JPS5945105B2 - プリント板回路の自動試験方法および装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はプリント板回路の試験方法、特に接触子を多数
設けたアダプタを用い入力データに従つて試験を行う自
動試験方法に関するものである。

プリント回路板はふつう部品を取付ける多数の挿入孔お
よびこれら挿入孔のうちの２つないしそれ以上の挿入孔
を短絡する接続回路を少なくとも１つ有している。そし
てアダプタとしては、被試験プリント回路板の挿入孔の
配置がどう変つても使用出来るよう予測される挿入孔配
置に対してすべての位置に接触子を配置した共通アダプ
タが使用される。このとき各接触子のためのスイッチは
、プリント回路板に予測される挿入孔配置に対するすべ
ての位置のアドレスに対応して便宜上同じアドレスを与
えられて配列される。そして或る特定のアドレスと他の
アドレスの間の試験は最低位のアドレスから順次高位の
方に行われるようにしてある。各アドレスにおける試験
は、たとえば試験機の中央処理装置からの入力データに
より、そのアドレスより高位に回路接続のあるアドレス
があるときは少なくとも最初のアドレスとの間の導通試
験と、そのアドレスより低位のすべてのアドレスとの間
の絶縁試験を行うようになつている。

ただこのままでは、試験しようとするアドレスに回路部
品挿入孔が形成されておらず且つたまたま他のアドレス
相互間の接続回路がここを通つている場合は、接触子が
安定して回路に接触しない場合が生じ易く、したがつて
測定した結果が誤りと判断される場合が多くなる。なお
このアドレスにおける接触子は、本来このプリント板の
試験には不要のものであり、したがつてこのアドレスの
接触子はこの場合の余剰接触子といわれる。そこで従来
のこの種の試験装置においては、プリント板に前記の余
剰接触子が接触しないように、プリント回路板の種類に
従つて回路部品挿入孔に対応するアドレスのところだけ
に接触子の自由に通る孔をあけた絶縁シート（マスクと
もいう）を作り、これを被試験プリント回路と共通アダ
プタの間に位置させて試験を行つていた。

そしてこのような試験方法により確実にプリント回路板
の検査を行うことができ実際に広く用いられていた。し
かしこの試験においては相当の時間を必要とするので、
量産という面からみると必ずしも満足すべきものではな
かつた。たとえば数千のアドレスを持つプリント回路板
の試験は、中に含まれる接続回路の数や配置によつて相
当異るが、数分を要する場合がしばしばある。その理由
は、あとから詳しく説明するように、１つのアドレスに
おける絶縁試験は最低位近くのもの以外は相当多くの回
数を必要とし、而も絶縁試験を行うアドレスの数（接続
回路のない挿入孔の数とマスクで阻止される余剰接触子
の数の和）が一般に相当多いからである。勿輪中央処理
装置からの入力データをそれなりに構成すれば後者の余
剰接触子からの無駄な絶縁試験を行わなくても済むが、
このようなソフトウエアは複雑となり、実際の試験にお
いては好ましくない。したがつて本発明はソフトウエア
を複雑化することなく余剰接触子からの無駄な絶縁試験
を行わなくて済むプリント板回路の自動試験方法および
この方法に用いるマスクを提供するにある。

本発明の方法は、一口にいえば、余剰接触子全部を（こ
れらの配置によつては２つ又はそれ以上の群に分けて）
導体で接続し、あたかもプリント板の対応する位置に接
続回路が形成されているようにしたものである。すなわ
ち、本発明のプリント板回路の自動試験方法は、被試験
プリント板の予測される多数の部品配置アドレスに対し
て各アドレスに接触し得る接触子を配置した共通アダプ
タ、およびこの共通アダプタと被試験プリント板の間に
置かれ、少なくともこの被試験プリント板の試験に必要
なアドレスに対応する使用接触子は容易に挿入可能であ
るが試験の必要のないアドレスに対応する余剰接触子は
当つて前述の接触が阻止されるようにしたマスクを用い
て接触子相互間の導通試験および絶縁試験を行うように
した試験方法において、前述のマスクが共通アダプタの
側において余剰接触子の当たる部分の多数を含む１つ又
は複数の、好ましくは１つの、導電体を形成しており、
この導電体に当たる余剰接触子を互いに回路接続状態に
して試験することを特徴とする試験方法である。更に本
発明の上記の試験に用いられるマスクは、その共通アダ
プタ側を少なくとも接触子の当る部分を含んで１つ又は
複数の導電体を形成するようにしたことを特徴とするマ
スクである。

次に図面を参照して詳細に説明する。

第１図は従来のプリント板回路の自動試験方法を実施す
るための装置の構造的な部分の断面図を示したものであ
る。

図を分り易くするため一部誇張して画いてある。図にお
いて、１１はプリント板、１２はメツキされ導電的にな
つている部品挿入孔、１３は部品挿入孔間を接続する回
路、１４はこの図に示されていない別の部品挿入孔間の
回路の断面を示したもの、１５は接触子保持体、１６は
この保持体に滑動的に保持されプリント板１１の方向に
スプリング７で弾性的に押されるようになつている接触
子、１７は絶縁材料で形成されたシートすなわちマスク
、１８は接触子の先端部１６が接触することなく挿入可
能なるようにあけられたマスク孔である。なお本明細に
おいては、一般的記述においては接触子先端部１６と保
持体１５を合せて接触子と称している。第２図はプリン
ト板回路の試験を行う場合の装置の一般的な構成の概要
を示すもので、２１は第１図の接触子保持体１５を多数
図示してない台枠で固定した共通アダプタであり、２２
はスイツチ群である。

いま図においてはアドレス３および５のスイツチが接続
されており、したがつて試験できるのは同じアドレス番
号の接触により３および５の部入挿入孔の間の試験（こ
の場合絶縁試験）が行えるような状態になつている。接
続すべき２つのスイツチの選択は、磁気テープＭＴｌ紙
テープＰＴなどからの試験データ入力に基づいて中央処
理装置２３からの選択信号により図示してないデコーダ
を用いて行われる。中央処理装置２３は又試験結果が予
め与えられている続又は断のデータと合致するかどうか
を判定し、その結果をタイプライタ２４に出力する。な
おこの第２図において、接続すべきスイツチの一方を４
とすれば、このアドレス４の接触子１６は、マスク１７
が絶縁材料でできているため、試験は絶縁試験となる。
このときアドレス３にパルス信号を送り、一定時間がた
つてもアドレス５から信号が戻つてこないことによつて
確められる。もしアドレス３と５の間が回路接続されて
いるとすると、試験はアドレス３にパルス信号を送り、
アドレス５から同じ形波が戻つてくるのを確める。次に
以上のようにして試験を行う場合どの程度の試験回数を
要するかについて説明する。

第３図は前記の構成による試験の所要回数を説明する図
で、１９個の小さい丸はプリント板回路を仮に一列とし
た場合の予測される部品配置に対する接触子をあられし
たもので、白丸は部品挿入用孔のないアドレスの余剰接
触子を、黒丸は部品挿入用孔を設けたアドレスの使用接
触子をそれぞれあられしている。

又使用接触子相互間を実線で接続してあるものは回路接
続があることを示している。最初の試験はまずアドレス
２と１のスイツチを閉じ（以下アドレスの番号を示すと
きは番号のみを記す）、２の余剰接触子と１の余剰接触
子の間の絶縁試験を行う。次は３の使用接触子について
２および１との間の計２回の絶縁試験を行うと共に回路
接続された使用接触子７との間の導通試験を行う。４の
余剰接触子、５の使用接触子、および６の余剰接触子な
ど回路接続のない接触子においては、前記の３の使用接
触子におけると同様に、試験順序とは逆向きにあるアド
レスの接触子をそれぞれ３回、４回、および５回の絶縁
試験を行う。

７の使用接触子においては、すでに３との間の導通試験
が終つており又あとに続く接触子がないので、この場合
試験は行わない。

以下同様に試験を行うと、導通試験は合計３回で済むが
、絶縁試験は合計１３７回となる。第３図に示されてい
る多数の小さい黒点は上記の絶縁試験をあられしたもの
である。なお導通試験は３回だけであるので図示してな
い。このように試験回数は全部で１４０回を必要とする
。なお参考までに附記すると、全部のアドレスが回路接
続されていないとすれば、絶縁試験の回数は１９（１９
−１）／２すなわち１７１となる。以上のように従来方
法によるときは試験回数が非常に多くなる。

勿論すべての試験結果が必要のものであれば止むを得な
いが、さきに述べたように、これらの試験の中余剰接触
子からの試験は本来はプリント板回路の試験としては不
要のものであり、勿も入力データによりこの無駄な試験
を行わないようにするようなソフトウエアは複雑になり
効果的でない。また１つの接触子についての絶縁試験に
おいて、この接触子より前の回路接続のある接触子との
間の試験は不要であるが、これは回数も少なく又前記と
同様入力データが複雑になるので、ふつう全部試験する
。第４図は本発明のプリント板回路の自動試験方法を実
施するための装置の構造的な部分の断面図を示したもの
で、第１図と異なる点はマスク３１が絶縁シート３２と
この板の接触子３３の側に被着した金属膜３４から成つ
ていることである。

第５図はマスク３１を金属膜３４の側からみた図であつ
て、十字で示したところが接触子の位置、２重丸の内側
の丸が絶縁シート３２の孔３５の縁を示し、２つの丸の
中間は金属層３４の縁部が若干後退していて絶縁体３２
の一部が輪状に見えている状態を示している。したがつ
て第４図において４つの余剰接触子（全体が集まつて共
通アダプタを形成する）は、絶縁試験においてはこれら
余剰接触子に対応するプリント板の部品挿入孔がお互い
に回路接続状態にあるのと同じ働きをする。

そこで試験のための入力データにこれら余剰接触子が回
路接続にあることの情報を入れておき、次のような試験
を行う。第６図は上記の本発明の試験方法における絶縁
試験の所要回路を説明するための図である。この図にお
いて点線で示した接続が前記の絶縁膜３４による回路接
続を示し、実質的には反対側の実線で示した回路接続と
同じである。まず余剰接触子２においては、これがそれ
より前の余剰接触子１と接続されているので、絶縁試験
は行わず、同じ回路接続に属する次の４で示される余剰
接触子との間の導通試験のみを行う。次の３の使用接触
子においては、２の余剰接触子と１の余剰接触子の間の
絶縁試験と、同じ回路接続にある次の使用接触子７との
間の導通試験を行う。次の４の余剰接触子においては、
２の余剰接触子における試験に対応する、余剰接触子６
との間の導通試験だけを行う。以下説明を省略するが、
図面はこれらの試験のうち絶縁試験のみを示したもので
あり、合計３８回となつている。導通試験は、図には示
してないが、１０回となる。したがつて必要な試験回数
は全部で４８回となる。この数字を従来の場合と比較す
ると、４８／１４０すなわち約３分の１となり、測定時
間もその割合で少なくてすむようになる。

本発明の試験法における絶縁試験の回数は、今までの説
明から分るように、回路接続のない単独の使用接触子の
数とプリント板の接続回路の数に支配されるものである
から、これらの数が少なくなるときは前記の割合はます
ます小さくなる。現在実際に製作を計画して現在試作中
の約４０００個の接触子を有する或るプリント板回路に
おいては、従来の方法では試験に約５分を要したのに、
本発明の方法によれば約３０秒で済む例も見出されてい
る。以上のように、マスクの構造と入力データを改良し
た本発明によれば、余剰接触子についての絶縁試験を行
う必要がなくなり、試験のための所要時間を大きく短縮
することができる。

なお上記の説明において、マスクの表面に形成される導
電体３４は、マスク全面に亘つて１つとしたが使用ピン
の配置の如何によつては２つ又はそれ以上にしてもよい
。

ただ１つ増す毎にその最初の余剰ピンからの絶縁試験が
必要となるので若干所要時間が長くなる。また導電体３
４の縁部が欠除しているのは、接触子が仮にこの部分に
接触しても試験が正しく行われるようにするためである
が、絶縁シート３２の孔３５の大きさを充分大きくとつ
ておけばこの欠除部分は必ずしも必要としない。

更に上記の実施例においては、回路接続のない接触子に
ついては逆方向の絶縁試験のみ行ない、回路接続のある
接触子（余剰接触子も導電体３４によつてこの部類に含
まれる）については、最初のアドレスにおいて逆向きの
絶縁試１験と次のアドレスに対する導通試験を行い、次
のアドレスにおいてはもつて更に次のアドレスがあれば
この更に次のアドレスとの間の導通試験を行うだけで逆
向きの絶縁試験は行わず、以下もしあれば同様に繰返し
、最後のアドレスについては何の試験も行わないような
方式になつている。

しかし導電体を具えたマスクを用いるのは必ずしも上記
の試，験方式に限定されるものでなく、他の方式であつ
てもよいことはいうまでもない。要は余剰接触子が測定
時に互いに回路接続している特徴を利用できる方式であ
ればよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のプリント板回路の自動試験方法を実施す
るための装置の構造的な部分の断面を示した図、第２図
はプリント板回路の試験を行う装置の構成の概要を示す
図、第３図は前記の構成による試験の所要回数を説明す
る図、第４図は本発明のプリント板回路の自動試験方法
を実施するための装置の構造的な部分の断面を示した図
、第５図は本発明の試験方式に用いるマスクを上面から
見た図、第６図は前記の構成による試験の所要回数を説
明する図である。 記号の説明：１１は絶縁板（プリント板）、２２１は共
通アダプタ、２２はスイツチ群、２３は中央処理装置、
３１はマスク、３２は絶縁シート、３３は接触子、３４
は導電体をそれぞれ示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 被試験プリント板の予測される多数の部品配置アド
   レスに対して各アドレスに接触し得る接触子を配置した
   共通アダプタ、およびこの共通アダプタと前記被試験プ
   リント板の間に置かれ、少なくともこの被試験プリント
   板の試験に必要なアドレスに対応する使用接触子は容易
   に挿入可能であるが試験の必要のないアドレスに対応す
   る余剰接触子は当つて前記接触が阻止されるようにした
   マスクを用いて前記接触子相互間の導通試験および絶縁
   試験を行うようにした試験方法において、前記マスクが
   前記共通アダプタの側において前記余剰接触子の当たる
   部分の多数を含む１つ又は複数の、好ましくは１つの、
   導電体を形成しており、この導電体に当たる余剰接触子
   を互いに回路接続状態にして試験することを特徴とする
   プリント板回路の自動試験方法。 ２ 被試験プリント板と多数の接触子を備えた共通アダ
   プタの中間に配置さるべく、前記被試験プリント板の試
   験の必要な部品配置の使用アドレス対応の位置に、接触
   子の容易に挿入可能な孔を多数設けたマスクにおいて、
   このマスクの前記共通アダプタ側を少なくとも前記接触
   子のこのマスクに当たる部分を含んで１つ又は複数の導
   電体を形成するようにしたことを特徴とするプリント板
   回路試験に用いられるマスク。 ３ 前記導電体が前記孔の近傍において欠除されている
   ことを特徴とする特許請求の範囲２のマスク。