JPS6016084B2 - サーマルヘツド - Google Patents
サーマルヘツドInfo
- Publication number
- JPS6016084B2 JPS6016084B2 JP52131262A JP13126277A JPS6016084B2 JP S6016084 B2 JPS6016084 B2 JP S6016084B2 JP 52131262 A JP52131262 A JP 52131262A JP 13126277 A JP13126277 A JP 13126277A JP S6016084 B2 JPS6016084 B2 JP S6016084B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thermal head
- manufacturing
- sputtering
- titanium
- heating resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は棚化チタン薄膜を有するサーマルヘッドさらに
はその製造方法に関する。
はその製造方法に関する。
熱印字記録に用いられるサーマルヘッドは例えばガラス
のような電気的な絶縁性と平滑面とを有する基板上に複
数個の発熱抵抗体と、この発熱抵抗体に電力を供給する
ための電気導体とを設け、記録すべき情報に従って必要
な熱パターンが得られるように、対応する発熱抵抗体に
電気導体を介して電流を流して発熱させ、記録媒体に接
触することにより記録を行なうものである。
のような電気的な絶縁性と平滑面とを有する基板上に複
数個の発熱抵抗体と、この発熱抵抗体に電力を供給する
ための電気導体とを設け、記録すべき情報に従って必要
な熱パターンが得られるように、対応する発熱抵抗体に
電気導体を介して電流を流して発熱させ、記録媒体に接
触することにより記録を行なうものである。
そこに用いられる発熱抵抗体しては、従来窒化タンタル
、ニクロム等の薄膜発熱抵抗体、銀−パラジウム等を用
いた淳膜発熱抵抗体、シリコン半導体を用いた半導体発
熱抵抗体がある。このうち薄膜発熱抵抗体を用いたサー
マルヘッドは厚膜発熱抵抗体、半導体発熱抵抗体等と比
較して熱応答性がよく耐熱性、耐熱衝撃性に殴れ、寿命
が長く、信頼性が高い等の特徴を有している。この薄膜
発熱抵抗体としては、従来、窒化タンタルが比較的耐熱
性に優れ、信頼性も高く、又固有抵抗値も250〜30
0rQ弧と比較的高い値で製造の制御性をよいため、特
に多く用いられている。しかるに窒化タンタルは約30
0℃以上の高温に対しては急激に酸化されその抵抗値が
急激に増加し、記録紙に印字する場合、印字濃度を劣化
させる欠点がある。
、ニクロム等の薄膜発熱抵抗体、銀−パラジウム等を用
いた淳膜発熱抵抗体、シリコン半導体を用いた半導体発
熱抵抗体がある。このうち薄膜発熱抵抗体を用いたサー
マルヘッドは厚膜発熱抵抗体、半導体発熱抵抗体等と比
較して熱応答性がよく耐熱性、耐熱衝撃性に殴れ、寿命
が長く、信頼性が高い等の特徴を有している。この薄膜
発熱抵抗体としては、従来、窒化タンタルが比較的耐熱
性に優れ、信頼性も高く、又固有抵抗値も250〜30
0rQ弧と比較的高い値で製造の制御性をよいため、特
に多く用いられている。しかるに窒化タンタルは約30
0℃以上の高温に対しては急激に酸化されその抵抗値が
急激に増加し、記録紙に印字する場合、印字濃度を劣化
させる欠点がある。
一般にはこの欠点を補うために酸化シリコン(Si02
)の耐酸化保護層を設け更にその上に酸化タンタル(T
a2Q)の耐摩耗層を設けてサーマルヘッドとして使用
しているが、サーマルヘッドを長時間駆動させた時の抵
抗変化は少くなく、なお十分満足できるものではなかっ
た。特に近年高速サーマルヘッドの要求が増加しつつあ
るためヘッドの通電パルス中を短かくして感熱紙を発色
させる必要があり、従って電力は従来より増加すること
になり、発熱抵抗体はさらに高温になるから寿命はより
短かくなる。そのため、さらに耐熱性のある発熱抵抗体
が要求されている。また窒化タンタルの面積抵抗は、通
常500/口前後で、サーマルヘッドとして特に大きく
した場合でも1000/□程度であり更に抵抗値を大き
くするためにはトリミングを行なったり、濃厚を薄くす
る等の方法を用いるが、その降製造工程が複雑になった
り、寿命に対して悪影響を生じたりする等の欠点が発生
する。このように窒化タンタル薄膜発熱抵抗体では面積
抵抗を大きくとれないため、抵抗体を加熱するだけの電
力を供給するためには必然的に電流が大きくなり、電極
や配線に使用する電気導体の抵抗値が問題になる。即ち
、薄膜発熱抵抗体の抵抗値に対して電気導体の抵抗値が
無視できなくなるから、抵抗体に接続された各電気導体
の距離の差異により各抵抗体の発熱量が異なってしまい
、記録パターンに濃度差が生じ記録品質が劣る。更に記
録密度を上げるため、薄膜発熱抵抗体の大きさを小さく
すると、薄膜発熱抵抗体の面積抵抗値は不変で電気導体
の抵抗値のみ増大するから、電気導体における電力消費
が問題になるし、又これを避けるために電気導体の厚さ
を極端に大きくすると構造上大きな不都合が生じること
になる。又電流が大きいことは加熱用電源、スイッチン
グ回路等の容量を大きくしなければならない等の不都合
も生じる。本発明は上記の点を改良して、酸化されにく
く抵抗値が安定で、比抵抗を高い値まで選択できる薄膜
発熱抵抗体を有するサーマルヘッドを提供することを目
的とし、その特徴とするところは、薄膜発熱抵抗体とし
て棚化チタンを使用したサーマルヘッド、前記発熱体を
覆う保護膜との組合せ、さらには前記薄膜発熱抵抗体の
製造方法にある。
)の耐酸化保護層を設け更にその上に酸化タンタル(T
a2Q)の耐摩耗層を設けてサーマルヘッドとして使用
しているが、サーマルヘッドを長時間駆動させた時の抵
抗変化は少くなく、なお十分満足できるものではなかっ
た。特に近年高速サーマルヘッドの要求が増加しつつあ
るためヘッドの通電パルス中を短かくして感熱紙を発色
させる必要があり、従って電力は従来より増加すること
になり、発熱抵抗体はさらに高温になるから寿命はより
短かくなる。そのため、さらに耐熱性のある発熱抵抗体
が要求されている。また窒化タンタルの面積抵抗は、通
常500/口前後で、サーマルヘッドとして特に大きく
した場合でも1000/□程度であり更に抵抗値を大き
くするためにはトリミングを行なったり、濃厚を薄くす
る等の方法を用いるが、その降製造工程が複雑になった
り、寿命に対して悪影響を生じたりする等の欠点が発生
する。このように窒化タンタル薄膜発熱抵抗体では面積
抵抗を大きくとれないため、抵抗体を加熱するだけの電
力を供給するためには必然的に電流が大きくなり、電極
や配線に使用する電気導体の抵抗値が問題になる。即ち
、薄膜発熱抵抗体の抵抗値に対して電気導体の抵抗値が
無視できなくなるから、抵抗体に接続された各電気導体
の距離の差異により各抵抗体の発熱量が異なってしまい
、記録パターンに濃度差が生じ記録品質が劣る。更に記
録密度を上げるため、薄膜発熱抵抗体の大きさを小さく
すると、薄膜発熱抵抗体の面積抵抗値は不変で電気導体
の抵抗値のみ増大するから、電気導体における電力消費
が問題になるし、又これを避けるために電気導体の厚さ
を極端に大きくすると構造上大きな不都合が生じること
になる。又電流が大きいことは加熱用電源、スイッチン
グ回路等の容量を大きくしなければならない等の不都合
も生じる。本発明は上記の点を改良して、酸化されにく
く抵抗値が安定で、比抵抗を高い値まで選択できる薄膜
発熱抵抗体を有するサーマルヘッドを提供することを目
的とし、その特徴とするところは、薄膜発熱抵抗体とし
て棚化チタンを使用したサーマルヘッド、前記発熱体を
覆う保護膜との組合せ、さらには前記薄膜発熱抵抗体の
製造方法にある。
以下、図面を参照しながら詳細に説明する。第1図は本
発明に適用するサーマルヘッドの形状例の要部断面図で
ある。同図中の1はセラミックスガラスあるいは、グレ
ーズドセラミツクのような電気的な絶縁物で形成された
基板である。2は棚化チタンの薄膜発熱抵抗体である。
発明に適用するサーマルヘッドの形状例の要部断面図で
ある。同図中の1はセラミックスガラスあるいは、グレ
ーズドセラミツクのような電気的な絶縁物で形成された
基板である。2は棚化チタンの薄膜発熱抵抗体である。
3は該薄膜発熱抵抗体に電力を供給するための電気導体
で、アルミニウム、金等の電気良導体で形成されている
。
で、アルミニウム、金等の電気良導体で形成されている
。
又4は薄膜発熱抵抗体及び電気導体の保護層で、例えば
電子ビーム蒸着、スパッタ一等によって作製した酸化シ
リコン、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化タ
ンタル等あるいはこれらを組合せた多層構成が用いられ
、これによってサーマルヘッドの寿命を一層長くするこ
とができる。棚化チタンの薄膜発熱抵抗体の製造は電子
ビーム蒸着、スパッタリングいずれも可能であり、電子
ビーム蒸着での製造は、棚化チタンの粉末を約100k
9/が以上の圧力でプレスしてタブレットを作り、1×
10‐4Ton以上の高真空度であらかじめ一定温度に
保った基板上に蒸着させることができる。
電子ビーム蒸着、スパッタ一等によって作製した酸化シ
リコン、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化タ
ンタル等あるいはこれらを組合せた多層構成が用いられ
、これによってサーマルヘッドの寿命を一層長くするこ
とができる。棚化チタンの薄膜発熱抵抗体の製造は電子
ビーム蒸着、スパッタリングいずれも可能であり、電子
ビーム蒸着での製造は、棚化チタンの粉末を約100k
9/が以上の圧力でプレスしてタブレットを作り、1×
10‐4Ton以上の高真空度であらかじめ一定温度に
保った基板上に蒸着させることができる。
一方スパッタリングで作製するときにはターゲットに棚
化チタンを使う方法と、棚素と金属チタンを同時にター
ゲットとする方法と、金属チタンのみをターゲットとし
て活性スパッタリングを行う方法とがある。棚化チタン
をターゲットとする場合、例えば石英皿等の上に馴化チ
タンを粉末の状態もしくはプレスした状態で置くことに
よりターゲットとして用いることもできるが、あらかじ
め1100午○以上の真空ホットプレスにより暁結させ
たターゲットを使用する方が、スパッタリングの制御は
行いやすい。また側素と金属を同時にターゲットとする
場合には側素と金属チタンを混合するか、又は一方を他
方に埋め込んだり表面の一部に配置したりして、行うこ
とができる。いずれの場合にも1×10‐3Ton〜5
×10‐ITomのアルゴン雰囲気で行うのがよく、好
ましくは1×10‐汀orr〜1×10‐ITonがよ
い。また活性スパッタリングを行う場合には金属チタン
板などの金属単体をターゲットとして、アルゴン、ジボ
ランの混合ガス雰囲気中で行ない、その時のガス圧はア
ルゴンとジボランの全ガス圧1×10‐汀on〜5×1
0‐ITorrで好ましくは、1×10‐2Ton〜5
×10‐2Tonでジボランは全圧力の1〜10%で好
ましくは2〜6%がよい。またスパッタリング中あるい
は電子ビーム黍着中に於いて200℃〜500qoの基
板加熱を行うことによって基板に対して棚化チタンの密
着性が向上し、又膜の安定性に効果がある。さらにまた
スパッタリングあるいは電子ビーム蒸着の後で200午
C〜650℃の温度で真空中、大気中又はアルゴンガス
等の雰囲気中で熱処理を行うことにより必要な抵抗値に
コントロールすることができ、しかもサーマルヘッドと
して使用する場合の安定性も増加するため寿命に対して
効果がある。熱処理温度は200oo以下では抵抗値変
化は非常に少ないために長時間の熱処理時間が要求され
、一方650℃以上では抵抗値の変化が急激に起こった
り又ガラス等の基板では使用できなくなるなど使用上の
制約或いは制御の困難さのため熱処理温度は200〜6
50qoが望ましい。このようにして得られた棚化チタ
ンのサーマルヘッドは酸化されにくくて安定で、従来の
窒化タンタルを用いたサーマルヘッドの使用電力限界が
最大17〜18W/協であったのに対して、最大松〜2
3W/桝の電力供給に対しても十分使用できる。このこ
とは、発熱抵抗体に大きな電力を印加して高温とする高
速印字用のサーマルヘッド‘こも好適である。さらにこ
の棚化チタン薄膜抵抗体の固有抵抗値は200山○抑〜
5×1ぴ仏○仇と広い範囲の中から選択できるので高抵
抗値に設定すれば発熱させるための電流は少なくてすみ
、電極を薄く作製することができるので製造工程が簡単
になり、凹凸が少なくなるため摩耗に対しても強くなる
。また電極部の抵抗の影響による薄膜発熱抵抗体の発熱
量も無視できる。次に実施例に基いて説明する。
化チタンを使う方法と、棚素と金属チタンを同時にター
ゲットとする方法と、金属チタンのみをターゲットとし
て活性スパッタリングを行う方法とがある。棚化チタン
をターゲットとする場合、例えば石英皿等の上に馴化チ
タンを粉末の状態もしくはプレスした状態で置くことに
よりターゲットとして用いることもできるが、あらかじ
め1100午○以上の真空ホットプレスにより暁結させ
たターゲットを使用する方が、スパッタリングの制御は
行いやすい。また側素と金属を同時にターゲットとする
場合には側素と金属チタンを混合するか、又は一方を他
方に埋め込んだり表面の一部に配置したりして、行うこ
とができる。いずれの場合にも1×10‐3Ton〜5
×10‐ITomのアルゴン雰囲気で行うのがよく、好
ましくは1×10‐汀orr〜1×10‐ITonがよ
い。また活性スパッタリングを行う場合には金属チタン
板などの金属単体をターゲットとして、アルゴン、ジボ
ランの混合ガス雰囲気中で行ない、その時のガス圧はア
ルゴンとジボランの全ガス圧1×10‐汀on〜5×1
0‐ITorrで好ましくは、1×10‐2Ton〜5
×10‐2Tonでジボランは全圧力の1〜10%で好
ましくは2〜6%がよい。またスパッタリング中あるい
は電子ビーム黍着中に於いて200℃〜500qoの基
板加熱を行うことによって基板に対して棚化チタンの密
着性が向上し、又膜の安定性に効果がある。さらにまた
スパッタリングあるいは電子ビーム蒸着の後で200午
C〜650℃の温度で真空中、大気中又はアルゴンガス
等の雰囲気中で熱処理を行うことにより必要な抵抗値に
コントロールすることができ、しかもサーマルヘッドと
して使用する場合の安定性も増加するため寿命に対して
効果がある。熱処理温度は200oo以下では抵抗値変
化は非常に少ないために長時間の熱処理時間が要求され
、一方650℃以上では抵抗値の変化が急激に起こった
り又ガラス等の基板では使用できなくなるなど使用上の
制約或いは制御の困難さのため熱処理温度は200〜6
50qoが望ましい。このようにして得られた棚化チタ
ンのサーマルヘッドは酸化されにくくて安定で、従来の
窒化タンタルを用いたサーマルヘッドの使用電力限界が
最大17〜18W/協であったのに対して、最大松〜2
3W/桝の電力供給に対しても十分使用できる。このこ
とは、発熱抵抗体に大きな電力を印加して高温とする高
速印字用のサーマルヘッド‘こも好適である。さらにこ
の棚化チタン薄膜抵抗体の固有抵抗値は200山○抑〜
5×1ぴ仏○仇と広い範囲の中から選択できるので高抵
抗値に設定すれば発熱させるための電流は少なくてすみ
、電極を薄く作製することができるので製造工程が簡単
になり、凹凸が少なくなるため摩耗に対しても強くなる
。また電極部の抵抗の影響による薄膜発熱抵抗体の発熱
量も無視できる。次に実施例に基いて説明する。
実施例 1
あらかじめ十分に洗浄されたグレーズドセラミックス基
板に1300午○でホットプレスした棚化チタン〔Ti
B、三溝和化学薬品製、Ti船.70%、B30.72
%〕をターゲットとして、高周波2極スパッタで、アル
ゴンのトータル圧力5×10‐なorr、基板加熱温度
200午○の条件にて400Aの厚さの発熱体を作製し
た。
板に1300午○でホットプレスした棚化チタン〔Ti
B、三溝和化学薬品製、Ti船.70%、B30.72
%〕をターゲットとして、高周波2極スパッタで、アル
ゴンのトータル圧力5×10‐なorr、基板加熱温度
200午○の条件にて400Aの厚さの発熱体を作製し
た。
この固有抵抗値は約360ム○弧でこの時の面積抵抗は
約900/口であった。この上にチタンを10A、アル
ミニウムを15仏の電子ビームで蒸着した後、選択エッ
チングで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドA,.
を形成した。次いで該サーマルヘッドA,.に保護層と
して電子ビーム蒸着により酸化タンタルを膜厚6仏肌蒸
着したサーマルヘッドA,2、酸化アルミニウムを膜厚
8ムの黍着したサーマルヘッドA.3、酸化マグネシウ
ムを膜厚5仏の蒸着したサーマルヘッドA,4、及び酸
化シリコンを膜厚1.5一肌次いで酸化タンタルを膜厚
6〃仇の二層構成に蒸着したサーマルヘッドA,5を用
意した。
約900/口であった。この上にチタンを10A、アル
ミニウムを15仏の電子ビームで蒸着した後、選択エッ
チングで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドA,.
を形成した。次いで該サーマルヘッドA,.に保護層と
して電子ビーム蒸着により酸化タンタルを膜厚6仏肌蒸
着したサーマルヘッドA,2、酸化アルミニウムを膜厚
8ムの黍着したサーマルヘッドA.3、酸化マグネシウ
ムを膜厚5仏の蒸着したサーマルヘッドA,4、及び酸
化シリコンを膜厚1.5一肌次いで酸化タンタルを膜厚
6〃仇の二層構成に蒸着したサーマルヘッドA,5を用
意した。
比較のために、高周波2極の反応スパッタリングによっ
てタンタルをターゲットとし、アルゴンと窒素の全圧力
が8×10‐2Ton、窒素分圧が1×lo‐4Tom
の条件で400Aの厚さの窒化タンタル発熱抵抗体のサ
ーマルヘッドB,.を作製した。
てタンタルをターゲットとし、アルゴンと窒素の全圧力
が8×10‐2Ton、窒素分圧が1×lo‐4Tom
の条件で400Aの厚さの窒化タンタル発熱抵抗体のサ
ーマルヘッドB,.を作製した。
この薄膜をX線回折で分析したところTaがであった。
また固有抵抗値は240#○抑でこの時の面積抵抗値は
600/口であった。次いで該サーマルヘッドB,.に
スパッタリングによって6仏の厚の酸化タンタル保護層
を設けたものB,2と、酸化シリコン膜を1.5仏肌設
け更にその上に6山机厚の酸化タンタル膜を設けた2層
構成の保護層を有するものB,3を用意した。用意され
たこれらのサーマルヘッド‘こ対して、パルス幅6肌s
50HZの繰り返し電圧を印加し、その供聯合電力を3
■針こIWatt/柵ずつ増加させて加速テストを行っ
たときの抵抗例率等xl。。(%)帆船果を第側こ示す
。
また固有抵抗値は240#○抑でこの時の面積抵抗値は
600/口であった。次いで該サーマルヘッドB,.に
スパッタリングによって6仏の厚の酸化タンタル保護層
を設けたものB,2と、酸化シリコン膜を1.5仏肌設
け更にその上に6山机厚の酸化タンタル膜を設けた2層
構成の保護層を有するものB,3を用意した。用意され
たこれらのサーマルヘッド‘こ対して、パルス幅6肌s
50HZの繰り返し電圧を印加し、その供聯合電力を3
■針こIWatt/柵ずつ増加させて加速テストを行っ
たときの抵抗例率等xl。。(%)帆船果を第側こ示す
。
ここでRはテスト前の抵抗値、△Rは抵抗値の変化分で
ある。スパッタ−により作製した棚化チタン薄膜発熱抵
抗体A,.は窒化タンタル薄膜発熱抵抗体B,.と比べ
て、単位面積当り約1.針音の電力を供給できる。
ある。スパッタ−により作製した棚化チタン薄膜発熱抵
抗体A,.は窒化タンタル薄膜発熱抵抗体B,.と比べ
て、単位面積当り約1.針音の電力を供給できる。
又、保護層を設けることにより、単位面積当りに供給で
きる電力は大中に改善されるが、棚化チタン薄膜発熱抵
抗体は電子ビーム蒸着によって作製した酸化タンタル(
A,2)、酸化アルミニウム(A,3)、酸化マグネシ
ウム(ん4)の、保護層を一層だけ使用した場合でも、
二層の保護層をもつ窒化タンタル薄膜発熱抵抗体のサー
マルヘッドB3とほぼ同等であり、一層の保護層を有す
る窒化タンタル薄膜発熱抵抗体のサーマルヘッドB2よ
りもはるかに優れていた。又、棚化チタン上に酸化シリ
コンと酸化タンタルの二層の保護層を設けたサーマルヘ
ッドA,5はさらに大中に改善された。この最大供給電
力の増大は定電力駆動の場合、発熱現象にともなう発熱
抵抗体の劣化が軽減されることを意味する。
きる電力は大中に改善されるが、棚化チタン薄膜発熱抵
抗体は電子ビーム蒸着によって作製した酸化タンタル(
A,2)、酸化アルミニウム(A,3)、酸化マグネシ
ウム(ん4)の、保護層を一層だけ使用した場合でも、
二層の保護層をもつ窒化タンタル薄膜発熱抵抗体のサー
マルヘッドB3とほぼ同等であり、一層の保護層を有す
る窒化タンタル薄膜発熱抵抗体のサーマルヘッドB2よ
りもはるかに優れていた。又、棚化チタン上に酸化シリ
コンと酸化タンタルの二層の保護層を設けたサーマルヘ
ッドA,5はさらに大中に改善された。この最大供給電
力の増大は定電力駆動の場合、発熱現象にともなう発熱
抵抗体の劣化が軽減されることを意味する。
通常、感熱記録紙への熱エネルギー伝達に際しての供給
電力は、援触圧により異なるが大体11〜14W/めで
十分であるから窒化タンタル薄膜発熱抵抗体の場合は酸
化シリコンと酸化タンタルの組合せ等の二層構成の保護
層が必須のものであるのに対し、棚化チタン薄膜発熱抵
抗体の場合は酸化タンタル、酸化アルミニウム、酸化マ
グネシウム等の一層の保護層のみで十分印字でき、二層
の保護層があると更に寿命がのびることがわかる。実施
例 2実施例1で用意したのと同じサーマルヘッドA,
.に対して保護層として酸化タンタルを膜厚6仏のスパ
ッタしたサーマルヘツドん2、酸化アルミニウムを膜厚
8一肌スパツタしたサーマルへッドん3、酸化マグネシ
ウムを膜厚5r仇スパッタ‐したサーマルへッドん4、
及び酸化シリコン1.5〃m次いで酸化タンタル6〃机
の膜厚に二層構成の保護層をスパッタリングで作製した
サーマルヘッドA舞を用意した。
電力は、援触圧により異なるが大体11〜14W/めで
十分であるから窒化タンタル薄膜発熱抵抗体の場合は酸
化シリコンと酸化タンタルの組合せ等の二層構成の保護
層が必須のものであるのに対し、棚化チタン薄膜発熱抵
抗体の場合は酸化タンタル、酸化アルミニウム、酸化マ
グネシウム等の一層の保護層のみで十分印字でき、二層
の保護層があると更に寿命がのびることがわかる。実施
例 2実施例1で用意したのと同じサーマルヘッドA,
.に対して保護層として酸化タンタルを膜厚6仏のスパ
ッタしたサーマルヘツドん2、酸化アルミニウムを膜厚
8一肌スパツタしたサーマルへッドん3、酸化マグネシ
ウムを膜厚5r仇スパッタ‐したサーマルへッドん4、
及び酸化シリコン1.5〃m次いで酸化タンタル6〃机
の膜厚に二層構成の保護層をスパッタリングで作製した
サーマルヘッドA舞を用意した。
これらのサーマルヘッドについて実施例1と同じテスト
を行い抵抗変化率を測定した。その結果抵抗変化率が急
激に増加する単位面積当りの電力限界値はそれぞれA2
2では18W/柵、A23では18.5W/桝、ん4で
は19.0W/協、ん5では23W/めであり非常に良
好な結果を示した。保護層は電子ビーム蒸着よりスパッ
タ‐で作製した方がより良い結果を示した。実施例 3 棚化チタン〔TiB2、三鰹和化学薬品製、Ti687
0%、B30.72%〕の粉末を100k9/均以上で
プレスしたタブレットを作成し、あらかじめ充分に洗浄
されたグレーズドセラミックス基板上に基板加熱30ぴ
○、真空度5×10‐6Tonで1000Aの厚さに電
子ビームで黍着した。
を行い抵抗変化率を測定した。その結果抵抗変化率が急
激に増加する単位面積当りの電力限界値はそれぞれA2
2では18W/柵、A23では18.5W/桝、ん4で
は19.0W/協、ん5では23W/めであり非常に良
好な結果を示した。保護層は電子ビーム蒸着よりスパッ
タ‐で作製した方がより良い結果を示した。実施例 3 棚化チタン〔TiB2、三鰹和化学薬品製、Ti687
0%、B30.72%〕の粉末を100k9/均以上で
プレスしたタブレットを作成し、あらかじめ充分に洗浄
されたグレーズドセラミックス基板上に基板加熱30ぴ
○、真空度5×10‐6Tonで1000Aの厚さに電
子ビームで黍着した。
この固有抵抗値は約1000山○伽でこの時の面積抵抗
は約1000/□であった。次にこの上にチタンを10
A、アルミニウムを1.5Aの電子ビームにより蒸着し
た後、選択エッチングにより4本/側この分解能をもっ
たパターンを形成してサーマルヘッドC,.とした。こ
のサーマルヘッドC,.に保護膜として電子ビーム蒸着
により、酸化タンタルを膜厚6仏仇蒸着したサーマルヘ
ッドC,2、酸化アルミニウムを膜厚8山凧蒸着したサ
ーマルヘッドC,3、酸化マグネシウムを膜厚5〆の蒸
着したサーマルヘッドC,4、及び酸化シリコン1.5
A仇次いで酸化タンタル6ム机の二層構成に蒸着したサ
ーマルヘッドC,5を用意し、実施例1と同じテストを
行った。その結果、抵抗変化率が急激に増加する単位面
積当りの電力の限界値はそれぞれ、C,.では10.5
W/協、C.2では16.0W′柵、C,3では16.
5W′柵、C.4では16.5W/嫌、C,5では19
.5W/めであった。
は約1000/□であった。次にこの上にチタンを10
A、アルミニウムを1.5Aの電子ビームにより蒸着し
た後、選択エッチングにより4本/側この分解能をもっ
たパターンを形成してサーマルヘッドC,.とした。こ
のサーマルヘッドC,.に保護膜として電子ビーム蒸着
により、酸化タンタルを膜厚6仏仇蒸着したサーマルヘ
ッドC,2、酸化アルミニウムを膜厚8山凧蒸着したサ
ーマルヘッドC,3、酸化マグネシウムを膜厚5〆の蒸
着したサーマルヘッドC,4、及び酸化シリコン1.5
A仇次いで酸化タンタル6ム机の二層構成に蒸着したサ
ーマルヘッドC,5を用意し、実施例1と同じテストを
行った。その結果、抵抗変化率が急激に増加する単位面
積当りの電力の限界値はそれぞれ、C,.では10.5
W/協、C.2では16.0W′柵、C,3では16.
5W′柵、C.4では16.5W/嫌、C,5では19
.5W/めであった。
本実施例の電子ビーム蒸着で作成した棚化発熱抵抗体も
窒化タンタル発熱抵抗体より非常に良かった。実施例
4 実施例3で用意したサーマルヘッドC,.に対して保護
層をスパッタ一により形成し、酸化タンタル6山肌のサ
ーマルヘッドC22、酸化アルミニウム8r仇のサーマ
ルヘッドC23、酸化マグネシウム5rmのサーマルヘ
ッドC24、酸化シリコン1.5仏肌次いで酸化タンタ
ル6〃肌の二層構成としたサーマルヘッドC25を用意
した。
窒化タンタル発熱抵抗体より非常に良かった。実施例
4 実施例3で用意したサーマルヘッドC,.に対して保護
層をスパッタ一により形成し、酸化タンタル6山肌のサ
ーマルヘッドC22、酸化アルミニウム8r仇のサーマ
ルヘッドC23、酸化マグネシウム5rmのサーマルヘ
ッドC24、酸化シリコン1.5仏肌次いで酸化タンタ
ル6〃肌の二層構成としたサーマルヘッドC25を用意
した。
これらのサーマルヘッド‘こ対して実施例1と同じテス
トを行い抵抗変化率を測定した。
トを行い抵抗変化率を測定した。
その結果、抵抗変化率が急激に増加する単位面積当りの
電力限界値はそれぞれ、C2では18.5W/協、C2
3では19W/桝、C24では20W/磯、C濁では2
2W′めであった。実施例 6 6インチ径の金属チタン板をターゲットとして用いた。
電力限界値はそれぞれ、C2では18.5W/協、C2
3では19W/桝、C24では20W/磯、C濁では2
2W′めであった。実施例 6 6インチ径の金属チタン板をターゲットとして用いた。
充分に洗浄されたグレーズドセラミックス基板を400
℃に基板加熱してアルゴン、ジボラン混合ガス雰囲気中
で活性スパッタリングをおこなった。アルゴン十ジボラ
ンの圧力は3.5×10‐汀orr、ジボラン分圧は1
.5×10‐4Tonで高周波2極スパッタにて800
Aの膜厚をつけた。この固有抵抗値は磯or○肌でこの
時の面積抵抗は1100/□であった。この上にバナジ
ウムを100A、金をlAm電子ビームで蒸着した後、
選択エッチングで4本/側分解能をもつサーマルヘッド
パターンを形成した。次いで保護膜として酸化アルミニ
ウム(AI2Q)10ム肌をスパッタで積層した。この
サーマルヘッド‘こ対して実施例1と同じ加速テストを
おこなったところ20W/桝まで抵抗変化率は±2%以
内であった。本例もまた前記比較例の窒化タンタルを用
いたサーマルヘッドより非常に良好な結果が得られた。
実施例 66インチ径の金属チタン板上に、暁結した1
/4インチ径のホウ素板を多数個遣いて表面積比で金属
チタン:棚素がおよそ1:2になるようにしたターゲッ
トを用いた。
℃に基板加熱してアルゴン、ジボラン混合ガス雰囲気中
で活性スパッタリングをおこなった。アルゴン十ジボラ
ンの圧力は3.5×10‐汀orr、ジボラン分圧は1
.5×10‐4Tonで高周波2極スパッタにて800
Aの膜厚をつけた。この固有抵抗値は磯or○肌でこの
時の面積抵抗は1100/□であった。この上にバナジ
ウムを100A、金をlAm電子ビームで蒸着した後、
選択エッチングで4本/側分解能をもつサーマルヘッド
パターンを形成した。次いで保護膜として酸化アルミニ
ウム(AI2Q)10ム肌をスパッタで積層した。この
サーマルヘッド‘こ対して実施例1と同じ加速テストを
おこなったところ20W/桝まで抵抗変化率は±2%以
内であった。本例もまた前記比較例の窒化タンタルを用
いたサーマルヘッドより非常に良好な結果が得られた。
実施例 66インチ径の金属チタン板上に、暁結した1
/4インチ径のホウ素板を多数個遣いて表面積比で金属
チタン:棚素がおよそ1:2になるようにしたターゲッ
トを用いた。
充分に洗浄されたグレーズドセラミツクス基板を500
00に基板加熱してアルゴン圧;3×1げびonで、R
.F.2極でスバッタした。スパッタ率は100A/分
で10分間スパツタしたところ1000Aの膜厚、固有
抵抗値1500仏○弧でこの時の固有抵抗値1500/
□の薄膜発熱抵抗体が得られた。この上にチタンを10
A、アルミニウムを1山肌電子ビームで蒸着した後、選
択エッチングで、4本/側分解能をもつサーマルヘッド
パターンを形成した。次に保護膜として酸化タンタル(
Ta205)10仏のをスパッタで鍵層した。このサー
マルヘッドに対して実施例1と同じ加速テストを行った
ところ18.5W/柵まで抵抗変化率は±2%以内で、
窒化タンタルを用いたサーマルヘッドより非常に良好な
結果が得られた。実施例 7
,5インチ径の石英皿に棚化チタンの粉末を置
いてターゲットとした。十分に洗浄されたグレーズドセ
ラミツクス基板を、基板加熱20000、アルゴン分圧
5×10‐2Tomで高周波2極スパッタを行った。ス
パッタ率を150A/minで6分間スパツタしたとこ
ろ固有抵抗値990仏○仇でこの時の面積抵抗1100
/口の棚化チタン薄膜発熱抵抗体が得られた。この上に
チタンを100A、金を1仏の電子ビームで蒸着した後
、選択エッチングで4本/肌分解館をもつサーマルヘッ
ドパターンを形成した。次に550℃で1餌時間空気中
で熱処理したところ、発熱抵抗体の抵抗値は1100/
口から1800/口に増大した。この発熱抵抗体上に保
護膜として酸化マグネシウム(Mg○)を8山肌の厚さ
にスパツタしてサーマルヘッドD,2を得た。また比較
の為に上記工程から熱処理を除いて得たサーマルヘッド
D,.も用意した。これらのサーマルヘッドに50HZ
で6ms、15Wa比/柵の矩形波を継続して印加した
時の抵抗変化率測定結果を第3図に示す。
00に基板加熱してアルゴン圧;3×1げびonで、R
.F.2極でスバッタした。スパッタ率は100A/分
で10分間スパツタしたところ1000Aの膜厚、固有
抵抗値1500仏○弧でこの時の固有抵抗値1500/
□の薄膜発熱抵抗体が得られた。この上にチタンを10
A、アルミニウムを1山肌電子ビームで蒸着した後、選
択エッチングで、4本/側分解能をもつサーマルヘッド
パターンを形成した。次に保護膜として酸化タンタル(
Ta205)10仏のをスパッタで鍵層した。このサー
マルヘッドに対して実施例1と同じ加速テストを行った
ところ18.5W/柵まで抵抗変化率は±2%以内で、
窒化タンタルを用いたサーマルヘッドより非常に良好な
結果が得られた。実施例 7
,5インチ径の石英皿に棚化チタンの粉末を置
いてターゲットとした。十分に洗浄されたグレーズドセ
ラミツクス基板を、基板加熱20000、アルゴン分圧
5×10‐2Tomで高周波2極スパッタを行った。ス
パッタ率を150A/minで6分間スパツタしたとこ
ろ固有抵抗値990仏○仇でこの時の面積抵抗1100
/口の棚化チタン薄膜発熱抵抗体が得られた。この上に
チタンを100A、金を1仏の電子ビームで蒸着した後
、選択エッチングで4本/肌分解館をもつサーマルヘッ
ドパターンを形成した。次に550℃で1餌時間空気中
で熱処理したところ、発熱抵抗体の抵抗値は1100/
口から1800/口に増大した。この発熱抵抗体上に保
護膜として酸化マグネシウム(Mg○)を8山肌の厚さ
にスパツタしてサーマルヘッドD,2を得た。また比較
の為に上記工程から熱処理を除いて得たサーマルヘッド
D,.も用意した。これらのサーマルヘッドに50HZ
で6ms、15Wa比/柵の矩形波を継続して印加した
時の抵抗変化率測定結果を第3図に示す。
5×1ぴ回の印加パルス回数でD,.の抵抗変化率が1
2%以上であるのに対してD8は6%であり熱処理によ
り抵抗変化が少なくなり安定化した。
2%以上であるのに対してD8は6%であり熱処理によ
り抵抗変化が少なくなり安定化した。
実施例 8実施例7の熱処理を、Ar中65000で2
時間に変えたところ抵抗は1100/口から1000/
口に変化した。
時間に変えたところ抵抗は1100/口から1000/
口に変化した。
ここで保護膜として酸化マグネシウム(Mg0)8山肌
をスパツタしてサーマルヘッドD,3を得た。
をスパツタしてサーマルヘッドD,3を得た。
ここで実施例7と同じ耐久テストを行った。
その結果を第3図中に示すが、実施例7の例よりも良好
な結果が得られ、5×1ぴ回のパルス印加回数に於いて
も抵抗変化率は4%以下だった。
な結果が得られ、5×1ぴ回のパルス印加回数に於いて
も抵抗変化率は4%以下だった。
第1図は本発明に係るサーマルヘッドの形状例の要部断
面図。 第2図、第3図は本発明の効果を示す特性図。1・・・
・・・基板、2・・・・・・薄膜発熱抵抗体、3・・・
・・・電気導体、4…・・・保護層。 第ー図 第2図 寿ろ図
面図。 第2図、第3図は本発明の効果を示す特性図。1・・・
・・・基板、2・・・・・・薄膜発熱抵抗体、3・・・
・・・電気導体、4…・・・保護層。 第ー図 第2図 寿ろ図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基板と、該基板上に形成された発熱抵抗体と、該発
熱抵抗体に電力を供給する電気導体とを有するサーマル
ヘツドにおいて、発熱抵抗体が硼化チタンであることを
特徴とするサーマルヘツド。 2 発熱抵抗体が酸化シリコン薄膜で覆われている特許
請求の範囲第1項記載のサーマルヘツド。 3 酸化タンタルの保護膜を有する特許請求の範囲第1
項または第2項記載のサーマルヘツド。 4 酸化アルミニウムの保護膜を有する特許請求の範囲
第1項または第2項記載のサーマルヘツド。 5 酸化マグネシウムの保護膜を有する特許請求の範囲
第1項または第2項記載のサーマルヘツド。 6 電子ビーム蒸着によって基板上に硼化チタン薄膜を
製造することを特徴とするサーマルヘツドの製造方法。 7 200℃〜500℃の基板加熱を行いながら電子ビ
ーム蒸着を行う特許請求の範囲第6項記載の製造方法。
8 電子ビーム蒸着のあとで、200℃〜650℃で熱
処理を行う特許請求の範囲第6項または第7項記載の製
造方法。9 スパツタリングによって基板上に硼化チタ
ン薄膜の発熱抵抗体を製造することを特徴とするサーマ
ルヘツドの製造方法。 10 スパツタリングのターゲツトが硼化チタンをホツ
トプレスしたものである特許請求の範囲第9項記載の製
造方法。 11 金属チタンをターゲツトとし、アルゴンとジボラ
ンの混合ガス雰囲気中で活性スパツタリングを行う特許
請求の範囲第9項記載の製造方法。 12 金属チタンと硼素とを同時にターゲツトとするよ
うに配置した特許請求の範囲第9項記載の製造方法。 13 1×10^−^3Torr〜5×10^−^1T
orrのアルゴン雰囲気中でスパツタリングを行う特許
請求の範囲第9項または第10項または第12項記載の
製造方法。 14 200℃〜500℃の基板加熱を行いながらスパ
ツタリングを行う特許請求の範囲第9項ないし第13項
記載の製造方法。 15 スパツタリングのあとで、200℃〜650℃で
熱処理を行う特許請求の範囲第9項ないし第14項記載
の製造方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52131262A JPS6016084B2 (ja) | 1977-10-31 | 1977-10-31 | サーマルヘツド |
| US05/906,359 US4296309A (en) | 1977-05-19 | 1978-05-15 | Thermal head |
| DE19782821950 DE2821950A1 (de) | 1977-05-19 | 1978-05-19 | Waermekopf und dessen herstellung |
| US06/552,013 US4545881A (en) | 1977-05-19 | 1983-11-16 | Method for producing electro-thermal transducer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52131262A JPS6016084B2 (ja) | 1977-10-31 | 1977-10-31 | サーマルヘツド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5463844A JPS5463844A (en) | 1979-05-23 |
| JPS6016084B2 true JPS6016084B2 (ja) | 1985-04-23 |
Family
ID=15053804
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52131262A Expired JPS6016084B2 (ja) | 1977-05-19 | 1977-10-31 | サーマルヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6016084B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6439996U (ja) * | 1987-09-05 | 1989-03-09 | ||
| JPH0280280U (ja) * | 1988-12-12 | 1990-06-20 |
-
1977
- 1977-10-31 JP JP52131262A patent/JPS6016084B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6439996U (ja) * | 1987-09-05 | 1989-03-09 | ||
| JPH0280280U (ja) * | 1988-12-12 | 1990-06-20 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5463844A (en) | 1979-05-23 |
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