JPS6038002B2 - サ−マルヘツド - Google Patents
サ−マルヘツドInfo
- Publication number
- JPS6038002B2 JPS6038002B2 JP52160141A JP16014177A JPS6038002B2 JP S6038002 B2 JPS6038002 B2 JP S6038002B2 JP 52160141 A JP52160141 A JP 52160141A JP 16014177 A JP16014177 A JP 16014177A JP S6038002 B2 JPS6038002 B2 JP S6038002B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- boride
- thermal head
- head according
- carbide
- metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は金属棚化物と炭素とからなる薄膜発熱抵抗体を
有するサーマルヘッドさらにはその製造方法に関する。
有するサーマルヘッドさらにはその製造方法に関する。
熱印字記録に用いられるサーマルヘッドは例えばガラス
のような電気的な絶縁性と平滑面とを有する基板上に複
数個の発熱抵抗体と、この発熱抵抗体に電力を供給する
ための電気導体とを設け、記録すべき情報に従って必要
な熱パターンが得られるように、対応する発熱抵抗体に
電気導体を介して電流を流して発熱させ、記録媒体に接
触することにより記録を行なうものである。そこに用い
られる発熱抵抗体としては、従来窒化タンタル、ニクロ
ム酸化錫等の薄膜発熱抵抗体、銀−パラジウム等を用い
た厚膜発熱抵抗体、シリコン半導体を用いた半導体発熱
抵抗体がある。このうち薄膜発熱抵抗体を用いたサーマ
ルヘッドは厚膜発熱抵抗体、半導体発熱抵抗体等と比較
して熱応答性がよく耐熱性、耐熱衝撃性に優れ、寿命が
長く、信頼性が高い等の特徴を有している。この薄膜発
熱抵抗体としては、従来、窒化タンタルが耐熱性に優れ
、信頼性も高く、又固有抵抗値も250〜300仏○肌
と比較的高い値で製造の制御性もよいため、特に多く用
いられている。しかるに窒化タンタルは約300qo以
上の高温に於ては急撃に酸化されその抵抗値が急激に増
加し、記録紙に印字する場合、印字濃度を劣化させる欠
点がある。
のような電気的な絶縁性と平滑面とを有する基板上に複
数個の発熱抵抗体と、この発熱抵抗体に電力を供給する
ための電気導体とを設け、記録すべき情報に従って必要
な熱パターンが得られるように、対応する発熱抵抗体に
電気導体を介して電流を流して発熱させ、記録媒体に接
触することにより記録を行なうものである。そこに用い
られる発熱抵抗体としては、従来窒化タンタル、ニクロ
ム酸化錫等の薄膜発熱抵抗体、銀−パラジウム等を用い
た厚膜発熱抵抗体、シリコン半導体を用いた半導体発熱
抵抗体がある。このうち薄膜発熱抵抗体を用いたサーマ
ルヘッドは厚膜発熱抵抗体、半導体発熱抵抗体等と比較
して熱応答性がよく耐熱性、耐熱衝撃性に優れ、寿命が
長く、信頼性が高い等の特徴を有している。この薄膜発
熱抵抗体としては、従来、窒化タンタルが耐熱性に優れ
、信頼性も高く、又固有抵抗値も250〜300仏○肌
と比較的高い値で製造の制御性もよいため、特に多く用
いられている。しかるに窒化タンタルは約300qo以
上の高温に於ては急撃に酸化されその抵抗値が急激に増
加し、記録紙に印字する場合、印字濃度を劣化させる欠
点がある。
一 にはこの欠点を補うために酸化シリコン(Si02
)の耐酸化保護層を設け更にその上に酸化タンタル(T
a2Q)の耐摩耗層を設けてサーマルヘッドとして使用
しているが、サーマルヘッドを長時間駆動させた時の抵
抗変化はなお十分満足できるものではなかった。特に近
年、高速サーマルヘッドの要求が増加しつつあるためヘ
ッドの通電パルス中を短かくして感熱紙を発色させる必
要があり、従って電力は従来より増加することになり、
発熱抵抗体はさらに高温になるから寿命はより短かくな
る。そのため、さらに耐熱性のある発熱抵抗体が要求さ
れている。また、窒化タンタルの面積抵抗は、通常50
0/口前後で、サーマルヘッドとして特に大きくした場
合でも1000/口程度であり更に抵抗値を大きくする
ためにはトリミングを行なったり、膜厚を薄くする等の
方法を用いるが、その際製造工程が複雑になったり、寿
命に対して悪影響を生じたりする等の欠点が発生する。
)の耐酸化保護層を設け更にその上に酸化タンタル(T
a2Q)の耐摩耗層を設けてサーマルヘッドとして使用
しているが、サーマルヘッドを長時間駆動させた時の抵
抗変化はなお十分満足できるものではなかった。特に近
年、高速サーマルヘッドの要求が増加しつつあるためヘ
ッドの通電パルス中を短かくして感熱紙を発色させる必
要があり、従って電力は従来より増加することになり、
発熱抵抗体はさらに高温になるから寿命はより短かくな
る。そのため、さらに耐熱性のある発熱抵抗体が要求さ
れている。また、窒化タンタルの面積抵抗は、通常50
0/口前後で、サーマルヘッドとして特に大きくした場
合でも1000/口程度であり更に抵抗値を大きくする
ためにはトリミングを行なったり、膜厚を薄くする等の
方法を用いるが、その際製造工程が複雑になったり、寿
命に対して悪影響を生じたりする等の欠点が発生する。
このように窒化タンタル薄膜発熱抵抗体では面積抵抗を
大きくとれないため、抵抗体を加熱するだけの電力を供
給するためには必然的に電流が大きくなり、電気導体の
抵抗値が問題になる。
大きくとれないため、抵抗体を加熱するだけの電力を供
給するためには必然的に電流が大きくなり、電気導体の
抵抗値が問題になる。
即ち、薄膜発熱抵抗体の抵抗値に対して電気導体の抵抗
値が無視できなくなるから、抵抗体に接続された各電気
導体の距離の差異により各抵抗体の発熱量が異ってしま
い、記録パターンに濃度差が生じ記録品質が劣る。更に
記録密度を上げるため、薄膜発熱抵抗体の大きさを小さ
くすると、薄膜発熱抵抗体の面積抵抗値は不変で電気導
体の抵抗値のみ増大するから、電気導体における電力消
費が問題になるし、又これを避けるために電気導体の厚
さを極端に大きくすると多層配線の場合に表面の凹凸が
激しくなり摩耗にも弱くなるなど構造上大きな不都合が
生じることになる。又電流が大きいことは加熱用電源、
スイッチング回路等の容量を大きくしなければならない
等の不都合も生じる。本発明は上記の点を改良し、酸化
されにくく抵抗値が安定で、比抵抗を高い値まで選択で
きる薄膜発熱抵抗体を用いたサーマルヘッドを提供し、
その特徴とするところは金属側化物と炭素とからなる発
熱抵抗体にある。
値が無視できなくなるから、抵抗体に接続された各電気
導体の距離の差異により各抵抗体の発熱量が異ってしま
い、記録パターンに濃度差が生じ記録品質が劣る。更に
記録密度を上げるため、薄膜発熱抵抗体の大きさを小さ
くすると、薄膜発熱抵抗体の面積抵抗値は不変で電気導
体の抵抗値のみ増大するから、電気導体における電力消
費が問題になるし、又これを避けるために電気導体の厚
さを極端に大きくすると多層配線の場合に表面の凹凸が
激しくなり摩耗にも弱くなるなど構造上大きな不都合が
生じることになる。又電流が大きいことは加熱用電源、
スイッチング回路等の容量を大きくしなければならない
等の不都合も生じる。本発明は上記の点を改良し、酸化
されにくく抵抗値が安定で、比抵抗を高い値まで選択で
きる薄膜発熱抵抗体を用いたサーマルヘッドを提供し、
その特徴とするところは金属側化物と炭素とからなる発
熱抵抗体にある。
この発熱抵抗体においては、金属棚化物と炭素とが原子
的なスケールで混在している。以下、図面を参照しなが
ら詳細に説明する。
的なスケールで混在している。以下、図面を参照しなが
ら詳細に説明する。
第1図は本発明に適用するサーマルヘッドの形状例の要
部断面図である。同図中の1はセラミックス、ガラスあ
るいは、グレーズドセラミツクスのような電気的な絶縁
物で形成された基板である。2は金属棚化物と炭素とか
らなる本発明に係る薄膜発熱抵抗体である。
部断面図である。同図中の1はセラミックス、ガラスあ
るいは、グレーズドセラミツクスのような電気的な絶縁
物で形成された基板である。2は金属棚化物と炭素とか
らなる本発明に係る薄膜発熱抵抗体である。
3は該薄膜発熱抵抗体に電力を供給するための電気導体
で、アルミュニゥム、金等の電気良導体で、形成されて
いる。
で、アルミュニゥム、金等の電気良導体で、形成されて
いる。
又4は薄膜発熱抵抗体及び電気導体の保護層で、例えば
電子ビーム蒸着、スパッタ一等によって作製した酸化シ
リコン、酸化マグネシュウム、酸化アルミニウム、酸化
タンタルあるいはこれらを組合せた多層構成が用いられ
、これによってサーマルヘッドの寿命を一層長くするこ
とができる。本発明の金属側化物と炭素とからなる薄膜
発熱抵抗体の製造はスパッタリング、電子ビーム蒸蒼い
ずれも可能であり、スパッタリングによって製造する方
法としては、アルゴンとメタンの混合雰囲気中で金属棚
化物のターゲットをスパッタリングする方法、棚素と金
属を同時にターゲットとする方法、金属のみをターゲッ
トとしてアルゴン、メタン、ジポランを含む雰囲気中で
活性スパッタリングを行う方法などがある。金属欄化物
をターゲットとする場合、例えば石英皿等の上に金属棚
化物を粉末の状態もしくはプレスした状態で置くことに
よりターゲットとして用いることもできるが、あらかじ
め110000以上の真空ホットプレスにより競結させ
たターゲットを使用する方が、スパッタリングの制御は
行いやすい。
電子ビーム蒸着、スパッタ一等によって作製した酸化シ
リコン、酸化マグネシュウム、酸化アルミニウム、酸化
タンタルあるいはこれらを組合せた多層構成が用いられ
、これによってサーマルヘッドの寿命を一層長くするこ
とができる。本発明の金属側化物と炭素とからなる薄膜
発熱抵抗体の製造はスパッタリング、電子ビーム蒸蒼い
ずれも可能であり、スパッタリングによって製造する方
法としては、アルゴンとメタンの混合雰囲気中で金属棚
化物のターゲットをスパッタリングする方法、棚素と金
属を同時にターゲットとする方法、金属のみをターゲッ
トとしてアルゴン、メタン、ジポランを含む雰囲気中で
活性スパッタリングを行う方法などがある。金属欄化物
をターゲットとする場合、例えば石英皿等の上に金属棚
化物を粉末の状態もしくはプレスした状態で置くことに
よりターゲットとして用いることもできるが、あらかじ
め110000以上の真空ホットプレスにより競結させ
たターゲットを使用する方が、スパッタリングの制御は
行いやすい。
また棚素と金属を同時にターゲットとする場合には棚素
と金属を浪合するか、又は一方を他方に埋め込んだり表
面の一部に配置したりして、行うことができる。いずれ
の場合にも1×10‐汀orr〜5 ×lo‐ITor
rのアルゴンとメタンとの混合雰囲気で行うのが良く、
好ましくは1×10‐2Ton〜1×10‐ITorr
がよい。
と金属を浪合するか、又は一方を他方に埋め込んだり表
面の一部に配置したりして、行うことができる。いずれ
の場合にも1×10‐汀orr〜5 ×lo‐ITor
rのアルゴンとメタンとの混合雰囲気で行うのが良く、
好ましくは1×10‐2Ton〜1×10‐ITorr
がよい。
また金属単体をターゲットとして、アルゴン、メタン、
ジボランの混合雰囲気中で活性スパッタリングを行う場
合には全ガス圧1×10‐汀on〜5×10‐ITor
r、好ましくは1×10‐2Tom〜5×1げびorr
、そのなかでジボランの分圧は全圧力の1〜10%、好
ましくは2〜6%である。
ジボランの混合雰囲気中で活性スパッタリングを行う場
合には全ガス圧1×10‐汀on〜5×10‐ITor
r、好ましくは1×10‐2Tom〜5×1げびorr
、そのなかでジボランの分圧は全圧力の1〜10%、好
ましくは2〜6%である。
上記のいずれのスパッタリング工程中においても、雰囲
気中のメタン分圧を0.1〜10%で選択することによ
り、発熱抵抗体中に炭素を原子比で金属総量の0.00
5以上含有させることができる。炭素含有量は少なすぎ
ては効果がなく、逆に多すぎると比抵抗の制御が難かし
く、耐熱性も悪くなるので金属総量の0.01〜0.5
(原子比)が適当である。このように作成した発熱抵抗
体の固有抵抗値は100仏Q伽〜5000舷○抑まで選
択可能である。発熱抵抗体を電子ビーム蒸着で製造する
場合には、金属棚化物の粉末を約100k9/泳以上の
圧力でプレスしてタブレットを作り1×10‐4Tom
以上の高真空度であらかじめ一定温度に保った基板上に
蒸着させることができる。この時、ニードルバルブ等に
よってメタンを含む気体を電子ビーム蒸着中に導入する
ことによって発熱抵抗体中の窒素含有量を金属総量の0
.005〜0.5(原子比)とすることができる。この
ようにして作成された薄膜発熱抵抗体は金属棚化物と炭
素より成り(但し不純物として○,Nなどを含有)固有
抵抗値を高く設定すれば電極部の抵抗値がある程度高く
ても良いから製造工程が容易になり、電極を薄くするこ
とにより表面の凹凸が少くなって耐摩耗性が改良される
。
気中のメタン分圧を0.1〜10%で選択することによ
り、発熱抵抗体中に炭素を原子比で金属総量の0.00
5以上含有させることができる。炭素含有量は少なすぎ
ては効果がなく、逆に多すぎると比抵抗の制御が難かし
く、耐熱性も悪くなるので金属総量の0.01〜0.5
(原子比)が適当である。このように作成した発熱抵抗
体の固有抵抗値は100仏Q伽〜5000舷○抑まで選
択可能である。発熱抵抗体を電子ビーム蒸着で製造する
場合には、金属棚化物の粉末を約100k9/泳以上の
圧力でプレスしてタブレットを作り1×10‐4Tom
以上の高真空度であらかじめ一定温度に保った基板上に
蒸着させることができる。この時、ニードルバルブ等に
よってメタンを含む気体を電子ビーム蒸着中に導入する
ことによって発熱抵抗体中の窒素含有量を金属総量の0
.005〜0.5(原子比)とすることができる。この
ようにして作成された薄膜発熱抵抗体は金属棚化物と炭
素より成り(但し不純物として○,Nなどを含有)固有
抵抗値を高く設定すれば電極部の抵抗値がある程度高く
ても良いから製造工程が容易になり、電極を薄くするこ
とにより表面の凹凸が少くなって耐摩耗性が改良される
。
また電極部での電圧降下が無視できる程度であることか
ら、薄膜発熱抵抗体の発熱ムラによる発色濃度ムラも小
さくなり、マトリクス配線などの電極パターンの設計が
自由になる。またスパッタリング中あるいは電子ビーム
蒸着中に於いて200℃〜50び○の基板加熱を行うこ
とによって、基板と薄膜発熱抵抗体との密着性が向上し
、膜の安定性に効果がある。
ら、薄膜発熱抵抗体の発熱ムラによる発色濃度ムラも小
さくなり、マトリクス配線などの電極パターンの設計が
自由になる。またスパッタリング中あるいは電子ビーム
蒸着中に於いて200℃〜50び○の基板加熱を行うこ
とによって、基板と薄膜発熱抵抗体との密着性が向上し
、膜の安定性に効果がある。
ここで金属棚化物はハフニウム、ジルコニウム、ランタ
ン、チタン、タンタル、タングステン、モリブデン、ニ
オブ、クロム、バナジウムなどの磁化物であり、単独に
あるいは2種じ×上を混合して用いることも可能である
。
ン、チタン、タンタル、タングステン、モリブデン、ニ
オブ、クロム、バナジウムなどの磁化物であり、単独に
あるいは2種じ×上を混合して用いることも可能である
。
本発明の金属棚化物と炭素とからなる発熱抵抗体を作る
方法としては以上の他に金属棚化物と導電性炭化物の混
合物をターゲットあるいはタブレットに成型し、スパッ
タリングあるいは電子ビーム蒸着によって製造する方法
があり、導電性炭化物としては、ハフニウム、ジルコニ
ウム、ランタン、チタン、タンタル、タングステン、モ
リブデン、クロム、ニオブ、バナジウムなどの窒化物の
うち単独あるいは2種以上の混合物を選択できる。
方法としては以上の他に金属棚化物と導電性炭化物の混
合物をターゲットあるいはタブレットに成型し、スパッ
タリングあるいは電子ビーム蒸着によって製造する方法
があり、導電性炭化物としては、ハフニウム、ジルコニ
ウム、ランタン、チタン、タンタル、タングステン、モ
リブデン、クロム、ニオブ、バナジウムなどの窒化物の
うち単独あるいは2種以上の混合物を選択できる。
次に実施例に基づいて説明する。
(実施例 1)
1100つ0でホットプレスした5インチ径の棚化ジル
コニウム(Zて&)のターゲットを用いて、充分に洗浄
されたガラス厚50仏mのグレーズドアルミナ基板を3
00℃に基板加熱しながらアルゴン圧力4×10‐汀o
rr、メタン圧3×10‐3Ton、混合ガス雰囲気中
で高周波2極スパッタリングを行った。
コニウム(Zて&)のターゲットを用いて、充分に洗浄
されたガラス厚50仏mのグレーズドアルミナ基板を3
00℃に基板加熱しながらアルゴン圧力4×10‐汀o
rr、メタン圧3×10‐3Ton、混合ガス雰囲気中
で高周波2極スパッタリングを行った。
スパッタ率は200A/分、投入パワ−は3.肌/めで
5分間スパッタしたところ、1000△の膜厚の薄膜発
熱抵抗体が得られた。比抵抗は900仏○肌、面積抵抗
は900/口であった。この膜の組成をイオンマイクロ
アナラィザで調べたところ炭素がジルコニウムの0.2
5(原子比)含まれていた。この上にチタン10A、ア
ルミニウムをlAm電子ビーム蒸着で付け、選択エッチ
ングで4本/側の分解能をもつサーマヘツドパターンを
形成し、これをサーマルヘッドA,とした。さらにこの
上に保護層として酸化シリコン(Si02)を1仏m、
酸化タンタル(Ta2Q)を10〃m連続的にスパッタ
で鏡層し、サーマルへッドんとした。比較の為に、高周
波2極の反応スパッタリングによってタンタルをターゲ
ットとし、アルゴンと窒素の全圧力が8×10−2To
n、窒素分圧が1×10‐4Torrの条件で1000
Aの厚さの室化タンタル薄膜発熱抵抗体のサーマルヘッ
ドB,を作成した。この峯化タンタル薄膜発熱抵抗体は
比抵抗が260rQ弧で面積抵抗は260/口であった
。サーマルヘッドB,に対し、さらに保護膜として酸化
シリコン(Si02)をlAm、酸化タンタル(Ta2
05)を10〃m連続的にスパッタで積層し、サーマル
ヘッド&とした。これらのサーマルヘッドに対して、5
0HZで8hsの矩形波を30分ごとにlw/柵ずつパ
ワーアップしながら加速テストを行った。
5分間スパッタしたところ、1000△の膜厚の薄膜発
熱抵抗体が得られた。比抵抗は900仏○肌、面積抵抗
は900/口であった。この膜の組成をイオンマイクロ
アナラィザで調べたところ炭素がジルコニウムの0.2
5(原子比)含まれていた。この上にチタン10A、ア
ルミニウムをlAm電子ビーム蒸着で付け、選択エッチ
ングで4本/側の分解能をもつサーマヘツドパターンを
形成し、これをサーマルヘッドA,とした。さらにこの
上に保護層として酸化シリコン(Si02)を1仏m、
酸化タンタル(Ta2Q)を10〃m連続的にスパッタ
で鏡層し、サーマルへッドんとした。比較の為に、高周
波2極の反応スパッタリングによってタンタルをターゲ
ットとし、アルゴンと窒素の全圧力が8×10−2To
n、窒素分圧が1×10‐4Torrの条件で1000
Aの厚さの室化タンタル薄膜発熱抵抗体のサーマルヘッ
ドB,を作成した。この峯化タンタル薄膜発熱抵抗体は
比抵抗が260rQ弧で面積抵抗は260/口であった
。サーマルヘッドB,に対し、さらに保護膜として酸化
シリコン(Si02)をlAm、酸化タンタル(Ta2
05)を10〃m連続的にスパッタで積層し、サーマル
ヘッド&とした。これらのサーマルヘッドに対して、5
0HZで8hsの矩形波を30分ごとにlw/柵ずつパ
ワーアップしながら加速テストを行った。
この結果を第2図に示す。同図から明らかなように、本
発明にかかる製造方法で作成した薄膜発熱抵抗体を有す
るサーマルヘッドは高印加電力に耐えることができ、高
温での抵抗変化が少し、ことがわかつた。つまり、比較
例では保護膜なしでは実用するのが驚かしいのに対して
、本発明に係るサーマルヘッドは保護膜なしでも実用で
き、保護膜をつけた場合には非常に良い耐熱性が得られ
た。(実施例 2) 1300qoでホットプレスした6インチ径の棚化ハフ
ニウム(Hf&)のターゲットを用いて、充分に洗浄さ
れたガラス厚50仏mのグレーズドアルミナ基板を20
000に基板加熱して、アルゴン圧力4×10‐汀or
r、メタン圧4×10‐3Torrの混合ガス雰囲気中
で高周波2極スパッタリングを行った。
発明にかかる製造方法で作成した薄膜発熱抵抗体を有す
るサーマルヘッドは高印加電力に耐えることができ、高
温での抵抗変化が少し、ことがわかつた。つまり、比較
例では保護膜なしでは実用するのが驚かしいのに対して
、本発明に係るサーマルヘッドは保護膜なしでも実用で
き、保護膜をつけた場合には非常に良い耐熱性が得られ
た。(実施例 2) 1300qoでホットプレスした6インチ径の棚化ハフ
ニウム(Hf&)のターゲットを用いて、充分に洗浄さ
れたガラス厚50仏mのグレーズドアルミナ基板を20
000に基板加熱して、アルゴン圧力4×10‐汀or
r、メタン圧4×10‐3Torrの混合ガス雰囲気中
で高周波2極スパッタリングを行った。
スパッタ率は200A/分、投入パワーは3.肌/めで
3分間スパッ夕したところ、600Aの膜厚の本発明薄
膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は1800〃○肌、面
積抵抗は3000/口であった。この上にバナジウム1
0A、アルミニウムを1仏m電子ビーム蒸着で付け、選
択エッチングで4本/柵の分解能をもつサーマルヘッド
パターンを形成し、さらにこの上に保護層として酸化シ
リコン(Si02)を2一m、酸化アルミニウム(N2
03)を5ムm連続的にスパッタで積層し、サーマルヘ
ッドを作成した。このサーマルヘッドに対して実施例1
と同じ加速テストを施したところ、サーマルへッドんと
同様な結果が得られた。
3分間スパッ夕したところ、600Aの膜厚の本発明薄
膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は1800〃○肌、面
積抵抗は3000/口であった。この上にバナジウム1
0A、アルミニウムを1仏m電子ビーム蒸着で付け、選
択エッチングで4本/柵の分解能をもつサーマルヘッド
パターンを形成し、さらにこの上に保護層として酸化シ
リコン(Si02)を2一m、酸化アルミニウム(N2
03)を5ムm連続的にスパッタで積層し、サーマルヘ
ッドを作成した。このサーマルヘッドに対して実施例1
と同じ加速テストを施したところ、サーマルへッドんと
同様な結果が得られた。
(実施例 3)
130ぴ○でホットプレスした6インチ径の棚化ランタ
ン(La&)のターゲットを用いて、充分に洗浄された
ガラス厚50山mのグレーズドアルミナ基板を400℃
に基板加熱して、アルゴン圧力3×10‐冴orr、メ
タン圧2×10‐3Tonの混合ガス雰囲気中で高周波
2極スパッタリングを行った。
ン(La&)のターゲットを用いて、充分に洗浄された
ガラス厚50山mのグレーズドアルミナ基板を400℃
に基板加熱して、アルゴン圧力3×10‐冴orr、メ
タン圧2×10‐3Tonの混合ガス雰囲気中で高周波
2極スパッタリングを行った。
スパッタ率は150A/分、投入パワーは3.肌/めで
5分間スパツタしたところ、750△の膜厚の本発明薄
膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は2600仏○即、面
積抵抗は350Q/□であった。この上にチタン10A
、アルミニウムを1仏m電子ビーム蒸着で付け、選択エ
ッチングで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドパタ
ーンを形成し、さらにこの上に保護層として酸化シリコ
ン(Si02)を2山m、酸化マグネシウム(Mg0)
を5km連続的にスパッタで糟層し、サーマルヘッドを
作成した。このサーマルヘッドに対して実施例1と同じ
加速テストを施したところ、サーマルへッドんと同様な
結果が得られた。
5分間スパツタしたところ、750△の膜厚の本発明薄
膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は2600仏○即、面
積抵抗は350Q/□であった。この上にチタン10A
、アルミニウムを1仏m電子ビーム蒸着で付け、選択エ
ッチングで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドパタ
ーンを形成し、さらにこの上に保護層として酸化シリコ
ン(Si02)を2山m、酸化マグネシウム(Mg0)
を5km連続的にスパッタで糟層し、サーマルヘッドを
作成した。このサーマルヘッドに対して実施例1と同じ
加速テストを施したところ、サーマルへッドんと同様な
結果が得られた。
本実施例のLaB6に変えて、CrB,TiB2,Nb
B2,WB,MOB,VB2を用いたところほぼ同様な
結果が得られた。
B2,WB,MOB,VB2を用いたところほぼ同様な
結果が得られた。
(実施例 4)
金属棚化物として棚化チタン(TiB2)、棚化タンタ
ル(TaB2)、棚化ニオブ(NbB2)、棚化タング
ステン(WB)、棚化モリブデン(MOB)、棚化クロ
ム(CrB2)、棚化バナジウム(V年)を選びこれら
の粉末をそれぞれ等量ずつ5インチ径の石英血の上に置
きターゲットとした。
ル(TaB2)、棚化ニオブ(NbB2)、棚化タング
ステン(WB)、棚化モリブデン(MOB)、棚化クロ
ム(CrB2)、棚化バナジウム(V年)を選びこれら
の粉末をそれぞれ等量ずつ5インチ径の石英血の上に置
きターゲットとした。
これらのターゲットを用い実施例1と同じ条件でスパッ
タリングを行ない、1000Aの膜厚の発熱体を作成し
た。この上にチタン30人、アルミニウムを1.5山m
電子ビームで黍着した後、選択エッチングで4本/肋の
分解能をもつサーマルヘッドを作成した。さらに該サー
マルヘッドに保護層としてスパッタリングにより酸化シ
リコンを3rm、酸化タンタルを6仏m積層した。これ
らのサーマルヘッド‘こ対して実施例1と同じ加速テス
トをおこなったところ、いずれも窒化タンタルを用いた
従来のサーマルヘッドに比して非常に良い耐熱性が得ら
れた。
タリングを行ない、1000Aの膜厚の発熱体を作成し
た。この上にチタン30人、アルミニウムを1.5山m
電子ビームで黍着した後、選択エッチングで4本/肋の
分解能をもつサーマルヘッドを作成した。さらに該サー
マルヘッドに保護層としてスパッタリングにより酸化シ
リコンを3rm、酸化タンタルを6仏m積層した。これ
らのサーマルヘッド‘こ対して実施例1と同じ加速テス
トをおこなったところ、いずれも窒化タンタルを用いた
従来のサーマルヘッドに比して非常に良い耐熱性が得ら
れた。
(実施例 5)
磁化ジルコニウム(ZrB2)を50モル%と棚化ハフ
ニウム(Hf&)を50モル%を均一に分散した後、1
200q0でホットプレスして6インチ径のターゲット
とした。
ニウム(Hf&)を50モル%を均一に分散した後、1
200q0でホットプレスして6インチ径のターゲット
とした。
このターゲットを用いて、充分に洗浄されたガラス厚5
0山mのグレーズドアルミナ基板を30000に基板加
熱して、アルゴン圧力4×10‐汀orr、メタン圧1
×10‐3Torrの混合ガス雰囲気中で高周波2極ス
パッタリングを行った。スパッタ率は150A/分、投
入パワーは3.肌/地で6分間スパッタしたところ、9
00Aの膜厚の薄膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は5
40仏○仇、面積抵抗は600/口であった。この上に
チタン10A、アルミニウムを1〆m電子ビーム蒸着で
付け、選択エッチングで4本/腕の分解能をもつサーマ
ルヘッドパターンを作成し、さらにこの上に保護層とし
て酸化シリコン(Si02)を1仏m、酸化タンタル(
Ta205)を10rm連続的にスパッタで積層し、サ
ーマルヘッドを作成した。このサーマルヘッドに対して
実施例1と同じ加速テストを施したところ、サーマルへ
ッドんと同様な結果が得られた。
0山mのグレーズドアルミナ基板を30000に基板加
熱して、アルゴン圧力4×10‐汀orr、メタン圧1
×10‐3Torrの混合ガス雰囲気中で高周波2極ス
パッタリングを行った。スパッタ率は150A/分、投
入パワーは3.肌/地で6分間スパッタしたところ、9
00Aの膜厚の薄膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は5
40仏○仇、面積抵抗は600/口であった。この上に
チタン10A、アルミニウムを1〆m電子ビーム蒸着で
付け、選択エッチングで4本/腕の分解能をもつサーマ
ルヘッドパターンを作成し、さらにこの上に保護層とし
て酸化シリコン(Si02)を1仏m、酸化タンタル(
Ta205)を10rm連続的にスパッタで積層し、サ
ーマルヘッドを作成した。このサーマルヘッドに対して
実施例1と同じ加速テストを施したところ、サーマルへ
ッドんと同様な結果が得られた。
(実施例 6)
棚化ジルコニウム(ZrB2)と棚化チタン(TiB2
)と棚化ランタン(La&)とがモル比で2:1:1と
なるよう均一に混合した粉末を5インチ径の石英血の上
に置きターゲットとした。
)と棚化ランタン(La&)とがモル比で2:1:1と
なるよう均一に混合した粉末を5インチ径の石英血の上
に置きターゲットとした。
これらのターゲットを用い実施例1と同じ条件でスパッ
タリングを行ない、1000Aの膜厚の発熱体を作成し
た。この上にチタン30△、アルミニウムを1.5仏m
電子ビームで蒸着した後、選択エッチングで4本/柳の
分解能をもつサーマルヘッドを作成した。さらに該サー
マルヘッド‘こ保護層としてスパッタリングにより酸化
シリコンを3ムm、酸化タンタルを6仏m頚層した。
タリングを行ない、1000Aの膜厚の発熱体を作成し
た。この上にチタン30△、アルミニウムを1.5仏m
電子ビームで蒸着した後、選択エッチングで4本/柳の
分解能をもつサーマルヘッドを作成した。さらに該サー
マルヘッド‘こ保護層としてスパッタリングにより酸化
シリコンを3ムm、酸化タンタルを6仏m頚層した。
このサーマルヘッド‘こ対して実施例1と同じ加速テス
トをおこなったところ、窒化タンタルを用いた従来のサ
ーマルヘッドもこ比して非常に良い耐熱性が得られた。
トをおこなったところ、窒化タンタルを用いた従来のサ
ーマルヘッドもこ比して非常に良い耐熱性が得られた。
(実施例 7)6インチ径の金属タンタル板上に、燐結
した1′4インチ径のホウ素板を多数個遣いて表面積比
で金属タンタル:側化がおよそ1:2になるようにした
ターゲットを用いた。
した1′4インチ径のホウ素板を多数個遣いて表面積比
で金属タンタル:側化がおよそ1:2になるようにした
ターゲットを用いた。
充分に洗浄されたグレーズドセラミックス基板を500
qoに基板加熱してアルゴン圧:3×10‐2Ton、
メタン圧2×1げびorrで、R.F.2極でスパッタ
した。スパッタ率は100A/分で8分間スパツタした
ところ800Aの膜厚、固有抵抗値1050山○弧、面
積抵抗130○/口の薄膜発熱抵抗体が得られた。この
上にチタンを10A、アルミニウムを1仏m電子ビーム
で義着した後、選択エッチングで4本/柳分解能をもつ
サーマルヘッドパターンを形成した。次に保護膜として
酸化マグネシウム(Mg0)10仏mをスパッタで積層
した。このサーマルヘツド‘こ対して実施例1と同じ加
速テストを行ったところ、2柵/柵まで抵抗変化率は土
2%以内で、窒化タンタルを用いたサーマルヘッドに比
して非常に良好な結果が得られた。
qoに基板加熱してアルゴン圧:3×10‐2Ton、
メタン圧2×1げびorrで、R.F.2極でスパッタ
した。スパッタ率は100A/分で8分間スパツタした
ところ800Aの膜厚、固有抵抗値1050山○弧、面
積抵抗130○/口の薄膜発熱抵抗体が得られた。この
上にチタンを10A、アルミニウムを1仏m電子ビーム
で義着した後、選択エッチングで4本/柳分解能をもつ
サーマルヘッドパターンを形成した。次に保護膜として
酸化マグネシウム(Mg0)10仏mをスパッタで積層
した。このサーマルヘツド‘こ対して実施例1と同じ加
速テストを行ったところ、2柵/柵まで抵抗変化率は土
2%以内で、窒化タンタルを用いたサーマルヘッドに比
して非常に良好な結果が得られた。
(実施例 8)6インチ径の金属ジルコニウム板をター
ゲットとして用いた。
ゲットとして用いた。
充分に洗浄されたグレーズドセラミックス基板を400
ooに基板加熱してアルゴン、ジボラン、メタン混合ガ
ス雰囲気中で活性スパッタリングをおこなった。アルゴ
ン十ジボラン十メタンの全圧力は3.5×10‐2To
rr、ジボラン分圧は1.5×10‐4Ton、メタン
ン分圧は1×10‐4Tonで高周波2極スパッ外こて
1000△の膜厚をつけた。面積抵抗は500/口の(
固有抵抗値は500山Q肌)であった。この上にバナジ
ウムを100A、金を1仏m電子ビ−ムで黍着した後、
選択エッチングで4本/徹分解能をもつサーマルヘッド
パターンを形成した。次いで保護膜として酸化アルミニ
ウム(AI2Q)lowmをスパッタで横層した。この
サーマルヘッド‘こ対して実施例1と同じ加速テストを
おこなったところ2が/嫌まで抵抗変化率は±2%以内
であった。本例もまた前記比較例の窒化タンタルを用い
たサーマルヘッドより非常に良好な結果が得られた。(
実施例 9) 棚化チタンの粉末を100k9/c濯以上でプレスした
タブレットを作成し、あらかじめ充分に洗浄されたグレ
ーズドセラミックス基板上に基板加熱300qo、真空
度2×10‐6Tomまで真空にひいた後、メタンをニ
ードルバルプで導入しながら真空度5×lo−6Tom
で1000△の厚さに電子ビームで義着した。
ooに基板加熱してアルゴン、ジボラン、メタン混合ガ
ス雰囲気中で活性スパッタリングをおこなった。アルゴ
ン十ジボラン十メタンの全圧力は3.5×10‐2To
rr、ジボラン分圧は1.5×10‐4Ton、メタン
ン分圧は1×10‐4Tonで高周波2極スパッ外こて
1000△の膜厚をつけた。面積抵抗は500/口の(
固有抵抗値は500山Q肌)であった。この上にバナジ
ウムを100A、金を1仏m電子ビ−ムで黍着した後、
選択エッチングで4本/徹分解能をもつサーマルヘッド
パターンを形成した。次いで保護膜として酸化アルミニ
ウム(AI2Q)lowmをスパッタで横層した。この
サーマルヘッド‘こ対して実施例1と同じ加速テストを
おこなったところ2が/嫌まで抵抗変化率は±2%以内
であった。本例もまた前記比較例の窒化タンタルを用い
たサーマルヘッドより非常に良好な結果が得られた。(
実施例 9) 棚化チタンの粉末を100k9/c濯以上でプレスした
タブレットを作成し、あらかじめ充分に洗浄されたグレ
ーズドセラミックス基板上に基板加熱300qo、真空
度2×10‐6Tomまで真空にひいた後、メタンをニ
ードルバルプで導入しながら真空度5×lo−6Tom
で1000△の厚さに電子ビームで義着した。
この面積抵抗は約700/口(固有抵抗値は約700ム
○弧)であった。次にこの上にチタンを10A、アルミ
ニウムを1.5〃m電子ビームにより蒸着した後、選択
エッチングにより4本/側の分解能をもったパターンを
形成した後酸化シリコン(Si02)をlAm、酸化タ
ンタル(Ta205)をloAm連続的にスパッタで糠
層し、サーマルヘッドを作成した。このサーマルヘッド
に対して実施例1と同じ加速テストを施したところ、サ
ーマルへッドんと同様な良好な結果が得られた。
○弧)であった。次にこの上にチタンを10A、アルミ
ニウムを1.5〃m電子ビームにより蒸着した後、選択
エッチングにより4本/側の分解能をもったパターンを
形成した後酸化シリコン(Si02)をlAm、酸化タ
ンタル(Ta205)をloAm連続的にスパッタで糠
層し、サーマルヘッドを作成した。このサーマルヘッド
に対して実施例1と同じ加速テストを施したところ、サ
ーマルへッドんと同様な良好な結果が得られた。
この膜の組成をイオンマイクロアナライザで調べたとこ
ろ炭素がチタンの0.02(原子比)含まれていた。
ろ炭素がチタンの0.02(原子比)含まれていた。
(実施例 10)
棚化ジルコニウム(ZrB2)と炭化チタン(TIC)
との粉末をモル比で7:3になるよう均一に混合してた
ものを1200q0でホットプレスし5インチ径のター
ゲットとした。
との粉末をモル比で7:3になるよう均一に混合してた
ものを1200q0でホットプレスし5インチ径のター
ゲットとした。
このターゲットを用いて、充分に洗浄されたガラス厚5
0ムmのグレーズドアルミナ基板を300qoにて基板
加熱して、アルゴン圧力4×10‐2Ton、の雰囲気
中で高周波2極スパッタリングを行った。スパッタ率は
200A/分、投入パワーは3.肌/めで5分間スパッ
タしたところ、1000Aの膜厚の棚化ジルコニウム薄
膜抵抗体が得られた。比抵抗は1000〆○弧、面積抵
抗は1000/口であった。この上にチタン10A、ア
ルミニウムをlAm電子ビーム蒸着で付け、選択エッチ
ングで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドパターン
を作成し、さらにこの上に保護層として酸化シリコン(
Si02)を1仏m、酸化タンタル(Ta205)を1
0仏m連続的にスパッタで積層し、サーマルヘッドを作
成した。このサーマルヘツド‘こ対して実施例1と同じ
加速テストを施したところ、サーマルへッドんと同様な
良好な結果が得られた。
0ムmのグレーズドアルミナ基板を300qoにて基板
加熱して、アルゴン圧力4×10‐2Ton、の雰囲気
中で高周波2極スパッタリングを行った。スパッタ率は
200A/分、投入パワーは3.肌/めで5分間スパッ
タしたところ、1000Aの膜厚の棚化ジルコニウム薄
膜抵抗体が得られた。比抵抗は1000〆○弧、面積抵
抗は1000/口であった。この上にチタン10A、ア
ルミニウムをlAm電子ビーム蒸着で付け、選択エッチ
ングで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドパターン
を作成し、さらにこの上に保護層として酸化シリコン(
Si02)を1仏m、酸化タンタル(Ta205)を1
0仏m連続的にスパッタで積層し、サーマルヘッドを作
成した。このサーマルヘツド‘こ対して実施例1と同じ
加速テストを施したところ、サーマルへッドんと同様な
良好な結果が得られた。
(実施例 11)
棚化ハフニウム(Hm2)と炭化ジルコニウム(ZrC
)とをモル比で8:2になるよう均一に混合した粉末を
100k9/の以上でプレスしたタブレットを作成し、
あらかじめ充分に洗浄されたグレーズドセラミツクス基
板上に基板加熱300qo、真空度5×10‐6Tor
rlooOAの厚さに電子ビームで議着した。
)とをモル比で8:2になるよう均一に混合した粉末を
100k9/の以上でプレスしたタブレットを作成し、
あらかじめ充分に洗浄されたグレーズドセラミツクス基
板上に基板加熱300qo、真空度5×10‐6Tor
rlooOAの厚さに電子ビームで議着した。
この面積抵抗は約550/口(固有抵抗値は約550一
○弧)であった。次にこの上にチタン10△、アルミニ
ウムを1.5仏m電子ビームにより蒸着した後、選択エ
ッチングにより4本/側の分解能をもったパターンを形
成し、続いて酸化シリコン(Si02)を1仏m、酸化
タンタル(Ta205)を10仏m連続的にスパッタで
積層し、サーマルヘッドを作成した。このサーマルヘッ
ドに対して実施例1と同じ加速テストを施したところ、
サーマルへッドんと同様な良好な結果が得られた。
○弧)であった。次にこの上にチタン10△、アルミニ
ウムを1.5仏m電子ビームにより蒸着した後、選択エ
ッチングにより4本/側の分解能をもったパターンを形
成し、続いて酸化シリコン(Si02)を1仏m、酸化
タンタル(Ta205)を10仏m連続的にスパッタで
積層し、サーマルヘッドを作成した。このサーマルヘッ
ドに対して実施例1と同じ加速テストを施したところ、
サーマルへッドんと同様な良好な結果が得られた。
本実施例中の棚化ハフニウムを他の金属棚化物に変え、
炭化ジルコンを他の導電性炭化物に変えた組合せで実施
しても、同様に良好な結果が得られた。
炭化ジルコンを他の導電性炭化物に変えた組合せで実施
しても、同様に良好な結果が得られた。
第1図は本発明に係るサーマルヘッドの形状例の要部断
面図。 第2図は本発明の効果を示す特性図。1・・・・・・基
板、2・・・・・・薄膜発熱抵抗体、3・・・・・・電
気導体、4・・・・・・保護層。 東=図 第2図
面図。 第2図は本発明の効果を示す特性図。1・・・・・・基
板、2・・・・・・薄膜発熱抵抗体、3・・・・・・電
気導体、4・・・・・・保護層。 東=図 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基板と、該基板上に形成された発熱抵抗体と、該発
熱抵抗体に電力を供給する電気導体とを有するサーマル
ヘツドにおいて、発熱抵抗体が金属硼化物と炭素とから
なることを特徴とするサーマルヘツド。 2 金属硼化物が硼化ジルコニウムである特許請求の範
囲第1項記載のサーマルヘツド。 3 金属硼化物が硼化ハフニウムである特許請求の範囲
第1項記載のサーマルヘツド。 4 金属硼化物が硼化ランタンである特許請求の範囲第
1項記載のサーマルヘツド。 5 金属硼化物が硼化チタンである特許請求の範囲第1
項記載のサーマルヘツド。 6 金属硼化物が硼化タンタルである特許請求の範囲第
1項記載のサーマルヘツド。 7 金属硼化物が硼化ニオブである特許請求の範囲第1
項記載のサーマルヘツド。 8 金属硼化物が硼化タングステンである特許請求の範
囲第1項記載のサーマルヘツド。 9 金属硼化物が硼化モリブデンである特許請求の範囲
第1項記載のサーマルヘツド。 10 金属硼化物が硼化クロムである特許請求の範囲第
1項記載のサーマルヘツド。 11 金属硼化物が硼化バナジウムである特許請求の範
囲第1項記載のサーマルヘツド。 12 金属硼化物が硼化ジルコニウム、硼化ハフニウム
、硼化ランタン、硼化チタン、硼化タンタル、硼化ニオ
ブ、硼化タングステン、硼化モリブデン、硼化クロム、
硼化バナジウムから選ばれた硼化物の2種以上の混合物
である特許請求の範囲第1項記載のサーマルヘツド。 13 発熱抵抗体において炭素の含有量が金属総量の0
.005(原子比)以上である特許請求の範囲第1項な
いし第12項記載のサーマルヘツド。 14 発熱抵抗体が酸化シリコン薄膜で覆われている特
許請求の範囲第1項ないし第13項記載のサーマルヘツ
ド。 15 酸化タンタルの保護膜を有する特許請求の範囲第
1項ないし第14項記載のサーマルヘツド。 16 酸化アルミニウムの保護膜を有する特許請求の範
囲第1項ないし第14項記載のサーマルヘツド。 17 酸化マグネシウムの保護膜を有する特許請求の範
囲第1項ないし第14項記載のサーマルヘツド。 18 金属硼化物と炭素とからなる発熱抵抗体をスパツ
タリングで製造することを特徴とするサーマルヘツドの
製造方法。 19 アルゴンとメタンとを含有する混合気体中でスパ
ツタリングする特許請求の範囲第18項記載のサーマル
ヘツドの製造方法。 20 スパツタリングのターゲツトが硼化ジルコニウム
、硼化ハフニウム、硼化ランタン、硼化チタン、硼化タ
ンタル、硼化タングステン、硼化モリブデン、硼化ニオ
ブ、硼化クロム、硼化バナジウムのいずれか又は2種類
以上の混合物である特許請求の範囲第18項または第1
9項記載のサーマルヘツドの製造方法。 21 ジルコニウム、ハフニウム、ランタン、チタン、
タンタル、タングステン、モリブデン、ニオブ、クロム
、バナジウムから選ばれた金属の1種類以上と炭素とを
同時にターゲツトとするように配置した特許請求の範囲
第18項または第19項記載のサーマルヘツドの製造方
法。 22 アルゴンとメタンとジボランとを含有する混合気
体中でスパツタリングする特許請求の範囲第18項記載
のサーマルヘツドの製造方法。 23 ジルコニウム、ハフニウム、ランタン、チタン、
タンタル、タングステン、モリブデン、ニオブ、クロム
、バナジウムの1種類以上の金属をターゲツトとする特
許請求の範囲第18項または第22項記載のサーマルヘ
ツドの製造方法。 24 ターゲツトが金属硼化物と導電性金属炭化物との
混合物よりなる特許請求の範囲第18項および第19項
記載のサーマルヘツドの製造方法。 25 金属硼化物が硼化ジルコニウム、硼化ハフニウム
、硼化ランタン、硼化チタン、硼化タンタル、硼化ニオ
ブ、硼化クロム、硼化タングステン、硼化モリブデン、
硼化バナジウムの1種類以上よりなる特許請求の範囲第
24項記載のサーマルヘツドの製造方法。 26 導電性金属炭化物が炭化ジルコニウム、炭化ハフ
ニウム、炭化ランタン、炭化チタン、炭化タンタル、炭
化タングステン、炭化モリブデン、炭化ニオブ、炭化ク
ロム、炭化バナジウムの1種類以上よりなることを特徴
とする特許請求の範囲第24項または第25項記載のサ
ーマルヘツドの製造方法。 27 200℃〜500℃の基板加熱を行いながらスパ
ツタリングすることを特徴とする特許請求の範囲第18
項ないし第26項記載のサーマルヘツドの製造方法。 28 金属硼化物と炭素とからなる発熱抵抗体を電子ビ
ーム蒸着で製造することを特徴とするサーマルヘツドの
製造方法。 29 メタンを含む気体を導入しながら電子ビーム蒸着
をおこなうことを特徴とする特許請求の範囲第28項記
載のサーマルヘツドの製造方法。 30 タブレツトが硼化ジルコニウム、硼化ハフニウム
、硼化ランタン、硼化チタン、硼化タンタル、硼化ニオ
ブ、硼化クロム、硼化タングステン、硼化モリブデン、
硼化バナジウムの1種類以上よりなる特許請求の範囲第
28項または第29項記載のサーマルヘツドの製造方法
31 タブレツトが金属硼化物と導電性金属炭化物の混
合物よりなる特許請求の範囲第28項または第29記記
載のサーマルヘツドの製造方法。 32 金属硼化物が硼化ジルコニウム、硼化ハフニウム
、硼化ランタン、硼化チタン、硼化タンタル、硼化ニオ
ブ、硼化クロム、硼化タングステン、硼化モリブデン、
硼化バナジウムの1種類以上よりなる特許請求の範囲第
31項記載のサーマルヘツドの製造方法。 33 導電性金属炭化物が炭化ジルコニウム、炭化ハフ
ニウム、炭化ランタン、炭化チタン、炭化タンタル、炭
化タングステン、炭化モリブデン、炭化ニオブ、炭化ク
ロム、炭化バナジウムの1種類以上よりなる特許請求の
範囲第31項または第32項記載のサーマルヘツドの製
造方法。 34 200℃〜500℃の基板加熱を行いながら電子
ビーム蒸着を行う特許請求の範囲第28項ないし第33
項記載の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52160141A JPS6038002B2 (ja) | 1977-12-28 | 1977-12-28 | サ−マルヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52160141A JPS6038002B2 (ja) | 1977-12-28 | 1977-12-28 | サ−マルヘツド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5492270A JPS5492270A (en) | 1979-07-21 |
| JPS6038002B2 true JPS6038002B2 (ja) | 1985-08-29 |
Family
ID=15708749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52160141A Expired JPS6038002B2 (ja) | 1977-12-28 | 1977-12-28 | サ−マルヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6038002B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5842472A (ja) * | 1981-09-07 | 1983-03-11 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | サ−マルヘツド |
| JPS6237902A (ja) * | 1985-08-13 | 1987-02-18 | 松下電器産業株式会社 | サ−マルヘツド |
-
1977
- 1977-12-28 JP JP52160141A patent/JPS6038002B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5492270A (en) | 1979-07-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4545881A (en) | Method for producing electro-thermal transducer | |
| KR101329414B1 (ko) | 내에칭성 웨이퍼 처리 장치 및 이의 제조 방법 | |
| CN119872085B (zh) | 耐高能量冲击的热敏打印头用发热基板及其制造方法 | |
| US6256052B1 (en) | Thermal head | |
| JPS6038002B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| CN119427951B (zh) | 耐高能量冲击的热敏打印头用发热基板及其制法 | |
| CN119489626B (zh) | 耐能量冲击的热敏打印头用发热基板及其制备方法 | |
| JPS6038006B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038003B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038010B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038008B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6016084B2 (ja) | サーマルヘツド | |
| JPS6038007B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS60229B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038004B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6016083B2 (ja) | サーマルヘツド | |
| JPS6038001B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| US4862195A (en) | Overcoating layer for thermal printing head | |
| JPS598234B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6145543B2 (ja) | ||
| JPS6038009B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6119438B2 (ja) | ||
| JPS6145544B2 (ja) | ||
| JPS6038005B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6013283B2 (ja) | サーマルヘツド |