JPS598356Y2 - ブロ−ブカ−ド用エツジセンサ - Google Patents
ブロ−ブカ−ド用エツジセンサInfo
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- JPS598356Y2 JPS598356Y2 JP7079679U JP7079679U JPS598356Y2 JP S598356 Y2 JPS598356 Y2 JP S598356Y2 JP 7079679 U JP7079679 U JP 7079679U JP 7079679 U JP7079679 U JP 7079679U JP S598356 Y2 JPS598356 Y2 JP S598356Y2
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- needle
- tip
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- Expired
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- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 7
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は3本の針を用いたブローブカード用エツジセン
サに関するものである。
サに関するものである。
集積回路の電気的特性を検査するためにウエハのパッド
上に探針を接触させ、この探針をプリント回路で電気的
に端子に導くようにしたプローブカードは既に知られて
いる。
上に探針を接触させ、この探針をプリント回路で電気的
に端子に導くようにしたプローブカードは既に知られて
いる。
このブローブカードの探針がウエハの面上からはずれな
いように、通常、ウエハの周辺位置を検出するためにエ
ッジセンサが用いられている。
いように、通常、ウエハの周辺位置を検出するためにエ
ッジセンサが用いられている。
第1図は従来のエツジセンサの斜視図である。
1はブローブロードの基板、2,3はその基板1の下面
に樹脂などで涸定されたエツジセンサを構成する針であ
る。
に樹脂などで涸定されたエツジセンサを構成する針であ
る。
針2,3は弾性導電材料からなり途中から先になるにつ
れて細くなるように形威されており、このうち針2は先
端部がほぼ直角に下方に折曲げられ、針3は先端部が直
角に横方向に折曲げられて針2と常時接触するように配
置されている。
れて細くなるように形威されており、このうち針2は先
端部がほぼ直角に下方に折曲げられ、針3は先端部が直
角に横方向に折曲げられて針2と常時接触するように配
置されている。
ブローブカードを検査台に載せ、ウエハを下から押し上
げブローブカードの基板1に固定された検査用の探針(
図示せず)にパッドを接触させて検査状態にセットする
と、針2はその先端がウエハの表面に接触して押し上げ
られるため、針2と3の接触は開かれる。
げブローブカードの基板1に固定された検査用の探針(
図示せず)にパッドを接触させて検査状態にセットする
と、針2はその先端がウエハの表面に接触して押し上げ
られるため、針2と3の接触は開かれる。
したがって針2,3が接続されるセンサ回路はオフの状
態になる。
態になる。
探針とウエハのパッドが接触すると外部回路とウエハは
電気的に接続されてウエハの電気特性の検査がなされる
。
電気的に接続されてウエハの電気特性の検査がなされる
。
さらにウエハは上下および左右方向の移動を繰り返しな
がら各点の検査を行なう。
がら各点の検査を行なう。
そしてエツ.ジセンサの針2の先端がウエハの縁にきて
針2の先端がウエハから落ちると針2と3は接触する。
針2の先端がウエハから落ちると針2と3は接触する。
この結果、センサ回路はオンの状態になり、探針がウエ
ハの縁に近づいたことを知らせる。
ハの縁に近づいたことを知らせる。
しがしながら、検査中に針2の先端がウエハ上の電位の
あるパッド等の位置に接触すると、針2に電流が流れて
しまい、これが誤信号となって針2と3は開いているの
にもかかわらすセンサ回路はオン状態になってしまうこ
とがある。
あるパッド等の位置に接触すると、針2に電流が流れて
しまい、これが誤信号となって針2と3は開いているの
にもかかわらすセンサ回路はオン状態になってしまうこ
とがある。
この問題を解決するために、第2図に示すように針2の
先端に絶縁体4を設けたエツジセンサが考えられている
。
先端に絶縁体4を設けたエツジセンサが考えられている
。
このようにすると、針2の先端が絶縁されるため誤信号
が流れることはなくなる。
が流れることはなくなる。
しかし、針2の先端を細く尖鋭に形或することは可能で
あるが、この上に薄く絶縁加工することは困難であるた
め、絶縁体の形状がどうしても大きくなりエッジセンサ
の検出感度を低下させてしまうという欠点があった。
あるが、この上に薄く絶縁加工することは困難であるた
め、絶縁体の形状がどうしても大きくなりエッジセンサ
の検出感度を低下させてしまうという欠点があった。
本考案はこのような従来の欠点を解消するために考えら
れたもので、その目的とするところは、誤信号を拾うこ
となく、シかも検出感度の高いブローブカード用エツジ
センサを提供することにある。
れたもので、その目的とするところは、誤信号を拾うこ
となく、シかも検出感度の高いブローブカード用エツジ
センサを提供することにある。
このような目的を達するために、本考案は、3本の針を
設け、第1の針の先端をウエハに接触させ、この第1の
針の上下移動によって第1の針に設けた絶縁体を介して
第2の針と第3の針の開閉を行なうようにしたものであ
る。
設け、第1の針の先端をウエハに接触させ、この第1の
針の上下移動によって第1の針に設けた絶縁体を介して
第2の針と第3の針の開閉を行なうようにしたものであ
る。
以下、本考案を実施例によって詳細に説明する。
第3図は本考案に係るブローブカード用エツジセンサの
一実施例の斜視図である。
一実施例の斜視図である。
図において、10はプリント配線基板からなるプローブ
カードの基板、11,12.13は基板10の開口周辺
の上面に形威された導電パターン、14,15.16は
導電パターン11 ,12.13にそれぞれ形威された
スルーホールである。
カードの基板、11,12.13は基板10の開口周辺
の上面に形威された導電パターン、14,15.16は
導電パターン11 ,12.13にそれぞれ形威された
スルーホールである。
こレラの導電パターン11,12.13はこのスルーホ
ール14,15.16を介して基板10の下面に形戒さ
れた配線パターンにそれぞれ接続されている。
ール14,15.16を介して基板10の下面に形戒さ
れた配線パターンにそれぞれ接続されている。
導電パターン12.13はセンサ回路に接続され、導電
パターン11は必要に応じ検査回路に接続される。
パターン11は必要に応じ検査回路に接続される。
21,22.23は基部にはんだ付けによりアーム24
,25.26が固定された針で、弾性導電材料からなり
途中から先が順次細くなるように形威されている。
,25.26が固定された針で、弾性導電材料からなり
途中から先が順次細くなるように形威されている。
そして各針21.22.23はその基部のアーム24,
25.26が導電パターン11,12.13にそれぞれ
はんだ27によって取付けられ、基板10の開口にほぼ
平行に突出するように固定される。
25.26が導電パターン11,12.13にそれぞれ
はんだ27によって取付けられ、基板10の開口にほぼ
平行に突出するように固定される。
そして、針21は先端をほぼ直角に下方に折曲げて垂直
部21 aが形威され、針22は先端を直角に横方向に
折曲げて先端水平部22 aが形威され、針23は先端
がそのまま真直ぐ延びて先端水平部23 aが形或され
る。
部21 aが形威され、針22は先端を直角に横方向に
折曲げて先端水平部22 aが形威され、針23は先端
がそのまま真直ぐ延びて先端水平部23 aが形或され
る。
さらに、針21の水平部の先端部分には絶縁材料からな
るチューブ28が設けられている。
るチューブ28が設けられている。
ここで、針22と23はセンサスイツチを構戒し、針2
1はスイッチアクチュエータを構戒する。
1はスイッチアクチュエータを構戒する。
そして、常時は、先端水平部22aと233は接触して
センサスイツチはオンになっており、このときチューブ
28は先端水平部22 aに軽く接触するか又はやや間
隔をおくようにそれぞれ配置されている。
センサスイツチはオンになっており、このときチューブ
28は先端水平部22 aに軽く接触するか又はやや間
隔をおくようにそれぞれ配置されている。
なお実際にはエツジセンサのほかに検査用の探針が多数
開口に突出して設けられるが図では省略してある。
開口に突出して設けられるが図では省略してある。
次にこのエツジセンサの使用動作について説明する。
第4図は針の部分の側面図である。
図において、30は可動台、31は可動台30の上に載
置された被検査用のウエハである。
置された被検査用のウエハである。
図aは基板10を検査台(図示せず)に載せ、ウエハ3
1がまた下位置にある状態を示している。
1がまた下位置にある状態を示している。
この状態では針22の先端水平部22 aは針21のチ
ューブ28に押されることはなくセンサスイツチはオン
している。
ューブ28に押されることはなくセンサスイツチはオン
している。
次に、ウエハ31の検査をするために可動台30を上昇
し、図bに示すように、ウエハ31を上位置に持ち上げ
ると、垂直部21 aの先端がウエハ31の表面に当り
、さらに垂直部21 aは上方に押し上げられる。
し、図bに示すように、ウエハ31を上位置に持ち上げ
ると、垂直部21 aの先端がウエハ31の表面に当り
、さらに垂直部21 aは上方に押し上げられる。
この結果、チューブ28を介して針22の先端水平部2
2aも押し上げられて針23の先端水平部23a(第4
図には図示せず)とはなれセンサスイツチはオフ状態に
なる。
2aも押し上げられて針23の先端水平部23a(第4
図には図示せず)とはなれセンサスイツチはオフ状態に
なる。
かくて、ウエハ31が上位置でかつセンサスイツチがオ
フのときは、センサ回路はウエハ31が正規の検査状態
にあることを検出する。
フのときは、センサ回路はウエハ31が正規の検査状態
にあることを検出する。
この状態で周知のように図示しない探針によってウエハ
31の電気的特性が検査される。
31の電気的特性が検査される。
次にウエハ31が下位置に下ると垂直部21 aも下降
しチューブ28が下方に移動するため、針22は自身の
弾力で元の位置に戻りセンサスイツチはオンする。
しチューブ28が下方に移動するため、針22は自身の
弾力で元の位置に戻りセンサスイツチはオンする。
この上下動作と水平移動を繰り返して探針によってウエ
ハ31の各点が検査される。
ハ31の各点が検査される。
そして、ウエハ31が上位置にあるとき垂直部21 a
の先がウエハ31の表面の縁からはずれて可動台30上
に落ちるとセンサスイツチはオンになる。
の先がウエハ31の表面の縁からはずれて可動台30上
に落ちるとセンサスイツチはオンになる。
このように、ウエハ31が上位置でかつセンサスイツチ
がオンのときはセンサ回路はウエハ31がエッジ状態に
あることを検出する。
がオンのときはセンサ回路はウエハ31がエッジ状態に
あることを検出する。
なお、針21を検査回路に接続すれば、針21にはセン
サスイツチのアクチュエータとしての機能のほかに探針
としての機能を持たせることもできる。
サスイツチのアクチュエータとしての機能のほかに探針
としての機能を持たせることもできる。
このようにこの実施例では、針21の垂直部21aの先
端は尖鋭に形或できるために、精密な寸法でウエハ上に
配置できエッジ検出感度を高くすることができる。
端は尖鋭に形或できるために、精密な寸法でウエハ上に
配置できエッジ検出感度を高くすることができる。
しかも絶縁材のチューブ28を介してセンサスイツチを
動作させるのでウエハからセンサ回路に誤信号が入るこ
ともなくなる。
動作させるのでウエハからセンサ回路に誤信号が入るこ
ともなくなる。
また、従来は、ブローブカードの基板10の下面に多数
の探針が設けられていて、エツジセンサを取付ける場所
がなかなか得られなかったが、この実施例では基板10
の上面にエツジセンサの3本の針を取付けるのでスペー
スが有効に使え通常のブローブカードにそのまま適用す
ることができる。
の探針が設けられていて、エツジセンサを取付ける場所
がなかなか得られなかったが、この実施例では基板10
の上面にエツジセンサの3本の針を取付けるのでスペー
スが有効に使え通常のブローブカードにそのまま適用す
ることができる。
しかも、エツジセンサが故障してもその修理,交換が容
易にできる利点がある。
易にできる利点がある。
また、アーム24,25.26から先の針の長さはそれ
ぞれ一定になるため、これらアームをウエハの位置に合
せて任意に前後させて導体パターン11,12.13に
取付けても、各針の弾力は変らす針圧は均一になり安定
したエッジ検出ができる。
ぞれ一定になるため、これらアームをウエハの位置に合
せて任意に前後させて導体パターン11,12.13に
取付けても、各針の弾力は変らす針圧は均一になり安定
したエッジ検出ができる。
さらに、ウエハのパッドが密になってエツジセンサを配
置するスペースがないような場合は、前記のように針2
1を検査用の探針として利用することができるため、こ
のような密の場合でも容易にエツジセンサを設けること
が可能となる。
置するスペースがないような場合は、前記のように針2
1を検査用の探針として利用することができるため、こ
のような密の場合でも容易にエツジセンサを設けること
が可能となる。
このように本考案に係るブローブカード用エッジセンサ
によると、簡単な構造により、誤信号を拾うことなく、
シかも検出感度を大きく向上できる効果がある。
によると、簡単な構造により、誤信号を拾うことなく、
シかも検出感度を大きく向上できる効果がある。
第1図、第2図は従来のエツジセンサの斜視図、第3図
は本考案に係るブローブカード用エツジセンサの一実施
例の斜視図、第4図は針の部分の側面図である。 10・・・・・・基板、11,12.13・・・・・・
導電パターン、14,15.16・・・・・・スルーホ
ール、21,22.23・・・・・・針、21a・・・
・・・垂直部、22 a ,23 a・・・・・・先端
水平部、24,25.26・・・・・・アーム、27・
・・・・・はんだ、28・・・・・・チューブ、31・
・・・・・ウエハ
は本考案に係るブローブカード用エツジセンサの一実施
例の斜視図、第4図は針の部分の側面図である。 10・・・・・・基板、11,12.13・・・・・・
導電パターン、14,15.16・・・・・・スルーホ
ール、21,22.23・・・・・・針、21a・・・
・・・垂直部、22 a ,23 a・・・・・・先端
水平部、24,25.26・・・・・・アーム、27・
・・・・・はんだ、28・・・・・・チューブ、31・
・・・・・ウエハ
Claims (1)
- 基板に3本の針を並べて面方向に突出させ、第1の針は
先端を下方に折曲げて垂直部を形或するとともにその水
平部の先端部分に絶縁体を設け、第2の針は先端を横方
向に折曲げて先端水平部を形或し、第3の針は先端をそ
のまま延ばして先端水平部を形或し、前記第2の針の先
端水平部を前記第3の針の先端水平部に接触するように
構威し、前記第1の針の垂直部を所定距離持ち上げたと
き絶縁体を介して前記第2の針の先端水平部を押し上げ
前記第3の針の先端水平部との接触を開くように構或し
たブローブカード用エツジセンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7079679U JPS598356Y2 (ja) | 1979-05-26 | 1979-05-26 | ブロ−ブカ−ド用エツジセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7079679U JPS598356Y2 (ja) | 1979-05-26 | 1979-05-26 | ブロ−ブカ−ド用エツジセンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55173143U JPS55173143U (ja) | 1980-12-12 |
| JPS598356Y2 true JPS598356Y2 (ja) | 1984-03-15 |
Family
ID=29304521
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7079679U Expired JPS598356Y2 (ja) | 1979-05-26 | 1979-05-26 | ブロ−ブカ−ド用エツジセンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS598356Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0627748B2 (ja) * | 1988-01-14 | 1994-04-13 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブカード |
| JP2013224876A (ja) * | 2012-04-23 | 2013-10-31 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 半導体試験装置、プローブカード及び半導体試験方法 |
-
1979
- 1979-05-26 JP JP7079679U patent/JPS598356Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55173143U (ja) | 1980-12-12 |
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