JPS5933204B2 - 二光束分光光度計 - Google Patents
二光束分光光度計Info
- Publication number
- JPS5933204B2 JPS5933204B2 JP51008518A JP851876A JPS5933204B2 JP S5933204 B2 JPS5933204 B2 JP S5933204B2 JP 51008518 A JP51008518 A JP 51008518A JP 851876 A JP851876 A JP 851876A JP S5933204 B2 JPS5933204 B2 JP S5933204B2
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- Japan
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- sample
- light intensity
- wavelength
- storage device
- correction value
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、二光束分光光度計に係り、特に参照光強度と
試料光強度の比の波長依存性を容易に書き込み、読み出
しできる記憶装置とを備え、前記波長依存性を補正して
測定する二光束分光光度計に関する。
試料光強度の比の波長依存性を容易に書き込み、読み出
しできる記憶装置とを備え、前記波長依存性を補正して
測定する二光束分光光度計に関する。
試料の分光透過率あるいは反射率を測定する手段として
、二光束分光光度計がある。
、二光束分光光度計がある。
二光束分光光度計では、通常光路中に何も置かない、す
なわち空気のみの状態での参照光強度工Ｒと光路中に試
料が配置された状態での試料光強度Ｉｓとの比工ｓ／Ｉ
Ｒを求める。この時、参照光光路および試料光光路に何
も置かない状態での参照光強度ＩＲｏと力甲圀渡Ｉｓｏ
とが等しい場合にはＩｓ／ＩＲが試料の透過率あるいは
反射率を与えることになる。しかし、ＩＲｏとＩｓｏと
が等しくない場合には、光学的あるいは電気的にＩｓｏ
／ＩＲｏに相当する量を補正してＩｓ／ＩＲを出力する
ことにより試料の透過率あるいは反射率を得る。一般に
Ｉｓｃｙ／ＩＢｏは、参照光光路と試料光光路とで使用
している光学素子の特性が異なるなどの原因により、測
定波長に依存して変化することが多い。従つて、測定波
長に対応したＩｓｏ／工釦を参照し、補正することが必
要である。〔発明の目的〕 本発明の目的は、参照光光路と試料光光路との光路の違
いに基づく波長依存性を常に適切に補正することができ
る二光束分光光度計を提供することにある。
なわち空気のみの状態での参照光強度工Ｒと光路中に試
料が配置された状態での試料光強度Ｉｓとの比工ｓ／Ｉ
Ｒを求める。この時、参照光光路および試料光光路に何
も置かない状態での参照光強度ＩＲｏと力甲圀渡Ｉｓｏ
とが等しい場合にはＩｓ／ＩＲが試料の透過率あるいは
反射率を与えることになる。しかし、ＩＲｏとＩｓｏと
が等しくない場合には、光学的あるいは電気的にＩｓｏ
／ＩＲｏに相当する量を補正してＩｓ／ＩＲを出力する
ことにより試料の透過率あるいは反射率を得る。一般に
Ｉｓｃｙ／ＩＢｏは、参照光光路と試料光光路とで使用
している光学素子の特性が異なるなどの原因により、測
定波長に依存して変化することが多い。従つて、測定波
長に対応したＩｓｏ／工釦を参照し、補正することが必
要である。〔発明の目的〕 本発明の目的は、参照光光路と試料光光路との光路の違
いに基づく波長依存性を常に適切に補正することができ
る二光束分光光度計を提供することにある。
本発明は上記目的を達成すべく、電源投入後光源および
検知器が安定するのに要する時間記憶装置への書き込み
を阻止する手段、被測定試料が測定位置に配置されてい
ない状態において波長走査を行つたときの参照光強度と
試料光強度との比に対応す・る補正値を前記記憶装置に
書き込む手段、前記被測定試料を測定装置に配置した後
に波長走査を行つたときの参照光強度と試料光強度との
比に対応する測定信号をこの測定信号の波長に対応して
前記記憶装置から読み出された補正値に基づいて補正し
処理する手段とより構成したものである。
検知器が安定するのに要する時間記憶装置への書き込み
を阻止する手段、被測定試料が測定位置に配置されてい
ない状態において波長走査を行つたときの参照光強度と
試料光強度との比に対応す・る補正値を前記記憶装置に
書き込む手段、前記被測定試料を測定装置に配置した後
に波長走査を行つたときの参照光強度と試料光強度との
比に対応する測定信号をこの測定信号の波長に対応して
前記記憶装置から読み出された補正値に基づいて補正し
処理する手段とより構成したものである。
本発明の実施例の説明に先だつて、参照光強度と試料光
強度との不平衡を測定波長に対応して補正すべく本発明
者が試みた二光束分光光度計の一例を説明する。
強度との不平衡を測定波長に対応して補正すべく本発明
者が試みた二光束分光光度計の一例を説明する。
第１図において、光源、分光器、試料室、検知器など（
図示していない）を含む分光光度計１の出力信号２２は
、切替器３がＲＥＡＤ側の場合は補正器５において、波
長駆動装置２からの波長信号２１に従つて測定波長に対
応した補正値１ｓ０／ＩＲＯを記憶装置４より読み出し
補正されて出力される。
図示していない）を含む分光光度計１の出力信号２２は
、切替器３がＲＥＡＤ側の場合は補正器５において、波
長駆動装置２からの波長信号２１に従つて測定波長に対
応した補正値１ｓ０／ＩＲＯを記憶装置４より読み出し
補正されて出力される。
補正値の記憶は、切替器３をＷＲＩＴＥ側にすることに
より、分光光度計１の出力信号２２が記憶装置４に送ら
れる。記憶装置４には波長駆動装置２からの波長信号２
１によつて波長に対応した補正値が書き込まれる。この
状態で波長駆動装置２を走査すれば、各波長毎の補正値
が書き込まれ記憶することができる。ここで、切替器３
がＲＥＡＤ側の場合の補正器５の補正演算は次のように
行われる。補正器５には記憶装置４からの補正値１ｓ０
／Ｉ恥と、分光光度計１の出力信号２２である補正前出
力１ｓ／ＩＢの２つの信号が入力される。補正器５では
両入力の除算演算を各波長に対応して演算し、補正後出
力（ｓ／ＩＲ）／（ＩｓＯ／ＩＲＯ）を出力する。補正
演算はこの他、記憶装置４に補正値の逆数ＲＯ／ＩＳＯ
を記憶しておき、補正器５にて乗算を行うよえにしても
よい。また、試料の透過率Ｔ（試料光強度１ｓと参照光
強度１Ｒの比ｓ／Ｒ）でなく、吸光度Ａ（Ａ＝−ＬＯｇ
Ｔ）を取扱う分光光度計の場合は、記憶装置４には補正
値として吸光度Ａ。＝−ＬＯｇ（ＩｓＯ／ＩＢＯ）が記
憶され、補正前出力としてＡ＝−ＬＯｇ（Ｉｓ／ＩＲ）
が入力され、補正器５の演算は両入力の差演算、即ち、
Ａ−ＡＯ一｛−ＬＯｇ（Ｉｓ／ＩＲ）｝−｛−ＬＯｇＯ
ｓＯ／１Ｒ０）＝一ＬＯｇ｛（１８／ＩＲ）／（ＩｓＯ
／ＩＲＯ）｝が行われる。
より、分光光度計１の出力信号２２が記憶装置４に送ら
れる。記憶装置４には波長駆動装置２からの波長信号２
１によつて波長に対応した補正値が書き込まれる。この
状態で波長駆動装置２を走査すれば、各波長毎の補正値
が書き込まれ記憶することができる。ここで、切替器３
がＲＥＡＤ側の場合の補正器５の補正演算は次のように
行われる。補正器５には記憶装置４からの補正値１ｓ０
／Ｉ恥と、分光光度計１の出力信号２２である補正前出
力１ｓ／ＩＢの２つの信号が入力される。補正器５では
両入力の除算演算を各波長に対応して演算し、補正後出
力（ｓ／ＩＲ）／（ＩｓＯ／ＩＲＯ）を出力する。補正
演算はこの他、記憶装置４に補正値の逆数ＲＯ／ＩＳＯ
を記憶しておき、補正器５にて乗算を行うよえにしても
よい。また、試料の透過率Ｔ（試料光強度１ｓと参照光
強度１Ｒの比ｓ／Ｒ）でなく、吸光度Ａ（Ａ＝−ＬＯｇ
Ｔ）を取扱う分光光度計の場合は、記憶装置４には補正
値として吸光度Ａ。＝−ＬＯｇ（ＩｓＯ／ＩＢＯ）が記
憶され、補正前出力としてＡ＝−ＬＯｇ（Ｉｓ／ＩＲ）
が入力され、補正器５の演算は両入力の差演算、即ち、
Ａ−ＡＯ一｛−ＬＯｇ（Ｉｓ／ＩＲ）｝−｛−ＬＯｇＯ
ｓＯ／１Ｒ０）＝一ＬＯｇ｛（１８／ＩＲ）／（ＩｓＯ
／ＩＲＯ）｝が行われる。
記憶装置４としては、例えばＲＡＭ（ＲａｎｄＯｍＡｃ
ｃｅｓｓＭｅｍＯｒｙ）等が使用されるｏしかしながら
このような装置の欠点としては、記憶装置４として揮発
性のものを使用した場合には、電源を遮断するたびに補
正値が消えてしまうため、電源投入のたびに試料測定に
先立つて操作者が切替器３を操作して波長走査を行い、
記憶装置４への補正値の書き込みを行わねばならないと
いう面倒がある。一方、不揮発性の記憶装置を使つたと
しても、参照光強度と試料光強度の比は経年変化により
変わつていくので、１田こ１回程度補正値の内容を更新
する必要がある。しかしながら、補正値の書き込みを操
作者の判断に頼る場合１こは、例えば電源投入直後光源
などが安定した動作に入る以前に補正値の書き込みを行
うことにより、正しい補正が行われないなどの誤りを生
ずる可能性がある。本発明の望ましい一実施例によれば
分光光度計への電源投入後、光源あるいは検知器などの
動作が安定するのを待つて、試料測定に先立ち、自動的
に波長走査を行い、各波長における参照光強度と試料光
強度の比を調べ記憶装置に書き込むようにした二光束分
光光度計が提供される。
ｃｅｓｓＭｅｍＯｒｙ）等が使用されるｏしかしながら
このような装置の欠点としては、記憶装置４として揮発
性のものを使用した場合には、電源を遮断するたびに補
正値が消えてしまうため、電源投入のたびに試料測定に
先立つて操作者が切替器３を操作して波長走査を行い、
記憶装置４への補正値の書き込みを行わねばならないと
いう面倒がある。一方、不揮発性の記憶装置を使つたと
しても、参照光強度と試料光強度の比は経年変化により
変わつていくので、１田こ１回程度補正値の内容を更新
する必要がある。しかしながら、補正値の書き込みを操
作者の判断に頼る場合１こは、例えば電源投入直後光源
などが安定した動作に入る以前に補正値の書き込みを行
うことにより、正しい補正が行われないなどの誤りを生
ずる可能性がある。本発明の望ましい一実施例によれば
分光光度計への電源投入後、光源あるいは検知器などの
動作が安定するのを待つて、試料測定に先立ち、自動的
に波長走査を行い、各波長における参照光強度と試料光
強度の比を調べ記憶装置に書き込むようにした二光束分
光光度計が提供される。
従つて、操作者が装置の電源投入のたびに書き込むため
の操作を行う面倒を排除することができると共に、安定
な補正値を得ることができる利点が得られる。第２図は
、本発明の一実施例を示す図であり、電源投入検知器１
０で装置の電源が投入されたことを検知して遅延器９に
信号を送る。遅延器９は、電源投入検知器１０からの信
号を受け取つた後、装置が安定するのに要する時間の経
過を待つて、書き込み指令発生装置８をトリカーする。
トリカーされた書き込み指令発生装置８は、波長駆動装
置２に走査指◆を与えて波長走査を行わせると共に、切
替器３を動作させてＷＲＩＴＥ側にする。これによつて
各波長毎の補正値１ｓ０／ＩＲＯを記憶装置４に記憶さ
せることができる。電源投入検知器１０は、例えば第３
図のようにフリツプフロツプ１１を用いて実現すること
ができる。即ち、フリツプフロツプ１１のＳ端子は、電
源投入後抵抗ＲとコンデンサＣによつて定まる時定数に
より、アーイ電位から＋Ｖ電位へ徐々に上昇する。この
ためフリツプフロツプの状態は、電源投入直後常にセツ
トされるので、出力Ｑは必らず１となる。Ｒ端子のスイ
ツチ１２は、例えば記憶装置の書き込みが終了した後投
入することによつてフリツプフロツプの状態を変え、切
替器３をＲＥＡＤ側にして試料測定状態にすることがで
きる。切替器３はリレーを用い、また遅延器９、書き込
み指令発生装置８は、公知の回路技術を用いて容易に実
現できるので、詳細は省略する。〔発明の効果〕 以上のように本発明によれば、必ず装置が安定な状態に
おいて補正値の書き込みが行われるので、参照光光路と
試料光光路との光路の違いに基づく波長依存性を常に適
切に補正することができる。
の操作を行う面倒を排除することができると共に、安定
な補正値を得ることができる利点が得られる。第２図は
、本発明の一実施例を示す図であり、電源投入検知器１
０で装置の電源が投入されたことを検知して遅延器９に
信号を送る。遅延器９は、電源投入検知器１０からの信
号を受け取つた後、装置が安定するのに要する時間の経
過を待つて、書き込み指令発生装置８をトリカーする。
トリカーされた書き込み指令発生装置８は、波長駆動装
置２に走査指◆を与えて波長走査を行わせると共に、切
替器３を動作させてＷＲＩＴＥ側にする。これによつて
各波長毎の補正値１ｓ０／ＩＲＯを記憶装置４に記憶さ
せることができる。電源投入検知器１０は、例えば第３
図のようにフリツプフロツプ１１を用いて実現すること
ができる。即ち、フリツプフロツプ１１のＳ端子は、電
源投入後抵抗ＲとコンデンサＣによつて定まる時定数に
より、アーイ電位から＋Ｖ電位へ徐々に上昇する。この
ためフリツプフロツプの状態は、電源投入直後常にセツ
トされるので、出力Ｑは必らず１となる。Ｒ端子のスイ
ツチ１２は、例えば記憶装置の書き込みが終了した後投
入することによつてフリツプフロツプの状態を変え、切
替器３をＲＥＡＤ側にして試料測定状態にすることがで
きる。切替器３はリレーを用い、また遅延器９、書き込
み指令発生装置８は、公知の回路技術を用いて容易に実
現できるので、詳細は省略する。〔発明の効果〕 以上のように本発明によれば、必ず装置が安定な状態に
おいて補正値の書き込みが行われるので、参照光光路と
試料光光路との光路の違いに基づく波長依存性を常に適
切に補正することができる。
第１図は本発明に到達するために本発明者が試みた二光
束分光光度計の機能図、第２図は本発明による二光束分
光光度計の一実施例を示す機能図、第３図は本発明の一
部の具体例を示す回路図である。 １・・・・・・分光光度計、２・・・・・・波長駆動装
置、３・・・・・・切替器、４・・・・・・記憶装置、
５・・・・・・補正器、８・・・・・・書き込み指◆発
生装置、９・・・・・・遅延器、１９・・・・・・電源
投入検知器、１１・・・・・・フリツプフロツプ。
束分光光度計の機能図、第２図は本発明による二光束分
光光度計の一実施例を示す機能図、第３図は本発明の一
部の具体例を示す回路図である。 １・・・・・・分光光度計、２・・・・・・波長駆動装
置、３・・・・・・切替器、４・・・・・・記憶装置、
５・・・・・・補正器、８・・・・・・書き込み指◆発
生装置、９・・・・・・遅延器、１９・・・・・・電源
投入検知器、１１・・・・・・フリツプフロツプ。
Claims (1)
- １ 電源投入後光源および検知器が安定するのに要する
時間記憶装置への書込みを阻止する手段、被測定試料が
測定位置に配置されていない状態において波長走査を行
つたときの参照光強度と試料光強度との比に対応する補
正値を前記記憶装置に書き込む手段、前記被測定試料を
測定位置に配置した後に波長走査を行つたときの参照光
強度と試料光強度との比に対応する測定信号をこの測定
信号の波長に対応して前記記憶装置から読み出された補
正値に基づいて補正し処理する手段とより構成したこと
を特徴とする二光束分光光度計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51008518A JPS5933204B2 (ja) | 1976-01-30 | 1976-01-30 | 二光束分光光度計 |
| US05/760,130 US4176957A (en) | 1976-01-30 | 1977-01-17 | Method and apparatus for optically analyzing specimen by using two light beams |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51008518A JPS5933204B2 (ja) | 1976-01-30 | 1976-01-30 | 二光束分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5292775A JPS5292775A (en) | 1977-08-04 |
| JPS5933204B2 true JPS5933204B2 (ja) | 1984-08-14 |
Family
ID=11695354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51008518A Expired JPS5933204B2 (ja) | 1976-01-30 | 1976-01-30 | 二光束分光光度計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4176957A (ja) |
| JP (1) | JPS5933204B2 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4293222A (en) * | 1978-02-27 | 1981-10-06 | Baxter Travenol Laboratories, Inc. | Control apparatus for spectrophotometer |
| JPS54158288A (en) * | 1978-06-05 | 1979-12-13 | Hitachi Ltd | Spectroscopic fluorescent photometer |
| DE2950105C2 (de) * | 1979-12-13 | 1982-05-19 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Atomabsorptionsspektrometer mit verschiedenen, wahlweise einsetzbaren Atomisierungsvorrichtungen |
| JPS56122936A (en) * | 1980-02-29 | 1981-09-26 | Shimadzu Corp | Reflection factor measuring device |
| US4322807A (en) * | 1980-03-07 | 1982-03-30 | The Perkin-Elmer Corporation | Safe memory system for a spectrophotometer |
| US4332470A (en) * | 1980-03-07 | 1982-06-01 | The Perkin-Elmer Corporation | Spectrophotometer system having power line synchronization |
| US4733965A (en) * | 1980-11-10 | 1988-03-29 | Burroughs Wellcome Co. | Automated system for spectro-photometric analysis of liquids |
| US4412744A (en) * | 1981-06-01 | 1983-11-01 | E. I. Du Pont De Nemours & Co. | Absolute spectrophotometer |
| JPS58111728A (ja) * | 1981-12-25 | 1983-07-02 | Chino Works Ltd | 光学的測定装置 |
| GB2113831B (en) * | 1982-01-19 | 1985-10-02 | Philips Electronic Associated | Method of analysis using atomic absorption spectrophotometry |
| US4449821A (en) * | 1982-07-14 | 1984-05-22 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process colorimeter |
| EP0176826A3 (en) * | 1984-09-24 | 1987-09-02 | Kollmorgen Technologies Corporation | Method and apparatus for dual-beam spectral transmission measurements |
| US4841140A (en) * | 1987-11-09 | 1989-06-20 | Honeywell Inc. | Real-time color comparator |
| WO2003034032A2 (en) * | 2001-10-18 | 2003-04-24 | Cargill Robert L | Method and apparatus for quantifying an 'integrated index' of a material medium |
| US7268881B2 (en) * | 2004-02-17 | 2007-09-11 | The Curators Of The University Of Missouri | Light scattering detector |
| US7262844B2 (en) * | 2005-01-13 | 2007-08-28 | The Curators Of The University Of Missouri | Ultrasensitive spectrophotometer |
| US7903252B2 (en) * | 2005-01-13 | 2011-03-08 | The Curators Of The University Of Missouri | Noise cancellation in fourier transform spectrophotometry |
| WO2009152321A1 (en) * | 2008-06-11 | 2009-12-17 | The Curators Of The University Of Missouri | Liquid chromatography detector and flow controller therefor |
| JP5516486B2 (ja) * | 2011-04-14 | 2014-06-11 | 株式会社島津製作所 | 分光測定装置及びプログラム |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3646331A (en) * | 1970-09-03 | 1972-02-29 | Kollmorgen Corp | Automatic 100{11 line adjustment of spectrophotometers |
| US3681577A (en) * | 1970-10-30 | 1972-08-01 | Technicon Instr | Automatic calibration apparatus |
| US3734621A (en) * | 1971-12-06 | 1973-05-22 | Hewlett Packard Co | Spectrophotometer utilizing memory storage calibration techniques |
-
1976
- 1976-01-30 JP JP51008518A patent/JPS5933204B2/ja not_active Expired
-
1977
- 1977-01-17 US US05/760,130 patent/US4176957A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4176957A (en) | 1979-12-04 |
| JPS5292775A (en) | 1977-08-04 |
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