JPS59663A - 波形テスト方法 - Google Patents
波形テスト方法Info
- Publication number
- JPS59663A JPS59663A JP57111208A JP11120882A JPS59663A JP S59663 A JPS59663 A JP S59663A JP 57111208 A JP57111208 A JP 57111208A JP 11120882 A JP11120882 A JP 11120882A JP S59663 A JPS59663 A JP S59663A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- test method
- nondefective
- microcomputer
- test
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2846—Fault-finding or characterising using hard- or software simulation or using knowledge-based systems, e.g. expert systems, artificial intelligence or interactive algorithms
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Medical Informatics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はＩＣ（集積回路）、トランジスタ。
ダイオードなどの半導体装置から得られる交流状の波形
（電圧、電流値が時間と共に変化）の良／否判定を行な
う場合などに好適する波形テスト方法に関する。
（電圧、電流値が時間と共に変化）の良／否判定を行な
う場合などに好適する波形テスト方法に関する。
この種の従来方法は、第１図に示す如く人間が、ブラウ
ン管に写ったＡＣ波形（時間と共に電圧、電流値が連続
的に変化する波形・・・交流状の波形）を見て、その艮
／否を判断していた。
ン管に写ったＡＣ波形（時間と共に電圧、電流値が連続
的に変化する波形・・・交流状の波形）を見て、その艮
／否を判断していた。
部ち作業者１により、ＩＣ供給箱２に入っているＩＣ３
をＩＣソケット箱４にセットし、テスト開始スイッチ５
をオン状態にする。するとテスト装置６により、ＡＣテ
スト波形がブラウン管１にあられれる。作業者１は、そ
れを見工良／否を判断し、テス）ＩＣを良品箱８または
不良品箱９へ選別するものである。
をＩＣソケット箱４にセットし、テスト開始スイッチ５
をオン状態にする。するとテスト装置６により、ＡＣテ
スト波形がブラウン管１にあられれる。作業者１は、そ
れを見工良／否を判断し、テス）ＩＣを良品箱８または
不良品箱９へ選別するものである。
しかしながら＄１図の方法では、テスト結果の艮／否の
判定が人間の判断であるため、テスト生産能力に限界が
あり、また判定ミスをおこすおそれがあった。
判定が人間の判断であるため、テスト生産能力に限界が
あり、また判定ミスをおこすおそれがあった。
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので。
波形テストを自動化すること）二より、生産能力を向上
し、信頼性の向上をはかり得る波形テスト方法を提供し
ようとするものである。
し、信頼性の向上をはかり得る波形テスト方法を提供し
ようとするものである。
上記発明の目的を達成するため１人間の視覚によるＡＣ
テスト波形の良／否の判断の代６月二、Ｉ’ｌ”Ｖ（工
業用テレビジョン）、Ｃ０Ｄ（電萄結合素子）等の撮像
装置のカメラで、テスト装置のブラウン管から画一デー
タを取り込み、マイクロコンピュータ等（二よるパター
ン認識による判断（＝置き換えたものである。
テスト波形の良／否の判断の代６月二、Ｉ’ｌ”Ｖ（工
業用テレビジョン）、Ｃ０Ｄ（電萄結合素子）等の撮像
装置のカメラで、テスト装置のブラウン管から画一デー
タを取り込み、マイクロコンピュータ等（二よるパター
ン認識による判断（＝置き換えたものである。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。、第
２図に示される如＜ＩＣ自動ローディング部１１及び搬
送部１２（二より、ＩＣＥがコンタクト部１３に送られ
てくる。ここで例えばＩＣ，９のビンとコンタクト部１
３の測定子とがコンタクトされたＩＣＥは、テスト装置
６（二よりＡＣＣススｌ形ブラウン管７に写し出す。
２図に示される如＜ＩＣ自動ローディング部１１及び搬
送部１２（二より、ＩＣＥがコンタクト部１３に送られ
てくる。ここで例えばＩＣ，９のビンとコンタクト部１
３の測定子とがコンタクトされたＩＣＥは、テスト装置
６（二よりＡＣＣススｌ形ブラウン管７に写し出す。
ｔ（Ｄｉｆｉｌカメラ（ＩＴＶ’、ｃｃＩ）等）１４で
写し、インターフェース１５によりマイクロコンピュー
タ１６へ画像データを取り込み、そのデータのパターン
認識をマイコン１６で行なう。
写し、インターフェース１５によりマイクロコンピュー
タ１６へ画像データを取り込み、そのデータのパターン
認識をマイコン１６で行なう。
このマイコシ１６内には、良品パターンとか良品の限界
値等のデータがいくつか収納されていることは勿論であ
る。そしてインターフェース１５から取り込んだデータ
と、マイコン１６内の良品パターン等との比較を行ない
、その結果得られた良／否の判定信号をインターフェー
ス１７に送り、良／否選別部１８を動作させ、ＩＣ３の
良／否を逸別するものである。
値等のデータがいくつか収納されていることは勿論であ
る。そしてインターフェース１５から取り込んだデータ
と、マイコン１６内の良品パターン等との比較を行ない
、その結果得られた良／否の判定信号をインターフェー
ス１７に送り、良／否選別部１８を動作させ、ＩＣ３の
良／否を逸別するものである。
上述した実施例によれば、自動化できることにより生産
能力が少くとも２〜３倍は向上する。
能力が少くとも２〜３倍は向上する。
また装置化することにより判断基準が明確になり、人間
がやるようなばらつきがなくなる。またカメラ１１とパ
ターン認識を行なうマイコン１６等を用意するだけでよ
く、従来のテスト装置のブラウン管から撮像装置１４を
介して画像を取り込み、画像比較を行なうだけの構成だ
から信号の処理形態が非常に単純であり、従って実施が
極めて容易である。
がやるようなばらつきがなくなる。またカメラ１１とパ
ターン認識を行なうマイコン１６等を用意するだけでよ
く、従来のテスト装置のブラウン管から撮像装置１４を
介して画像を取り込み、画像比較を行なうだけの構成だ
から信号の処理形態が非常に単純であり、従って実施が
極めて容易である。
以上説明した如く本発明によれば、自動化することＣ：
より生産能力が向上し、また機械化すること（二より信
頼性が向上し、また人間の代わりをする一般的な装置を
２〜３付加するだけで、従来のテスト用構成はいじらす
にそのま＼使えるから、実施が極めて容易である。
より生産能力が向上し、また機械化すること（二より信
頼性が向上し、また人間の代わりをする一般的な装置を
２〜３付加するだけで、従来のテスト用構成はいじらす
にそのま＼使えるから、実施が極めて容易である。
第１図は従来の波形テスト方法を示す概略構成図、＠２
図は本発明の一実施例を示す構成図である。 ３・・・ＩＣ１６・・・テスト装置、７・・・ブラウン
管。 １３・・・コンタクト部、１４ ・・・カメラ、１５゜
１７・・・インターフェース、１６・・・マイコン。 １８・・・ＩＣ選別部。
図は本発明の一実施例を示す構成図である。 ３・・・ＩＣ１６・・・テスト装置、７・・・ブラウン
管。 １３・・・コンタクト部、１４ ・・・カメラ、１５゜
１７・・・インターフェース、１６・・・マイコン。 １８・・・ＩＣ選別部。
Claims (5)
- （１）被測定物から得られる交流状の波形をブラウン管
に写し、前記波形画像を撮像装置（二より取り込み、パ
ターン認識により前記波形の良／否の判定を行なうこと
を特徴とする波形テスト方法。 - （２）、前記パターン認識は、前記被測定物がら得られ
る波形と基準の良品波形パターンとを比較するものであ
ることを特徴とする特許請求の範囲！Ｊ１項１：記載の
波形テスト方法。 - （３）前記被測定物は、集積回路、トランジスタ、ダイ
オードなどの半導体装置であることを特徴とする特許請
求の範囲第１項に記載の波形テスト方法。 - （４）前記撮像装置は、工業用テレビジョンまたはＣＯ
Ｄカメラであることを特徴とする特許請求の範囲第１項
に記載の波形テスト方法。 - （５）前記交流状の波形は１時間と共檻二電圧。 電流値が連続的に変化するものであることを特徴とする
特許請求の範囲第１項４二記載の波形テスト方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111208A JPS59663A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 波形テスト方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111208A JPS59663A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 波形テスト方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59663A true JPS59663A (ja) | 1984-01-05 |
Family
ID=14555257
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57111208A Pending JPS59663A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 波形テスト方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59663A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6234081A (ja) * | 1985-08-06 | 1987-02-14 | Fujitsu Ten Ltd | 電子機器の検査方法 |
| JPS62213489A (ja) * | 1986-03-14 | 1987-09-19 | Tokyo Electric Co Ltd | オツシロスコ−プ波形記録再生システム |
| JPS63121756A (ja) * | 1986-10-31 | 1988-05-25 | テクトロニックス・インコーポレイテッド | 画像信号処理装置 |
| JPS63142981A (ja) * | 1986-11-28 | 1988-06-15 | テクトロニックス・インコーポレイテッド | ビデオカメラ装置 |
| JPH04372876A (ja) * | 1991-06-24 | 1992-12-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 波形判定装置 |
-
1982
- 1982-06-28 JP JP57111208A patent/JPS59663A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6234081A (ja) * | 1985-08-06 | 1987-02-14 | Fujitsu Ten Ltd | 電子機器の検査方法 |
| JPS62213489A (ja) * | 1986-03-14 | 1987-09-19 | Tokyo Electric Co Ltd | オツシロスコ−プ波形記録再生システム |
| JPS63121756A (ja) * | 1986-10-31 | 1988-05-25 | テクトロニックス・インコーポレイテッド | 画像信号処理装置 |
| JPS63142981A (ja) * | 1986-11-28 | 1988-06-15 | テクトロニックス・インコーポレイテッド | ビデオカメラ装置 |
| JPH04372876A (ja) * | 1991-06-24 | 1992-12-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 波形判定装置 |
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