JPS5935169B2 - コンデンサ - Google Patents
コンデンサInfo
- Publication number
- JPS5935169B2 JPS5935169B2 JP49113644A JP11364474A JPS5935169B2 JP S5935169 B2 JPS5935169 B2 JP S5935169B2 JP 49113644 A JP49113644 A JP 49113644A JP 11364474 A JP11364474 A JP 11364474A JP S5935169 B2 JPS5935169 B2 JP S5935169B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arsenic
- tantalum
- film
- substrate
- tantalum oxide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、誘電体として酸化タンタル膜を使用するコン
デンサの改良に関する。
デンサの改良に関する。
従来、酸化タンタル膜を誘電体として用いたコンデンサ
が広く使用されている。
が広く使用されている。
酸化タンタル膜は酸化アルミニウムや他の誘電体に較べ
て物理的にも化学的にも安定している。したがつて、得
られたコンデンサも他のコンデンサに較べて小形でかつ
勝れた特性を発揮する。しかし、このように勝れた特性
を発揮する酸化タンタル膜コンデンサにあつても、近年
の急速な技術進歩に追従するために現在以上の特性を発
揮し得るものゝ出現が強く望まれている。本発明はこの
ような事情に鑑みてなされたもので、その目的とすると
ころは、酸化タンタル膜の特徴を最大限に発揮し得ると
ともに全ての点において現存する酸化タンタル膜コンデ
ンサ以上の特性を発揮し得るコンデンサを提供すること
にある。
て物理的にも化学的にも安定している。したがつて、得
られたコンデンサも他のコンデンサに較べて小形でかつ
勝れた特性を発揮する。しかし、このように勝れた特性
を発揮する酸化タンタル膜コンデンサにあつても、近年
の急速な技術進歩に追従するために現在以上の特性を発
揮し得るものゝ出現が強く望まれている。本発明はこの
ような事情に鑑みてなされたもので、その目的とすると
ころは、酸化タンタル膜の特徴を最大限に発揮し得ると
ともに全ての点において現存する酸化タンタル膜コンデ
ンサ以上の特性を発揮し得るコンデンサを提供すること
にある。
以下、本発明の詳細を図示の実施例によつて説明する。
第1図において、図中1はガラス、シリコン、サファイ
ア、アルミナなどで形成された基板であり、この基板1
の上面には所定の厚みに含砒素タンタル膜2が陽極とし
て設けてある。
第1図において、図中1はガラス、シリコン、サファイ
ア、アルミナなどで形成された基板であり、この基板1
の上面には所定の厚みに含砒素タンタル膜2が陽極とし
て設けてある。
なお上記含砒素タンタル膜2の砒素含有量は0.8〜3
.0重量%である。しカルて、上記含砒素タンタル膜2
の上面には誘電体に供される含砒素酸化タンタル膜3が
形成されている。上記含砒素酸化タンタル膜3の砒素含
有量も0.8〜3.0重量%でかつ均一に含まれている
。そして、上記含砒素酸化タンタル膜3の上面にはニク
ロム合金、アルミニウム、タンタルなどの金属膜4が陰
極として設けられており、この金属膜4と前記含砒素タ
ンタル膜2とを電極にして使用に供されるようになつて
いる。なお図中5は絶縁体を示している。このように砒
素を0.8〜3.0重量%含有した含砒素酸化タンタル
膜3を誘電体として使用しているので、後述する実験結
果の如く単なる酸化タンタル膜やリンをドープした酸化
タンタル膜を誘電体として使用したものに較べて容量が
615〜915倍に、帥δが1/4〜1/2倍に、等価
直列抵抗が1/25〜2/15倍に、耐電圧が2〜3倍
に向上したコンデンサが得られる。
.0重量%である。しカルて、上記含砒素タンタル膜2
の上面には誘電体に供される含砒素酸化タンタル膜3が
形成されている。上記含砒素酸化タンタル膜3の砒素含
有量も0.8〜3.0重量%でかつ均一に含まれている
。そして、上記含砒素酸化タンタル膜3の上面にはニク
ロム合金、アルミニウム、タンタルなどの金属膜4が陰
極として設けられており、この金属膜4と前記含砒素タ
ンタル膜2とを電極にして使用に供されるようになつて
いる。なお図中5は絶縁体を示している。このように砒
素を0.8〜3.0重量%含有した含砒素酸化タンタル
膜3を誘電体として使用しているので、後述する実験結
果の如く単なる酸化タンタル膜やリンをドープした酸化
タンタル膜を誘電体として使用したものに較べて容量が
615〜915倍に、帥δが1/4〜1/2倍に、等価
直列抵抗が1/25〜2/15倍に、耐電圧が2〜3倍
に向上したコンデンサが得られる。
第2図は本発明の他の実施例を示すもので、第1図と同
一部分を同一符号で示してある。
一部分を同一符号で示してある。
したがつて、重複する部分の説明は省略する。この実施
例は陰極側の電極となる第1図に示した金属層膜1の代
りにグラファイト膜6と含砒素酸化タンタル膜3との間
に二酸化鉛膜Tを介在させるようにしたものである。こ
のように構成しても前記実施例と同様な効果が期待でき
る。なお、このようなコンデンサを製作するに当つては
、次のような手段を採用すれば効果的である。
例は陰極側の電極となる第1図に示した金属層膜1の代
りにグラファイト膜6と含砒素酸化タンタル膜3との間
に二酸化鉛膜Tを介在させるようにしたものである。こ
のように構成しても前記実施例と同様な効果が期待でき
る。なお、このようなコンデンサを製作するに当つては
、次のような手段を採用すれば効果的である。
すなわち砒素あるいはアルシン雰囲気中において、タン
タルをリアクティブスパッタして基板表面に含砒素タン
タル膜を形成する。このスパッタによつて形成された含
砒素タンタル膜には砒素が均一分布状態に含まれている
。次に上記含砒素タンタル膜の表面を陽極酸化などの酸
化手段によつて酸化させ所定の厚みの含砒素酸化タンタ
ル膜を形成し、この含砒素酸化タンタル膜を誘電体とし
て用いるようにすればよい。そして、上記のような一連
の製作過程における注意事項および条件を列挙すれば下
記の如くである。〔A〕 スパツタリング過程 (1)基板材 ホウケイ酸ガラス、サフアイア、シリコン、金、石英、
炭化ケイ素、アルミナ、窒化アルミニウムのセラミツタ
、ガラス、金属ポリイミド高分子フイルムなどが使用で
きる。
タルをリアクティブスパッタして基板表面に含砒素タン
タル膜を形成する。このスパッタによつて形成された含
砒素タンタル膜には砒素が均一分布状態に含まれている
。次に上記含砒素タンタル膜の表面を陽極酸化などの酸
化手段によつて酸化させ所定の厚みの含砒素酸化タンタ
ル膜を形成し、この含砒素酸化タンタル膜を誘電体とし
て用いるようにすればよい。そして、上記のような一連
の製作過程における注意事項および条件を列挙すれば下
記の如くである。〔A〕 スパツタリング過程 (1)基板材 ホウケイ酸ガラス、サフアイア、シリコン、金、石英、
炭化ケイ素、アルミナ、窒化アルミニウムのセラミツタ
、ガラス、金属ポリイミド高分子フイルムなどが使用で
きる。
(2)雰囲気
(a)砒素、アルシンまたはこれらの混合気体雰囲気、
(b)砒素またはアルシンを含むアルゴン、ネオンなど
の貴ガスの混合気体雰囲気、(c)砒素またはアルシン
を含む窒素、酸素、酸比窒素、硫酸ガス、アンモニア、
水蒸気および水素からなる混合気体雰囲気の何れかにお
いてタンタル金属を基板の表面にリアクテイブスパツタ
する。
(b)砒素またはアルシンを含むアルゴン、ネオンなど
の貴ガスの混合気体雰囲気、(c)砒素またはアルシン
を含む窒素、酸素、酸比窒素、硫酸ガス、アンモニア、
水蒸気および水素からなる混合気体雰囲気の何れかにお
いてタンタル金属を基板の表面にリアクテイブスパツタ
する。
このとき砒素またはアルシンの分圧を10−9〜10−
3t0rr好ましくは10−6〜10−4t0rrとす
る。その他のガスが含まれる場合はこれらのガス分圧を
お Cよそ10−7〜10−1t0rr好ましくは10
−5〜10−1t0rrとする。(3)陰極電圧 ー7000V〜−2000V1好ましくは一6000V
〜−3000Vとする。
3t0rr好ましくは10−6〜10−4t0rrとす
る。その他のガスが含まれる場合はこれらのガス分圧を
お Cよそ10−7〜10−1t0rr好ましくは10
−5〜10−1t0rrとする。(3)陰極電圧 ー7000V〜−2000V1好ましくは一6000V
〜−3000Vとする。
J(4)陽極電圧−500V〜300V,好
ましくは−200〜200Vとする。
ましくは−200〜200Vとする。
(5)陰極電流密度
基板の種類および表面状態により異なるが JO.Ol
〜50mA/Cft.好ましくは0.1〜1.0mA/
CTlとする。
〜50mA/Cft.好ましくは0.1〜1.0mA/
CTlとする。
(6)基板温度
基板の種類と表面状態の影響を受けるが
200〜1000℃、好しくは300〜600り℃とす
る。
る。
(7)焼鈍
スパツタリングのあと400〜600℃に20〜200
分間保持して行なう。
分間保持して行なう。
〔B〕 酸化膜形成過程(陽極酸化)
(1)化成液
水、亜硫酸アンモニア、エチレングリコール、アセトニ
トリル、エチレンカーボネート、ジメチルホルイアシド
、ジメチルスルホン、エチンアナシド、ヘキサメチルホ
スホルアシド、ジエチル硫酸、メチルピロリドン、氷醋
酸などの溶媒に、硫酸、リン酸などの鉱酸およびその塩
(ナトリウム、マグネシウム、ニツケル、スズ亜鉛、ク
ロム、アルミニウム、セリウム、トリウム、アンモニウ
ム、エチレンジアンモニウム、グアジニウム、テトラフ
エニルアルソニウム、ピリジニウムなどの塩)あるいは
醋酸クエン酸、アクリル酸、ベンゼンスルホン酸、フエ
ノールシアヌル酸、フエニルホスホン酸、サリチル酸、
エチルリン酸、テトラフルホウ素酸などの有機酸および
その塩、あるいはテトラフルオロホウ素酸、過塩素酸、
ヨウ酸、クロム酸、セレン酸、アルミン酸、過マンガン
酸、4ホウ酸、4チオン酸などの無機酸およびその塩な
どの電解質を溶解して得られる電解質溶液中または硝酸
カリウム、硝酸ソーダ、重硫酸リチウム、安息香酸テト
ラエチルアンモニウム、亜リン酸2水アンモニウム、ギ
酸アンモニウムなどの溶融塩液中に白金、タンタル、金
、ステンレススチールで作られた対極とともに浸漬し、
上記対極を陰極とし含砒素タンタル膜を陽極として化成
を行なう。
トリル、エチレンカーボネート、ジメチルホルイアシド
、ジメチルスルホン、エチンアナシド、ヘキサメチルホ
スホルアシド、ジエチル硫酸、メチルピロリドン、氷醋
酸などの溶媒に、硫酸、リン酸などの鉱酸およびその塩
(ナトリウム、マグネシウム、ニツケル、スズ亜鉛、ク
ロム、アルミニウム、セリウム、トリウム、アンモニウ
ム、エチレンジアンモニウム、グアジニウム、テトラフ
エニルアルソニウム、ピリジニウムなどの塩)あるいは
醋酸クエン酸、アクリル酸、ベンゼンスルホン酸、フエ
ノールシアヌル酸、フエニルホスホン酸、サリチル酸、
エチルリン酸、テトラフルホウ素酸などの有機酸および
その塩、あるいはテトラフルオロホウ素酸、過塩素酸、
ヨウ酸、クロム酸、セレン酸、アルミン酸、過マンガン
酸、4ホウ酸、4チオン酸などの無機酸およびその塩な
どの電解質を溶解して得られる電解質溶液中または硝酸
カリウム、硝酸ソーダ、重硫酸リチウム、安息香酸テト
ラエチルアンモニウム、亜リン酸2水アンモニウム、ギ
酸アンモニウムなどの溶融塩液中に白金、タンタル、金
、ステンレススチールで作られた対極とともに浸漬し、
上記対極を陰極とし含砒素タンタル膜を陽極として化成
を行なう。
(2)温度
一11〜300℃好ましくは50〜120℃とする。
(3)化成電流密度
100μ〜500mAA城好ましくは
500μ〜10mA//Cllとする。
(4)エージング時間
化成電圧×(0.7〜1.0)の電圧で30〜400分
間、好ましくは100〜200分間行なう。
間、好ましくは100〜200分間行なう。
(5)アニール処理
エージング後水洗いして酸素または空気雰囲気中で20
0〜350℃,100〜800t0rrの条件下に20
〜100分間加熱処理するとコンデンサに仕上げたとき
の電気的特性が向上する。
0〜350℃,100〜800t0rrの条件下に20
〜100分間加熱処理するとコンデンサに仕上げたとき
の電気的特性が向上する。
このような過程を得た後、含砒素酸化タンタル膜上にア
ルミニウム、タンタル、ニクロム合金、金、ニツケル、
スズ、銀、インジウム、グラフアイト、スズ鉛合金を蒸
着ないしはスパツタして電極用の金属膜を形成する。
ルミニウム、タンタル、ニクロム合金、金、ニツケル、
スズ、銀、インジウム、グラフアイト、スズ鉛合金を蒸
着ないしはスパツタして電極用の金属膜を形成する。
なお、含砒素酸化タンタル膜と電極用の金属膜との間に
二酸化マンガン、二酸化鉛、酸化銀、三二酸化ニツケル
、三二酸化タリウム、リン化アルミニウム、硫化カドミ
ウムなどの半導体層を介在させてもよい。電極用の金属
膜としては金属粉末を分散させたペーストを塗布し、こ
れを乾燥させたものを使用してもよい。次に本発明の主
旨に則つとつて形成されたコンデンサの実験例を説明す
る。
二酸化マンガン、二酸化鉛、酸化銀、三二酸化ニツケル
、三二酸化タリウム、リン化アルミニウム、硫化カドミ
ウムなどの半導体層を介在させてもよい。電極用の金属
膜としては金属粉末を分散させたペーストを塗布し、こ
れを乾燥させたものを使用してもよい。次に本発明の主
旨に則つとつて形成されたコンデンサの実験例を説明す
る。
実験例 1
アルミノボロシリケートガラスを基板として用い、この
基板のスライド表面を0.5d残し他の部分をレジスト
でマスクしたのち、スパツタ装置内に仕込み、装置内を
アルゴン雰囲気に置換し、その後微量のアルシンガスを
注入した。
基板のスライド表面を0.5d残し他の部分をレジスト
でマスクしたのち、スパツタ装置内に仕込み、装置内を
アルゴン雰囲気に置換し、その後微量のアルシンガスを
注入した。
アルシンガス分圧1×10−3t0rrに保ち、陰極電
圧−6000V1陽極電圧−200V1陰極電流密度0
.1mA/Cllt.基板温度300℃のスパツタ条件
下でタンタルをリアクテイブスパツタして基板表面に3
000λ厚の含砒素タンタル膜を形成させたのち、雰囲
気を1×10−4t0rrのアルゴン雰囲気に換え、続
いて基板温度を400℃に昇温させ200分間保持して
含砒素タンタル膜をアニール処理した。基板を徐冷した
のち、装置から取り出し、室温下で水酸化ナトリウム水
溶液中に浸漬してレジストを溶液除去した。次に基板を
50℃の1X10−2Mクエン酸水溶液に浸漬して含砒
素タンタル膜を陽極に対極の白金を陰極にして直流を5
00μAA?の定電流密度で印加し、両極間の電位差が
100Vに達するまで化成を施した。電位差が100V
に達してからこの電位差を100分間保持してエージン
グ処理した。工ージング処理後の含砒素酸化タンタル膜
の厚さは1900人であつた。エージングののち基板を
蒸留水で充分に洗浄し、続いて蒸着装置内に移して5×
10−4t0rrのアルゴン雰囲気中で200℃に予熱
し、1350℃で蒸発したニクロム合金を酸化タンタル
膜上に蒸着して2000λ厚のニクロム合金層を形成さ
せ、これを陰極となした。そして、上記陰極とタンタル
金属部とにリード線を取り付けて第1図に示したような
コンデンサを形成した。参考実験例 1 実験例1において使用したものと同じ基板を用い1X1
0−3t0rrのアルゴン雰囲気中で実験例1と同一条
件下に基板表面にタンタルをスパツタし、砒素を含まな
いタンタル膜を形成させたのち、50℃の8X10−3
Mリン酸に浸漬して実験例1と同一化成条件およびエー
ジング条件でタンタル膜表面部酸化タンタル膜を形成さ
せたのち同様にしてニクロム合金電極をつけてコンデン
サに仕上げた。
圧−6000V1陽極電圧−200V1陰極電流密度0
.1mA/Cllt.基板温度300℃のスパツタ条件
下でタンタルをリアクテイブスパツタして基板表面に3
000λ厚の含砒素タンタル膜を形成させたのち、雰囲
気を1×10−4t0rrのアルゴン雰囲気に換え、続
いて基板温度を400℃に昇温させ200分間保持して
含砒素タンタル膜をアニール処理した。基板を徐冷した
のち、装置から取り出し、室温下で水酸化ナトリウム水
溶液中に浸漬してレジストを溶液除去した。次に基板を
50℃の1X10−2Mクエン酸水溶液に浸漬して含砒
素タンタル膜を陽極に対極の白金を陰極にして直流を5
00μAA?の定電流密度で印加し、両極間の電位差が
100Vに達するまで化成を施した。電位差が100V
に達してからこの電位差を100分間保持してエージン
グ処理した。工ージング処理後の含砒素酸化タンタル膜
の厚さは1900人であつた。エージングののち基板を
蒸留水で充分に洗浄し、続いて蒸着装置内に移して5×
10−4t0rrのアルゴン雰囲気中で200℃に予熱
し、1350℃で蒸発したニクロム合金を酸化タンタル
膜上に蒸着して2000λ厚のニクロム合金層を形成さ
せ、これを陰極となした。そして、上記陰極とタンタル
金属部とにリード線を取り付けて第1図に示したような
コンデンサを形成した。参考実験例 1 実験例1において使用したものと同じ基板を用い1X1
0−3t0rrのアルゴン雰囲気中で実験例1と同一条
件下に基板表面にタンタルをスパツタし、砒素を含まな
いタンタル膜を形成させたのち、50℃の8X10−3
Mリン酸に浸漬して実験例1と同一化成条件およびエー
ジング条件でタンタル膜表面部酸化タンタル膜を形成さ
せたのち同様にしてニクロム合金電極をつけてコンデン
サに仕上げた。
このようにして、実験例1および参考実験例1で得られ
た2種類のコンデンサを分析した結果、前者の誘電体層
には0.8重量%の砒素が均一な分布状態に含有されて
いた。
た2種類のコンデンサを分析した結果、前者の誘電体層
には0.8重量%の砒素が均一な分布状態に含有されて
いた。
また後者の誘電体層には0.8重量%のリンが含まれて
いた。そして、両者の電気的特性は別表の通りであつた
。実験例 2 縦0.7cm1横0.7cm1厚さ0.5論のシリコン
単結晶ウエハを基板として用い、この基板をスパツタ装
置内に仕込み脱気し、続いて1×10−4t0rrの砒
素雰囲気にしたのち、陰極電圧一3000、陽極電圧2
00、陰極電流密度0.5mA/Crlts基板温度6
00℃のスパツタ条件下でタンタルをリアクテイブスパ
ツタして基板表面に2000λ厚の含砒素タンタル膜を
形成させたのち、基板温度を600℃に20分間保持し
て含砒素タンタル膜をアニール処理した。
いた。そして、両者の電気的特性は別表の通りであつた
。実験例 2 縦0.7cm1横0.7cm1厚さ0.5論のシリコン
単結晶ウエハを基板として用い、この基板をスパツタ装
置内に仕込み脱気し、続いて1×10−4t0rrの砒
素雰囲気にしたのち、陰極電圧一3000、陽極電圧2
00、陰極電流密度0.5mA/Crlts基板温度6
00℃のスパツタ条件下でタンタルをリアクテイブスパ
ツタして基板表面に2000λ厚の含砒素タンタル膜を
形成させたのち、基板温度を600℃に20分間保持し
て含砒素タンタル膜をアニール処理した。
次に基板の含砒素タンタル膜で被覆されていない部分を
レジストで絶縁したのち1×10−4M5ホウ酸アンモ
ニウムのエチレングリコール溶液に浸漬して90℃に加
熱したのち、含砒素タンタル膜を陽極、対極のグラフア
イトを陰極に定めて直流を10mA/CTlの定電流密
度で印加し、両極間の電位差が60Vに上昇するまで陽
極化成を施した、電位差が60Vに達してから電位差を
50に減じ、このま\200分間保つて含砒素酸化タン
タル膜をエージング処理した。形成された含砒素酸化タ
ンタル膜の厚さは1000Aであつた。続いて基板を1
30℃の0.02M過塩素酸第1鉛と0.2M過塩素酸
を含有するエチレングリコール溶液に浸ァ漬し、含砒素
タンタル金属を陽極に対極の白金を陰極に定めて直流を
50!IA/C7iの電流密度で印加し、100分間通
電して含砒素酸化タンタル膜の上にβ形二酸化鉛層を2
000への厚さに形成させた。続いて、レジストを溶解
除去し、二酸化鉛層上にグラフアイトのコロイド水溶液
を吹きつけて120℃で20分間焼付け、5000λ厚
のグラフアイト層を形成させた。次に上記グラフアイト
層を陰極とし含砒素タンタル金属層を陽極としてそれぞ
れリード線を取り付けたのち絶縁性樹脂をコーテイング
して第2図に示したようなコンデンサを形成した。参考
実験例 2 実験例2において使用したものと同じ基板を用い1×1
0−3t0rrのネオン雰囲気中で実験例2と同一スパ
ツタ条件下にタンタルをスパツタして基板表面に砒素を
含まない2000λ厚のタンタル膜を形成させたのち、
90℃の2Mヒ酸2水素アンモニウムのエチレングリコ
ール溶液に浸漬して実験例2と同じ条件で陽極化成およ
びエージングを行ない1000λ厚の酸化タンタル膜を
形成させ、続いて前記同様に二酸化鉛の電着、グラフア
イトの焼付けを行なつたのちコンデンサに仕上げた。
レジストで絶縁したのち1×10−4M5ホウ酸アンモ
ニウムのエチレングリコール溶液に浸漬して90℃に加
熱したのち、含砒素タンタル膜を陽極、対極のグラフア
イトを陰極に定めて直流を10mA/CTlの定電流密
度で印加し、両極間の電位差が60Vに上昇するまで陽
極化成を施した、電位差が60Vに達してから電位差を
50に減じ、このま\200分間保つて含砒素酸化タン
タル膜をエージング処理した。形成された含砒素酸化タ
ンタル膜の厚さは1000Aであつた。続いて基板を1
30℃の0.02M過塩素酸第1鉛と0.2M過塩素酸
を含有するエチレングリコール溶液に浸ァ漬し、含砒素
タンタル金属を陽極に対極の白金を陰極に定めて直流を
50!IA/C7iの電流密度で印加し、100分間通
電して含砒素酸化タンタル膜の上にβ形二酸化鉛層を2
000への厚さに形成させた。続いて、レジストを溶解
除去し、二酸化鉛層上にグラフアイトのコロイド水溶液
を吹きつけて120℃で20分間焼付け、5000λ厚
のグラフアイト層を形成させた。次に上記グラフアイト
層を陰極とし含砒素タンタル金属層を陽極としてそれぞ
れリード線を取り付けたのち絶縁性樹脂をコーテイング
して第2図に示したようなコンデンサを形成した。参考
実験例 2 実験例2において使用したものと同じ基板を用い1×1
0−3t0rrのネオン雰囲気中で実験例2と同一スパ
ツタ条件下にタンタルをスパツタして基板表面に砒素を
含まない2000λ厚のタンタル膜を形成させたのち、
90℃の2Mヒ酸2水素アンモニウムのエチレングリコ
ール溶液に浸漬して実験例2と同じ条件で陽極化成およ
びエージングを行ない1000λ厚の酸化タンタル膜を
形成させ、続いて前記同様に二酸化鉛の電着、グラフア
イトの焼付けを行なつたのちコンデンサに仕上げた。
このようにして、実験例2および参考実験例2によつて
得られたコンデンサを分析した結果、各コンデンサの誘
電体層すなわち酸化タンタル層には3.0重量%の砒素
が含まれていた。
得られたコンデンサを分析した結果、各コンデンサの誘
電体層すなわち酸化タンタル層には3.0重量%の砒素
が含まれていた。
また、それぞれの電気的特性は別表の通りであつた。実
験例 3 アルミナセラミツクを基板として用い、この基板の表面
を0.5C11P!.して他の部分をレジストで被覆し
たのちスパツタ装置内に仕込み、装置内をアルシンガス
分圧5×10−4t0rr1アンモニアガス分圧2×1
0−5t0rr1ホスフインガス分圧3×10−5t0
rrの混合ガス雰囲気で満した。
験例 3 アルミナセラミツクを基板として用い、この基板の表面
を0.5C11P!.して他の部分をレジストで被覆し
たのちスパツタ装置内に仕込み、装置内をアルシンガス
分圧5×10−4t0rr1アンモニアガス分圧2×1
0−5t0rr1ホスフインガス分圧3×10−5t0
rrの混合ガス雰囲気で満した。
次に陰極電圧−5000V1陰極電圧0V1陰極電流密
度1.0mA/CTL.基板温度450℃のスパツタ条
件下でタンタルをリアクテイブスパツタして基板表面に
3500八厚の砒素、リン、窒素を含む含砒素タンタル
膜を形成させたのち、基板を徐冷して装置から取り出u
室温下でレジストを溶解除去した。続いて基板を120
℃のギ酸アンモニウム溶塩に浸漬し、含砒素タンタル膜
を陽極とし、対極の白金を陰極として直流を2mA/C
7lの定電流密度で印加して陽極化成を施し、両極間の
電位差が120に上昇した時点で両極間の電位差を80
Vに減じ、120℃の溶融塩中に120分間保持してエ
ージングを施した。続いて、水洗、乾燥させた基板を5
50℃,800t0rrの空気雰囲気に移して30分間
アニール処理した。形成された含砒素酸化タンタル層の
厚さは2500λであつた。続いて室温まで徐冷したの
ぢ基板を蒸着装置内に移し、5×10′TOrrの砒素
雰囲気中で100℃に熱したのちアルミニウムを700
℃に加熱して蒸発させ、この蒸気を含砒素酸化タンタル
膜上に凝縮付着させた。そして、上記アルミニウム層を
陰極とし、タンタル金属層を陽極としてそれぞれにリー
ド線を取り付け第1図に示したようなコンデンサを仕上
げた。参考実験例 3 実験例3において使用したものと同じ基板を用い、この
基板の表面0.5dにホスフインガス分圧2×10−4
t0rr1アンモニウムガス分圧4×10−7TOrr
の混合ガス雰囲気中で実験例3と同一スパツタ条件下に
厚さ3500λのリン、窒素を含むタンタル膜を形成さ
せたのち、基板を120℃の4.5×101Mのヒ酸2
水素アンモニウムを溶存するギ酸アンモニウム溶融塩に
浸漬して実験例3と同じ化成条件で陽極化成を行ない、
さらに同じアニール処理を行ない、2500λ厚の含砒
素酸化タンタル層を形成させた。
度1.0mA/CTL.基板温度450℃のスパツタ条
件下でタンタルをリアクテイブスパツタして基板表面に
3500八厚の砒素、リン、窒素を含む含砒素タンタル
膜を形成させたのち、基板を徐冷して装置から取り出u
室温下でレジストを溶解除去した。続いて基板を120
℃のギ酸アンモニウム溶塩に浸漬し、含砒素タンタル膜
を陽極とし、対極の白金を陰極として直流を2mA/C
7lの定電流密度で印加して陽極化成を施し、両極間の
電位差が120に上昇した時点で両極間の電位差を80
Vに減じ、120℃の溶融塩中に120分間保持してエ
ージングを施した。続いて、水洗、乾燥させた基板を5
50℃,800t0rrの空気雰囲気に移して30分間
アニール処理した。形成された含砒素酸化タンタル層の
厚さは2500λであつた。続いて室温まで徐冷したの
ぢ基板を蒸着装置内に移し、5×10′TOrrの砒素
雰囲気中で100℃に熱したのちアルミニウムを700
℃に加熱して蒸発させ、この蒸気を含砒素酸化タンタル
膜上に凝縮付着させた。そして、上記アルミニウム層を
陰極とし、タンタル金属層を陽極としてそれぞれにリー
ド線を取り付け第1図に示したようなコンデンサを仕上
げた。参考実験例 3 実験例3において使用したものと同じ基板を用い、この
基板の表面0.5dにホスフインガス分圧2×10−4
t0rr1アンモニウムガス分圧4×10−7TOrr
の混合ガス雰囲気中で実験例3と同一スパツタ条件下に
厚さ3500λのリン、窒素を含むタンタル膜を形成さ
せたのち、基板を120℃の4.5×101Mのヒ酸2
水素アンモニウムを溶存するギ酸アンモニウム溶融塩に
浸漬して実験例3と同じ化成条件で陽極化成を行ない、
さらに同じアニール処理を行ない、2500λ厚の含砒
素酸化タンタル層を形成させた。
続いて、アルミニウムを含砒素酸化タンタル層上に蒸着
してコンデンサに仕上げた。このようにして、実験例3
および参考実験例3で得られた2種類のコンデンサを分
析した結果、それぞれの誘電体層には2.1重量%の砒
素が含まれていた。
してコンデンサに仕上げた。このようにして、実験例3
および参考実験例3で得られた2種類のコンデンサを分
析した結果、それぞれの誘電体層には2.1重量%の砒
素が含まれていた。
また、それぞれの電気的特性は別表の通りであつた。実
験例 4 サフアイアを基板として用い、この基板の表面を0.5
Cr1t8.し他の部分をレジストで被覆し、ニツケル
箔と一緒にスパツタ装置内に仕込んだ。
験例 4 サフアイアを基板として用い、この基板の表面を0.5
Cr1t8.し他の部分をレジストで被覆し、ニツケル
箔と一緒にスパツタ装置内に仕込んだ。
装置内を砒素ガス分圧4X10−5t0rr1アルシン
ガス分圧4×10−5t0rr1ヘリウムガス分圧1X
10−3t0rrに換気し、陰極電圧−4000V1陽
極電圧100、陰極電流密度0.7mA/d箔温度50
0℃のスパツタ条件下にタンタルをスパツタして基板表
面に厚さ2500λの含砒素タンタル膜を形成させた。
基板温度を500℃に保つたま\、1×10−3t0r
rのヘリウム雰囲気中でタンタル膜をアニール処理した
のち6『Cの2X10−3t0rrのヘリウム雰囲気中
でタンタル膜をアニール処理したのち60℃の2X10
−3M硫酸ナトリウム水溶液に浸漬し、タンタル層を陽
極とし、対極であるSUS27ステンレス鋼を陰極とし
て両極間に30mA/CTIの直流を印加して150分
間定電圧化成を行ない550λ厚の含砒素酸化タンタル
層を形成させた。次に基板をスパツタ装置内に移して予
め500℃,1×10−2t0rrのネオン雰囲気中で
30分間熱したのち、陰極電圧−500V1陽極電圧−
50V1陰極電流密度3mA/Cltのスパツタ条件で
タンタルをスパツタして含砒素酸化タンタル層上に20
00人厚のタンタル層を形成させ、500℃,1×10
−2t0rrのネオン雰囲気中に200分間保持させて
アニール処理を施したのち、レジストを取除いて内部の
タンタル金属層と表面のタンタル金属層とにリード線を
取り付けて第1図に示すような形の無極性コンデンサを
形成した。参考実験例 4 実験例4で使用したものと同じ基板を用いて同様にレジ
ストで被覆したのち、スパツタ装置内に仕込み、1×1
0−2t0rrのネオン雰囲気中で実験例4と同じスパ
ツタ条件でタンタルをスパツタして基板表面に厚さ25
00λのタンタル層を形成させたのち、60℃の2×1
0−3Mの硫酸ナトリウムと同濃度の亜ヒ酸ナトリウム
を溶かす水溶液に浸漬し、実験例4と同じ化成条件で化
成して酸化タンタル層を形成させたのち、同じスパツタ
条件でタンタルを酸化タンタル層上にスパツタし、これ
を電極として無極性のコンデンサを形成した。
ガス分圧4×10−5t0rr1ヘリウムガス分圧1X
10−3t0rrに換気し、陰極電圧−4000V1陽
極電圧100、陰極電流密度0.7mA/d箔温度50
0℃のスパツタ条件下にタンタルをスパツタして基板表
面に厚さ2500λの含砒素タンタル膜を形成させた。
基板温度を500℃に保つたま\、1×10−3t0r
rのヘリウム雰囲気中でタンタル膜をアニール処理した
のち6『Cの2X10−3t0rrのヘリウム雰囲気中
でタンタル膜をアニール処理したのち60℃の2X10
−3M硫酸ナトリウム水溶液に浸漬し、タンタル層を陽
極とし、対極であるSUS27ステンレス鋼を陰極とし
て両極間に30mA/CTIの直流を印加して150分
間定電圧化成を行ない550λ厚の含砒素酸化タンタル
層を形成させた。次に基板をスパツタ装置内に移して予
め500℃,1×10−2t0rrのネオン雰囲気中で
30分間熱したのち、陰極電圧−500V1陽極電圧−
50V1陰極電流密度3mA/Cltのスパツタ条件で
タンタルをスパツタして含砒素酸化タンタル層上に20
00人厚のタンタル層を形成させ、500℃,1×10
−2t0rrのネオン雰囲気中に200分間保持させて
アニール処理を施したのち、レジストを取除いて内部の
タンタル金属層と表面のタンタル金属層とにリード線を
取り付けて第1図に示すような形の無極性コンデンサを
形成した。参考実験例 4 実験例4で使用したものと同じ基板を用いて同様にレジ
ストで被覆したのち、スパツタ装置内に仕込み、1×1
0−2t0rrのネオン雰囲気中で実験例4と同じスパ
ツタ条件でタンタルをスパツタして基板表面に厚さ25
00λのタンタル層を形成させたのち、60℃の2×1
0−3Mの硫酸ナトリウムと同濃度の亜ヒ酸ナトリウム
を溶かす水溶液に浸漬し、実験例4と同じ化成条件で化
成して酸化タンタル層を形成させたのち、同じスパツタ
条件でタンタルを酸化タンタル層上にスパツタし、これ
を電極として無極性のコンデンサを形成した。
このようにして、実験例4および参考実験例4によつて
得られた2種類のコンデンサの電気的特性を調べたとこ
の下表の通りの結果を得た。
得られた2種類のコンデンサの電気的特性を調べたとこ
の下表の通りの結果を得た。
なお、測定値は全て、20℃,30%RE,印加直流1
0V1印加交流1V(Vベル)の条件下で求めた。上記
表からも明らかなように本発明コンデンサ(たとえば実
験例1,2,3,4)は、従来のコンデンサ(参考実験
例1但し2,3,4は含まれない。
0V1印加交流1V(Vベル)の条件下で求めた。上記
表からも明らかなように本発明コンデンサ(たとえば実
験例1,2,3,4)は、従来のコンデンサ(参考実験
例1但し2,3,4は含まれない。
)に較べてほゾ全ての点において勝れている。これは酸
化タンタル膜に含まれている砒素が有効に作用している
ものと思われる。なお、参考実験例2,3,4は本発明
に包含されるものであるが、製作過程の説明から明らか
なようにタンタル膜に陽極酸化を施すときに砒素をドー
ブするようにしているので酸化タンタル膜中の砒素の分
布が均一にならず、特性が若干悪くなつているのはこれ
が原因しているものと思われる。したがつて、実験例1
,2,3,4のようにタンタル膜形成時に砒素をドーブ
することが好ましい。さらに酸化タンタル膜中に含まれ
る砒素の量は0.8〜3,0重量%の範囲が効果的であ
り、この範囲外であるとそれ程効果は望めない。なお、
本発明はタンタルの焼結体箔線膜をそれぞれ基体とする
電解コンデンサにも応用できる。以上詳述したように本
発明によれば、勝れた特性を発揮し得る酸化タンタル膜
使用のコンデンサを提供できる。
化タンタル膜に含まれている砒素が有効に作用している
ものと思われる。なお、参考実験例2,3,4は本発明
に包含されるものであるが、製作過程の説明から明らか
なようにタンタル膜に陽極酸化を施すときに砒素をドー
ブするようにしているので酸化タンタル膜中の砒素の分
布が均一にならず、特性が若干悪くなつているのはこれ
が原因しているものと思われる。したがつて、実験例1
,2,3,4のようにタンタル膜形成時に砒素をドーブ
することが好ましい。さらに酸化タンタル膜中に含まれ
る砒素の量は0.8〜3,0重量%の範囲が効果的であ
り、この範囲外であるとそれ程効果は望めない。なお、
本発明はタンタルの焼結体箔線膜をそれぞれ基体とする
電解コンデンサにも応用できる。以上詳述したように本
発明によれば、勝れた特性を発揮し得る酸化タンタル膜
使用のコンデンサを提供できる。
第1図は本発明の一実施例の縦断面図、は本発明の他の
実施例の縦断面図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・含砒素タンタル膜
、3・・・・・・含砒素酸化タンタル膜、4・・・・・
・金属膜。
実施例の縦断面図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・含砒素タンタル膜
、3・・・・・・含砒素酸化タンタル膜、4・・・・・
・金属膜。
Claims (1)
- 1 砒素を0.8〜3.0重量%含有した酸化タンタル
膜で誘電体が形成されてなることを特徴とするコンデン
サ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP49113644A JPS5935169B2 (ja) | 1974-10-02 | 1974-10-02 | コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP49113644A JPS5935169B2 (ja) | 1974-10-02 | 1974-10-02 | コンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5140549A JPS5140549A (ja) | 1976-04-05 |
| JPS5935169B2 true JPS5935169B2 (ja) | 1984-08-27 |
Family
ID=14617455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP49113644A Expired JPS5935169B2 (ja) | 1974-10-02 | 1974-10-02 | コンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5935169B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5443178A (en) * | 1977-09-12 | 1979-04-05 | Hokusan Kk | Pressure changing adsorption separating method for mixed gas with adsorvent |
| JPS5443179A (en) * | 1977-09-12 | 1979-04-05 | Hokusan Kk | Adsobent regeneration method in pressure changing adsorption separating method for mixing gas with adsobent |
| US4561865A (en) * | 1983-11-01 | 1985-12-31 | Greene & Kellogg, Inc. | Single bed pressure swing adsorption gas separation system |
| JPS6115068A (ja) * | 1984-07-02 | 1986-01-23 | 大同酸素株式会社 | 高純度窒素ガス製造装置 |
| JPH0660436B2 (ja) * | 1986-03-28 | 1994-08-10 | ユ ツオン リユ | タンタル、ニオブまたはその合金製物品の保護膜およびその製法 |
| JPS63166702A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-09 | Osaka Oxygen Ind Ltd | 酸素ガス濃縮法 |
-
1974
- 1974-10-02 JP JP49113644A patent/JPS5935169B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5140549A (ja) | 1976-04-05 |
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