JPS62142202A - 導電体の表面に形成された絶縁体の厚み測定装置 - Google Patents
導電体の表面に形成された絶縁体の厚み測定装置Info
- Publication number
- JPS62142202A JPS62142202A JP28195385A JP28195385A JPS62142202A JP S62142202 A JPS62142202 A JP S62142202A JP 28195385 A JP28195385 A JP 28195385A JP 28195385 A JP28195385 A JP 28195385A JP S62142202 A JPS62142202 A JP S62142202A
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- Japan
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- distance
- eddy current
- insulator
- detectors
- pair
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- Pending
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、導電体の表面に形成された絶縁体の厚み測
定装置に関するものである。
定装置に関するものである。
従来、例えば、′＠管の表面に形成された絶縁体の厚み
は、第３図に示すように、渦流センサ］と、この先端に
取り付けられたローラ２とからなる渦流式距離検出器３
を使甲して連続的に測定していた。即ち、渦流センサ１
の先端と鋼管４の裏面との間の距離（Ｌ１）および渦流
センサ１の先端と絶〒す体５０表面との間の距離（Ｌ２
）に基いて、（Ｌ、−Ｌｌ、）を演算して絶縁体５の厚
みを連続的に測定していだ。
は、第３図に示すように、渦流センサ］と、この先端に
取り付けられたローラ２とからなる渦流式距離検出器３
を使甲して連続的に測定していた。即ち、渦流センサ１
の先端と鋼管４の裏面との間の距離（Ｌ１）および渦流
センサ１の先端と絶〒す体５０表面との間の距離（Ｌ２
）に基いて、（Ｌ、−Ｌｌ、）を演算して絶縁体５の厚
みを連続的に測定していだ。
しかし、絶縁体５の表面に凹凸がある場合には、ローラ
２が絶縁体５に密着しないために測定誤差が生じるとい
った問題があった。
２が絶縁体５に密着しないために測定誤差が生じるとい
った問題があった。
この発明の目的は、絶縁体の表面に凹凸が生じていても
絶縁体の厚みを正確に測定することができる、導電体の
表面に形成された絶縁体の厚み測定装置を提供すること
にある。
絶縁体の厚みを正確に測定することができる、導電体の
表面に形成された絶縁体の厚み測定装置を提供すること
にある。
この発明は、表面に絶縁体が形成された導電体の上方に
設置される、渦流センサとこの先端に取り付けられたロ
ーラとからなる１対の渦流式距離検出器と、前記１対の
渦流式距離検出器の間に設置される、前記絶縁体の表面
から所定高さ位置と前記絶縁体の表面との間の距離（Ｌ
、）を検出するための距離検出手段と、前記１対の渦流
式距離検出器のうちの一方の検出器によって検出された
、−万の両流センサと前記導電体の裏面との間の距離（
Ｌ１）に対応する信号、１対の渦流式距離検出器のうち
の他方の検出器によって検出された、他方の渦流センサ
と前記導電体の裏面との間の距離（Ｌ２）に対応する信
号、前記距離ＣＬ３）に対応する信号および前記１対の
渦流式距離検出器の渦流センサの先端と前記距離検出手
段との間の距離（’４）に対応する信号に基いて、前記
絶縁体の厚みを演算するための演算器とからなることに
特徴を有するものである。
設置される、渦流センサとこの先端に取り付けられたロ
ーラとからなる１対の渦流式距離検出器と、前記１対の
渦流式距離検出器の間に設置される、前記絶縁体の表面
から所定高さ位置と前記絶縁体の表面との間の距離（Ｌ
、）を検出するための距離検出手段と、前記１対の渦流
式距離検出器のうちの一方の検出器によって検出された
、−万の両流センサと前記導電体の裏面との間の距離（
Ｌ１）に対応する信号、１対の渦流式距離検出器のうち
の他方の検出器によって検出された、他方の渦流センサ
と前記導電体の裏面との間の距離（Ｌ２）に対応する信
号、前記距離ＣＬ３）に対応する信号および前記１対の
渦流式距離検出器の渦流センサの先端と前記距離検出手
段との間の距離（’４）に対応する信号に基いて、前記
絶縁体の厚みを演算するための演算器とからなることに
特徴を有するものである。
この発明の一実施態様の厚み測定装置を図面を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第１図は、この発明の一実施態様の厚み測定装置によっ
て絶縁体の厚みを測定している状態を示す正面図である
。
て絶縁体の厚みを測定している状態を示す正面図である
。
第１図において、一方の渦流式距離検出器３Ａは、渦流
センサＩＡとこの先端に取り付けられたローラ２Ａとか
らなり、一方の渦流式距離検出器３Ａと間隔をあけて設
けられた他方の渦流式距離検出器３Ｂは、渦流センサＩ
Ｂとこの先端に取り付けられたロー２２Ｂとからなって
いる。光学式距離検出器６は、絶縁体５の上方ンζおい
て、１対の渦流式距離検出器３Ａ、３Ｂの間に設けられ
ている。１対の渦流式距離検出器３Ａ、３Ｂおよび光学
式距離検出器６は、互いにアーム７によって一体的に連
結されている。
センサＩＡとこの先端に取り付けられたローラ２Ａとか
らなり、一方の渦流式距離検出器３Ａと間隔をあけて設
けられた他方の渦流式距離検出器３Ｂは、渦流センサＩ
Ｂとこの先端に取り付けられたロー２２Ｂとからなって
いる。光学式距離検出器６は、絶縁体５の上方ンζおい
て、１対の渦流式距離検出器３Ａ、３Ｂの間に設けられ
ている。１対の渦流式距離検出器３Ａ、３Ｂおよび光学
式距離検出器６は、互いにアーム７によって一体的に連
結されている。
一方の渦流式距離検出器３Ａによって検出された、渦流
センサＩＡの先端と鋼管４の裏面との間の距離（Ｌ１）
に対応する信号、他方の渦流式距離検出器３Ｂによって
検出された、渦流センサＩＢの先端と鋼管４の裏面との
間の距離（Ｌ２）に対応する信号、光学式距離検出器６
からの、この検出器６の先端と絶縁体５０衣而との間の
距離（Ｌ３）に対応する信号、および、光学式距離検出
器６の先端と一方の渦流式距離検出器３Ａの渦流センサ
ＩＡまたは他方の渦流式距離検出器３Ｂの渦流センサＩ
Ｂとの間の距離（Ｌ４）に対応する信号は、演算器８に
入力され、演算器８によって絶縁体５の厚みがＦ式に従
って連続的（こ（寅算さｔ上る。、 一比記距席（Ｌ、Ｉ）と（Ｌ２）との平均を演算する理
由は、渦流センサＩＡ、ＩＢが鋼管４に対して傾いてい
る場合の距離検出誤差を小さくすることにある。
センサＩＡの先端と鋼管４の裏面との間の距離（Ｌ１）
に対応する信号、他方の渦流式距離検出器３Ｂによって
検出された、渦流センサＩＢの先端と鋼管４の裏面との
間の距離（Ｌ２）に対応する信号、光学式距離検出器６
からの、この検出器６の先端と絶縁体５０衣而との間の
距離（Ｌ３）に対応する信号、および、光学式距離検出
器６の先端と一方の渦流式距離検出器３Ａの渦流センサ
ＩＡまたは他方の渦流式距離検出器３Ｂの渦流センサＩ
Ｂとの間の距離（Ｌ４）に対応する信号は、演算器８に
入力され、演算器８によって絶縁体５の厚みがＦ式に従
って連続的（こ（寅算さｔ上る。、 一比記距席（Ｌ、Ｉ）と（Ｌ２）との平均を演算する理
由は、渦流センサＩＡ、ＩＢが鋼管４に対して傾いてい
る場合の距離検出誤差を小さくすることにある。
上記光学式距離検出器６（代えて第２図に示すように、
接触式距離検出器９を用いても良い。この場合、絶縁体
５が透明であってもまたは絶縁体５０表面にゴミ等が付
着していても、絶縁体５の厚みを正確に測定することが
できる。
接触式距離検出器９を用いても良い。この場合、絶縁体
５が透明であってもまたは絶縁体５０表面にゴミ等が付
着していても、絶縁体５の厚みを正確に測定することが
できる。
この発明によれば、絶縁体の表面に凹凸が生じていても
絶縁体の厚みを正確に連続測定することができるといっ
たきわめて有用な効果がもたらされる。
絶縁体の厚みを正確に連続測定することができるといっ
たきわめて有用な効果がもたらされる。
第１図は、この発明の一実施態様の厚み測定装置によっ
て絶縁体の厚みを測定している状態を示す正面図、第２
図は、同曲の実施態侍の厚み測定装置によって絶縁体の
厚み全測定している状・焦を示す正面図、第３図は、従
来の厚み測定装−４，・こよって絶縁体の厚みを測定ｊ
〜でいる状態、七示す旧、伯図である。図面において、 １． ＬＡ、 ＩＢ・・渦流センサ、 ２、２Ａ、 ２Ｂ・・ローラ、 ３、３Ａ、 ３Ｂ・・・渦流式距離検出器、４・・・鋼
管、 ５・・・絶縁体、 ６・・・光学式距離検出器、 ７・・・アーム、 ８・・・演算器、 ９・・・接触式距離検出器。
て絶縁体の厚みを測定している状態を示す正面図、第２
図は、同曲の実施態侍の厚み測定装置によって絶縁体の
厚み全測定している状・焦を示す正面図、第３図は、従
来の厚み測定装−４，・こよって絶縁体の厚みを測定ｊ
〜でいる状態、七示す旧、伯図である。図面において、 １． ＬＡ、 ＩＢ・・渦流センサ、 ２、２Ａ、 ２Ｂ・・ローラ、 ３、３Ａ、 ３Ｂ・・・渦流式距離検出器、４・・・鋼
管、 ５・・・絶縁体、 ６・・・光学式距離検出器、 ７・・・アーム、 ８・・・演算器、 ９・・・接触式距離検出器。
Claims (1)
- 表面に絶縁体が形成された導電体の上方に設置される、
渦流センサとこの先端に取り付けられたローラとからな
る１対の渦流式距離検出器と、前記１対の渦流式距離検
出器の間に設置される、前記絶縁体の表面から所定高さ
位置と前記絶縁体の表面との間の距離（Ｌ＿３）を検出
するための距離検出手段と、前記１対の渦流式距離検出
器のうちの一方の検出器によつて検出された、一方の渦
流センサと前記導電体の裏面との間の距離（Ｌ＿１）に
対応する信号、１対の渦流式距離検出器のうちの他方の
検出器によつて検出された、他方の渦流センサと前記導
電体の裏面との間の距離（Ｌ＿２）に対応する信号、前
記距離（Ｌ＿３）に対応する信号および前記１対の渦流
式距離検出器の渦流センサの先端と前記距離検出手段と
の間の距離（Ｌ＿４）に対応する信号に基いて、前記絶
縁体の厚みを演算するための演算器とからなることを特
徴とする、導電体の表面に形成された絶縁体の厚み測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28195385A JPS62142202A (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | 導電体の表面に形成された絶縁体の厚み測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28195385A JPS62142202A (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | 導電体の表面に形成された絶縁体の厚み測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62142202A true JPS62142202A (ja) | 1987-06-25 |
Family
ID=17646205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28195385A Pending JPS62142202A (ja) | 1985-12-17 | 1985-12-17 | 導電体の表面に形成された絶縁体の厚み測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62142202A (ja) |
-
1985
- 1985-12-17 JP JP28195385A patent/JPS62142202A/ja active Pending
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