JPS601220A - 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 - Google Patents

半導体封止用エポキシ樹脂組成物

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JPS601220A
JPS601220A JP10789483A JP10789483A JPS601220A JP S601220 A JPS601220 A JP S601220A JP 10789483 A JP10789483 A JP 10789483A JP 10789483 A JP10789483 A JP 10789483A JP S601220 A JPS601220 A JP S601220A
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洋 西川
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猿田 宇樹
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、エポキシ樹脂組成物、特にダイオード、トラ
ンジスター、IC!、 LSIなどのいわゆる半導体素
子を封止するために使用する、低ひずみ応力、高耐ヒー
トシヨツク性かつ高温特性にすぐれた半導体封止用エポ
キシ樹脂組成物に関するものである。
近年、電子部品の分野においては、小型軽量化及び素子
の高密度化1大型化そして複合等による多機能化が指向
されている。このような電子部品特に半導体においては
、封止用樹脂を用いた封止方法が広く用いられており、
この封止用樹脂も種種の欠点改良が要求されている。
従来1半導体封止用樹脂としては、エピキシ系、シリコ
ーン系、フェノール系及びジアリルフタレート系等の材
料が使用されてきた。その中でもフェノール系ノボラッ
ク樹脂を硬化剤として用いたエポキシ樹脂成形材料が、
被封正体に対する接着性要≠箒髪イ呑及び電気特性等が
調和されている点で、他の封止用樹脂よりすぐれ数多く
使われている。
半導体素子の樹脂封圧は、一般にトランスファー成形法
を用いてなされるが、この方法においては、無機材料か
らなる素子と樹脂との間の熱膨張係数の差がかなりある
ため、成形時もしくは成形後に急激な温度変化を受ける
と大きなひずみ応力を発生しやすいという問題があった
。とくに従来のエポキシ樹脂系成形材料は、このひずみ
応力が大きく、大型素子ベレットに可撓性保護コートを
施すことなく、直接成形すると素子ペレットに割れを生
じたり、ボンディングワイヤーが切断される等の障害が
みられた。また、最近小型軽量化を計った超薄型樹脂封
止半導体などにおいて、このひずみ応力により封止樹脂
そのものにクラックを生じ、封止機能をはださなくなる
という問題も生じている。これらの対策としてひずみ応
力が小さく、クラックの生じない樹脂の開発が望まれて
いた。封止用樹脂のひずみ応力を低減させる方法として
は、il+樹脂の熱膨張率を下げ無機材料のそれに近く
する方法、(2)弾性率を下げる方法とがある。
前者(1)は、一般に熱膨張率の小さい無機充填剤を樹
脂に添加することでなされるが、これによって封止用樹
脂の線膨張率の低下ははかれるが、弾性率が増大するの
で、ひずみ応力の低減は、十分でない。一方後者(2)
は、樹脂に可撓性付与剤を添加することでなされる。従
来より可撓性付与剤としては、側鎖の長いビスフェノー
ルへのジグリンジルエーテルやポリプロピレングリコー
ルジグリシシルエーテルの様に長鎖のビスエホキシ又、
最近では為末端にカルボキシル基、アミノ基等を有t 
ル低分子fiポリブタジェン及びその共重合体の様な反
応性液状ゴムなどがある。しかしこれら可撓性付与剤も
、ひずみ応力が十分小さくなる迄添加すると、機械的強
度の低減やガラス転移点の低下が著しく、耐ヒートシヨ
ツク性や高温特性に大きな問題を生ずる0 又、本発明者等は先に、低ひずみ応力等に効果のある樹
脂組成物として、多官能性エポキシ化合物)スチレン系
ブロック共重合体、仝ポキシ(ts合物の硬化剤及び無
機充填剤を主成分とする成形材料(特願昭57−186
518号)を提案した。本発明は、これに液状ゴムを添
加することにより)低ひずみ応力、高耐ヒートシ目ツク
性かつ高温特性が、さらに向上することを見出したもの
である。
すなわち、本発明は、(a)多官能性エポキシ化合物1
(b)スチレン系ブロック共重合体、(C)液状コ゛ム
、(d)エポキシ化合物の硬化剤及び(e)無機充填剤
を主成分としたことを特徴とする半導体封止用エポキシ
樹脂組成物である。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明における(a)多官能性エポキシ化合物としては
、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、フェノールノボラ
ック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ
樹脂などのグリシジルエーテル型エポヤシ樹脂、グリシ
ジルエステル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポ
キシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹
脂、複素環式エポキシ樹脂及びハロゲン化エポキシ樹脂
等であり、−分子中にエポキシ基を2コ以上有するエポ
キシ化合物が挙げられる。またこれらエポキシ化合物は
1種もしくは2種以上の混合系であってもよく、耐腐食
性の点を考慮すると塩素イオンの含有量は10 ppm
以下、加水分解性塩素の含有量は0.1重量%以下が好
ましい。
次に本発明における(b)スチレン系ブロック共重合体
(以下ブロック共重合体という)は、低応力成形体を得
るための必須成分であり、該ブロック共重合体は、スチ
レン、α−メチルスチレン、ビニルトルエン、ジビニル
ベンゼン及びt−ブチルスチレン インプレン等の脂肪族ポリマーブロック又はそれを水添
したエチレン−ブチレン、34リマーブロツクとの連鎖
とからなり、テーノく一構造を連鎖中に有するものでも
差支えない。これらブロック共重合体は、いわゆるリニ
ヤ−ブロック共重合体1スターブロツク共重合体、ダブ
ルスクープロック共重合体等であり、例えば、(A−B
)nA,(A−B.)n−(A−B)nX% (A−E
)nXAm( n % m :整数、A:スチレン、α
−メチルスチレン、ビニルベンゼン等のベンゼン核を有
するポリマーブロック、B:ブタジェン)イソプレン等
の脂肪族ポリマーブロック又はそれを水添したエチレン
ーブグルンポ1ツマーブロック、Xニブロック連鎖を相
互にカツフ。
リングするカップリング剤ユニット) で表わされるが、特に形態を限定するものではない。さ
らにブロック共重合体は1種もしくは2種以上の混合系
で用いることもでき、またコ゛ム量も特に制限するもの
ではない。
ブロック共重合体の添加量は、エポキシ化合物100重
量部に対して2〜20重量部が好ましく、さらに好まし
くは5〜15重量部である。2重量部未満では、ブロッ
ク共重合体を添加した効果が現われず、ひずみ応力の低
下、耐ヒートシヨツク性゛の向上が十分見られない。ま
た20重量部を超えると、流動性の低下、空気の巻き込
みが大となり為ブリード物が成形体表面に現われ1さら
に封止内容物の流出をおこす等の成形性の不良をきたす
。前記のブロック共重合体は、具体的にはシェルインタ
ーナショナル社(カリフレックスTRシリーズ及びクレ
イトンGシリーズ)、旭化成工業社(タフプレン)、フ
ィリップス社(Kレジン、及びツルプレン−T)、電気
化学工業社(クリアレン)等がある。
本発明における(c)液状ゴムとしては、低分子量の1
,2ポリブタジエン、1,3ポリブタジエン、■。
4ポリブタジエン、又ブタジェン−スチレン共重合体及
びブタジェン−アクリロニトリル共重合体等のブタジェ
ン系低分子量重合体、低分子量ポリイソプレン及び天然
ゴムの低分子量解重合ゴム等のイソプレン系低分子量重
合体、液状クロロプレンゴム、液状シリコンゴム、液状
ポリサルファイドなどあらゆる液状ゴムが使用でき、又
1種もしくは2種以上の混合系で用いることもできる。
これら液状ゴムは、エポキシ基、水酸基、アミノ基、チ
オール基、カルボキシル基及びビニル基等反応性基を末
端に有するものが好ましい。
液状ゴムの添加量は、(a)多官能性エポキシ化合物1
00重量部に対して2〜30重量部が好ましく、さらに
好ましくは5〜20重量部である。2重量部未満では、
ひずみ応力の低下、耐ヒートシヨツク性の向上効果が現
われず、30重量部を超えて添加する。と、流動性の低
下、成形体中にボイドを多数生成したり、ブリード物が
成形体表面に現われる等成形性の不良をきたし、又、成
形体の機械的強度が低下したり、無機材料との接着性を
低下させて耐湿性が悪くなる等の弊害がある。
又、本発明における成分(b)スチレン系ブロック共重
合体と成分(c)液状ゴムの合計量は成分(a)多官能
性エポキシ化合物100重量部に対し5〜40重量部が
適当である。
本発明における(d)エポキシ化合物の硬化剤としては
、例えばフェノール樹脂や多価フェノール化合物、酸無
水物類或いはアミン類やポリスルフィド樹脂などが挙げ
られる。さらに具体的な例を挙げるとフェノール樹脂や
多価フェノール化合物としては、フェノールノボラック
樹脂、クレヅールノホラック樹脂、tert−ブチルフ
ェノールノボラック樹脂などのノボラック型フェノール
樹脂そしてレゾール型フェノール樹脂、ビスフェノール
Aなどがある。また酸無水物類の例としては、無水フタ
ル酸、無水へキサヒドロフタル酸、テトラヒドロ無水フ
タル酸、無水ピロメリット酸、ドデシル無水コハク酸な
どが挙げられ、ジエチレントリアミン、トリエチレンテ
トラミン、ジエチルアミンプロピルアミン、N−アミノ
エチルピペラジンメタキシレンジアミン及び3,9−ビ
ス(3−アミノプロピル) −2,4,8,10−テト
ラオキサスピロ(5,5)ウンデカンなどがアミン類の
例として拳げられる。
上記した硬化剤のうちノボラック型フェノール樹脂が、
エポキシ化合物の硬化剤として最も好ましく、またその
軟化点は60〜100℃の範囲にあり、更に常湿におけ
る水可溶性成分の含有量は3重量%以下であることが成
形材料として毒性や硬化した場合の耐湿性において望ま
しい。
さらに本発明のいま1つの必須成分である(e)無機充
填剤としては、例えば酸化ジルコン、アルファ石英、溶
融シリカ、クレー、アルミナ、水酸化アルミニウム、炭
酸カルシウム、ガラス、アスベスト、ホイスカ、石コウ
、マグネサイト、マイカ、カオリン、メルク、黒鉛、セ
メント、鉄カルボニル、フェライト、二硫化モリブデン
、亜鉛華、チタン白、カーボンブラック、珪砂及びウオ
ラストナイト等があり、これらを2種以上併用すること
もできる。
この無機充填剤の添加量は、全成分の合計重量に対して
60〜80重量%が好ましく、60重量%未満では、熱
膨張率が大となってレジンクラツりやベレットクラック
の発生原因となり、80重量%を超えると材料の流動性
が著しく悪くなり成形不可能となる。
また1本発明の半導体封止用エポキシ樹脂組成物は、多
官能性エポキシ化合物の硬化反応を所定の温度になった
場合に促進する目的で種々の触媒を添加することができ
る。例えば、イミダゾール、2−メチルイミダゾール、
2−エチルイミダゾールS1.2−メチルイミダゾール
、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−ウンデシ
ルイミダゾール、2−フェニルイミダゾールなどのイミ
ダゾール類・ トリエチルアミン1ジエチレントリアミ
ン、トリエチレンテトラミン、N−アミノエチルヒヘラ
ジン、メタキシレンジアミン、3,9−ビス(3−アミ
ノプロピル) −2,4,8,10−テトラオキサスピ
ロ(5,5)ウンデカ7などのアミン系化合物あるいは
トリエチルアミンとBF、とからなる錯化合物、トリフ
ェニルホスフィン、トリブチルホスフィン、メチルジフ
ェニルホスフィン、ブチルフェニルホスフィン、ジメチ
ルホスフィン、フェニルホスフィン、オクチルホスフィ
ンなどの有機ホスンイン化合物、さらにはチアゾール類
などがある。この硬化触媒は1種又は2種以上併用して
もよい。
さらに本発明においては、その用途、使用目的に応じて
、離型剤、着色剤、難燃化剤、シラ/カップリング剤な
どを適宜添加配合してもよい。離型剤としては、天然ワ
ックス類、合成ワックス類為直鎖脂肪酸及びその金属塩
、酸アミド類、エステル類、もしくはパラフィンなどが
挙げられ、難燃剤としては、臭素化エポキシ樹脂、塩素
化パラフィン、フロムトルエン、ヘキサブロムベンゼン
1される各成分をロール、ニーダ−などの混合装置で均
一に混練することにより得られ、混合順序等の具体的操
作方法は各成分が均一に混合される方法であれば特に制
限はない。
以上説明した通り、本発明は(a)多官能性エポキシ化
合物、(b)スチレン系ブロック共重合体、(C)液状
ゴム、(d)エポキシ化合物の硬化剤及び(e)無機充
填剤を適当な割合で均一混合することにより、ひずみ応
力が小さく、機械的強度、成形性に優れた成形体を生ず
る組成物となり、半導体素子を封止した際1ペレツトの
割れがなく、耐ヒートシヨツク性1耐湿性に著しい効果
を有するものである。
以下、本発明を実施例によりさらに具体的に説明するが
、本発明は、これらによりなんら限定されるものではな
い。
実施例1〜3、比較例1〜4 エポキシ当1220のクレゾールノボラツクエホキシ樹
、rtx (日本化薬(株)製、商品名BOON、10
3)85重量部、エポキシ当量280の臭素化ノボラッ
クエポキシ樹脂(日本化薬(株)製、商品名BRENS
 )15重量部、フェノールノボラック樹脂(群栄化学
(株)製)50重量部、2−ウンデシルイミダゾール2
重量部、カルナバワックス2重量部、r−グリシドオキ
シプロビルトリメトキシシラン3重量部カーボンブラッ
ク1重量部、三酸化アンチモン10重量部、溶融シリカ
(電気化学工業(株)製、デンカ溶融シリカ、FS−9
)(実施例1〜3S比較例1〜3は414重量部、比較
例4は、374重量部)からなる組成物に、エポキシ樹
脂100重量部に対して、第1表に示すような割合(重
量部)でスチレン系ブロック共重合体及び液状ゴムを添
加配合し、ミキサーで混合し、さらに加熱ロールで混線
、冷却粉砕して組成物を調製した。
上記実施例1〜3及び比較例1〜4により得られたエポ
キシ樹脂組成物の特性は第1表の通りである。
なお第1表における各特性は次の方法により測定して得
た値である。
スパイラルフロー EMMI −1−66に準じ175°C,70kq□2
.2分の条件で測定した。
成形物外観 175℃、70にμm2.2分の条件でトランスファー
成形直後の硬化体の表面状態を観察した。
応力測定 ピエゾ抵抗素子(応力により抵抗値の変化するピエゾ抵
抗を半導体チップに成形したもの)を托ヒ:i DIP
型ICのフレームにセットし、175℃、70 kg/
1m2.2分の成形条件で各組成物をトランスファー成
形し、170℃4時間、後硬化し冷却後上記の素子によ
りひずみ応力を測定した。
耐ヒ゛−トショック性測定 アイランドサイズ4 X 7.5 mmの16ピンl0
IJ−ドフレームを175℃、70kf/cm2.2分
ノ成f411に件で各組成物を用いてトランスファー成
形し、その成形物を一196℃の液体と+260 °G
の液体に30秒ずつ浸漬を繰り返して成形体表面のクラ
ックの発生率を調べた。クラックの発生率はICチップ
10個中でクラックの発生ひたチップの個数のパーセン
トを示す。
耐湿試験 アルミニウム線材を配設したシリコンチップを16ピン
DIP型ICのフレームにセットし、各組成物を用いて
175℃、2分間の成形条件によるトランスファー成形
法にて被覆モールド処理して試験成形体を製造した。か
くして製造した成形体中の121℃100%水蒸気中に
おけるアルミ線材の腐食を調べる耐湿試験(PCT )
・同一環境下にて20V(直流)の電圧を印加してアル
ミ線材の腐食を調べる耐湿試験(バイアスPC’l’ 
)を実施し、耐湿性および耐食性を評価した。表では各
時間経過後の成形体100個中における不良品の発生個
数を不良率として示した。
スチレン系ブロックポリマー(1):スチレンーブタジ
エンブロック共重合体(ブタジェ ン含有量70重量%)電気化学工業 (株)製1商品名、ST几−1702 スチレン系フロツクポリマー(2):スチレンーエチレ
ン・ブチレンブロック共重合体(エ チレン−ブチレン含有量86重量%) シェルインターナショナル社製、商品 名、クレイトンG1657 液状ゴム(1):末端カルボキシルブタジェン−アクリ
ロニトリル共重合体(アクリロニ トリル含量18モル%)グツドリツ 1 チケミカル社製1商品名、ハイカー0’l’BN 
+1300X8 液状ゴム(2):末端エポキシ化1.4ポリブタジ工ン
1出光石油化学工業(株)製、商品名、 Po1y bd−R−45EFT 本発明のスチレン系ブロック共重合体及び液状ゴムを添
加配合したエポキシ樹脂組成物より得られる成形物は該
ブロック共重合体又は該液状ゴムを単独で添加配合した
ものもしくはまったく添加配合しないエポキシ樹脂組成
物より得られる成形物に比べ、応力、耐ヒートシヨツク
性、耐湿性、耐蝕性のすべての物性において優れている
ことがわかった。
実施例4〜7、比較例5〜8 エポキシ当量220のクレゾールノボラックエポキシ樹
脂(日本化薬(株)製1商品名、EOON %103S
)、エポキシ当量280の臭素化ノボラックエポキシ樹
脂(日本化薬(株)製、商品名、BRBNS)及び液状
ゴムを第2表に示す割合になる様攪拌装置の付いた容器
に仕込み150℃にて3時間溶融混合し、液状ゴムをエ
ポキシ樹脂中に十分分散させた。但し、ゴム分散エポキ
シ樹脂りは、攪拌1時間後にゲル状化し攪拌困難となっ
たので、直ちに取り出し冷却して使用した。
第2表 但し、液状ゴム(3)二末端カルボキシル1,2−ポリ
ブタジェン日本曹達(株)製、商品名Nl5SO−PB
 −−1000 上記各ゴム分散エポキシ樹脂に対し含有エポキシ樹脂1
00重量部当り、フェノールノボラック樹脂5−0重量
部、トリフェニルホスフィン1重量部、カルナバワック
ス2重量部、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシ
ラン3重量部、カーボンフラノ21重量部、三酸化アン
チモン10重量部、及び溶融シリカ(電気化学工業(株
)製、デンカ溶融ソリ力、FS−90)(実施例4は4
05重量部15は、416重量部、6.7は、438重
量部、比較例5.8は、438重量部、6は、372重
量と19.7は、394重量部)を配合してなる組成物
にさらに第3表に示す重量部でスチレン系ブロック共重
合体を添加配合し、ミキサーにて粉体混合し、さらに加
熱ロールで混練、冷却、粉砕して組成物を調製した。
上記実施例4〜7、比較例5〜8により得られたエポキ
シ樹脂組成物の特性は第3表の通りである。
なお各特性の測定は、第1表の場合と同じ方法を用いた
上記の実施例及び比較例から明らかなように、本発明に
よるエポキシ樹脂組成物は半導体封止に優れた特性を有
するものである。
参考例 実施例1〜3及び比較例1〜4により得られたエポキシ
樹脂組成物の応力測定をスチールリング法により行った
結果を第4表に示す。
スチールリング法・・・鉄製の円筒(外径20關、厚さ
1mm5高さ20朋)の内側に歪ゲージを貼り、外側を
レジンモールドした。レジンの厚みは10mmである。
170℃でモールド後25℃での円周方向に生じた応力
を鉄製の円筒の変形量からめた。・第4表 なお、ひずみ応力の測定方法としては1本発明のピエゾ
抵抗素子法が1半導体封止ど同一の成形方法を経て測定
するので、スチール1ノング法より現実に近いひずみ応
力が評価できる。
出願人 電気化学工業株式会社 代理人 豊 1) 善 雄 手 続 補 正 書 昭和58年8月 19日 特許庁長官 若 杉 和 夫 殿 1、事件の表示 特願昭58−107894号 2、発明の名称 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 3、補正をする者 事件との関係・特許出願人 東京都千代田区有楽町1丁目4番1号 (328)電気化学工業株式会社 代表者 篠 原 晃 4、代 理 人 東京都千代田区有楽町1丁目4番1号 三信ビル204号室 電話501−21385、補正の
対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄 6、補正の内容 発明の詳細な説明を下記の通り訂■:する。
l)明細書節14頁1行目 r FS−9JをrFS−90Jに訂正する。
2)// 第18頁4行目 r 5TR−1?02Jを「デンカ5TR−1702J
 4.:訂正する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (a) 多官能性エポキシ化合物 (b) スチレン系ブロック共重合体 (C) 液状労ム (d) エポキシ化合物の硬化剤 (e) 無機充填剤 を主成分としたことを特徴とする半導体封止用エポキシ
    樹脂組成物。
JP10789483A 1982-10-23 1983-06-17 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 Granted JPS601220A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10789483A JPS601220A (ja) 1983-06-17 1983-06-17 半導体封止用エポキシ樹脂組成物
US06/544,242 US4529755A (en) 1982-10-23 1983-10-21 Epoxy resin composition for encapsulating semiconductor

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JP10789483A JPS601220A (ja) 1983-06-17 1983-06-17 半導体封止用エポキシ樹脂組成物

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