JPS5984531A - 電子部品取付装置 - Google Patents

電子部品取付装置

Info

Publication number
JPS5984531A
JPS5984531A JP57194714A JP19471482A JPS5984531A JP S5984531 A JPS5984531 A JP S5984531A JP 57194714 A JP57194714 A JP 57194714A JP 19471482 A JP19471482 A JP 19471482A JP S5984531 A JPS5984531 A JP S5984531A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pellet
pellets
recognition
electronic component
absence
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57194714A
Other languages
English (en)
Inventor
Michiaki Furukawa
古川 道明
Keiichi Anjo
安生 恵一
Hisaaki Yamashita
尚昭 山下
Yuko Ozaki
尾崎 有功
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Hitachi Ltd
Hitachi Ome Electronic Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd, Hitachi Ltd, Hitachi Ome Electronic Co Ltd filed Critical Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Priority to JP57194714A priority Critical patent/JPS5984531A/ja
Publication of JPS5984531A publication Critical patent/JPS5984531A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/70—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping
    • H10P72/74—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H10P72/7402—Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071—Connecting or disconnecting
    • H10W72/0711—Apparatus therefor
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/70—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping
    • H10P72/74—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H10P72/7416—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071—Connecting or disconnecting
    • H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071—Connecting or disconnecting
    • H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
    • H10W72/07331—Connecting techniques
    • H10W72/07337—Connecting techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone or epoxy
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00—Package configurations
    • H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
    • H10W90/734—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子部品取付装置に関するものである。
従来、たとえば集積回路(IC)や大規模集積回路(I
、S工)のペレット全リードフレームまたは基板の如き
ペレット取付面に固着する場合、クエへからダイシング
によシ個々のペレットに分割さnかり金属顕微鏡で選別
された良品ペレットのみがトレー上に並べら扛てお9、
そのトレー上の良品ペレットをベレット付は機でリード
フレームlたは基板の所定位置に搬送して固着している
。
したがって、1ウエハ内に藪品種組み込1nている組マ
スク品の場合、lずダイソータにて、カセントテープか
らウェハ検査データ、品種を読み取り、品種別にペレッ
トヲトレーに取シ出丁。次にその品種に分けられたトレ
ー毎に金属顕微鏡にてペレットの欠陥有無音検査し、不
良品を取り出し、良品會丁き間のないように並べ直丁。
さらに、そのトレー上ペレット付機にセットし、!J−
)’フレーム172:は基板の所定位置にペレットの固
着を行なう。
このように、従来技術では、複雑でかつ時間の要する作
業を行なわねばならない欠点があった。
また、マスタースライス方式によるペレットの場合、品
11間違い中子い欠点もあった。
本発明の目的は、前記従来技術の欠点を解消し、電子部
品の搬送時に予め電子部品の有無、品種、欠陥の有無等
全判別し、良品のみヶ選択して所定位置に取り付けるこ
とのできる電子部品取付装置を提供することにある。
以下、本発明ケ図面に示す一実施タリにしたがって肝I
IK曲ミ明する。
第1図は本発明による電子部品取付装置の一実施列全示
す概略説明図であり、本発明をペレット付は機に通用し
た場合のペレット認識状態を示すものである。
この実施列において、ペレット3は治−XiQ上にウェ
ハを貼シ付けてダイシングすることにより個々に分割さ
れて粘る。ウェハの上方には、ペレット3の有無、ペレ
ット3の品種、バントマークの有無、欠陥の有無ケ認識
、判別するための認識機構を構成する認識用カメラ4が
設けらnている11こ、認識機構は認識用テレビ5も有
し、葛らに前記開織用カメラ4および認識用テレビ5管
制御する制御装置としてのコンピュータ6を備えてbる
。
第2図は、第1図に示す認識機vIを用いて選び出され
た良品ペレットをピンクアップする状態を示す部分断面
図である。この場合、マスキングテープ2の中央部の下
方には、良品ペレット3を吸着搬送のために突き上げる
ピンクアンプ針7が設けられている。一方、良品ペレッ
ト3をマスキングテープ2上から被取付物である牛導体
装置のセラミックパッケージ9のペレット取付面に吸着
搬送するためのコレット8が水平方向および垂直方向へ
の移動可能に設けられている。
次に、本実施列の′作用につ込て説明する。
1ず、治具1にマスキングテープ2を接着し、その上に
ウェハを貼シ付はダイシングする。その状態の11ベレ
ント付は機にセントされ、ペレット3は認識用カメラ4
、認識用テレビ5およびそnら全制御するコンピュータ
6にてペレットの有無、ペレットの品at−e識し、所
定の品種ペレット3を選出する。次に、予め与えらnた
プログラムに、1m、Qバンドマークの有無、ペレット
欠陥の有無を判別し、所定品種良品ペレット3會選出す
る。
その後、前記の如くして選出芒れた良品ペレット3をピ
ンクアップ針7で突き上け、その良品ベレン)3にコレ
ット8で真空吸着し、セラミックパッケージ9の所定位
置に搬送し、第3図に示す工うにコレット8でペレット
3をペレット取付面に対してスクラブすることにニジ、
ペレット3をセラミックパッケージ9の所定位置に固着
する。
本実施ρすにJ:t′Lば、認R機構を設けることにょ
シ、一般的に英字と数字からなる品株名が判別でき、そ
の上、ペレット有無及びウェハでの電気特性検査での不
艮全示すバンドマークの有無が判別できる。また2値化
レベルおよび認識カメラの倍率を変更することでペレッ
ト欠陥を判断することができる。
これらの機能によυダインート、ペレット選別、ペレッ
ト付けを同一装置にて行うことができ、またペレット付
はする品種の間違いがなくなる。
なお、ベレント供給扛マスキングテープに貼p付けた状
態のみならずペレットトレーにて行なっても良いことは
言うlでもない。ペレット付けは1ペレント/ハツケー
ジのみで々く、マルチチップやハイブリッドにも用いる
ことができ、1だペレット付は方式はAu−8L共晶、
Agペースト、ガラス等、方法の如何を問わない。
なお、本発明はペレット付けのみならず、たとえば池の
各種電子部品全基板に搭載する場合等にも応用できる。
以上説明し′fcように、本発明によnば、電子部品の
有無、品種、欠陥の有無等の認識、判別が可能であるの
で、電子部品の選別から被取付面への取付けlで1台の
装置で自動的に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明tペレント伺は機に応用したー実施列t
ベレント認識状態で示す概略説明図、第2図はペレット
のピンクアンプ状態會示す部分断面図、 第3図にベレット付は状態を示す部分断面図である。 3・・・ベレツト、4・・・認識用カメラ、5・・・認
識用テレビ、6・・・コンピュータ、8・・・コレツト
、9・・・セラミックパッケージ。 第  1  図 第  2 図 第  3 図 147

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.1!子部品を取付位置に搬送して取ル付ける電子部
    品取付装置にお込て、電子部品の有無、品種、あるいは
    欠陥の有無等を判別する認識機構含有すること’t−%
    徴とする電子部品取付装置。 2、認識機構か、認識用カメラ、認識用テレビおよびそ
    の制御装置からなることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の電子部品取付装置。 36  電子部品が、ウェハから分割ちれたペレットで
    あシ・、認識用カメラがウェハ上に般けらnることを特
    徴とする特許請求の範囲第2項記載の電子部品取付装置
    。 4、電子部品が、トレー上に収納δ扛たペレットであり
    、1識用カメラがトレー上に設けらnることt特徴とす
    る特許請求の範囲第2項記載の電子部品取付装置。
JP57194714A 1982-11-08 1982-11-08 電子部品取付装置 Pending JPS5984531A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57194714A JPS5984531A (ja) 1982-11-08 1982-11-08 電子部品取付装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57194714A JPS5984531A (ja) 1982-11-08 1982-11-08 電子部品取付装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5984531A true JPS5984531A (ja) 1984-05-16

Family

ID=16329023

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57194714A Pending JPS5984531A (ja) 1982-11-08 1982-11-08 電子部品取付装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5984531A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6276728A (ja) * 1985-09-30 1987-04-08 Toshiba Corp 半導体ペレツトマウント装置
JPS6358900A (ja) * 1986-08-28 1988-03-14 富士通株式会社 Icインサータへのic供給装置
JPH01161485A (ja) * 1987-12-17 1989-06-26 Nichiden Mach Ltd 微小ワーク片の認識方法
JPH01220450A (ja) * 1988-02-29 1989-09-04 Nec Corp 半導体ペレットのマウント方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6276728A (ja) * 1985-09-30 1987-04-08 Toshiba Corp 半導体ペレツトマウント装置
JPS6358900A (ja) * 1986-08-28 1988-03-14 富士通株式会社 Icインサータへのic供給装置
JPH01161485A (ja) * 1987-12-17 1989-06-26 Nichiden Mach Ltd 微小ワーク片の認識方法
JPH01220450A (ja) * 1988-02-29 1989-09-04 Nec Corp 半導体ペレットのマウント方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3811182A (en) Object handling fixture, system, and process
KR101683576B1 (ko) 시각 시스템을 구비한 웨이퍼 핸들러
JPH07509351A (ja) 回路ダイスをウエーハから分離するための方法および装置
JPS6412094B2 (ja)
KR20000029044A (ko) 기판의 분할 방법
US6546985B2 (en) Die bonder
JP4233705B2 (ja) ダイボンディング方法およびダイボンディング設備
JP2013026501A (ja) 半導体製造装置及び半導体製造方法
US5772040A (en) Workpiece conveying apparatus used with workpiece inspection device
JP2001228098A (ja) 検査・テーピング装置
JP2000196223A (ja) 基板の検査装置および検査方法
JP5372429B2 (ja) 板状物の分割方法
JP3028189B2 (ja) ダイボンディング方法
KR910007418B1 (ko) 칩 이송장치의 픽럽 방법
JP2849519B2 (ja) 半導体素子接合装置
JP2004179517A (ja) ボンディング装置、ボンディング方法及びボンディングプログラム
JPS62154700A (ja) 部品実装方法
JPS62238638A (ja) ダイ選別機の突き上げ装置
JP3300264B2 (ja) 半導体チップ認識方法
JPH04233250A (ja) 半導体ダイシング装置
JPH04369851A (ja) 半導体装置の製造方法および製造装置
JPS62204542A (ja) ウエハ分割方法および装置
CN120319683A (zh) 半导体制造装置、半导体器件的制造方法及拾取方法
JPH02155243A (ja) 認識装置
KR100257982B1 (ko) 바코드 웨이퍼 고유번호의 프레임 부착기능을 구비한 웨이퍼 마운팅 장치