JPS5960559U - 接続端子浮動機構 - Google Patents

接続端子浮動機構

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Publication number
JPS5960559U
JPS5960559U JP15691582U JP15691582U JPS5960559U JP S5960559 U JPS5960559 U JP S5960559U JP 15691582 U JP15691582 U JP 15691582U JP 15691582 U JP15691582 U JP 15691582U JP S5960559 U JPS5960559 U JP S5960559U
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JP
Japan
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terminal
housing
terminal housing
floating mechanism
relay
Prior art date
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Application number
JP15691582U
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JPH0514220Y2 (ja
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剛志 今井
宏 坂田
本木　進
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Advantest Corp
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Advantest Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の接続端子浮動機構の実施例の構成を
示す断面図、第２図はこの考案の接続端子浮動機構の実
施例における端子ハウジングの要部の構成を示す平面図
、第３図はこの考案の接続端子浮動機構の実施例におけ
るハウジング保持台の要部の構成を示す斜視図である。 １１：端子ハウジング、１２−１〜１２−ｎ。 ２５−１〜２５−ｎ、３１１〜３１−１．３２−１〜３
２−ｎ：取付孔、１３−１１〜１３−Ｉｎ。 １３−２１〜１３−２１，１３−３１〜１３−３０：端
子ピン、１４−１〜１４−ｎ、１６１〜１６−ｎ、２６
−１〜２６−ｎ：ねじ孔、１５：ハウジング保持台、１
７−１〜１７−ｎ：ねじ、２１：中継用端子ハウジング
、２２：端子板、２７−１１〜２７−１ｎ、２７−２１
〜２７−２１，２７−３１〜２７−３ｎ：端子ピン、２
３：環状体、３４−１１〜３４−Ｉｎ、３４−２１〜３
４−２ｎ：端子ピン、３７：支持体、４１−１〜４１−
ｎニガイドビン、４２ニブローブガード、４６：プロー
ブ、５１：被試験体。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 端子ハウジングと、この端子ハウジングが保持されるハ
    ウジング保持台と、前記端子ハウジングの端子とその端
    子が電気的に接触する中継ボードと、端子ビンば両面に
    突出し一面で前記端子ハウジングの端子と接触する中継
    用端子ハウジングと、この中継用端子ハウジングの他面
    に弾性的に接触した端子を持つプローブカードと、この
    プローブカードに取付けられ、その端子に接続されて被
    試験素子の端子と接触するプローブとを備え、前記プロ
    ーブカード、前記中継用端子ハウジング、前記端子ハウ
    ジングは互に機械的に連結され、前記端子ハウジングは
    前記ハウジング保持台に対して僅かに回動できるように
    構成されたことを特徴とする接続端子浮動機構。
JP15691582U 1982-10-15 1982-10-15 接続端子浮動機構 Granted JPS5960559U (ja)

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JP15691582U JPS5960559U (ja) 1982-10-15 1982-10-15 接続端子浮動機構

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JP15691582U JPS5960559U (ja) 1982-10-15 1982-10-15 接続端子浮動機構

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Publication Number Publication Date
JPS5960559U true JPS5960559U (ja) 1984-04-20
JPH0514220Y2 JPH0514220Y2 (ja) 1993-04-15

Family

ID=30346103

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55129454U (ja) * 1979-03-09 1980-09-12
JPS5779631A (en) * 1980-11-05 1982-05-18 Nec Corp Rotating mechanism of probe card for prober and fixing mechanism thereof
JPS5793543A (en) * 1980-12-03 1982-06-10 Nec Corp Measuring system for semiconductor element

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55129454U (ja) * 1979-03-09 1980-09-12
JPS5779631A (en) * 1980-11-05 1982-05-18 Nec Corp Rotating mechanism of probe card for prober and fixing mechanism thereof
JPS5793543A (en) * 1980-12-03 1982-06-10 Nec Corp Measuring system for semiconductor element

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JPH0514220Y2 (ja) 1993-04-15

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