JPS5946076A - ホ−ル素子 - Google Patents
ホ−ル素子Info
- Publication number
- JPS5946076A JPS5946076A JP57157138A JP15713882A JPS5946076A JP S5946076 A JPS5946076 A JP S5946076A JP 57157138 A JP57157138 A JP 57157138A JP 15713882 A JP15713882 A JP 15713882A JP S5946076 A JPS5946076 A JP S5946076A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- lead wires
- electrodes
- layer
- wires
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N52/00—Hall-effect devices
- H10N52/80—Constructional details
Landscapes
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)技術勺野
本発明は化合物半導体材料を用いたボール素子に関する
。
。
(r、+ )従来技術
ホール素子(」第1図に示4一様な十字形状の゛1′、
導体薄膜(1)の入力端子間に電流を7itシで」−;
さ、この薄膜(1)の面に垂面な方向に彰界を作用さH
ると、出力端子に研宋畜4度C二応した電圧が発生4゛
るものであり、磁気の検出や/iI+1定に利用汐ねる
。
導体薄膜(1)の入力端子間に電流を7itシで」−;
さ、この薄膜(1)の面に垂面な方向に彰界を作用さH
ると、出力端子に研宋畜4度C二応した電圧が発生4゛
るものであり、磁気の検出や/iI+1定に利用汐ねる
。
従来、フ1り〜ノ1素rは第2図に示す如く、ガラス等
の絶縁基1ff(2)、4−にイン〉ラム・ア〉デモナ
イド(InSb)の様な(ヒ合物゛(′導体層(3)を
薄着し、第1図に示11字形状に、コ、・T > ′”
シ(化合物I′導t#R(3)の端部に重畳・して銅ソ
7・キより成る電極(1)を設置f 、 電極(4)
に11−1〜線(5)をf’ +n fl ulて形成
して、いた。
の絶縁基1ff(2)、4−にイン〉ラム・ア〉デモナ
イド(InSb)の様な(ヒ合物゛(′導体層(3)を
薄着し、第1図に示11字形状に、コ、・T > ′”
シ(化合物I′導t#R(3)の端部に重畳・して銅ソ
7・キより成る電極(1)を設置f 、 電極(4)
に11−1〜線(5)をf’ +n fl ulて形成
して、いた。
期−ヒしlこホール素了−てはφ寺4/1を向1−lイ
)ノ:−y)に、絶縁基板(2)の表面を鏡面状態とし
、史に化合物半導体層(3)の厚さをInwn程度よて
薄くする必Wがある。この結果基板(2> 、”化合物
゛1″−導体層(3)との接着力および化合物゛1′導
体層〈3)と電極〈4)との接着力か1分−Cなく、リ
−1・線(5)が刊隙号−るおそれがあ−)た。
)ノ:−y)に、絶縁基板(2)の表面を鏡面状態とし
、史に化合物半導体層(3)の厚さをInwn程度よて
薄くする必Wがある。この結果基板(2> 、”化合物
゛1″−導体層(3)との接着力および化合物゛1′導
体層〈3)と電極〈4)との接着力か1分−Cなく、リ
−1・線(5)が刊隙号−るおそれがあ−)た。
(ハ)発明の開示
本発明6j断上り、 /−従来の欠点に鑑みてなされ、
従来の欠点を完全に除去4るホール素r−を提11(す
るものである。
従来の欠点を完全に除去4るホール素r−を提11(す
るものである。
本発明に依るホール素rは第3図に示4如へ、絶1i基
tff(11)ヒにイ〉・ノウム・ア〉デモ−)〆1−
(TnSb)の様な化合物半導体層(12)を蒸着し、
所望のト字形状に−T−ング゛ングした後化合物゛[L
導体層(12)の端部と重畳し基板(11)上に拡がる
拡張電極(13)を設け、拡張電極(13) 、!:リ
ード線(14)とを金属組゛線(15)で接続して形成
される。
tff(11)ヒにイ〉・ノウム・ア〉デモ−)〆1−
(TnSb)の様な化合物半導体層(12)を蒸着し、
所望のト字形状に−T−ング゛ングした後化合物゛[L
導体層(12)の端部と重畳し基板(11)上に拡がる
拡張電極(13)を設け、拡張電極(13) 、!:リ
ード線(14)とを金属組゛線(15)で接続して形成
される。
(ニ)実施例
オ発明に依るホール素頂は、02m厚のシリコン中結晶
基板の鏡面加工した主面に熱酸化膜を成長taだ絶縁基
板(11)を用い、この基板(11)の熱酸化膜上にイ
ンジウム・アンチモナイド(InSb)(12)を1μ
m程度蒸着し、約500℃で熱処理して結晶化する。然
る後ホトエツチングにより第11:1にがず」−字形状
に、コーンチングし、化合物半導体層(12)の端部に
その一部を重畳し基板(11)、1−に拡か2)拡張電
極(13)を形成−4−る。拡張電極(13)としrは
Cr−Auの二層構造とする。更に拡張電極(13)の
基板(110一部分に金の金属細線(15)の一端をポ
ンティ〉グし、他端はリード線(14)にポンティング
される。その後エボキン樹脂等で全体をトランスファモ
ールドしエポール素子を完成す−る。
基板の鏡面加工した主面に熱酸化膜を成長taだ絶縁基
板(11)を用い、この基板(11)の熱酸化膜上にイ
ンジウム・アンチモナイド(InSb)(12)を1μ
m程度蒸着し、約500℃で熱処理して結晶化する。然
る後ホトエツチングにより第11:1にがず」−字形状
に、コーンチングし、化合物半導体層(12)の端部に
その一部を重畳し基板(11)、1−に拡か2)拡張電
極(13)を形成−4−る。拡張電極(13)としrは
Cr−Auの二層構造とする。更に拡張電極(13)の
基板(110一部分に金の金属細線(15)の一端をポ
ンティ〉グし、他端はリード線(14)にポンティング
される。その後エボキン樹脂等で全体をトランスファモ
ールドしエポール素子を完成す−る。
(ホ)効果
本発明に依れば拡張電極り13)を大きく1れは基板(
11)との十分な接着力が得ら才する利点を有4る。ま
たリード線(14)との電気的接続は金属細線のボンデ
インクに1衣るの−〔、ホ〉ティンろ2時の)上刃デ・
素子完成後のリード線(14)からの狛を化合物”IL
、1体層< 12 ) ti全く受け4高信頼性のホー
jン素了を実現できる。更に拡張電極(13)にCr−
Au0層構造を採るの又“ツイヤ−ボンデインクの信頼
性も十分である。
11)との十分な接着力が得ら才する利点を有4る。ま
たリード線(14)との電気的接続は金属細線のボンデ
インクに1衣るの−〔、ホ〉ティンろ2時の)上刃デ・
素子完成後のリード線(14)からの狛を化合物”IL
、1体層< 12 ) ti全く受け4高信頼性のホー
jン素了を実現できる。更に拡張電極(13)にCr−
Au0層構造を採るの又“ツイヤ−ボンデインクの信頼
性も十分である。
第1図はポール素子を説明するL面図、第2図1:l徒
来のポール素rの構造を説1!I目’ ?、)断面図、
第3ヌは本発明のポール素子の刷I−説明4る断面図で
ある□ 1゛な図番の説明 (11)は絶縁基板、(12)は化i’i +4v 1
−導体層、(13)は拡張電極、 (14)はリード線
、(15)は金属細線である。 出願人 玉洋′唯機株式会jJ 外1名ゝ上ご (
来のポール素rの構造を説1!I目’ ?、)断面図、
第3ヌは本発明のポール素子の刷I−説明4る断面図で
ある□ 1゛な図番の説明 (11)は絶縁基板、(12)は化i’i +4v 1
−導体層、(13)は拡張電極、 (14)はリード線
、(15)は金属細線である。 出願人 玉洋′唯機株式会jJ 外1名ゝ上ご (
Claims (1)
- 1 羽用な裁板−1−に設(−1だ化合物半導体層と該
化合物半導体層の端811と重畳し前記基板1−に拡が
る拡張電極と前記基板」−の拡張電極−1−にボンーi
′1ン′)′されたり−1:線と接続した金属細線とよ
り構成される、−とを′Pf徴占するポールM′:F−
6
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57157138A JPS5946076A (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | ホ−ル素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57157138A JPS5946076A (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | ホ−ル素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5946076A true JPS5946076A (ja) | 1984-03-15 |
Family
ID=15643024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57157138A Pending JPS5946076A (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | ホ−ル素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5946076A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6171666A (ja) * | 1984-09-14 | 1986-04-12 | Asahi Kasei Denshi Kk | 薄型ホ−ル素子 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5015480A (ja) * | 1973-06-08 | 1975-02-18 | ||
| JPS5329103U (ja) * | 1976-08-19 | 1978-03-13 |
-
1982
- 1982-09-08 JP JP57157138A patent/JPS5946076A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5015480A (ja) * | 1973-06-08 | 1975-02-18 | ||
| JPS5329103U (ja) * | 1976-08-19 | 1978-03-13 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6171666A (ja) * | 1984-09-14 | 1986-04-12 | Asahi Kasei Denshi Kk | 薄型ホ−ル素子 |
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