JPS60132346A - 転写用バンプ製造方法 - Google Patents

転写用バンプ製造方法

Info

Publication number
JPS60132346A
JPS60132346A JP58240206A JP24020683A JPS60132346A JP S60132346 A JPS60132346 A JP S60132346A JP 58240206 A JP58240206 A JP 58240206A JP 24020683 A JP24020683 A JP 24020683A JP S60132346 A JPS60132346 A JP S60132346A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulating film
bumps
bump
film
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP58240206A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0586657B2 (ja
Inventor
Yoshifumi Kitayama
北山 喜文
Shuichi Murakami
修一 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP58240206A priority Critical patent/JPS60132346A/ja
Publication of JPS60132346A publication Critical patent/JPS60132346A/ja
Publication of JPH0586657B2 publication Critical patent/JPH0586657B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/01Manufacture or treatment
    • H10W72/012Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/20Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
    • H10W72/251Materials

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体素子やフィルムキャリア、電子回路基板
などにバンプを提供するための、バンプを有する模擬半
導体装置の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 従来のバンプを有する模擬半導体基板は、第1図にその
具体構成を示すように、たとえばガラス板より成る基体
1を設け、この」二に金属・(ンプ月(Auなど)に対
してill 1llfl性の良い金属層たとえばPd 
、 Pt 、 5n02 、 ITOflどの導電膜2
を全面に形成する。
そして、この導電膜2の上にフォトエツチング等によっ
て開孔部3より導電膜2が露出するように5i02膜の
ようなメツキレシスト層4を形成する。
そして、このメツキレシスト層の開孔NMLS 3 ’
f JITIじて外部に露出している導電膜2の土にA
uのような金属バンプ材を電気メンキによってl+; 
(”jけしでバンプ6を形成する。このような構成では
、・くンプの剥離性をよくするためにメツキレシスト層
4を薄くするとピンオールらが生じて、電気メッキする
とレジスト層4のピンホール6に余分なバンプ7が形成
されるという問題があった。丑だメンキレジスト層4を
厚くすると・・ンブ5が剥離しにくくなるということも
あった。そのため、半導体素子の電極部にバンプ5を転
写するときに品質管理、J、:s tたは組立上におい
て問題があった。
発明の目的 本発明は上記従来の欠点を解消するものであり。
バンプの申翔[(を確実にして、余部なバンプを設けな
いようにするものである。
発明の構成 本発明の製造方法は、絶縁基板上に金属バンプ材に対す
る剥離性の良い表面を有する導電膜を形成したのち、前
記導電膜」二に半導体素子に形成された電極部分に対応
する部分を残して第一の絶縁膜を形成し、さらに前記第
一の絶縁膜上に金属バンプよりも大きな開孔部を設けた
第二の絶縁膜を形成し、前記第一の絶縁膜の開孔部より
露出している前記導電膜に金属バンプを設けるもので、
絶縁膜のピンホールを大幅に削減でき、−1,たバンプ
の剥離性も向上し1品質管理上2組立上きわめて有利で
ある。
実施例の説明 以下に本発明の一実施例を第2図a −t3にもとづい
て説明する。図において、11は絶縁性の基体、12は
基体11上に形成された導電膜、13は導電膜12上に
形成された第一の絶縁膜、14は第一の絶縁膜13に形
成された開孔部、15は第一の絶縁膜13上に形成され
た第二の絶縁膜、16は第二の絶縁膜15に形成された
開孔部、1γは第二の絶縁膜15の開孔部16と第一の
絶縁膜13の開孔部14とを通して導電膜12 にに形
成されたバンプ、18は第一の絶縁膜のピンホールであ
る。
たとえば基体11は附勢ガラスを用い、前記基体11」
二にバンプー1′)J(Auなど)に対して刹]m[f
性のよいITOなどの導電膜12を形成したのち、前記
導電膜12上にSiO2膜を塗布法により薄く(5膜0
人〜1.○O0入)形成して第一・の絶縁膜13とする
。そしてフォトエツチング等の手段により前記第一の絶
縁膜13VC開孔部14を設ける。
これは半導体素子の電極の位置に対応しており、開口部
14の大きさはバンプの大きさにより決められる。さら
に第一の絶縁膜13」二に感光性ポリイド膜を塗布法に
より厚く(1μm〜10μm)形成して第二の絶縁膜1
6とし、前記第二の絶縁膜16にバンプよりも大きな開
孔部16をフォトエツチングで設ける。このようにすれ
ばバンプの剥離性を向」ニさせるために第一の絶縁膜1
3を薄くして、第一の絶縁膜13にピンホール18が発
生しても第二の絶縁膜16により埋めることができる。
発明の効果 このように本発明は第一と第二の絶縁膜を形成している
ため、バンプの剥離性がよく、ピンホールによるバンプ
の少ない品質のよいバンプを有する模擬半導体装置を提
供することができるため、半導体装置の電極へバンプを
確実に転写でき、捷たピンホールによるバンプがないた
め7目−1−などのトラブルを解消でき、半導体素子の
組立」ニきわめて有利である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のバンプを有する模擬半導体装置の断面図
、第2図a〜dは本発明の一実施例における各工程にお
けるバンプを有する模擬半導体装置の断面図である。 1.11・・−・・・基体、2,12・・・・・・導電
膜、3・・・・・・メツキレシスト膜の開孔部、4・・
・・・・メンギレジストJl、 6. 17・・・・・
・バンプ、6・・・・・・ピンホール。 7・・・・・余分なバンプ、13・・・・・・第一の絶
縁膜、14・・・・・・第一の絶縁膜の開孔部、15・
・・・・・第二の絶縁膜、16・・・・・第二の絶縁膜
の開孔部、18・・・・・・第一の絶縁膜のピンホール

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 絶縁基板上に金属バンプ材に対する剥離性の良い表面を
    有する導電膜を形成したのち、前記導電膜上に半導体素
    子に形成された電極部分に対応する部分を残して第一の
    絶縁膜を形成し、さらに前記第一の絶縁膜上に金属バン
    プよりも大きな開孔部を設けた第二の絶縁膜を形成し、
    前記第一の絶縁膜の開孔部より露出しでいる前記導電膜
    に金属バンプを設けたバンプを有する模擬半導体装置の
    製造方法。
JP58240206A 1983-12-20 1983-12-20 転写用バンプ製造方法 Granted JPS60132346A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58240206A JPS60132346A (ja) 1983-12-20 1983-12-20 転写用バンプ製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58240206A JPS60132346A (ja) 1983-12-20 1983-12-20 転写用バンプ製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60132346A true JPS60132346A (ja) 1985-07-15
JPH0586657B2 JPH0586657B2 (ja) 1993-12-13

Family

ID=17056027

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58240206A Granted JPS60132346A (ja) 1983-12-20 1983-12-20 転写用バンプ製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60132346A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0586657B2 (ja) 1993-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0145862B1 (en) Metallization of a ceramic substrate
USRE49286E1 (en) Method of making flip chip
JP3538029B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2622156B2 (ja) 集積回路パッド用の接触方法とその構造
JP2004158758A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPS58148434A (ja) 電気部品実装基板の製造方法
JP2001257227A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS60132346A (ja) 転写用バンプ製造方法
US3767397A (en) Photographic treatment for semiconductor devices or the like
JPH023944A (ja) 半導体装置
JPS6336548A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPH0661233A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0494131A (ja) 半導体装置のバンプ構造体の形成方法
JPS63119551A (ja) パタ−ニングされた金属膜の形成方法
JP3062637B2 (ja) 蛍光表示管の製造方法
JPS6348427B2 (ja)
JP3877691B2 (ja) 半導体装置
JP2004063729A (ja) 電極構造及びその形成方法
JPH08116150A (ja) 電極配線および抵抗素子の形成方法
JPH01238044A (ja) 半導体装置
JPH0794676A (ja) 厚膜icのバイアホールの形成方法
JPH11251348A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPS641077B2 (ja)
JPS6031245A (ja) 半導体装置
JPH0327527A (ja) 半導体集積回路装置

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term