JPS597774Y2 - 温度補償式サ−ジ吸収回路 - Google Patents
温度補償式サ−ジ吸収回路Info
- Publication number
- JPS597774Y2 JPS597774Y2 JP8491176U JP8491176U JPS597774Y2 JP S597774 Y2 JPS597774 Y2 JP S597774Y2 JP 8491176 U JP8491176 U JP 8491176U JP 8491176 U JP8491176 U JP 8491176U JP S597774 Y2 JPS597774 Y2 JP S597774Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- surge
- absorption circuit
- surge absorption
- current
- Prior art date
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- Electronic Switches (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は電子電装品、高圧発生装置、高圧サージ保護
装置等に用いるサージ吸収回路に関するものである。
装置等に用いるサージ吸収回路に関するものである。
上記サージ吸収回路としては第4図に示した構戊、特に
破線で囲った構或のものがある。
破線で囲った構或のものがある。
これは1次側コイルTIPに1次電流を流し、スイッチ
ングトランジスタQ2の遮断で2次側コイルTISに高
電圧を発生するようにした回路であり、前記スイッチン
グトランジスタQ2がスイッチングを行なう際に発生す
るサージ電圧を抵抗R1及びR2で分圧し、A点をゼナ
ーダイオードZDのゼナー電圧v2まで下げる。
ングトランジスタQ2の遮断で2次側コイルTISに高
電圧を発生するようにした回路であり、前記スイッチン
グトランジスタQ2がスイッチングを行なう際に発生す
るサージ電圧を抵抗R1及びR2で分圧し、A点をゼナ
ーダイオードZDのゼナー電圧v2まで下げる。
すると、ゼナーダイオードZDがオンしてトランジスタ
Q1にベース電流が流れてオンし、該トランジスタのオ
ンにより、トランジスタQ2のベースに電流が流れてト
ランジスタQ2がオンし、サージ電圧は抵抗R1,R2
で吸収され、スイッチングトランジスタQ2が保護され
る。
Q1にベース電流が流れてオンし、該トランジスタのオ
ンにより、トランジスタQ2のベースに電流が流れてト
ランジスタQ2がオンし、サージ電圧は抵抗R1,R2
で吸収され、スイッチングトランジスタQ2が保護され
る。
そして、B点のサージ制限電圧■Sは
で与えられる。
(VBE : }ランジスタQ2のベース・エミツタ間
電圧)。
電圧)。
しかしながら、このようなサージ吸収回路は、温度変化
によってベース・エミツタ間電圧VBEが変化するとサ
ージ制限電圧v5も変化する。
によってベース・エミツタ間電圧VBEが変化するとサ
ージ制限電圧v5も変化する。
このため、スイッチングトランジスタQ2のサージ耐圧
を越えてしまうことがあり、スイッチングトランジスタ
Q2が破壊されることになる。
を越えてしまうことがあり、スイッチングトランジスタ
Q2が破壊されることになる。
またサージ耐圧より低くなった場合には、2次側コイル
TISに発生する電圧が低くなって高電圧発生装置とし
ての性能が劣下すると云う欠点がある。
TISに発生する電圧が低くなって高電圧発生装置とし
ての性能が劣下すると云う欠点がある。
この考案は上記事情に鑑みなされたもので、その目的は
温度変化によるサージ電圧の変化を押えスイッチング素
子の破壊や装置の特性の劣下が起こらないようにしたサ
ージ吸収回路を提供しようとするものである。
温度変化によるサージ電圧の変化を押えスイッチング素
子の破壊や装置の特性の劣下が起こらないようにしたサ
ージ吸収回路を提供しようとするものである。
以下、この考案を添付図面に示したいくつかの実施例に
つき詳説する。
つき詳説する。
尚同一部分には同一符号を付してある。
第1図は前記従来のサージ吸収回路の抵抗&の代わりに
感熱抵抗体Pを用いた回路を示すもので電流は1次側コ
イルTIPのB点から抵抗R1を介してA点へ、A点か
ら一方は感熱抵抗体Pを介してアースへ、他方はゼナー
ダイオードZDを介してトランジスタQ1のベースへ流
れる。
感熱抵抗体Pを用いた回路を示すもので電流は1次側コ
イルTIPのB点から抵抗R1を介してA点へ、A点か
ら一方は感熱抵抗体Pを介してアースへ、他方はゼナー
ダイオードZDを介してトランジスタQ1のベースへ流
れる。
この回路は、下記の2式に示すように、温度変化による
トランジスタQ2のベース・エミツタ電圧VBEに伴な
うサージ制限電圧V5の変化と、これを相殺するような
特性を持つ感熱抵抗体Pを用いて、サージ制限電圧の安
定をはかる回路である。
トランジスタQ2のベース・エミツタ電圧VBEに伴な
うサージ制限電圧V5の変化と、これを相殺するような
特性を持つ感熱抵抗体Pを用いて、サージ制限電圧の安
定をはかる回路である。
(RP :感熱抵抗体の抵抗値)
即ち、温度変化によってVBEが変化しても感熱抵抗体
Pの抵抗値RPも変化するためサージ制限電圧■5がほ
ぼ一定に保たれるので、温度変化によるスイッチングト
ランジスタQ2の破壊や回路を組み込んだ装置の特性の
劣下が防止される。
Pの抵抗値RPも変化するためサージ制限電圧■5がほ
ぼ一定に保たれるので、温度変化によるスイッチングト
ランジスタQ2の破壊や回路を組み込んだ装置の特性の
劣下が防止される。
また、感熱抵抗体Pの特性によっては第1a図或は第1
b図に示すように、感熱抵抗体Pと直列或は並列に抵抗
R′2或はR″2を接続して補償することもできる。
b図に示すように、感熱抵抗体Pと直列或は並列に抵抗
R′2或はR″2を接続して補償することもできる。
さらに、第2図に示すように抵抗R1の代わりに感熱抵
抗体Pを用いても下記3式のように温度補償をしたサー
ジ制限電圧■5が与えられ、第3図に示すようにサージ
電圧を分圧する両方の抵抗R1及びR2を感熱抵抗体P
1及びP2にしても下記4式のように温度補償をしたサ
ージ制限電圧■5が得られる。
抗体Pを用いても下記3式のように温度補償をしたサー
ジ制限電圧■5が与えられ、第3図に示すようにサージ
電圧を分圧する両方の抵抗R1及びR2を感熱抵抗体P
1及びP2にしても下記4式のように温度補償をしたサ
ージ制限電圧■5が得られる。
さらにまた、温度補償には感熱抵抗体Pに限らず、ゼナ
ーダイオードZDのゼナー電圧Vz或はスイッチングト
ランジスタQ2のベース・エミツタ電圧vBEと逆の温
度特性をもつ半導体その他の素子を使用することができ
る。
ーダイオードZDのゼナー電圧Vz或はスイッチングト
ランジスタQ2のベース・エミツタ電圧vBEと逆の温
度特性をもつ半導体その他の素子を使用することができ
る。
以上述べたように、この考案のサージ吸収回路は、温度
変化によるサージ制限電圧の変化がないため、スイッチ
ング素子の破壊や高圧発生装置の特性の劣下が起こらな
いという優れた効果を奏するものである。
変化によるサージ制限電圧の変化がないため、スイッチ
ング素子の破壊や高圧発生装置の特性の劣下が起こらな
いという優れた効果を奏するものである。
第1図は本考案に係る一実施例のサージ吸収回路、第1
a図及び第1b図は要部のみを示す2例の回路図、第2
図及び第3図は更に他の実施例に係るサージ吸収回路、
第4図は従来例を示す回路図である。 TIP・・・1次側巻線、TIS・・・2次側巻線、Q
1及びQ2・・・スイッチングトランジスタ、ZD・・
・ゼナーダイオード、R1及びR2・・・分圧抵抗、P
,P1及びP2・・・感熱抵抗体。
a図及び第1b図は要部のみを示す2例の回路図、第2
図及び第3図は更に他の実施例に係るサージ吸収回路、
第4図は従来例を示す回路図である。 TIP・・・1次側巻線、TIS・・・2次側巻線、Q
1及びQ2・・・スイッチングトランジスタ、ZD・・
・ゼナーダイオード、R1及びR2・・・分圧抵抗、P
,P1及びP2・・・感熱抵抗体。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1次側巻線に1次電流を流し、スイッチング素子の作動
で2次側巻線に高電圧を発生させた際に生じるサージ電
圧を分圧抵抗にて分圧し、この分圧電圧によって導通ず
るゼナーダイオードからの電流を得て動作するトランジ
スタの動作電流を前記スイッチング素子のベース電流と
して供給するようにしたサージ吸収回路において、 前記分圧抵抗のどちらか一方もしくは両方を、前記1次
側巻線と前記スイッチング素子との接続点に与えられる
サージ制限電圧の温度変化による電圧変化分を相殺しつ
る特性を有する温度補償素子としたことを特徴とするサ
ージ吸収回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8491176U JPS597774Y2 (ja) | 1976-06-28 | 1976-06-28 | 温度補償式サ−ジ吸収回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8491176U JPS597774Y2 (ja) | 1976-06-28 | 1976-06-28 | 温度補償式サ−ジ吸収回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS532614U JPS532614U (ja) | 1978-01-11 |
| JPS597774Y2 true JPS597774Y2 (ja) | 1984-03-09 |
Family
ID=28567162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8491176U Expired JPS597774Y2 (ja) | 1976-06-28 | 1976-06-28 | 温度補償式サ−ジ吸収回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS597774Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS597756B2 (ja) * | 1980-05-13 | 1984-02-20 | 新日本製鐵株式会社 | コ−クス炉ガスの湿式脱硫方法 |
| JPS5793817U (ja) * | 1980-11-28 | 1982-06-09 |
-
1976
- 1976-06-28 JP JP8491176U patent/JPS597774Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS532614U (ja) | 1978-01-11 |
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