JPS60107711U - 補正機構をそなえる厚み測定装置 - Google Patents

補正機構をそなえる厚み測定装置

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JPS60107711U
JPS60107711U JP19872383U JP19872383U JPS60107711U JP S60107711 U JPS60107711 U JP S60107711U JP 19872383 U JP19872383 U JP 19872383U JP 19872383 U JP19872383 U JP 19872383U JP S60107711 U JPS60107711 U JP S60107711U
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JP
Japan
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thickness
meter
distance
measuring device
device equipped
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Pending
Application number
JP19872383U
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English (en)
Inventor
斎数　正晴
羽田　守幸
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Iseki and Co Ltd
Original Assignee
Iseki and Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS60107711U publication Critical patent/JPS60107711U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図および第６図はそれぞれ、厚み計と被検体との位
置関係を示した図、第２図は、測定ヘッドとストリップ
との間の距離が測定誤差に及ぼす影響を示したグラフ、
第３図は、この考案の好適実施例の模式図、第４図は、
信号の処理系統図、第５図は、この考案に従う厚み測定
装置と従来の厚み計を用いて、錫めっき厚を測定した場
合の結果を比較して示したグラフ、第７図は、被検体ス
トリップのパスラインに対する傾きθと測定誤差との関
係を示したグラフである。 １・・・ストリップ、４・・・Ｘ線源、５・・・検出器
、６・・・距離計、７・・・演算器、１０・・・距離変
動補正袋・置。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ストリップのパスラインにおいて、該ストリップの厚み
    やめつき厚みを測定する厚み針に、該厚み計と被検体ス
    トリップとの間の距離を測定する距離計と、この距離計
    による測定結果に基いて該厚み計による計測値を補正す
    る距離変動補正装置とを組み込んで成る、補正機構をそ
    なえる厚み測定装置。
JP19872383U 1983-12-27 1983-12-27 補正機構をそなえる厚み測定装置 Pending JPS60107711U (ja)

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