JPS58154221A - ニオブ電解コンデンサの製造方法 - Google Patents
ニオブ電解コンデンサの製造方法Info
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- JPS58154221A JPS58154221A JP3657082A JP3657082A JPS58154221A JP S58154221 A JPS58154221 A JP S58154221A JP 3657082 A JP3657082 A JP 3657082A JP 3657082 A JP3657082 A JP 3657082A JP S58154221 A JPS58154221 A JP S58154221A
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- Japan
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- niobium
- voltage
- leakage current
- capacitor
- electrolytic capacitor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、ニオブ素体を用い友電解コンデンサの改嵐さ
れた製造方法に関する。
れた製造方法に関する。
従来、塩化物を電解質とする電解質溶液中でニオブ素体
を陽極酸化して誘電体層を形成させ九ものである。
を陽極酸化して誘電体層を形成させ九ものである。
従来の製造方法においては、ニオブ電解コンデンサの誘
電体層はホウ酸塩、リン酸塩、硫酸塩。
電体層はホウ酸塩、リン酸塩、硫酸塩。
クエン酸塩などを電解質とする電解質溶液中でニオブ素
体を陽極酸化することによ抄形成されていえ。こうして
得られ九陽極酸化皮膜で被れたニオブ素体は適桶な電解
質溶液で満九されたコンデンナ容器内に適当な対極(陰
極)とともに(必要な場合はスペーサを介して)収容さ
れたのち、ニオブ陽極と陰極間に陽極酸化時の化成電圧
に等しいか、もしくはこれより低い直流電圧を印加して
エージング処理を施し、しかるのちコンデンサに仕上げ
られてい丸。
体を陽極酸化することによ抄形成されていえ。こうして
得られ九陽極酸化皮膜で被れたニオブ素体は適桶な電解
質溶液で満九されたコンデンナ容器内に適当な対極(陰
極)とともに(必要な場合はスペーサを介して)収容さ
れたのち、ニオブ陽極と陰極間に陽極酸化時の化成電圧
に等しいか、もしくはこれより低い直流電圧を印加して
エージング処理を施し、しかるのちコンデンサに仕上げ
られてい丸。
従来の製法により製造され九ニオ゛プ電解コンデンサに
おいて、作動可能な電圧領域全体に痕って漏れ電流が大
きく、かつ印加電圧に対する漏れ電流の1加が著しいた
めに定格電圧をサージ電圧に較べて著しく低くしなけれ
ばならない欠点があった。
おいて、作動可能な電圧領域全体に痕って漏れ電流が大
きく、かつ印加電圧に対する漏れ電流の1加が著しいた
めに定格電圧をサージ電圧に較べて著しく低くしなけれ
ばならない欠点があった。
本発明は、上記の従来の製法によ抄製造され九ニオブ電
解コンデンサの欠点を改善することを目的とし、その4
11徴はニオブ素体を塩化物電解質水#液中で陽m酸化
して、ニオブ素体表面Vcll電体層を形成し九のち酸
化性雰囲気中でアニール処理してから電解コンデンサを
構成するところにある〔発明の概要〕 本発明の製法によって製造したコンデンサ線従来の製法
により構造したコンデンサに比べて、印加電圧の変化に
対する漏れ電流の変化が小さい領域、すなわち漏れ電流
が印加電圧に比例して増加するいわゆるオームの法則に
従う領域が著しく広く、この領域のあとに顕れゐ漏れ電
流が印加電圧の上昇に従って急激に増加する領域、すな
わちプール・フレンケルの法則にしたがう領域が非常に
狭いという特長を持っている。□・ したがってI!東の場合よりもコンデンサの定格電圧1
<等しいす−ジ電圧に対して)著しく高く定めることが
できる。
解コンデンサの欠点を改善することを目的とし、その4
11徴はニオブ素体を塩化物電解質水#液中で陽m酸化
して、ニオブ素体表面Vcll電体層を形成し九のち酸
化性雰囲気中でアニール処理してから電解コンデンサを
構成するところにある〔発明の概要〕 本発明の製法によって製造したコンデンサ線従来の製法
により構造したコンデンサに比べて、印加電圧の変化に
対する漏れ電流の変化が小さい領域、すなわち漏れ電流
が印加電圧に比例して増加するいわゆるオームの法則に
従う領域が著しく広く、この領域のあとに顕れゐ漏れ電
流が印加電圧の上昇に従って急激に増加する領域、すな
わちプール・フレンケルの法則にしたがう領域が非常に
狭いという特長を持っている。□・ したがってI!東の場合よりもコンデンサの定格電圧1
<等しいす−ジ電圧に対して)著しく高く定めることが
できる。
例を用いて発明の効果を具体的−示せば、図1にみられ
るように、従来の製法によるコンデンサ(参照例)では
、漏れ電流がオームの法則に従う領域は化成電圧(サー
ジ電圧)のおよそ115の電圧までの極めて狭い領域で
ある。
るように、従来の製法によるコンデンサ(参照例)では
、漏れ電流がオームの法則に従う領域は化成電圧(サー
ジ電圧)のおよそ115の電圧までの極めて狭い領域で
ある。
一方、本発明の製法によるコンデンサ(実施例)の漏れ
電流がオームの法則に従って流れる領域社化成電圧(サ
ージ電圧)のおよそv5からv5以上の電圧まで及ぶ非
常に広い範囲を占める。
電流がオームの法則に従って流れる領域社化成電圧(サ
ージ電圧)のおよそv5からv5以上の電圧まで及ぶ非
常に広い範囲を占める。
さらにオームの法則領域における漏れ電流の印加電圧に
対する勾配も、従来の製法によるコンデンサの場合に比
べて非常に小さく、図にみられるように1720−1/
4倍の小ささであり、印加電圧の増大に伴う漏れ電流の
増加が極めて小さいことを示している。
対する勾配も、従来の製法によるコンデンサの場合に比
べて非常に小さく、図にみられるように1720−1/
4倍の小ささであり、印加電圧の増大に伴う漏れ電流の
増加が極めて小さいことを示している。
ニオブ素体ぼ箱、状、HA状、焼結体状、スパッタ膜状
、蒸着膜状のいφれの形状でも用いることができる。
、蒸着膜状のいφれの形状でも用いることができる。
ニオブ素体の陽極酸化は塩化水素、アルカリ金属塩化物
、アルカリ土類金属塩化物、アンモニウムおよび第一級
、第二級、第三級、第四級オルガノアンモニウムの塩化
−,鉄族金属塩化愉、亜鉛族金属塩化物、アル1−ラム
金属塩化物およびクロム、マ/ガ/などの遷移金属珈化
吻、および遷移金属のクロロ錯塩の水溶液中で行う。
、アルカリ土類金属塩化物、アンモニウムおよび第一級
、第二級、第三級、第四級オルガノアンモニウムの塩化
−,鉄族金属塩化愉、亜鉛族金属塩化物、アル1−ラム
金属塩化物およびクロム、マ/ガ/などの遷移金属珈化
吻、および遷移金属のクロロ錯塩の水溶液中で行う。
これらの塩化物電解質の練直は温度、化成電流vli度
、度数化成電圧考慮して選ばれるが、その有効範囲は塩
素イオン濃度で2〜25?・1 ov’−8である。
、度数化成電圧考慮して選ばれるが、その有効範囲は塩
素イオン濃度で2〜25?・1 ov’−8である。
なお2?・i ovJ以下の場合は漏れ電R特性の改善
は望めず、を九25f弓0ν1以上の場合はコンデ/l
の容量特性が非常に悪くなる。
は望めず、を九25f弓0ν1以上の場合はコンデ/l
の容量特性が非常に悪くなる。
11度は溶液の塩素イオンam、化成電流密度。
シ/チレーシ瑳ン電圧などを考慮に入れて一15〜10
0cの範囲内で選ばれる。
0cの範囲内で選ばれる。
化成電滝書度は漏れ電流特性にあt抄影畳を及はさない
。
。
化成電圧は漏れ電流特性に顕著な影響を及埋し、シンチ
レーシ冒ン電圧以下では化成電圧が高いはど麹れ電l!
IIC%性はよくなる。しかし、シンチレーシ冒ン電圧
を越えると逆に著しく悪くなる。
レーシ冒ン電圧以下では化成電圧が高いはど麹れ電l!
IIC%性はよくなる。しかし、シンチレーシ冒ン電圧
を越えると逆に著しく悪くなる。
アニールは通常酸素雰囲気、酸素と窒素の混合ガス雰囲
気、酸素と貴ガスの混合ガス雰囲気中で行なうが一酸化
窒素、二酸化窒素、塩素などの酸化性ガス雰囲気中でも
行なうことができる。しかし水素などの遷元性ガス雰囲
気中や真空中で行なうむとはで亀ない。遷元性ガス雰囲
気中および真空中でのアニールは酸化皮膜の漏れ電流を
逆に増大させてしまう。
気、酸素と貴ガスの混合ガス雰囲気中で行なうが一酸化
窒素、二酸化窒素、塩素などの酸化性ガス雰囲気中でも
行なうことができる。しかし水素などの遷元性ガス雰囲
気中や真空中で行なうむとはで亀ない。遷元性ガス雰囲
気中および真空中でのアニールは酸化皮膜の漏れ電流を
逆に増大させてしまう。
アニール温度は3ON00Cの範囲が好ましく、aoo
c以下ではアニールの効果が#1とんど顕れず、ま九5
oor以上では酸化皮膜の結晶化などによって逆lIc
1Iれ電流の増大をまねくので好ましくない。
c以下ではアニールの効果が#1とんど顕れず、ま九5
oor以上では酸化皮膜の結晶化などによって逆lIc
1Iれ電流の増大をまねくので好ましくない。
アニール時間は温度が高いときは短く、温度が低いと勤
は長くなるのは轟然であるが、5oocのと龜は5分@
度、700G Oときは10分m度、6001:’のと
きは20分Ii度、goorのとき紘4o分程度、40
0tノと龜は70分程度、300C12)ときは120
分程変度適轟である。
は長くなるのは轟然であるが、5oocのと龜は5分@
度、700G Oときは10分m度、6001:’のと
きは20分Ii度、goorのとき紘4o分程度、40
0tノと龜は70分程度、300C12)ときは120
分程変度適轟である。
次に行われるエージングは濃い塩化物f#液液中社行う
ことができ危い。エージングはハロゲンイオンが含まれ
ないか含まれていてもその濃度が10 ?・+ o
JtJ以下の電解質溶液中で行わなければならない。エ
ージングに際して印加する直流電圧は化成電圧に等しい
かもしくはそれ以下の電圧であり、印加時間と温度は従
来と変らない。
ことができ危い。エージングはハロゲンイオンが含まれ
ないか含まれていてもその濃度が10 ?・+ o
JtJ以下の電解質溶液中で行わなければならない。エ
ージングに際して印加する直流電圧は化成電圧に等しい
かもしくはそれ以下の電圧であり、印加時間と温度は従
来と変らない。
エージング工程以後の電解コンデンサを製造するに!A
って必要な緒技術はすべて従来の技術が適用される。
って必要な緒技術はすべて従来の技術が適用される。
本発明に係わるニオブ電解コンデンサの構造は箔形、ス
パッタ膜および蒸着膜形、焼結体および1形のそれぞれ
の場合次のようになる。
パッタ膜および蒸着膜形、焼結体および1形のそれぞれ
の場合次のようになる。
(1) 膜形コンデンサ
ニオブ箔の全面に酸化皮膜を形成させたのちイオン透過
性の多孔質隔膜をはさんで陰極となる適当な金鵬箔と重
巻きにして適当な電解質溶液を含浸させ九のち、同じ電
解質溶液で構えされ九適当な容器に収−し、リードを取
出1て密封する。
性の多孔質隔膜をはさんで陰極となる適当な金鵬箔と重
巻きにして適当な電解質溶液を含浸させ九のち、同じ電
解質溶液で構えされ九適当な容器に収−し、リードを取
出1て密封する。
(−) スパッタ膜および蒸着膜形コンデンサ基板の
両面にニオブをスパッタリングまたは蒸着してからニオ
ブ膜表面に酸化皮膜を形成させ九のちイオン透過性多孔
質11M膜をはさんで111i憔となる適当な金楓箔と
積層して適当な電解JXX液液含浸させ九のち、同じ電
解質溶液で満たされた迩轟な容器に収幽し、リード取出
して密封する。
両面にニオブをスパッタリングまたは蒸着してからニオ
ブ膜表面に酸化皮膜を形成させ九のちイオン透過性多孔
質11M膜をはさんで111i憔となる適当な金楓箔と
積層して適当な電解JXX液液含浸させ九のち、同じ電
解質溶液で満たされた迩轟な容器に収幽し、リード取出
して密封する。
(iM) 焼結体および線形コンデンサ二オブ焼結体
または巻線の全表面に酸化皮膜を形成させて、適当な電
解質溶液を含浸させ九のち、同じ電解質溶液で満たされ
た陰極を兼ねる適当な金属缶に酸化皮膜が缶と接触しな
いように収缶し、陽極リードを取出して密封する。
または巻線の全表面に酸化皮膜を形成させて、適当な電
解質溶液を含浸させ九のち、同じ電解質溶液で満たされ
た陰極を兼ねる適当な金属缶に酸化皮膜が缶と接触しな
いように収缶し、陽極リードを取出して密封する。
次に本発−を実施例によ#)説明する。
寸法、巾2.Ocm 、畏さ25.□z、厚さ205m
の純度99.985重量−のニオブ箔を脱m後、7M畝
性フッ化アン%ニウム水溶液を用いて表面処理したのち
、次の要領で、化成してニオブ表向に1lil他酸化皮
膜を形成させた。 4); 実施例1 : 25Cの11.0M @ @ (CJ漬
度11r・Ion/看)中にニオブ箔を浸漬してS他と
なし、対極として白金極を浸漬したのち、両極間に電流
VVfJ[2,5mA/dの直流を印加して両極間の電
位差が50Vに適するまで陽ti酸化した。
の純度99.985重量−のニオブ箔を脱m後、7M畝
性フッ化アン%ニウム水溶液を用いて表面処理したのち
、次の要領で、化成してニオブ表向に1lil他酸化皮
膜を形成させた。 4); 実施例1 : 25Cの11.0M @ @ (CJ漬
度11r・Ion/看)中にニオブ箔を浸漬してS他と
なし、対極として白金極を浸漬したのち、両極間に電流
VVfJ[2,5mA/dの直流を印加して両極間の電
位差が50Vに適するまで陽ti酸化した。
ついで次の要領で陽極酸化皮膜にアニール処理を施した
。
。
試料m : 5oorの空気中で5分処理し九試料b
: 700Cの空気中で10分処理し九試料c : 5
00Cの空気中で40分処理した試料d : 300C
’の空気中で120分処理した賦科@ニアニール処履せ
ず 実施例2ニア0Uの7.OM塩塩化アン−ニウム水溶液
四−1濃度7t・ionβ)中にニオブ箔を浸漬して陽
極となし、対極として白金極を浸漬したのち、両極間に
電流密JlLOm齢省の直流を印加して両極間の電位差
がSOY K達する壕で陽極鹸化し九。
: 700Cの空気中で10分処理し九試料c : 5
00Cの空気中で40分処理した試料d : 300C
’の空気中で120分処理した賦科@ニアニール処履せ
ず 実施例2ニア0Uの7.OM塩塩化アン−ニウム水溶液
四−1濃度7t・ionβ)中にニオブ箔を浸漬して陽
極となし、対極として白金極を浸漬したのち、両極間に
電流密JlLOm齢省の直流を印加して両極間の電位差
がSOY K達する壕で陽極鹸化し九。
ついで次の要領で陽極酸化皮膜にアニール処理を施し喪
。
。
試料y : 5oocの空気中で5分処理し廠試料Gニ
アニール処理せず 実施例3 : IOGの4.S MtJi化≠ドリグム
水溶液(0−濃度4.5t・tov’J 、)中にニオ
ブ箔を浸漬して陽極となし、対極として白金極を浸漬し
たのち、両極間に電流密度4.0mA/dの直流を印加
して、両極間の電位差が50Vに達するまで陽極酸化し
た。
アニール処理せず 実施例3 : IOGの4.S MtJi化≠ドリグム
水溶液(0−濃度4.5t・tov’J 、)中にニオ
ブ箔を浸漬して陽極となし、対極として白金極を浸漬し
たのち、両極間に電流密度4.0mA/dの直流を印加
して、両極間の電位差が50Vに達するまで陽極酸化し
た。
ついで、次の要領で陽極酸化皮膜にナニール処゛理を施
した。
した。
試料H: 800Cの空気中で5分処理し九試料■ニア
ニール処理せず 実施例4 : 100Cの1.0M塩化カルシウム水溶
液(Q″″濃度2.01i o Q/J )中にニオブ
箔を浸漬して陽極となし、対極として白金極を浸漬した
のち、両極間に電流密度0.5mA/a11の直流を印
加して両極、 間の電位差が50Vに達するまで陽極
酸化した。
ニール処理せず 実施例4 : 100Cの1.0M塩化カルシウム水溶
液(Q″″濃度2.01i o Q/J )中にニオブ
箔を浸漬して陽極となし、対極として白金極を浸漬した
のち、両極間に電流密度0.5mA/a11の直流を印
加して両極、 間の電位差が50Vに達するまで陽極
酸化した。
ついで次の要領で陽極酸化皮膜にアニール処理を施し友
。
。
試料J : 800Cの空気中で5分処理した試料にニ
アニール処理せず 壕九従来のニオブ電解コンデンサを代表する参照試料と
して、次の要領でニオブ表面に五酸化ニオブ膜を形成さ
せた。すなわち参照試料=25cの0.5Mホウ酸アン
モニウム水溶液中に、ニオブ箔を浸漬して陽極となし、
対極として白金極を浸漬したのち両極間に電流密度1.
0−ム/−の直流を印加して両極間の電位差がSOVに
達するまで陽極酸化した。
アニール処理せず 壕九従来のニオブ電解コンデンサを代表する参照試料と
して、次の要領でニオブ表面に五酸化ニオブ膜を形成さ
せた。すなわち参照試料=25cの0.5Mホウ酸アン
モニウム水溶液中に、ニオブ箔を浸漬して陽極となし、
対極として白金極を浸漬したのち両極間に電流密度1.
0−ム/−の直流を印加して両極間の電位差がSOVに
達するまで陽極酸化した。
ついで次の要領で、得られた酸化皮膜にアニール処理を
施した。
施した。
参照試料1 : 800Cの空気中で5分処理参照試料
2ニアニール処理せず 以上1311の試料をそれぞれ別個に25Cの0.5M
五ホウ酸アンモニウム水溶液に浸漬して白金極を対極(
陰極)として両極間に50vの直流を印加し、2.5時
間保持してエージング(再化成)処理を施した。
2ニアニール処理せず 以上1311の試料をそれぞれ別個に25Cの0.5M
五ホウ酸アンモニウム水溶液に浸漬して白金極を対極(
陰極)として両極間に50vの直流を印加し、2.5時
間保持してエージング(再化成)処理を施した。
しかるのち、それぞれの試料箔に、巾2.03.長さ2
5LO3、厚さ50−の低書直りラフF紙(アルミ電解
コンデンサ用)を介して、中2.Otx 、長さ2!L
O1、厚さ10縛の純* 99.99重量−のスズ#i
t重ね′1: て、円筒状に巻いてコンデンサ素子を作成し友。
5LO3、厚さ50−の低書直りラフF紙(アルミ電解
コンデンサ用)を介して、中2.Otx 、長さ2!L
O1、厚さ10縛の純* 99.99重量−のスズ#i
t重ね′1: て、円筒状に巻いてコンデンサ素子を作成し友。
でき上つ九13個のコンデンサ素子を2M五ホウ酸アン
モニクム・エチレングリコール溶液に浸けて、素子全体
に五ホウ酸アンモニウム・エチレングリコール溶液を減
圧下に含浸させ丸。含浸後円筒形のプラスチック製答器
に収−して2M五ホウ酸アンモニウム・エチレングリコ
ール#液で満したのちリードを取出して密封した。
モニクム・エチレングリコール溶液に浸けて、素子全体
に五ホウ酸アンモニウム・エチレングリコール溶液を減
圧下に含浸させ丸。含浸後円筒形のプラスチック製答器
に収−して2M五ホウ酸アンモニウム・エチレングリコ
ール#液で満したのちリードを取出して密封した。
しかして、本発明の実施例に当る11鴇類のコンデンサ
と従来のニオブ電解コンデンサに相当する参照例の2種
類のコンデンサ、計13個のコンデンサを製造した。
と従来のニオブ電解コンデンサに相当する参照例の2種
類のコンデンサ、計13個のコンデンサを製造した。
次に、13種類のコンデンサの漏れ電1%E%性を比軟
するために、25C下で50Vの直流正バイアスを印加
して一昼夜エージングしたのち、1h」じ25C下で所
定の直流正バイアスを印加して、コンデンサの両端子間
を流れる電流が完全に一定になったと1の電流値を漏れ
電流として、印加電圧に対してプロットした。その結果
を図1および図2に図8L“・ 1(i 〔発明の効果〕 図にみられるように本発明のニオブ電解コンデンサは漏
れ電流特性において従来のものに比べて著しく優れてい
る。
するために、25C下で50Vの直流正バイアスを印加
して一昼夜エージングしたのち、1h」じ25C下で所
定の直流正バイアスを印加して、コンデンサの両端子間
を流れる電流が完全に一定になったと1の電流値を漏れ
電流として、印加電圧に対してプロットした。その結果
を図1および図2に図8L“・ 1(i 〔発明の効果〕 図にみられるように本発明のニオブ電解コンデンサは漏
れ電流特性において従来のものに比べて著しく優れてい
る。
によりm造しえニオブ電解コンデンサの漏れ電流の印加
電圧に対する変化を示す一線図である。
電圧に対する変化を示す一線図である。
代理人弁理土 則近憲佑(ほか1名)
第 1 図
卵mt五(v)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ニオブ電解コンデンサの製造方法において、2−25P
−iiの鑓の塩素イオン、を含む塩化物電解質水溶液中
でニオブ素体を陽極酸化し九のち空気。 酸素などの酸化性tS気中でアニール処理し、さらに1
0′″JFioa/J以上のハロゲンイオンを含まない
電解質溶液中で適当な対極(、陰極)間に陽極酸化時の
化成電圧に等しいかもしくはこれより低い直流電圧を印
加、エージング処理を施し、しかるのち電解コンデンサ
に仕上げることをq#徴とするニオブ電解コンデンサの
製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3657082A JPS58154221A (ja) | 1982-03-10 | 1982-03-10 | ニオブ電解コンデンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3657082A JPS58154221A (ja) | 1982-03-10 | 1982-03-10 | ニオブ電解コンデンサの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58154221A true JPS58154221A (ja) | 1983-09-13 |
Family
ID=12473420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3657082A Pending JPS58154221A (ja) | 1982-03-10 | 1982-03-10 | ニオブ電解コンデンサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58154221A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6051044A (en) * | 1998-05-04 | 2000-04-18 | Cabot Corporation | Nitrided niobium powders and niobium electrolytic capacitors |
| US6165623A (en) * | 1996-11-07 | 2000-12-26 | Cabot Corporation | Niobium powders and niobium electrolytic capacitors |
| US6375704B1 (en) | 1999-05-12 | 2002-04-23 | Cabot Corporation | High capacitance niobium powders and electrolytic capacitor anodes |
| US6402066B1 (en) | 1999-03-19 | 2002-06-11 | Cabot Corporation | Method of making niobium and other metal powders |
-
1982
- 1982-03-10 JP JP3657082A patent/JPS58154221A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6165623A (en) * | 1996-11-07 | 2000-12-26 | Cabot Corporation | Niobium powders and niobium electrolytic capacitors |
| US6420043B1 (en) | 1996-11-07 | 2002-07-16 | Cabot Corporation | Niobium powders and niobium electrolytic capacitors |
| US6051044A (en) * | 1998-05-04 | 2000-04-18 | Cabot Corporation | Nitrided niobium powders and niobium electrolytic capacitors |
| US6338816B1 (en) | 1998-05-04 | 2002-01-15 | Cabot Corporation | Nitrided niobium powders and niobium electrolytic capacitors |
| US6616728B2 (en) | 1998-05-04 | 2003-09-09 | Cabot Corporation | Nitrided niobium powders and niobium electrolytic capacitors |
| US6896715B2 (en) | 1998-05-04 | 2005-05-24 | Cabot Corporation | Nitrided niobium powders and niobium electrolytic capacitors |
| US6402066B1 (en) | 1999-03-19 | 2002-06-11 | Cabot Corporation | Method of making niobium and other metal powders |
| US6706240B2 (en) | 1999-03-19 | 2004-03-16 | Cabot Corporation | Method of making niobium and other metal powders |
| US7156893B2 (en) | 1999-03-19 | 2007-01-02 | Cabot Corporation | Method of making niobium and other metal powders |
| US6375704B1 (en) | 1999-05-12 | 2002-04-23 | Cabot Corporation | High capacitance niobium powders and electrolytic capacitor anodes |
| US6702869B2 (en) | 1999-05-12 | 2004-03-09 | Cabot Corporation | High capacitance niobium powders and electrolytic capacitor anodes |
| US7749297B2 (en) | 1999-05-12 | 2010-07-06 | Cabot Corporation | High capacitance niobium powders and electrolytic capacitor anodes |
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