JPS58154221A - ニオブ電解コンデンサの製造方法 - Google Patents

ニオブ電解コンデンサの製造方法

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JPS58154221A
JPS58154221A JP3657082A JP3657082A JPS58154221A JP S58154221 A JPS58154221 A JP S58154221A JP 3657082 A JP3657082 A JP 3657082A JP 3657082 A JP3657082 A JP 3657082A JP S58154221 A JPS58154221 A JP S58154221A
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JP
Japan
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niobium
voltage
leakage current
capacitor
electrolytic capacitor
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JP3657082A
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English (en)
Inventor
泰周 木原
加納 二朗
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Toshiba Corp
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、ニオブ素体を用い友電解コンデンサの改嵐さ
れた製造方法に関する。
従来、塩化物を電解質とする電解質溶液中でニオブ素体
を陽極酸化して誘電体層を形成させ九ものである。
〔従来技術とその間電点〕
従来の製造方法においては、ニオブ電解コンデンサの誘
電体層はホウ酸塩、リン酸塩、硫酸塩。
クエン酸塩などを電解質とする電解質溶液中でニオブ素
体を陽極酸化することによ抄形成されていえ。こうして
得られ九陽極酸化皮膜で被れたニオブ素体は適桶な電解
質溶液で満九されたコンデンナ容器内に適当な対極(陰
極)とともに(必要な場合はスペーサを介して)収容さ
れたのち、ニオブ陽極と陰極間に陽極酸化時の化成電圧
に等しいか、もしくはこれより低い直流電圧を印加して
エージング処理を施し、しかるのちコンデンサに仕上げ
られてい丸。
従来の製法により製造され九ニオ゛プ電解コンデンサに
おいて、作動可能な電圧領域全体に痕って漏れ電流が大
きく、かつ印加電圧に対する漏れ電流の1加が著しいた
めに定格電圧をサージ電圧に較べて著しく低くしなけれ
ばならない欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明は、上記の従来の製法によ抄製造され九ニオブ電
解コンデンサの欠点を改善することを目的とし、その4
11徴はニオブ素体を塩化物電解質水#液中で陽m酸化
して、ニオブ素体表面Vcll電体層を形成し九のち酸
化性雰囲気中でアニール処理してから電解コンデンサを
構成するところにある〔発明の概要〕 本発明の製法によって製造したコンデンサ線従来の製法
により構造したコンデンサに比べて、印加電圧の変化に
対する漏れ電流の変化が小さい領域、すなわち漏れ電流
が印加電圧に比例して増加するいわゆるオームの法則に
従う領域が著しく広く、この領域のあとに顕れゐ漏れ電
流が印加電圧の上昇に従って急激に増加する領域、すな
わちプール・フレンケルの法則にしたがう領域が非常に
狭いという特長を持っている。□・ したがってI!東の場合よりもコンデンサの定格電圧1
<等しいす−ジ電圧に対して)著しく高く定めることが
できる。
例を用いて発明の効果を具体的−示せば、図1にみられ
るように、従来の製法によるコンデンサ(参照例)では
、漏れ電流がオームの法則に従う領域は化成電圧(サー
ジ電圧)のおよそ115の電圧までの極めて狭い領域で
ある。
一方、本発明の製法によるコンデンサ(実施例)の漏れ
電流がオームの法則に従って流れる領域社化成電圧(サ
ージ電圧)のおよそv5からv5以上の電圧まで及ぶ非
常に広い範囲を占める。
さらにオームの法則領域における漏れ電流の印加電圧に
対する勾配も、従来の製法によるコンデンサの場合に比
べて非常に小さく、図にみられるように1720−1/
4倍の小ささであり、印加電圧の増大に伴う漏れ電流の
増加が極めて小さいことを示している。
ニオブ素体ぼ箱、状、HA状、焼結体状、スパッタ膜状
、蒸着膜状のいφれの形状でも用いることができる。
ニオブ素体の陽極酸化は塩化水素、アルカリ金属塩化物
、アルカリ土類金属塩化物、アンモニウムおよび第一級
、第二級、第三級、第四級オルガノアンモニウムの塩化
−,鉄族金属塩化愉、亜鉛族金属塩化物、アル1−ラム
金属塩化物およびクロム、マ/ガ/などの遷移金属珈化
吻、および遷移金属のクロロ錯塩の水溶液中で行う。
これらの塩化物電解質の練直は温度、化成電流vli度
、度数化成電圧考慮して選ばれるが、その有効範囲は塩
素イオン濃度で2〜25?・1 ov’−8である。
なお2?・i ovJ以下の場合は漏れ電R特性の改善
は望めず、を九25f弓0ν1以上の場合はコンデ/l
の容量特性が非常に悪くなる。
11度は溶液の塩素イオンam、化成電流密度。
シ/チレーシ瑳ン電圧などを考慮に入れて一15〜10
0cの範囲内で選ばれる。
化成電滝書度は漏れ電流特性にあt抄影畳を及はさない
。
化成電圧は漏れ電流特性に顕著な影響を及埋し、シンチ
レーシ冒ン電圧以下では化成電圧が高いはど麹れ電l!
IIC%性はよくなる。しかし、シンチレーシ冒ン電圧
を越えると逆に著しく悪くなる。
アニールは通常酸素雰囲気、酸素と窒素の混合ガス雰囲
気、酸素と貴ガスの混合ガス雰囲気中で行なうが一酸化
窒素、二酸化窒素、塩素などの酸化性ガス雰囲気中でも
行なうことができる。しかし水素などの遷元性ガス雰囲
気中や真空中で行なうむとはで亀ない。遷元性ガス雰囲
気中および真空中でのアニールは酸化皮膜の漏れ電流を
逆に増大させてしまう。
アニール温度は3ON00Cの範囲が好ましく、aoo
c以下ではアニールの効果が#1とんど顕れず、ま九5
oor以上では酸化皮膜の結晶化などによって逆lIc
1Iれ電流の増大をまねくので好ましくない。
アニール時間は温度が高いときは短く、温度が低いと勤
は長くなるのは轟然であるが、5oocのと龜は5分@
度、700G Oときは10分m度、6001:’のと
きは20分Ii度、goorのとき紘4o分程度、40
0tノと龜は70分程度、300C12)ときは120
分程変度適轟である。
次に行われるエージングは濃い塩化物f#液液中社行う
ことができ危い。エージングはハロゲンイオンが含まれ
ないか含まれていてもその濃度が10  ?・+ o 
JtJ以下の電解質溶液中で行わなければならない。エ
ージングに際して印加する直流電圧は化成電圧に等しい
かもしくはそれ以下の電圧であり、印加時間と温度は従
来と変らない。
エージング工程以後の電解コンデンサを製造するに!A
って必要な緒技術はすべて従来の技術が適用される。
本発明に係わるニオブ電解コンデンサの構造は箔形、ス
パッタ膜および蒸着膜形、焼結体および1形のそれぞれ
の場合次のようになる。
(1)  膜形コンデンサ ニオブ箔の全面に酸化皮膜を形成させたのちイオン透過
性の多孔質隔膜をはさんで陰極となる適当な金鵬箔と重
巻きにして適当な電解質溶液を含浸させ九のち、同じ電
解質溶液で構えされ九適当な容器に収−し、リードを取
出1て密封する。
(−)  スパッタ膜および蒸着膜形コンデンサ基板の
両面にニオブをスパッタリングまたは蒸着してからニオ
ブ膜表面に酸化皮膜を形成させ九のちイオン透過性多孔
質11M膜をはさんで111i憔となる適当な金楓箔と
積層して適当な電解JXX液液含浸させ九のち、同じ電
解質溶液で満たされた迩轟な容器に収幽し、リード取出
して密封する。
(iM)  焼結体および線形コンデンサ二オブ焼結体
または巻線の全表面に酸化皮膜を形成させて、適当な電
解質溶液を含浸させ九のち、同じ電解質溶液で満たされ
た陰極を兼ねる適当な金属缶に酸化皮膜が缶と接触しな
いように収缶し、陽極リードを取出して密封する。
〔発明の実施例〕
次に本発−を実施例によ#)説明する。
寸法、巾2.Ocm 、畏さ25.□z、厚さ205m
の純度99.985重量−のニオブ箔を脱m後、7M畝
性フッ化アン%ニウム水溶液を用いて表面処理したのち
、次の要領で、化成してニオブ表向に1lil他酸化皮
膜を形成させた。  4); 実施例1 : 25Cの11.0M @ @ (CJ漬
度11r・Ion/看)中にニオブ箔を浸漬してS他と
なし、対極として白金極を浸漬したのち、両極間に電流
VVfJ[2,5mA/dの直流を印加して両極間の電
位差が50Vに適するまで陽ti酸化した。
ついで次の要領で陽極酸化皮膜にアニール処理を施した
。
試料m : 5oorの空気中で5分処理し九試料b 
: 700Cの空気中で10分処理し九試料c : 5
00Cの空気中で40分処理した試料d : 300C
’の空気中で120分処理した賦科@ニアニール処履せ
ず 実施例2ニア0Uの7.OM塩塩化アン−ニウム水溶液
四−1濃度7t・ionβ)中にニオブ箔を浸漬して陽
極となし、対極として白金極を浸漬したのち、両極間に
電流密JlLOm齢省の直流を印加して両極間の電位差
がSOY K達する壕で陽極鹸化し九。
ついで次の要領で陽極酸化皮膜にアニール処理を施し喪
。
試料y : 5oocの空気中で5分処理し廠試料Gニ
アニール処理せず 実施例3 : IOGの4.S MtJi化≠ドリグム
水溶液(0−濃度4.5t・tov’J 、)中にニオ
ブ箔を浸漬して陽極となし、対極として白金極を浸漬し
たのち、両極間に電流密度4.0mA/dの直流を印加
して、両極間の電位差が50Vに達するまで陽極酸化し
た。
ついで、次の要領で陽極酸化皮膜にナニール処゛理を施
した。
試料H: 800Cの空気中で5分処理し九試料■ニア
ニール処理せず 実施例4 : 100Cの1.0M塩化カルシウム水溶
液(Q″″濃度2.01i o Q/J )中にニオブ
箔を浸漬して陽極となし、対極として白金極を浸漬した
のち、両極間に電流密度0.5mA/a11の直流を印
加して両極、  間の電位差が50Vに達するまで陽極
酸化した。
ついで次の要領で陽極酸化皮膜にアニール処理を施し友
。
試料J : 800Cの空気中で5分処理した試料にニ
アニール処理せず 壕九従来のニオブ電解コンデンサを代表する参照試料と
して、次の要領でニオブ表面に五酸化ニオブ膜を形成さ
せた。すなわち参照試料=25cの0.5Mホウ酸アン
モニウム水溶液中に、ニオブ箔を浸漬して陽極となし、
対極として白金極を浸漬したのち両極間に電流密度1.
0−ム/−の直流を印加して両極間の電位差がSOVに
達するまで陽極酸化した。
ついで次の要領で、得られた酸化皮膜にアニール処理を
施した。
参照試料1 : 800Cの空気中で5分処理参照試料
2ニアニール処理せず 以上1311の試料をそれぞれ別個に25Cの0.5M
五ホウ酸アンモニウム水溶液に浸漬して白金極を対極(
陰極)として両極間に50vの直流を印加し、2.5時
間保持してエージング(再化成)処理を施した。
しかるのち、それぞれの試料箔に、巾2.03.長さ2
5LO3、厚さ50−の低書直りラフF紙(アルミ電解
コンデンサ用)を介して、中2.Otx 、長さ2!L
O1、厚さ10縛の純* 99.99重量−のスズ#i
t重ね′1: て、円筒状に巻いてコンデンサ素子を作成し友。
でき上つ九13個のコンデンサ素子を2M五ホウ酸アン
モニクム・エチレングリコール溶液に浸けて、素子全体
に五ホウ酸アンモニウム・エチレングリコール溶液を減
圧下に含浸させ丸。含浸後円筒形のプラスチック製答器
に収−して2M五ホウ酸アンモニウム・エチレングリコ
ール#液で満したのちリードを取出して密封した。
しかして、本発明の実施例に当る11鴇類のコンデンサ
と従来のニオブ電解コンデンサに相当する参照例の2種
類のコンデンサ、計13個のコンデンサを製造した。
次に、13種類のコンデンサの漏れ電1%E%性を比軟
するために、25C下で50Vの直流正バイアスを印加
して一昼夜エージングしたのち、1h」じ25C下で所
定の直流正バイアスを印加して、コンデンサの両端子間
を流れる電流が完全に一定になったと1の電流値を漏れ
電流として、印加電圧に対してプロットした。その結果
を図1および図2に図8L“・    1(i 〔発明の効果〕 図にみられるように本発明のニオブ電解コンデンサは漏
れ電流特性において従来のものに比べて著しく優れてい
る。
によりm造しえニオブ電解コンデンサの漏れ電流の印加
電圧に対する変化を示す一線図である。
代理人弁理土 則近憲佑(ほか1名) 第  1  図 卵mt五(v)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ニオブ電解コンデンサの製造方法において、2−25P
    −iiの鑓の塩素イオン、を含む塩化物電解質水溶液中
    でニオブ素体を陽極酸化し九のち空気。 酸素などの酸化性tS気中でアニール処理し、さらに1
    0′″JFioa/J以上のハロゲンイオンを含まない
    電解質溶液中で適当な対極(、陰極)間に陽極酸化時の
    化成電圧に等しいかもしくはこれより低い直流電圧を印
    加、エージング処理を施し、しかるのち電解コンデンサ
    に仕上げることをq#徴とするニオブ電解コンデンサの
    製造方法。
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