビツトの状態に
より入力端子４□〜４８の１つが選択されて出力端子５
へ出力されてテストが行われる。

この出力端子５の“１”又は“０”の状態、即ちテスト
結果により次に読出されるマイクロ命令の番地が決定さ
れるため、出力端子５の出力は制御記憶ユニット１に対
するアドレス作成回路６の１つのピットに供給される。

テスト対象点が増加すると、第２図に示すようにその拡
張されたテスト対象点の状態が入力端子７□〜７８にそ
れぞれ与えられるマルチプレクサ８が設けられ、このマ
ルチプレクサ８の入力端子の１つを選択してその状態を
出力端子９へ供給するための選択信号はマイクロ命令レ
ジスタのデス１ヘフイールド２ａから与えられる。

アルチプレクサ３及び８の何れかを選択するためのフイ
・−ルド２ｂがマイクロ命令レジスタ２に設けられ、そ
のフィールド２ｂの１ビツトが“１゛か”０“かにより
マルチプレクサ３か８かを選択する。

即ちフィールド２ｂの出力はゲートＧ１へ与えられると
共に反転出力がゲートＧ２へ与えられ、ゲートＧ１及び
Ｇ２にはマルチプレクサ３及び８の各出力がそれぞれ供
給され、ゲートＧ１．Ｇ２の出力はＯＲゲートＧ３を通
じてアドレス作成回路６へ供給される。

このようにしてテスト対象点の数が拡張されていたため
、その拡張と共にマルチプレクサの出力端子と、アドレ
ス作成回路６との間に直列に挿入されるゲートＧ１．Ｇ
２．Ｇ３などの論理回路の数が増加し、よってマルチプ
レクサの出力がアドレス作成回路６へ達する時間がそれ
だけ長く掛るようになる。

このようにしてアドレス作成時間が長くなって来ると、
１マシンサイクル内にマイクロ命令の読出しからアドレ
ス作成終了までがはいることができなくなる。

よってマシンサイクルを長くするか、或はマイクロ命令
のビット幅を増加すると共に、入力端子数が多いマルチ
プレクサを使用する必要があった。

前者はマイクロプログラム制御処理装置の処理速度を低
下させることになり、後者は制御記憶ユニットの容量、
各種レジスタの容量を増加させ、高価なものになる。

この考案の目的はマシンサイクルタイム及びマイクロ命
令ビット幅の増加を最小にして、マイクロテスト対象点
を容易に増加することができるマイクロプログラム拡張
テスト装置を提供するにある。

この考案によれば複数の拡張されたマイクロプログラム
テスト対象点の状態を入力とするマルチプレクサを設け
、そのマルチプレクサにマイクロ命令のテストフィール
ドを与えて、拡張されたテスト対象点の１つの状態を選
択し、この選択した状態をマイクロ命令の制御により保
持する。

その後のマイクロ命令により上記保持した出力を、拡張
前のテスト対象点の状態が与えられているマルチプレク
サの１つの入力端子へ供給する。

このようにすれば拡張されたテスト対象点に対するテス
ト回数が減少し、またそのテストのために２マシンサイ
クルを必要とする。

しかしこの拡張により１マシンサイクルを長くする必要
はなく、またマイクロ命令のビット幅を余り増加する必
要もない。

例えばマニュアル指令に関する動作及びマイクロ診断に
おけるマイクロテスト対象点のように高速度にテストす
る必要性がないものも可成りあり、このようなテスト対
象点を拡張テスト対象点とすればよい。

またテストに２マイクロステツプを費すが、マイクロテ
ストと並列に別のジョブを実行することが多いため、処
理能力は殆んど低下しない。

第３図はこの考案によるマイクロプログラム拡張テスト
装置の一例を示し、制御記憶ユニットから読出されたマ
イクロ命令を保持するマイクロ命令レジスタ１０はマイ
クロフィールド１１〜１５を有する。

拡張前の１６個のテスト対象点は８つずつその状態が第
１マルチプレクサ４０及び５０の各入力端子１５□〜１
５８及び１６□〜１６８にそれぞれ供給される。

マルチプレクサ４０の８つの人力はマイクロフィールド
１４の３ビツトのセレクト信号により１つが選択されて
出力線４０１に出力し、マルチフ。

レクサ５０の８つの入力はマイクロフィールド１５の３
ビツトのセレクト信号により１つが選択されて出力線５
０１に出力する。

マイクロフィールド１１は３ビツトから成り、その３ビ
ツトの出力制御信号線１１１．１１２．１１３はマイク
ロ命令のタイプを決定するもので、他のフィールドの制
御信号発生を制御する。

特に制御信号線１１１はマイクロ命令のタイプを大きく
２つに分け、制御信号線１１１の状態が“０”の時に論
理演算モードとなり、“１”の時はテスト診断モードと
なる。

この考案において拡張テスト対象点の状態がそれぞれ入
力される第２マルチプレクサ２１〜２４が設けられる。

これ等第２マルチプレクサ２１〜２４のそれぞれの８つ
の入力は、マイクロフィールド１２の上位３ビツトの制
御信号線１２１．１２２．１２３の状態によりそれぞれ
１つが選択され、これ等出力線２１１、２２１．２３１
．２４１はそれぞれマルチプレクサ２９の各別の入力に
接続される。

マルチプレクサ２９に対するセレクト信号は制御信号線
１１２，１１３及びマイクロフィールド１２の最下位ビ
ットの制御信号線１２４から与えられる。

マルチプレクサ２９の入力線２５１．２６１．２７１．
２８１は更に拡張マイクロテスト対象点が増加した場合
に、マルチプレクサを追加し、その出力線を接続するた
めの予備である。

このようにしてマイクロ命令の設定により、第２マルチ
プレクサ２１〜２４の３２個のテスト対象点の状態の１
つを選択してマルチプレクサ２９の出力線２９１に出力
することかで゛きる。

この選択された出力は保持回路に保持される。

このため出力線２９１は保持回路としてのセット優先フ
リップフロップ６０へ供給される。

またマイクロフィールド１３の３ピツＩ・の制御信号線
１３１〜１３３の状態が、制御信号線１１１の出力によ
りテスト診断モード時に有効とされたデコーダ３０にて
デコードされ、その１つの出力線３０２から出力が生じ
ると、これによりフリップフロップ６０はその入力線２
９１の状態を読込み、その状態を保持する。

この保持回路の出力線６０１は拡張前のテスト対象点の
状態が与えられる第１マルチプレクサの一方、例えばマ
ルチプレクサ５０の１つの入力線１６３へ接続される。

よって１つのマイクロ命令により拡張テスト対象点の１
つの状態が保持回路６０の出力に保持され、その後のマ
イクロ命令により、その保持出力が与えられている入力
端１６３を選択して出力することにより、拡張テスト対
象点の１つの状態がマルチプレクサ５０の出力線５０１
に得られる。

この出力の状態により第１図で説明したアドレス作成回
路のアドレスが変更されマイクロ命令の番地が決定され
る。

なおマイクロフィールド１１〜１３からの制御線１１２
．１１３．１２１〜１２４．１３１〜１３３はマイクロ
命令のタイプを決定するマイクロフィールド１１のマイ
クロコマンドに応じて上述した制御とは異なる他の制御
指令のために使用することもできる。

以上述べたようにこの考案によれば拡張テスト対象点に
対するテストは２マシンサイクルを必要とするが、この
対象点の選択のために論理回路がアドレス作成回路の人
力と直列に挿入されることがなく、マシンサイクルの長
さは最小に保持でき、またマイクロ命令ビット幅を特に
増加させる必要もなく容易にテスト対象点を拡張できる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のマイクロプログラムテスト装置を示す路
線図、第２図はそのテスト拡張を示す路線図、第３図は
この考案によるマイクロプログラム拡張テスト装置の一
例を示す路線図である。 第３図において、１０：マイクロ命令レジスタ、２１〜
２４：拡張テスト対象点の状態が与えられる第２マルチ
プレクサ、５０：拡張前のテスト対象点の状態が与えら
れる第１マルチプレクサ、６０：保持回路。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ アドレス作成回路と、 Ｂ このアドレス作成回路から出力されるアドレス信号
   によりアクセスされてマイクロ命令が読出される制御記
   憶ユニットと、 Ｃこの制御記憶ユニットから読出されるマイクロ命令を
   ストアするマイクロ命令レジスタと、Ｄ このマイクロ
   命令レジスタにストアされたマイクロ命令により拡張前
   の複数のテスト対象点の１つを選択する第１マルチプレ
   クサと、Ｅ 複数の拡張されたマイクロプログラムテス
   ト対象点を入力とし、上記マイクロ命令レジスタにスト
   アされたマイクロ命令により指定されて拡張されたマイ
   クロプログラムテスト対象点のうちの１つを選択し、そ
   の状態を出力する第２マルチプレクサと、 Ｆ この第２マルチプレクサの出力を上記マイクロ命令
   レジスタにストアされたマイクロ命令の制御により保持
   し、その保持出力を上記第１マルチプレクサに拡張前の
   テスト対象点の１つとして供給する保持回路と、 Ｇ 上記第１マルチプレクサの出力を上記アドレス作成
   回路に与え上記制御記憶ユニットに与えるアドレスを変
   化させる手段と、 を具備して成るマイクロプログラム拡張テスト装置。