JPS5961917A - 複合電子部品 - Google Patents
複合電子部品Info
- Publication number
- JPS5961917A JPS5961917A JP57173415A JP17341582A JPS5961917A JP S5961917 A JPS5961917 A JP S5961917A JP 57173415 A JP57173415 A JP 57173415A JP 17341582 A JP17341582 A JP 17341582A JP S5961917 A JPS5961917 A JP S5961917A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- dielectric constant
- composite electronic
- conductor
- attached
- Prior art date
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- Granted
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
- H10W90/734—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は積層コンデンサに゛1勺q体千ノブを取イτ1
げだ超重+1;!jの複合電子部品に関する。
げだ超重+1;!jの複合電子部品に関する。
従来例の構成とその問題点
一般に積層コンデンサに半導体千ノブを組合せだ複合′
重子部品は公知であるがこの種のものはいずれも第1図
に示すように構成されている。
重子部品は公知であるがこの種のものはいずれも第1図
に示すように構成されている。
第1図において、1は誘電率の11・hいたとえばチタ
ン酸バリウム等の層であり、2Fiす、に対向するよう
に」二層層1間に配置さh/こ積層コンデ°ノザを構成
する内部電極である。そして、3は層1と内部電極2と
で構成される積層コンデンサの外表向に形成されたA電
率の低いたとえばガラス等の層であり、この層30表面
に各電極パターン4.6及び金げ層5を形成し、金屈層
5の表面に゛1′導体チノゾ7を装着するようにしてい
る。
ン酸バリウム等の層であり、2Fiす、に対向するよう
に」二層層1間に配置さh/こ積層コンデ°ノザを構成
する内部電極である。そして、3は層1と内部電極2と
で構成される積層コンデンサの外表向に形成されたA電
率の低いたとえばガラス等の層であり、この層30表面
に各電極パターン4.6及び金げ層5を形成し、金屈層
5の表面に゛1′導体チノゾ7を装着するようにしてい
る。
尚8iri半導体デツプ7を各電極パターン4,6に接
続するソイヤーボンテイノグ、9は枠、10は枠9内に
充填されたボノテイノグ用樹脂である。
続するソイヤーボンテイノグ、9は枠、10は枠9内に
充填されたボノテイノグ用樹脂である。
第1図に示す従来の複合電子部品でも低誘電率の層3が
積層コンデンサの全表面に形成されており、この層3の
表面に各電極パターン4.6が形成されているだめ各電
極パターン4,6と積層コンデンサを構成する内部電極
2との間の浮遊容)11゛を非常に小さくすることがで
き、この点でニー優れたものであるということができる
。しかし在から、低誘電率の層3が積層コンデンサの全
表面に形成されこの層30表面に金肋層5を介して゛1
′導体−T−ノブ7が装着されている/こめ t 導体
デツプ7の電極と(−記各電極パターン4,6の間に大
きな段;ll′が生じ、その分だけツイヤ−ボンティジ
グ用のワイヤー8として長いものを用いなければならず
、1″1.:Hi周波的に悪影響を1〕えると共にワイ
ヤーポンチインクそのものの信頼性も低下するという問
題があった。寸だ、低誘電率の層3が゛14導体チップ
7を装着する部分に丑で形成されているだめ、1′31
′1(体チップ7を含めた全体の高さが高くなり、そ第
1だけボッティジグ用樹脂を多く必要とし全体と1−て
薄型化か困備(になるという問題かぁ−)だ。
積層コンデンサの全表面に形成されており、この層3の
表面に各電極パターン4.6が形成されているだめ各電
極パターン4,6と積層コンデンサを構成する内部電極
2との間の浮遊容)11゛を非常に小さくすることがで
き、この点でニー優れたものであるということができる
。しかし在から、低誘電率の層3が積層コンデンサの全
表面に形成されこの層30表面に金肋層5を介して゛1
′導体−T−ノブ7が装着されている/こめ t 導体
デツプ7の電極と(−記各電極パターン4,6の間に大
きな段;ll′が生じ、その分だけツイヤ−ボンティジ
グ用のワイヤー8として長いものを用いなければならず
、1″1.:Hi周波的に悪影響を1〕えると共にワイ
ヤーポンチインクそのものの信頼性も低下するという問
題があった。寸だ、低誘電率の層3が゛14導体チップ
7を装着する部分に丑で形成されているだめ、1′31
′1(体チップ7を含めた全体の高さが高くなり、そ第
1だけボッティジグ用樹脂を多く必要とし全体と1−て
薄型化か困備(になるという問題かぁ−)だ。
発明の目的
木兄[す1は以にのような従来の欠点を除去するもので
あり、1゛^゛j中な構成で、ワイヤボンティジグ用ワ
イヤーの長さを短かくでき、しかも全体として7i、I
IIξり化できる優れた複合電子部品をlij供するも
のである。
あり、1゛^゛j中な構成で、ワイヤボンティジグ用ワ
イヤーの長さを短かくでき、しかも全体として7i、I
IIξり化できる優れた複合電子部品をlij供するも
のである。
発明の構成
本発明は積層コンデンサの表面の半導体チップを装着す
る部分を除く部分に低誘電率の層を形成し、この層の1
7に各電極パターンを形成すると共に上記低誘電率の層
の形成されていない部分に゛I′導体デツプを装着する
ように構成したものである。
る部分を除く部分に低誘電率の層を形成し、この層の1
7に各電極パターンを形成すると共に上記低誘電率の層
の形成されていない部分に゛I′導体デツプを装着する
ように構成したものである。
実施例の説明
第2図、第3図は本発明の複合電子部品の−′火施例を
示ずものであり、図中第1図と同一1テ1υを伺したも
のは第1図と同一のものを示している。
示ずものであり、図中第1図と同一1テ1υを伺したも
のは第1図と同一のものを示している。
第2図、第3図において、第1図と異なる点に1、誘電
率の小さいたとえばガラス等の層3が゛1′導体千ノブ
7を装着する部分に形成されてち・らず、14)0体−
1−ツブ7は積層コンデンサを構成する誘電率の大きい
たとえばヂタシ酸バリウム等の層1の表向に直接形成さ
れた金屈層5−にに装着さ)−しているということであ
る。
率の小さいたとえばガラス等の層3が゛1′導体千ノブ
7を装着する部分に形成されてち・らず、14)0体−
1−ツブ7は積層コンデンサを構成する誘電率の大きい
たとえばヂタシ酸バリウム等の層1の表向に直接形成さ
れた金屈層5−にに装着さ)−しているということであ
る。
したがって、上記実施例によれば゛j″導体チップ7の
電極と各電極パターン4,6との間に牛じる段差が第1
図に示す従来のものに比し、誘電率の小さい層3の厚さ
分(通常01 mm〜0.15777j71稈度)だけ
小さくなり、ソイヤボシデイシグのだめのツイヤ−8も
それだけ短かくすることができるという利点をイ〕する
。すなわち、ソイヤボンテイノグのだめのツイヤ−8が
短かくなるととにより高周波的な性能が従来のものに比
して著しく向1−すると共にツイヤ−ポジティングその
ものの信頼性も向J二し、実用」二きわめてイ1刊であ
る。−まだ、−に記実施例によれば′″1イ導体チソグ
7を含む全体の高さを従来に比し誘電率の小さい層3の
厚さ分だけ1氏ぐすることができ、それだけボノテイノ
グ+41樹脂層10を’A!71 < L、全体を薄I
W化することができるという利点を有する。
電極と各電極パターン4,6との間に牛じる段差が第1
図に示す従来のものに比し、誘電率の小さい層3の厚さ
分(通常01 mm〜0.15777j71稈度)だけ
小さくなり、ソイヤボシデイシグのだめのツイヤ−8も
それだけ短かくすることができるという利点をイ〕する
。すなわち、ソイヤボンテイノグのだめのツイヤ−8が
短かくなるととにより高周波的な性能が従来のものに比
して著しく向1−すると共にツイヤ−ポジティングその
ものの信頼性も向J二し、実用」二きわめてイ1刊であ
る。−まだ、−に記実施例によれば′″1イ導体チソグ
7を含む全体の高さを従来に比し誘電率の小さい層3の
厚さ分だけ1氏ぐすることができ、それだけボノテイノ
グ+41樹脂層10を’A!71 < L、全体を薄I
W化することができるという利点を有する。
尚、実施例の」:うに金屈層5を積層コンデンサを構成
する誘電率の大きい層10表面に直接形成ずノ′1ば、
この層5と積層コンデンサを構成する内部型4i12と
の間で比較的大きな静電容@C1が発生ずるが」−記内
部電WL2の内上記金属層5に最も近い内部止枠2をア
ース電極として用いることに」:す、上記静電容吐C1
を上記金属層5に装着さノ1だ’l’ jib休チ体プ
7の高周波バイ゛ノ々スコノデシ−リ′として作用さす
ることかでき、別に高周波バイパスコシ戸ンザを設けな
くても良いという利点をイ]する。
する誘電率の大きい層10表面に直接形成ずノ′1ば、
この層5と積層コンデンサを構成する内部型4i12と
の間で比較的大きな静電容@C1が発生ずるが」−記内
部電WL2の内上記金属層5に最も近い内部止枠2をア
ース電極として用いることに」:す、上記静電容吐C1
を上記金属層5に装着さノ1だ’l’ jib休チ体プ
7の高周波バイ゛ノ々スコノデシ−リ′として作用さす
ることかでき、別に高周波バイパスコシ戸ンザを設けな
くても良いという利点をイ]する。
発明の効果
本発明は−に記実II(1誰りより明らかな」:うに積
層コンデンサの表面に半導体デツプを装着し >1′、
jibi体千ノ体音ノブする部分以外の部分に、透電
率の小さい層を形成し、ここに各電極パターンを形成し
。
層コンデンサの表面に半導体デツプを装着し >1′、
jibi体千ノ体音ノブする部分以外の部分に、透電
率の小さい層を形成し、ここに各電極パターンを形成し
。
これらの電極パターンと」−記−’l/−39体千ノブ
と全仏にワイヤーポジティングにより電気的に接続する
ように構成したものであり、ワイヤーポジティングのだ
めのワイヤーの長さを従来に比し著しく短かぐすること
かでき高周波的な特性改善と同+1+’i、ワイヤーポ
ジティングそのものの信頼性をも名しく向トさせること
ができ、イノ1せて全体をン轡型化し、超重J1”]化
することができるという優れた4、1長をイjする。
と全仏にワイヤーポジティングにより電気的に接続する
ように構成したものであり、ワイヤーポジティングのだ
めのワイヤーの長さを従来に比し著しく短かぐすること
かでき高周波的な特性改善と同+1+’i、ワイヤーポ
ジティングそのものの信頼性をも名しく向トさせること
ができ、イノ1せて全体をン轡型化し、超重J1”]化
することができるという優れた4、1長をイjする。
第1図は従来の複合電子部品の断側面図、第2図は本発
明の複合電子部品における一実施例の断I11面図、第
3図は同要部の十面図である。 1・・−・誘電率の大きい層、2−一一一内部電極、3
・・−・誘電率の小さい層、4,6・・電極パターン、
6・・・・金属層、7・・・パ1′導体チップ、8−・
・−ソイλ′−・j−ツノ−イノグ、9・・・にiシ、
’ O・・ ボッティック月1 +’5i 11旨。
明の複合電子部品における一実施例の断I11面図、第
3図は同要部の十面図である。 1・・−・誘電率の大きい層、2−一一一内部電極、3
・・−・誘電率の小さい層、4,6・・電極パターン、
6・・・・金属層、7・・・パ1′導体チップ、8−・
・−ソイλ′−・j−ツノ−イノグ、9・・・にiシ、
’ O・・ ボッティック月1 +’5i 11旨。
Claims (1)
- 積層コンデンサの表面に一′1′導体チ・ノブを装着し
、この゛I′導体チップの装着部分を除く」二層積層コ
ンテンザの表面に誘電率の著しく小さい層を形成し、こ
の層の表面(((上記半導体チップとlff1K電気的
に接続される電極パターンを形成して成る複合電子部品
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57173415A JPS5961917A (ja) | 1982-10-01 | 1982-10-01 | 複合電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57173415A JPS5961917A (ja) | 1982-10-01 | 1982-10-01 | 複合電子部品 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5961917A true JPS5961917A (ja) | 1984-04-09 |
| JPH0125218B2 JPH0125218B2 (ja) | 1989-05-16 |
Family
ID=15960010
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57173415A Granted JPS5961917A (ja) | 1982-10-01 | 1982-10-01 | 複合電子部品 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5961917A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012182486A (ja) * | 2005-06-02 | 2012-09-20 | Koninkl Philips Electronics Nv | Ledアセンブリ及びモジュール |
| JP2013179261A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-09-09 | Aisin Aw Co Ltd | スイッチング素子ユニット |
| WO2014021112A1 (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-06 | アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 | スイッチング素子ユニット |
-
1982
- 1982-10-01 JP JP57173415A patent/JPS5961917A/ja active Granted
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012182486A (ja) * | 2005-06-02 | 2012-09-20 | Koninkl Philips Electronics Nv | Ledアセンブリ及びモジュール |
| JP2013179261A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-09-09 | Aisin Aw Co Ltd | スイッチング素子ユニット |
| CN104160501A (zh) * | 2012-01-31 | 2014-11-19 | 爱信艾达株式会社 | 开关元件单元 |
| US9177948B2 (en) | 2012-01-31 | 2015-11-03 | Aisin Aw Co., Ltd. | Switching element unit |
| WO2014021112A1 (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-06 | アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 | スイッチング素子ユニット |
| JP2014029944A (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-13 | Aisin Aw Co Ltd | スイッチング素子ユニット |
| CN104335307A (zh) * | 2012-07-31 | 2015-02-04 | 爱信艾达株式会社 | 开关元件单元 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0125218B2 (ja) | 1989-05-16 |
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