JPS5942436A - 圧着端子の検査方法 - Google Patents
圧着端子の検査方法Info
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- JPS5942436A JPS5942436A JP13812482A JP13812482A JPS5942436A JP S5942436 A JPS5942436 A JP S5942436A JP 13812482 A JP13812482 A JP 13812482A JP 13812482 A JP13812482 A JP 13812482A JP S5942436 A JPS5942436 A JP S5942436A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2433—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring outlines by shadow casting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
被覆線を端子に圧着することにより接続する場合、被覆
線の被覆層を剥離し、露出する芯線を芯線圧着部の適正
位置に端子の圧着バレルで圧接すると共に、剥離されて
いない被覆層を被覆把持部で適正に把持する必要がある
。上記の加工が完全に行なわれなりと、以後の電気部品
又はコネクタの組立におじで、不良を発生しやすく、か
つ電気的特性や機械的特性が満足される製品を得ること
が困難となる。例えば芯線圧着部に芯線のみならす剥離
されたが残存する被覆層の先端部が芯線と共に圧着され
た場合(以後「樹脂かみ」と称する)には芯線と芯線圧
着部との間の圧着力のみならず接触面積も不足となシ、
満足な電気的特性が得られない。又逆に被覆把持部の一
部のみに被覆層が持方が充分でなく、被覆線の振動が芯
線に伝達されて断線の原因ともな9、又被覆層の後退と
同時に芯線先端も後退するので芯勝圧看部の一部のみに
よシ芯線が圧着されることになり、電気的特性も劣化さ
せることになる。又芯線が多数の索線で構成されていて
、その素線の一部が芯線圧着部の外にはみ出す場合(以
後「芯線はみ出し」と称する)には圧着力の不足によシ
ミ気的特性不良となシやすく又端子のコネクタケースへ
の挿入の障害となる。上記のような端子圧着不良は、芯
線と端子との電気的尋通検査のみでは判別不可能である
ため、従来目視検査に頼らなければならないという不便
があった。
線の被覆層を剥離し、露出する芯線を芯線圧着部の適正
位置に端子の圧着バレルで圧接すると共に、剥離されて
いない被覆層を被覆把持部で適正に把持する必要がある
。上記の加工が完全に行なわれなりと、以後の電気部品
又はコネクタの組立におじで、不良を発生しやすく、か
つ電気的特性や機械的特性が満足される製品を得ること
が困難となる。例えば芯線圧着部に芯線のみならす剥離
されたが残存する被覆層の先端部が芯線と共に圧着され
た場合(以後「樹脂かみ」と称する)には芯線と芯線圧
着部との間の圧着力のみならず接触面積も不足となシ、
満足な電気的特性が得られない。又逆に被覆把持部の一
部のみに被覆層が持方が充分でなく、被覆線の振動が芯
線に伝達されて断線の原因ともな9、又被覆層の後退と
同時に芯線先端も後退するので芯勝圧看部の一部のみに
よシ芯線が圧着されることになり、電気的特性も劣化さ
せることになる。又芯線が多数の索線で構成されていて
、その素線の一部が芯線圧着部の外にはみ出す場合(以
後「芯線はみ出し」と称する)には圧着力の不足によシ
ミ気的特性不良となシやすく又端子のコネクタケースへ
の挿入の障害となる。上記のような端子圧着不良は、芯
線と端子との電気的尋通検査のみでは判別不可能である
ため、従来目視検査に頼らなければならないという不便
があった。
本発明の目的はこの目視検査に代わり、被検査品を撮像
し、得られた映像について求めたデータを演算処理する
ことにより良否を自動的に判別する検査方法を提供する
ことである。
し、得られた映像について求めたデータを演算処理する
ことにより良否を自動的に判別する検査方法を提供する
ことである。
芯線ならびに端子は金属で構成されているので、その撮
像に際してはしばしば金属部分の外郭像がハレーション
を起こす。しかもそのハレーションは、照明の仕方や撮
像対象のわずかな状態の変化によって不規則なパターン
の変化を示し、従来の認識手法では識別が不可能であっ
た。
像に際してはしばしば金属部分の外郭像がハレーション
を起こす。しかもそのハレーションは、照明の仕方や撮
像対象のわずかな状態の変化によって不規則なパターン
の変化を示し、従来の認識手法では識別が不可能であっ
た。
本発明の第1の特徴は、金属のハレーション部分がかな
シネ均一な分布を示しても圧接済み端子の外郭像を有効
な画像情報として利用しパターン識別に用いることがで
きることである。すなわち本発明の実施結果によれば、
被検査品である圧着済み端子を圧着加圧方向に対してほ
ぼ直角方向より観測して求めた側面外郭像より充分な画
像情報が得られることが見出された。それKより圧着作
業が満足に行なわれたかどうかを検査するためには、多
少のハレーションが画像中に生じても上記のような側面
外郭像を得れば完全な検査が可能であることが見出され
た。
シネ均一な分布を示しても圧接済み端子の外郭像を有効
な画像情報として利用しパターン識別に用いることがで
きることである。すなわち本発明の実施結果によれば、
被検査品である圧着済み端子を圧着加圧方向に対してほ
ぼ直角方向より観測して求めた側面外郭像より充分な画
像情報が得られることが見出された。それKより圧着作
業が満足に行なわれたかどうかを検査するためには、多
少のハレーションが画像中に生じても上記のような側面
外郭像を得れば完全な検査が可能であることが見出され
た。
さらに本発明の特徴は、得られた画像の中で、被覆把持
部の外郭像の端縁の所定のかどの位置を自動的に読み取
シ、このかどを計測基準点として定め、所定の判別領域
内で得られたパターンが該基準点よシどの程度偏位して
いるかを計測し良否の判定を行なうように上記基準点を
選定し使用することが端子王者作業上からも好ましく、
かつ合否判定精度を高めることができることを見出した
ことである。
部の外郭像の端縁の所定のかどの位置を自動的に読み取
シ、このかどを計測基準点として定め、所定の判別領域
内で得られたパターンが該基準点よシどの程度偏位して
いるかを計測し良否の判定を行なうように上記基準点を
選定し使用することが端子王者作業上からも好ましく、
かつ合否判定精度を高めることができることを見出した
ことである。
さらに本発明の特徴は、例えば被覆把持部と芯線圧着部
との中間部分に被覆層の切端が存在するするか否かを判
別することによって合否を判定することができることを
見出したことである。
との中間部分に被覆層の切端が存在するするか否かを判
別することによって合否を判定することができることを
見出したことである。
さらに本発明の特徴は、芯線の素線の一部が芯線圧着部
の外方にはみ出す不良に対しては、通常芯線はみ出しが
起こシやすい所定の空間領域を走査し該空間領域内にお
ける異物すなわち濃淡反転像の存在の有無を判別するこ
とにより芯線はみ出し不良の有無を判別することができ
ることである。
の外方にはみ出す不良に対しては、通常芯線はみ出しが
起こシやすい所定の空間領域を走査し該空間領域内にお
ける異物すなわち濃淡反転像の存在の有無を判別するこ
とにより芯線はみ出し不良の有無を判別することができ
ることである。
さらに本発明の特徴は、被覆把持部と芯線圧着部とのか
しめ加工後の寸法が所定の規格値内に入ってbるかどう
かを判別することができることである。
しめ加工後の寸法が所定の規格値内に入ってbるかどう
かを判別することができることである。
本発明の上記及びその他の特徴は、添附図面を参照する
下記の本発明の詳細な説明により明らかにされる。
下記の本発明の詳細な説明により明らかにされる。
第1図(a) K示された圧着端子は電極部11、芯線
圧着部12、被覆把持部14及び芯線圧着部12′と被
覆把持部14との中間にある中間部13を有−はボルト
を挿入しナツト締めされるドーナッツ状の電極、いわゆ
るLA端子であっても良く、あるbは電気部品のリード
線への接続用部品であってもよい。又芯線圧着部12は
、例えば特公昭39−15915号公報又は米国特許第
3,112,150号に開示されているように、基板部
より両側に、U字型に延長されたワイヤバレル15を持
っており、いわゆるオープンバレルを形成している。こ
のオープンバレルのU字型に開放された部分の間から芯
線21が基板部にあてがわれ、ダイ(図示されな込)に
よって押圧されて周囲からバレルを加圧変形して芯線に
くい込ませ電気的接続が構成される(第1図(b) )
。又同様に被覆把持部14も通常ワイヤバレル15と同
様であるが少し大9のインシュレーションパレル16に
よって構成すれ、通常芯線圧着操作と同時に被覆線20
の被覆層22を包囲するように、ダイの押圧によって変
形させられて被&層を把持する(第1図(b))。
圧着部12、被覆把持部14及び芯線圧着部12′と被
覆把持部14との中間にある中間部13を有−はボルト
を挿入しナツト締めされるドーナッツ状の電極、いわゆ
るLA端子であっても良く、あるbは電気部品のリード
線への接続用部品であってもよい。又芯線圧着部12は
、例えば特公昭39−15915号公報又は米国特許第
3,112,150号に開示されているように、基板部
より両側に、U字型に延長されたワイヤバレル15を持
っており、いわゆるオープンバレルを形成している。こ
のオープンバレルのU字型に開放された部分の間から芯
線21が基板部にあてがわれ、ダイ(図示されな込)に
よって押圧されて周囲からバレルを加圧変形して芯線に
くい込ませ電気的接続が構成される(第1図(b) )
。又同様に被覆把持部14も通常ワイヤバレル15と同
様であるが少し大9のインシュレーションパレル16に
よって構成すれ、通常芯線圧着操作と同時に被覆線20
の被覆層22を包囲するように、ダイの押圧によって変
形させられて被&層を把持する(第1図(b))。
ダイによる端子圧着操作の結果得られた圧着部の態様は
第2図に示されている。第2図の中で、(a)は良品、
(b)は樹脂かみ不良、(C)は首つり不良、(d)は
はみ出し芯線23による芯線はみ出し不良を示している
。
第2図に示されている。第2図の中で、(a)は良品、
(b)は樹脂かみ不良、(C)は首つり不良、(d)は
はみ出し芯線23による芯線はみ出し不良を示している
。
第6A図において、矢印は芯線圧着のためのダイによる
圧着加圧方向を示しておシ、同図中ハツチングを施した
各パターンは、この矢印方向に対してほぼ直角方向よシ
撮像した場合の圧着済み端子の側面外郭像を示している
。上記の側面外郭像を得るためには、第6A図の正面裏
側に明るい背景を設け、表側に拡大撮像装置を置く。こ
れにより第6A図図示のような端子の側面外郭像が得ら
れる。第6A図(a)に図示の圧着済端子の側面外郭像
の中、A区域は電極部11の側面外郭像域であり、3区
域は芯線圧着部12の側面外郭像域、C及び9区域は中
間部13のそれであり、”区域は被覆把持部14のそれ
であ)、F区域は被覆線20の側面外郭像である。また
第6A図(a)に示した良品の側面外郭像においては、
C及び9区域のそれぞれの中の芯線領域21H及び被覆
領域22Hの間に段差22Vが存在することが特徴であ
る。第3A図(b)に示した樹脂かみ不良の場合は被覆
領域22Hが3区域まで達していることが特徴である。
圧着加圧方向を示しておシ、同図中ハツチングを施した
各パターンは、この矢印方向に対してほぼ直角方向よシ
撮像した場合の圧着済み端子の側面外郭像を示している
。上記の側面外郭像を得るためには、第6A図の正面裏
側に明るい背景を設け、表側に拡大撮像装置を置く。こ
れにより第6A図図示のような端子の側面外郭像が得ら
れる。第6A図(a)に図示の圧着済端子の側面外郭像
の中、A区域は電極部11の側面外郭像域であり、3区
域は芯線圧着部12の側面外郭像域、C及び9区域は中
間部13のそれであり、”区域は被覆把持部14のそれ
であ)、F区域は被覆線20の側面外郭像である。また
第6A図(a)に示した良品の側面外郭像においては、
C及び9区域のそれぞれの中の芯線領域21H及び被覆
領域22Hの間に段差22Vが存在することが特徴であ
る。第3A図(b)に示した樹脂かみ不良の場合は被覆
領域22Hが3区域まで達していることが特徴である。
第6A図(c)に示した首つり不良の場合は芯線領域2
1Hが8区域まで達していることが特徴である。
1Hが8区域まで達していることが特徴である。
又第3A図(d)に示した芯線はみ出し不良の場合は、
ある。
ある。
この第6A図より明らかなように、E区域内に描写され
る被覆把持部の外郭線14Hけ、インシュレーションパ
レル16が所定のアンビルトタイによって被覆層の周囲
を把持するように変形圧接されているので、端子基板下
面の外郭線10Hとほとんど平行であり且つほぼ一定の
高さを持っている。たとえ第3A図(C)の首つシネ良
の場合のように被覆層が8区域の全区域にわたって存在
しない場合でも、ダイは所定の箇所及び位置をこえて降
下せず、またダイの上面は端子基板下面10Hに平行に
なっているので、外郭線14Hの平行度と外郭線14H
と10Hとの間の藁さとの再現性は非常に高い。又第6
A図から明らかなように、E及び2区域内でしま端子の
良否判定のために有効な情報量は非常に乏しい。しかし
ながら第3A図に示した被覆把持部14の芯線圧着部の
側の側面外郭像のかど14Vを基準としたときの芯線圧
着部の側のA、 B、 C,D区域内における画像
には良否判定の情報が豊富に含まれている。更に上記の
側面外郭像の9区域と8区域との境界には多くの場合上
記のかど14Vが出現する。従って第3A図の8区域よ
り左側のA、B、C,9区域の画像を解析すれは、上記
の側面外郭像より合否判定情報を読み取ることができる
。そこで本発明の検査方法は上記のかと14Vを合否の
検査のための計測基準点としている。
る被覆把持部の外郭線14Hけ、インシュレーションパ
レル16が所定のアンビルトタイによって被覆層の周囲
を把持するように変形圧接されているので、端子基板下
面の外郭線10Hとほとんど平行であり且つほぼ一定の
高さを持っている。たとえ第3A図(C)の首つシネ良
の場合のように被覆層が8区域の全区域にわたって存在
しない場合でも、ダイは所定の箇所及び位置をこえて降
下せず、またダイの上面は端子基板下面10Hに平行に
なっているので、外郭線14Hの平行度と外郭線14H
と10Hとの間の藁さとの再現性は非常に高い。又第6
A図から明らかなように、E及び2区域内でしま端子の
良否判定のために有効な情報量は非常に乏しい。しかし
ながら第3A図に示した被覆把持部14の芯線圧着部の
側の側面外郭像のかど14Vを基準としたときの芯線圧
着部の側のA、 B、 C,D区域内における画像
には良否判定の情報が豊富に含まれている。更に上記の
側面外郭像の9区域と8区域との境界には多くの場合上
記のかど14Vが出現する。従って第3A図の8区域よ
り左側のA、B、C,9区域の画像を解析すれは、上記
の側面外郭像より合否判定情報を読み取ることができる
。そこで本発明の検査方法は上記のかと14Vを合否の
検査のための計測基準点としている。
他方、第6B図は、第6八図中に示した矢印方向より撮
像した場合の圧着済み端子の平面外郭イ家を示している
。
像した場合の圧着済み端子の平面外郭イ家を示している
。
第6B図中の区域A、B、C,D、E及びFば、それぞ
れ第6A図図示の区域と対応しており、圧着済み端子の
それぞれの対応部分の外郭像域を表わしている。第6B
図(a)は良品の正面外郭像を示す。第3B図(blは
樹脂かみ不良の場合を示し、この場合はC,D区域には
段差が現われずかつ太くなっている。第3B図(C)は
首つり不良の場合を示し、C,D区域にはやはり段差が
なくかつ細くな第6B図においても、第6A図の場合と
同様に、加圧用ダイのアノビルに対する一定の動きの押
圧のために、8区域内における外郭像の両外縁の平行度
とその間の幅の大きさとの再現性は高い・次K、本発明
の検査方法において用いられる画像処理の方法について
説明する。先ず、イメージセンサ、ビジコンカメラ等の
撮像装置を用い、圧着済の端子の拡大側面映像信号が、
例えは256×256の縦横の画素数を用いて取り出さ
れる。
れ第6A図図示の区域と対応しており、圧着済み端子の
それぞれの対応部分の外郭像域を表わしている。第6B
図(a)は良品の正面外郭像を示す。第3B図(blは
樹脂かみ不良の場合を示し、この場合はC,D区域には
段差が現われずかつ太くなっている。第3B図(C)は
首つり不良の場合を示し、C,D区域にはやはり段差が
なくかつ細くな第6B図においても、第6A図の場合と
同様に、加圧用ダイのアノビルに対する一定の動きの押
圧のために、8区域内における外郭像の両外縁の平行度
とその間の幅の大きさとの再現性は高い・次K、本発明
の検査方法において用いられる画像処理の方法について
説明する。先ず、イメージセンサ、ビジコンカメラ等の
撮像装置を用い、圧着済の端子の拡大側面映像信号が、
例えは256×256の縦横の画素数を用いて取り出さ
れる。
一般には第4図の端子基板下面10Hが256×256
の画素数のモニターの表示面上の水平方向と処理をせず
、直接表示面上で端子基板下面10Hが水平方向に平行
にすることが演舞処理上簡便である。
の画素数のモニターの表示面上の水平方向と処理をせず
、直接表示面上で端子基板下面10Hが水平方向に平行
にすることが演舞処理上簡便である。
検出が必要である。そこで第4図(aJに示す端子基板
下面10Hは、測定領域内の下端から上方に向かって画
面が明から暗に変化する点であり、横線を検出するフィ
ルタを用いて明から暗に変化する境界を検出し、測定領
域内の上下方向(縦方向)の下端から上記境界線までの
画素数を読み取り、そのヒストグラムより求めた最大値
より基準線10Hの位置を求める。次に第4図(bJに
おいて、基準線10Hから所定の画素数の高さで測定領
域内を左から右に向かう水平方向の走査において暗から
明に変化する点の縦線の位置をフィルタにより求め、そ
の処理結果のヒストグラムよりその最大値を取れば基準
縦線10Vの位置が求められる。
下面10Hは、測定領域内の下端から上方に向かって画
面が明から暗に変化する点であり、横線を検出するフィ
ルタを用いて明から暗に変化する境界を検出し、測定領
域内の上下方向(縦方向)の下端から上記境界線までの
画素数を読み取り、そのヒストグラムより求めた最大値
より基準線10Hの位置を求める。次に第4図(bJに
おいて、基準線10Hから所定の画素数の高さで測定領
域内を左から右に向かう水平方向の走査において暗から
明に変化する点の縦線の位置をフィルタにより求め、そ
の処理結果のヒストグラムよりその最大値を取れば基準
縦線10Vの位置が求められる。
次に第4図(clにおいて、10Hの基準線より一定の
画素数だけ上の方向の領域をフィルタで調べると、基準
線14Hにおいては暗→明と変化するので、横線検出フ
ィルタで検出した輝線をもとにヒストグラムを取り基準
線14Hの検出を行なう。
画素数だけ上の方向の領域をフィルタで調べると、基準
線14Hにおいては暗→明と変化するので、横線検出フ
ィルタで検出した輝線をもとにヒストグラムを取り基準
線14Hの検出を行なう。
続いて第4図(句において、基準線14Hの少し下で左
から右への水平方向を調べる縦線検出フィルタにより基
準線14Vを検出し、基準線14Hと14Vとの交点X
を検出する。
から右への水平方向を調べる縦線検出フィルタにより基
準線14Vを検出し、基準線14Hと14Vとの交点X
を検出する。
する。その検査手順としては、計測基準点Xを通る基準
線14H及び14Vをそれぞれy軸及びy軸にとり、端
子の形状によりその寸法は決まっているので、Xm14
H上の予め設定した位置から、例えばa、bで示したよ
うな予め設定した長さの検線を数本引き、その先端位置
における画引法の濃炎がどうなっているかを調べる。同
様にしてy軸:4■より例えばc、dで示したような予
め設定した長さの横線を数本引き、その先端位置におけ
る画像の濃淡を調べる。それ等の縦線及び横線の先端位
置における画像の濃淡により、圧着^子の存在を判別す
ることができる。
線14H及び14Vをそれぞれy軸及びy軸にとり、端
子の形状によりその寸法は決まっているので、Xm14
H上の予め設定した位置から、例えばa、bで示したよ
うな予め設定した長さの検線を数本引き、その先端位置
における画引法の濃炎がどうなっているかを調べる。同
様にしてy軸:4■より例えばc、dで示したような予
め設定した長さの横線を数本引き、その先端位置におけ
る画像の濃淡を調べる。それ等の縦線及び横線の先端位
置における画像の濃淡により、圧着^子の存在を判別す
ることができる。
又芯線はみ出しについては、同様にして予め設定した長
さの横線θ及び縦線fを所要数走査させて、空白領域内
を走査させることにより濃淡反転像の存在の有無を調べ
ることにより、芯線はみ出し不良の有無を判別する。
さの横線θ及び縦線fを所要数走査させて、空白領域内
を走査させることにより濃淡反転像の存在の有無を調べ
ることにより、芯線はみ出し不良の有無を判別する。
更に、本発明の実施例の検査方法のいくつかの例を、以
下に第6図(a)より(1)までを参照しつつ説明する
。
下に第6図(a)より(1)までを参照しつつ説明する
。
第6図(a)においては、y軸から左へ設定された11
画素数はなれた縦線を引き画1象が白から黒に変わる点
捷での距離dを調べる。
画素数はなれた縦線を引き画1象が白から黒に変わる点
捷での距離dを調べる。
第61NEI (b)においては、y軸から左へ設定さ
れたX11期素数はなれた縦線を引き、画像が白から黒
に変わる点dから更に設定されたy工画累数だけ進んだ
ところでy軸から左へ設定された12画素数の横線を引
きその点Pにおける画像の濃淡を調べる。もし点Pの画
像が黒であれば良品であるが、白であればP点は空白で
あり第6図(C)図示のような形状になる。
れたX11期素数はなれた縦線を引き、画像が白から黒
に変わる点dから更に設定されたy工画累数だけ進んだ
ところでy軸から左へ設定された12画素数の横線を引
きその点Pにおける画像の濃淡を調べる。もし点Pの画
像が黒であれば良品であるが、白であればP点は空白で
あり第6図(C)図示のような形状になる。
第6図(d)においては、y軸から左へ設定されたX3
画素数はなれた縦線を引き画像が白から黒に変る点Qま
での長さhを調べる。
画素数はなれた縦線を引き画像が白から黒に変る点Qま
での長さhを調べる。
第6図(e)においては、y軸から設定されたX4画素
数はなれた、縦線を引き画像が白から黒に変る点Rまで
の長さ1を調べ、y軸から横方向にその点Rまで走査し
、画像が黒い範囲Jの部分の長さを調べる。
数はなれた、縦線を引き画像が白から黒に変る点Rまで
の長さ1を調べ、y軸から横方向にその点Rまで走査し
、画像が黒い範囲Jの部分の長さを調べる。
もし第6図(e)の検査の結果、例えば第6図(f)に
図示のように、X4 =: Jであれば樹脂−一!\4
ト不良と判定される。もし第6図(e)の検査の結果、
例えば、第6図(g)に図示のようにJ=口、すなわち
5部分が存在し/よい場合は抗つり不良である場仔が多
い1゜ 第5図(a)において、芯線はみ出し不良の判別法を述
べたが、更に圧着端子の周辺の広い範囲内の芯線はみ出
し不良の判別法が、第6図(h)及び(1)に示されて
いる。
図示のように、X4 =: Jであれば樹脂−一!\4
ト不良と判定される。もし第6図(e)の検査の結果、
例えば、第6図(g)に図示のようにJ=口、すなわち
5部分が存在し/よい場合は抗つり不良である場仔が多
い1゜ 第5図(a)において、芯線はみ出し不良の判別法を述
べたが、更に圧着端子の周辺の広い範囲内の芯線はみ出
し不良の判別法が、第6図(h)及び(1)に示されて
いる。
第6図(h)において、基準線10V上で基準線10I
(の下方y0画素数の点Sを出発点とし左方に160画
素だけ走査する。そのとき、もし黒色画像(芯線のはみ
出し画像)とぶつかればその時の8点からの長さを調べ
、更にその近傍の黒色画像の連続性を、走査により調べ
る。その結果より芯線はみ出し不良の有無の判定を行な
う。もしぶつからない時は芯線はみ出し不良なしと判定
する。
(の下方y0画素数の点Sを出発点とし左方に160画
素だけ走査する。そのとき、もし黒色画像(芯線のはみ
出し画像)とぶつかればその時の8点からの長さを調べ
、更にその近傍の黒色画像の連続性を、走査により調べ
る。その結果より芯線はみ出し不良の有無の判定を行な
う。もしぶつからない時は芯線はみ出し不良なしと判定
する。
第6図(1)においては、基準線10V上で基準線14
Hの上方72画素数の点Tを出発点としで左時のT点か
らの長さを調べ、更にその近傍の黒色画像の連続性を走
査し、芯線はみ出し不良の有無を判定する。もしぶつか
らない時は芯線はみ出し不良7χしと判定する。
Hの上方72画素数の点Tを出発点としで左時のT点か
らの長さを調べ、更にその近傍の黒色画像の連続性を走
査し、芯線はみ出し不良の有無を判定する。もしぶつか
らない時は芯線はみ出し不良7χしと判定する。
以上述べた本発明の実施例の圧着端子の検査方法の例示
説明においては、端子の圧着加工用機械工具及び検査装
置のレイアウト上比較的に実姉しやすい事例として、圧
着加圧方向に対しほぼ直角方向より圧着済み端子の測面
外郭像を撮像する場合について図示し説明したが、本発
明による検査方法は上記の方向よりの撮像に限ることな
く、圧着加圧方向に対し+8向又は反対方向より撮像し
、得られた外郭像によって検査を行なうことも勿論可能
である。
説明においては、端子の圧着加工用機械工具及び検査装
置のレイアウト上比較的に実姉しやすい事例として、圧
着加圧方向に対しほぼ直角方向より圧着済み端子の測面
外郭像を撮像する場合について図示し説明したが、本発
明による検査方法は上記の方向よりの撮像に限ることな
く、圧着加圧方向に対し+8向又は反対方向より撮像し
、得られた外郭像によって検査を行なうことも勿論可能
である。
また、本発明による検査方法の終了とともに、自動的に
検査結果の表示又は通報装置を駆動すること、更には引
続き良品及び不良品の選別装置を自動的に駆動すること
により検査効率を増進することが可能である。
検査結果の表示又は通報装置を駆動すること、更には引
続き良品及び不良品の選別装置を自動的に駆動すること
により検査効率を増進することが可能である。
上述の説明より明らかなように、本発明の圧着端子の検
査方法によれば、圧着済み端子の外郭像を撮像した後同
外郭像を走査して得たデータを演算処理し、同演算処理
結果に基づいて自動的に圧着済み端子の良否の判定を行
なう手順に含まれた既述の数々の特徴のゆえに、従来の
目視検査の困難を排除して検査効率を増進し、かつ良否
判定精度を著しく向上させることができるので、産業上
与える効果はきわめて顕著である。
査方法によれば、圧着済み端子の外郭像を撮像した後同
外郭像を走査して得たデータを演算処理し、同演算処理
結果に基づいて自動的に圧着済み端子の良否の判定を行
なう手順に含まれた既述の数々の特徴のゆえに、従来の
目視検査の困難を排除して検査効率を増進し、かつ良否
判定精度を著しく向上させることができるので、産業上
与える効果はきわめて顕著である。
第1図(a)及び(b)は、公知の圧着端子の構成を概
略的に例示しだ斜視図である。 第2図(a)は、良好な圧着済み端子を、第2図(b)
。 (C)及び(d)は不良な圧着済み端子を例示した斜視
図である。 第6A図(a)並びに第6A図(b)、 (C)及び(
d)は、本発明の検査方法により得られる良好な圧着済
み端子及び不良/L圧着済み端子のそれぞれの側面外郭
像を1況明するだめの説明図である。 第3B図(a)並びに第6B図(b)、 (c)及び(
d)は、本発明の横歪方法により得られる良好な圧着済
み端子及び不良な圧着済み端子のそれぞれの平面外郭像
を説明するだめの説明図である。 第4図(a)、 (b)、 (C)及び(d)は、本発
明の検査方法により得られる圧着済み端子の側面外ソ1
9像を計測するだめの基準線及び基準点の求め方の説明
に供する説明図である。 第5図(a)並びに第5図(b)及び(C)は、本発明
の検査方法により得られる良好な圧着済み端子及び不良
な圧着済み端子のそれぞれの側面外郭像に対する良否判
定のだめの計測及び演算処理操作の説明に供する説明図
である。 第6図(a)より(1)までは、第5図(a)、 (b
)及び(C)の図解に加えて、本発明の検査方法により
得られる圧着済み端子の側面外郭像に対する良否判定の
ための計測及び演算処理操作の種々の態様の説明に供す
る説明図でちる。 (符号の説明) 11・・・圧着端子の電極部、 12・・・芯線圧着部
、13・・・中間部、 14・・・被覆把持部、
15・・・ワイヤバレル、 16・・・インシュレーションバレル、20・・・被覆
線、 21・・・芯線、側面外郭像の各区域、 211−]・・・側面外郭像の芯線領域、22H・・・
側面外郭像の被覆領域、 22V・・・211(と22Hとの間の段差、14V・
・・被覆把持部の側面外郭[象のかど、10)(,14
I’(・・・側面外郭像の横基準線、1ov、14v・
・・側面外郭像の縦基準線、X・・・計測基準点。 代理人 浅 村 皓 外4名 牙1図 図面の浄書で内容に変更なし) 牙4 図面の浄書(内容に変更なし) 第3B図 (01 (d) 訊面の浄a(内容(こ変更なし) 牙6図 オ6図 オ6図 手続補、正書(方式) 1゜事件の表示 昭和!7年特FF願第1J、?乙仙〆 号3、補正をす
る省 事件との関係 持r「出願人 4、代理人 5、補正命令の日付 <1f3AJ43D+fJ A’y’Ws圏>8、補正
の内容 別紙のとおり 手続補正書 昭和58年 9月λ/口 特許庁長官殿 1、事件の表示 昭和57年特許願第1!18124弓 2、発明の名称 圧着端子の検査方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 5、補正命令の日刊 1旧和 年 月 日6、補正により
増加する発明の数 図面 8、補正の内容 別紙のとおり 明細書第17頁第8行と第9行との間に、「第7図は、
以上説明した本発明の実施例の圧着端子の検査方法にお
いて行なわれる演算処理操作を図解した流れ図の一例を
示す。」を加入する。 2、 明細書第19頁第20行の下に、「第7図は、本
発明の検査方法において行なわれる演算処理操作を例示
する流れ図である。」を加入する。 6、本願の添附図面に、添附の第7図を追加する。
略的に例示しだ斜視図である。 第2図(a)は、良好な圧着済み端子を、第2図(b)
。 (C)及び(d)は不良な圧着済み端子を例示した斜視
図である。 第6A図(a)並びに第6A図(b)、 (C)及び(
d)は、本発明の検査方法により得られる良好な圧着済
み端子及び不良/L圧着済み端子のそれぞれの側面外郭
像を1況明するだめの説明図である。 第3B図(a)並びに第6B図(b)、 (c)及び(
d)は、本発明の横歪方法により得られる良好な圧着済
み端子及び不良な圧着済み端子のそれぞれの平面外郭像
を説明するだめの説明図である。 第4図(a)、 (b)、 (C)及び(d)は、本発
明の検査方法により得られる圧着済み端子の側面外ソ1
9像を計測するだめの基準線及び基準点の求め方の説明
に供する説明図である。 第5図(a)並びに第5図(b)及び(C)は、本発明
の検査方法により得られる良好な圧着済み端子及び不良
な圧着済み端子のそれぞれの側面外郭像に対する良否判
定のだめの計測及び演算処理操作の説明に供する説明図
である。 第6図(a)より(1)までは、第5図(a)、 (b
)及び(C)の図解に加えて、本発明の検査方法により
得られる圧着済み端子の側面外郭像に対する良否判定の
ための計測及び演算処理操作の種々の態様の説明に供す
る説明図でちる。 (符号の説明) 11・・・圧着端子の電極部、 12・・・芯線圧着部
、13・・・中間部、 14・・・被覆把持部、
15・・・ワイヤバレル、 16・・・インシュレーションバレル、20・・・被覆
線、 21・・・芯線、側面外郭像の各区域、 211−]・・・側面外郭像の芯線領域、22H・・・
側面外郭像の被覆領域、 22V・・・211(と22Hとの間の段差、14V・
・・被覆把持部の側面外郭[象のかど、10)(,14
I’(・・・側面外郭像の横基準線、1ov、14v・
・・側面外郭像の縦基準線、X・・・計測基準点。 代理人 浅 村 皓 外4名 牙1図 図面の浄書で内容に変更なし) 牙4 図面の浄書(内容に変更なし) 第3B図 (01 (d) 訊面の浄a(内容(こ変更なし) 牙6図 オ6図 オ6図 手続補、正書(方式) 1゜事件の表示 昭和!7年特FF願第1J、?乙仙〆 号3、補正をす
る省 事件との関係 持r「出願人 4、代理人 5、補正命令の日付 <1f3AJ43D+fJ A’y’Ws圏>8、補正
の内容 別紙のとおり 手続補正書 昭和58年 9月λ/口 特許庁長官殿 1、事件の表示 昭和57年特許願第1!18124弓 2、発明の名称 圧着端子の検査方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 5、補正命令の日刊 1旧和 年 月 日6、補正により
増加する発明の数 図面 8、補正の内容 別紙のとおり 明細書第17頁第8行と第9行との間に、「第7図は、
以上説明した本発明の実施例の圧着端子の検査方法にお
いて行なわれる演算処理操作を図解した流れ図の一例を
示す。」を加入する。 2、 明細書第19頁第20行の下に、「第7図は、本
発明の検査方法において行なわれる演算処理操作を例示
する流れ図である。」を加入する。 6、本願の添附図面に、添附の第7図を追加する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)芯線圧着部と被覆把持部とを含む圧着端子の芯線
圧着部に被覆線の被覆層を剥離して露出させた芯線を圧
着させると共に該被覆把持部により被覆層を把持した被
覆線圧着端子の検査方法において、圧着済み端子の外郭
像を撮像し、該外郭像の中で被覆把持部の所定の端縁を
基準にして芯線圧潰部側の領域内における該外郭像の部
分を計測しかつ演算処理し、その結果に基づき該圧着済
み端子の良否を判定する圧着端子の検査方法。 (2、特許請求の範囲第1項に記載の圧着端子の検査方
法において、前記圧着済み端子の外郭像の被覆把持部の
端縁の所定のかどを計測基準点とし、該計測基準点を通
る直交基準線を座標軸として、芯線圧着部側の画像領域
内の縦横双方の濃淡反転境界点を求め、該反転境界点の
座櫟の二値化され 3た値が所定合格値に合致するや否
やを判定し、該圧着済み端子の良否を検査する検査方法
。 (3)特許請求の範囲第1項に記載の圧着端子の検査方
法において、前記圧着済み端子の外郭像の被覆把持部と
芯線圧着部との間の中間部の外側における濃淡反転像の
存在の有無を識別し、被覆層の切端の存在の有無を判別
する圧着端子の検査方法。 (4)特許請求の範囲第1項に記載の圧着端子の検査方
法において、前記圧着済み端子の外郭像の芯線圧着部の
加圧側の画像空白領域を走査し、該空の検査方法。 (5)特許請求の範囲第1項よシ第4項までのいずれか
に記載の圧着端子の検査方法において、前記圧着済み端
子の外郭像の撮像ば、該芯線圧着部における芯線圧着加
圧方向に対してほぼ直角の方向よシ該圧着済み端子の側
面外郭像を撮像することを含む圧着端子の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13812482A JPS5942436A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | 圧着端子の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13812482A JPS5942436A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | 圧着端子の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5942436A true JPS5942436A (ja) | 1984-03-09 |
| JPH0515977B2 JPH0515977B2 (ja) | 1993-03-03 |
Family
ID=15214527
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13812482A Granted JPS5942436A (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | 圧着端子の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5942436A (ja) |
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61133844A (ja) * | 1984-12-03 | 1986-06-21 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 端子圧着電線の端子圧着部検査方法 |
| JPS61162707A (ja) * | 1985-01-14 | 1986-07-23 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 圧着端子の圧着状態検査装置 |
| JPS61165644A (ja) * | 1985-01-17 | 1986-07-26 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 端子圧着電線の端子圧着部検査装置 |
| JPS61165646A (ja) * | 1985-01-17 | 1986-07-26 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 端子圧着電線の端子圧着部検査装置 |
| JPS61122510U (ja) * | 1985-01-18 | 1986-08-01 | ||
| FR2595029A1 (fr) * | 1986-02-21 | 1987-08-28 | Artos Engineering Co | Appareil de traitement des fils muni d'un dispositif de commande |
| JPH05126531A (ja) * | 1990-07-23 | 1993-05-21 | Toshiba Eng Co Ltd | 検査装置 |
| JPH05299150A (ja) * | 1992-04-21 | 1993-11-12 | Hirakawa Hewtec Kk | 電源コードと電気接続端子の接続強度の判定方法,及び判定装置 |
| JP2013232342A (ja) * | 2012-04-27 | 2013-11-14 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 圧着形状情報取得方法、及び、圧着形状情報取得装置 |
| JP2013232343A (ja) * | 2012-04-27 | 2013-11-14 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 圧着形状情報取得方法、及び、圧着形状情報取得装置 |
| JP2017009469A (ja) * | 2015-06-24 | 2017-01-12 | トルーソルテック株式会社 | 端子圧着不良検出装置 |
| WO2017043270A1 (ja) * | 2015-09-09 | 2017-03-16 | 住友電装株式会社 | 端子付電線の検査方法及び端子付電線検査装置 |
| JP2018163054A (ja) * | 2017-03-27 | 2018-10-18 | 住友電装株式会社 | 検査装置、および、検査方法 |
| JP2021050925A (ja) * | 2019-09-20 | 2021-04-01 | 矢崎総業株式会社 | 圧着端子の外観検査装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07243825A (ja) * | 1994-03-08 | 1995-09-19 | Japan Tobacco Inc | 線状材の検査方法 |
| JPH07243821A (ja) * | 1994-03-08 | 1995-09-19 | Japan Tobacco Inc | 線状材の検査方法 |
| JP5535152B2 (ja) * | 2011-08-25 | 2014-07-02 | 株式会社コスモネット | 圧着端子検査装置および圧着端子検査方法 |
Citations (3)
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|---|---|---|---|---|
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| JPS5760249A (en) * | 1980-09-29 | 1982-04-12 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | Terminal compression status inspecter for terminal compressed wire |
| JPS57113356A (en) * | 1980-12-30 | 1982-07-14 | Fujitsu Ltd | Article inspection system |
-
1982
- 1982-08-09 JP JP13812482A patent/JPS5942436A/ja active Granted
Patent Citations (3)
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| JP2013232342A (ja) * | 2012-04-27 | 2013-11-14 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 圧着形状情報取得方法、及び、圧着形状情報取得装置 |
| JP2013232343A (ja) * | 2012-04-27 | 2013-11-14 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 圧着形状情報取得方法、及び、圧着形状情報取得装置 |
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| WO2017043270A1 (ja) * | 2015-09-09 | 2017-03-16 | 住友電装株式会社 | 端子付電線の検査方法及び端子付電線検査装置 |
| JP2018163054A (ja) * | 2017-03-27 | 2018-10-18 | 住友電装株式会社 | 検査装置、および、検査方法 |
| JP2021050925A (ja) * | 2019-09-20 | 2021-04-01 | 矢崎総業株式会社 | 圧着端子の外観検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0515977B2 (ja) | 1993-03-03 |
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