JPS6038007B2 - サ−マルヘツド - Google Patents
サ−マルヘツドInfo
- Publication number
- JPS6038007B2 JPS6038007B2 JP52160146A JP16014677A JPS6038007B2 JP S6038007 B2 JPS6038007 B2 JP S6038007B2 JP 52160146 A JP52160146 A JP 52160146A JP 16014677 A JP16014677 A JP 16014677A JP S6038007 B2 JPS6038007 B2 JP S6038007B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thermal head
- heating resistor
- manufacturing
- oxygen
- titanium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
- H05B3/10—Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor
- H05B3/12—Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor characterised by the composition or nature of the conductive material
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N97/00—Electric solid-state thin-film or thick-film devices, not otherwise provided for
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は棚化チタンと酸素とからなる薄膜発熱抵抗体を
有するサーマルヘッドさらにはその製造方法に関する。
有するサーマルヘッドさらにはその製造方法に関する。
熱印字記録に用いられるサーマルヘッド‘ま例えばガラ
スのような電気的な絶縁性と平滑面とを有する基板上に
複数個の発熱抵抗体と、この発熱抵抗体に電力を供給す
るための電気導体とを設け、記録すべき情報に従って必
要な熱パタ−ンが得られるように、対応する発熱抵抗体
に電気導体を介して電流を流して発熱させ、記録媒体に
接触することにより記録を行なうものである。そこに用
いられる発熱抵抗体としては、従来窒化タンタル、ニク
ロム酸化錫等の薄膜発熱抵抗体、銀−パラジウム等を用
いた厚膜発熱抵抗体、シリコン半導体を用いた半導体発
熱抵抗体がある。このうち薄膜発熱抵抗体を用いたサー
マルヘッドは厚膿発熱抵抗体、半導体発熱抵抗体等と比
較して熱応答性がよく耐熱性、耐熱衝撃性に優れ、寿命
が長く、信頼性が高い等の特徴を有している。この薄膜
発熱抵抗体としては、従来、窒化タンタルが耐熱性に優
れ、信頼性も高く、又固有抵抗値も250〜300rQ
cのと比較的高い値で製造の制御性もよいため、特に多
く用いられている。しかるに窒化タンタルは約3000
0以上の高温に於ては急激に酸化されその抵抗値が急激
に増加し、記録紙に印字する場合、印字濃度を劣化させ
る欠点がある。
スのような電気的な絶縁性と平滑面とを有する基板上に
複数個の発熱抵抗体と、この発熱抵抗体に電力を供給す
るための電気導体とを設け、記録すべき情報に従って必
要な熱パタ−ンが得られるように、対応する発熱抵抗体
に電気導体を介して電流を流して発熱させ、記録媒体に
接触することにより記録を行なうものである。そこに用
いられる発熱抵抗体としては、従来窒化タンタル、ニク
ロム酸化錫等の薄膜発熱抵抗体、銀−パラジウム等を用
いた厚膜発熱抵抗体、シリコン半導体を用いた半導体発
熱抵抗体がある。このうち薄膜発熱抵抗体を用いたサー
マルヘッドは厚膿発熱抵抗体、半導体発熱抵抗体等と比
較して熱応答性がよく耐熱性、耐熱衝撃性に優れ、寿命
が長く、信頼性が高い等の特徴を有している。この薄膜
発熱抵抗体としては、従来、窒化タンタルが耐熱性に優
れ、信頼性も高く、又固有抵抗値も250〜300rQ
cのと比較的高い値で製造の制御性もよいため、特に多
く用いられている。しかるに窒化タンタルは約3000
0以上の高温に於ては急激に酸化されその抵抗値が急激
に増加し、記録紙に印字する場合、印字濃度を劣化させ
る欠点がある。
一般にはこの欠点を補うために酸化シリコン(Si02
)の耐酸化保護層を設け更にその上に酸化タンタル(T
a2Q)の耐摩耗層を設けてサーマルヘッドとして使用
しているが、サーマルヘッドを長時間駆動させた時の抵
抗変化はなお十分満足できるものではなかった。特に近
年、高遠サ−マルヘッドの要求が増加しつつあるためヘ
ッドの通電パルス中を短かくして感熱紙を発色させる必
要があり、従って電力は従来より増加することになり、
発熱抵抗体はさらに高温になるから寿命はより短くなる
。そのためさらに耐熱性のある発熱抵抗体が要求されて
いる。また、窒化タンタルの面積抵抗は、通常500/
口前後で、サーマルヘッドとして特に大きくした場合で
もlooQノ口程度であり更に抵抗値を大きくするため
にはトリミングを行なったり、膜厚を薄くする等の方法
を用いるが、その際製造工程が複雑になったり、寿命に
対して悪影響を生じたりする等の欠点が発生する。
)の耐酸化保護層を設け更にその上に酸化タンタル(T
a2Q)の耐摩耗層を設けてサーマルヘッドとして使用
しているが、サーマルヘッドを長時間駆動させた時の抵
抗変化はなお十分満足できるものではなかった。特に近
年、高遠サ−マルヘッドの要求が増加しつつあるためヘ
ッドの通電パルス中を短かくして感熱紙を発色させる必
要があり、従って電力は従来より増加することになり、
発熱抵抗体はさらに高温になるから寿命はより短くなる
。そのためさらに耐熱性のある発熱抵抗体が要求されて
いる。また、窒化タンタルの面積抵抗は、通常500/
口前後で、サーマルヘッドとして特に大きくした場合で
もlooQノ口程度であり更に抵抗値を大きくするため
にはトリミングを行なったり、膜厚を薄くする等の方法
を用いるが、その際製造工程が複雑になったり、寿命に
対して悪影響を生じたりする等の欠点が発生する。
このように窒化タンタル薄膜発熱抵抗体では面積抵抗を
大きくとれないため、抵抗体を加熱するだけの電力を供
給するためには必然的に電流が大きくなり、電気導体の
抵抗値が問題になる。
大きくとれないため、抵抗体を加熱するだけの電力を供
給するためには必然的に電流が大きくなり、電気導体の
抵抗値が問題になる。
即ち、薄膜発熱抵抗体の抵抗値に対して電気導体の抵抗
値が無視できなくなるから、抵抗体に接続された各電気
導体の距離の差異により各抵抗体の発熱量が異ってしま
い、記録パターンに濃度差が生じ記録品質が劣る。更に
記録密度を上げるため、薄膜発熱抵抗体の大きさを小さ
くすると、薄膜発熱抵抗体の面積抵抗値は不変で電気導
体の抵抗値のみ増大するから、電気導体における電力消
費が問題になるし、又これを避けるために電気導体の厚
さを極端に大きくすると多層配線の場合に表面の凹凸が
激しくなり摩耗にも弱くなるなど構造上大きな不都合が
生じることになる。又電流が大きいことは加熱用電源、
スイッチング回路等の容量を大きくしなければならない
等の不都合も生じる。本発明は上記の点を改良し、酸化
されにくく抵抗値が安定で、比抵抗を高い値まで選択で
きる薄膜発熱抵抗体を用いたサーマルヘッドを提供し、
その特徴とするところは棚化チタンと酸素とからなる発
熱抵抗体にある。
値が無視できなくなるから、抵抗体に接続された各電気
導体の距離の差異により各抵抗体の発熱量が異ってしま
い、記録パターンに濃度差が生じ記録品質が劣る。更に
記録密度を上げるため、薄膜発熱抵抗体の大きさを小さ
くすると、薄膜発熱抵抗体の面積抵抗値は不変で電気導
体の抵抗値のみ増大するから、電気導体における電力消
費が問題になるし、又これを避けるために電気導体の厚
さを極端に大きくすると多層配線の場合に表面の凹凸が
激しくなり摩耗にも弱くなるなど構造上大きな不都合が
生じることになる。又電流が大きいことは加熱用電源、
スイッチング回路等の容量を大きくしなければならない
等の不都合も生じる。本発明は上記の点を改良し、酸化
されにくく抵抗値が安定で、比抵抗を高い値まで選択で
きる薄膜発熱抵抗体を用いたサーマルヘッドを提供し、
その特徴とするところは棚化チタンと酸素とからなる発
熱抵抗体にある。
この発熱抵抗体においては、棚化チタンと酸素とが原子
的なスケールで混在している。以下、図面を参照しなが
ら詳細に説明する。
的なスケールで混在している。以下、図面を参照しなが
ら詳細に説明する。
第1図は本発明に適用するサーマルヘッドの形状例の姿
部断面図である。同図中の1はセラミックス、ガラスあ
るいは、グレーズドセラミツクスのような電気的な絶縁
物で形成された基板である。2は棚化チタンと酸素とか
らなる本発明に係る薄膜発熱抵抗体である。
部断面図である。同図中の1はセラミックス、ガラスあ
るいは、グレーズドセラミツクスのような電気的な絶縁
物で形成された基板である。2は棚化チタンと酸素とか
らなる本発明に係る薄膜発熱抵抗体である。
3は該薄膜発熱抵抗体に電力を供給するための電気導体
で、アルミニウム、金等の電気良導体で、形成されてい
る。
で、アルミニウム、金等の電気良導体で、形成されてい
る。
又4は薄膜発熱抵抗体及び電気導体の保護層で、例えば
電子ビーム蒸着、スパッタ一等によって作製した酸化シ
リコン、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化タ
ンタルあるいはこれらを組合せた多層構成が用いられ、
これによってサーマルヘッドの寿命を一層長くすること
ができる。本発明の棚化チタンと酸素とからなる薄膜発
熱抵抗体の製造はスパッタリング、電子ビーム葵着いず
れも可能であり、スパッタリングによって製造する方法
としては、アルゴンと酸素の混合雰囲気中で棚化チタン
のターゲットをスパッタリングする方法、剛素と金属チ
タンを同時にターゲットとする方法、金属チタンのみを
ターゲットとしてアルゴン、酸素、ジボランを含む雰囲
気中で活性スパッタリングを行う方法などがある。
電子ビーム蒸着、スパッタ一等によって作製した酸化シ
リコン、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化タ
ンタルあるいはこれらを組合せた多層構成が用いられ、
これによってサーマルヘッドの寿命を一層長くすること
ができる。本発明の棚化チタンと酸素とからなる薄膜発
熱抵抗体の製造はスパッタリング、電子ビーム葵着いず
れも可能であり、スパッタリングによって製造する方法
としては、アルゴンと酸素の混合雰囲気中で棚化チタン
のターゲットをスパッタリングする方法、剛素と金属チ
タンを同時にターゲットとする方法、金属チタンのみを
ターゲットとしてアルゴン、酸素、ジボランを含む雰囲
気中で活性スパッタリングを行う方法などがある。
棚化チタンをターゲットとする場合、例えば石英皿等の
上に棚化チタンを粉末の状態もしくはプレスした状態で
着くことによりターゲットとして用いることもできるが
、あらかじめ110000以上の真空ホットプレスによ
り焼結させたターゲットを使用する方が、スパッタリン
グの制御は行いやすい。
上に棚化チタンを粉末の状態もしくはプレスした状態で
着くことによりターゲットとして用いることもできるが
、あらかじめ110000以上の真空ホットプレスによ
り焼結させたターゲットを使用する方が、スパッタリン
グの制御は行いやすい。
また棚素と金属チタンを同時にターゲットとする場合に
は棚素と金属チタンを混合するか、又は一方を他方に埋
め込んだり表面の一部に配置したりして、行うことがで
きる。いずれの場合にも1×10‐汀orr〜5×10
‐ITorrのアルゴンと酸素との混合雰囲気で行うの
が良く、好ましくは1×10‐汀orr〜1×10‐I
Torrがよい。
は棚素と金属チタンを混合するか、又は一方を他方に埋
め込んだり表面の一部に配置したりして、行うことがで
きる。いずれの場合にも1×10‐汀orr〜5×10
‐ITorrのアルゴンと酸素との混合雰囲気で行うの
が良く、好ましくは1×10‐汀orr〜1×10‐I
Torrがよい。
また、金属チタンをターゲットとして、アルゴン、酸素
、ジボランの混合雰囲気中で活性スパッタリングを行う
場合には全ガス圧1×10‐2TOrr〜5×10‐I
Ton、好ましくは1×10‐2Torr〜5×10‐
2Ton、そのなかでジボランの分圧は全圧力の1〜1
0%、好ましくは2〜6%である。
、ジボランの混合雰囲気中で活性スパッタリングを行う
場合には全ガス圧1×10‐2TOrr〜5×10‐I
Ton、好ましくは1×10‐2Torr〜5×10‐
2Ton、そのなかでジボランの分圧は全圧力の1〜1
0%、好ましくは2〜6%である。
上記のいずれのスパッタリング工程中においても、雰囲
気中の酸素分圧を0.1〜10%で選択することにより
、発熱抵抗体中に酸素を原子比でモリブデンの0.00
5以上含有させることができる。酸素含有量は少なすぎ
ては効果がなく、逆に多すぎると比抵抗の制御が難かし
く耐熱性も悪くなるのでチタンの0.01〜1.0(原
子比)が適当であり0.05〜0.6がより好ましく、
0.1〜0.3が最も好ましい。このように作成した発
熱抵抗体の固有抵抗値は200山○肌〜5000仏○c
のまで選択可能である。発熱抵抗体を電子ビーム蒸着で
製造する場合には、棚化チタンの粉末を約100k9/
均以上の圧力でプレスしてタブレットを作り1×10‐
4Ton以上の高真空度であらかじめ一定温度に保った
基板上に蒸着させることができる。この時、ニードルバ
ルブ等によって酸素を含む気体を電子ビーム黍着中に導
入することによって発熱抵抗体中の酸素含有量をモリブ
デンの0.005〜1.0(原子比)とすることができ
る。このようにして作成された薄膜発熱抵抗体は棚化チ
タンと酸素より成り(但し不純物としてC.Nなどを含
有)、固有抵抗値を高く設定すれば、電極部の抵抗値が
ある程度高くても良いから製造工程が容易になり、電極
を薄くすることにより表面の凹凸が少なくなった耐摩耗
性が改良される。
気中の酸素分圧を0.1〜10%で選択することにより
、発熱抵抗体中に酸素を原子比でモリブデンの0.00
5以上含有させることができる。酸素含有量は少なすぎ
ては効果がなく、逆に多すぎると比抵抗の制御が難かし
く耐熱性も悪くなるのでチタンの0.01〜1.0(原
子比)が適当であり0.05〜0.6がより好ましく、
0.1〜0.3が最も好ましい。このように作成した発
熱抵抗体の固有抵抗値は200山○肌〜5000仏○c
のまで選択可能である。発熱抵抗体を電子ビーム蒸着で
製造する場合には、棚化チタンの粉末を約100k9/
均以上の圧力でプレスしてタブレットを作り1×10‐
4Ton以上の高真空度であらかじめ一定温度に保った
基板上に蒸着させることができる。この時、ニードルバ
ルブ等によって酸素を含む気体を電子ビーム黍着中に導
入することによって発熱抵抗体中の酸素含有量をモリブ
デンの0.005〜1.0(原子比)とすることができ
る。このようにして作成された薄膜発熱抵抗体は棚化チ
タンと酸素より成り(但し不純物としてC.Nなどを含
有)、固有抵抗値を高く設定すれば、電極部の抵抗値が
ある程度高くても良いから製造工程が容易になり、電極
を薄くすることにより表面の凹凸が少なくなった耐摩耗
性が改良される。
また電極部での電圧虫蜂下が無視できる程度であること
から、薄膜発熱抵抗体の発熱ムラによる発色濃度ムラも
小さくなり、マトリクス配線などの電極パターンの設計
が自由になる。またスパッタリング中あるいは電子ビー
ム蒸着中に於いて20000〜500oCの基板加熱を
行うことによって、基板と薄膜発熱抵抗体との密着性が
向上し、膜の安定性に効果がある。
から、薄膜発熱抵抗体の発熱ムラによる発色濃度ムラも
小さくなり、マトリクス配線などの電極パターンの設計
が自由になる。またスパッタリング中あるいは電子ビー
ム蒸着中に於いて20000〜500oCの基板加熱を
行うことによって、基板と薄膜発熱抵抗体との密着性が
向上し、膜の安定性に効果がある。
次に実施例に基づいて説明する。
(実施例 1)
1100qoでホットプレスした5インチ径の棚化チタ
ンTiB2〔三違和化学薬品製、Ti68.70%,B
30.72%〕のターゲットを用いて、充分に洗浄され
たガラス厚50仏mのグレーズドアルミナ基板を300
ooに基板加熱しながらアルゴン圧力4×1げびorr
、酸素圧3×10‐3Ton、混合ガス雰囲気中で高周
波2極スパッタリングを行った。
ンTiB2〔三違和化学薬品製、Ti68.70%,B
30.72%〕のターゲットを用いて、充分に洗浄され
たガラス厚50仏mのグレーズドアルミナ基板を300
ooに基板加熱しながらアルゴン圧力4×1げびorr
、酸素圧3×10‐3Ton、混合ガス雰囲気中で高周
波2極スパッタリングを行った。
スパッタ率は200A/分、投入パワーは3.0W/の
で5分間スパッタしたところ、1000Aの膜厚の薄膜
発熱抵抗体が得られた。比抵抗はlooOA○地、面積
抵抗は1000/口であった。この腰の組成をイオンマ
イクロアナラィザで調べたところ酸素がチタンの0.2
6(原子比)含まれていた。この上にチタン10A、ア
ルミニウムをlAm電子ビーム蒸着で付け、選択エッチ
ングで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドパターン
を形成し、これをサーマルヘッドA,とした。さらにこ
の上に保護層として酸化シリコン(Si02)をlAm
、酸化タンタル(Ta205)を10rm連続的にスパ
ッタで積層し、サーマルへッドんとした。比較の為に、
高周波2極の反応スパッタリングによってタンタルをタ
ーゲットとし、アルゴンと窒素の全圧力が8×10‐2
Tom、窒素分圧が1×1o‐4Torrの条件で10
00Aの厚さの窒化タンタル薄膜発熱抵抗体のサーマル
ヘッドB,を作成した。
で5分間スパッタしたところ、1000Aの膜厚の薄膜
発熱抵抗体が得られた。比抵抗はlooOA○地、面積
抵抗は1000/口であった。この腰の組成をイオンマ
イクロアナラィザで調べたところ酸素がチタンの0.2
6(原子比)含まれていた。この上にチタン10A、ア
ルミニウムをlAm電子ビーム蒸着で付け、選択エッチ
ングで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドパターン
を形成し、これをサーマルヘッドA,とした。さらにこ
の上に保護層として酸化シリコン(Si02)をlAm
、酸化タンタル(Ta205)を10rm連続的にスパ
ッタで積層し、サーマルへッドんとした。比較の為に、
高周波2極の反応スパッタリングによってタンタルをタ
ーゲットとし、アルゴンと窒素の全圧力が8×10‐2
Tom、窒素分圧が1×1o‐4Torrの条件で10
00Aの厚さの窒化タンタル薄膜発熱抵抗体のサーマル
ヘッドB,を作成した。
この窒化タンタル薄膜発熱抵抗体は比抵抗が260山○
抑で面積抵抗は260/口であった。サーマルヘッドB
,に対し、さらに保護膜として酸化シリコン(Si02
)をlAm、酸化タンタル(Ta205)を10仏m連
続的にスパッタで糠層し、サーマルヘッド&とした。こ
れらのサーマルヘッドに対して、50HZでahsの矩
形波を3び分ごとにIW/柵ずつパワーアップしながら
加速テストを行った。
抑で面積抵抗は260/口であった。サーマルヘッドB
,に対し、さらに保護膜として酸化シリコン(Si02
)をlAm、酸化タンタル(Ta205)を10仏m連
続的にスパッタで糠層し、サーマルヘッド&とした。こ
れらのサーマルヘッドに対して、50HZでahsの矩
形波を3び分ごとにIW/柵ずつパワーアップしながら
加速テストを行った。
この結果を第2図に示す。同図から明らかなように、本
発明にかかる製造方法で作成した薄膜発熱抵抗体を有す
るサーマルヘッドは高印加電力に耐えることができ、高
温での抵抗変化が少いことがわかつた。つまり、比較例
では保護膜なしでは実用するのが難かしいのに対して、
本発明に係るサーマルヘッドは保護膜なしでも実用でき
、保護膜をつけた場合には非常に良い耐熱性が得られた
。(実施例 2) 1300ooでホットプレスした6インチ径の棚化チタ
ン(CrB2)のターゲットを用いて、充分に洗浄され
たガラス厚50仏mのグレーズドアルミナ基板を200
00に基板加熱して、アルゴン圧力4×10‐汀orr
、酸素圧4×10‐3Tonの混合ガス雰囲気中で高周
波2極スパッタリングを行った。
発明にかかる製造方法で作成した薄膜発熱抵抗体を有す
るサーマルヘッドは高印加電力に耐えることができ、高
温での抵抗変化が少いことがわかつた。つまり、比較例
では保護膜なしでは実用するのが難かしいのに対して、
本発明に係るサーマルヘッドは保護膜なしでも実用でき
、保護膜をつけた場合には非常に良い耐熱性が得られた
。(実施例 2) 1300ooでホットプレスした6インチ径の棚化チタ
ン(CrB2)のターゲットを用いて、充分に洗浄され
たガラス厚50仏mのグレーズドアルミナ基板を200
00に基板加熱して、アルゴン圧力4×10‐汀orr
、酸素圧4×10‐3Tonの混合ガス雰囲気中で高周
波2極スパッタリングを行った。
スパッタ率は200A/分、投入パワーは3.0W/の
で3分間スパッタしたところ、600Aの膜厚の本発明
薄膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は1900山Q肌、
面積抵抗は310Q/口であった。この上にバナジウム
10△、アルミニウムを1仏m電子ビーム蒸着で付け、
選択エッチングで4本/帆の分離能をもつサーマルヘッ
ドパターンを形成し、さらにこの上に保護層として酸化
シリコン(Si02)を2仏m、酸化アルミニウム(N
203)を5仏m連続的にスパッタで積層し、サーマル
ヘッドを作成した。このサーマルヘッドに対して実施例
1と同じ加速テストを施したところ、サーマルへッドん
と同様な結果が得られた。
で3分間スパッタしたところ、600Aの膜厚の本発明
薄膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は1900山Q肌、
面積抵抗は310Q/口であった。この上にバナジウム
10△、アルミニウムを1仏m電子ビーム蒸着で付け、
選択エッチングで4本/帆の分離能をもつサーマルヘッ
ドパターンを形成し、さらにこの上に保護層として酸化
シリコン(Si02)を2仏m、酸化アルミニウム(N
203)を5仏m連続的にスパッタで積層し、サーマル
ヘッドを作成した。このサーマルヘッドに対して実施例
1と同じ加速テストを施したところ、サーマルへッドん
と同様な結果が得られた。
(実施例 3)
6インチ律の金属チタン板上に、焼結した1/4ィンチ
径のホウ素板を多数個おいて表面積比で金属チタン:棚
素がおよそ1:2になるようにしたターゲットを用いた
。
径のホウ素板を多数個おいて表面積比で金属チタン:棚
素がおよそ1:2になるようにしたターゲットを用いた
。
充分に洗浄されたグレーズドセラミックス基板を500
℃に基板加熱してアルゴン圧:3×10‐2Tom、酸
素圧2×10‐3Tonで、R.F.2極でスパツタし
た。スパッタ率は100A/分で8分間スパツ夕したと
ころ800△の膜厚、固有抵抗値920AQ伽、面積抵
抗1150ノロの薄膜発熱抵抗体が得られた。この上に
チタンを10人、アルミニウムをlwm電子ビームで蒸
着した後、選択エッチング4本/側分解能をもつサーマ
ルヘッドパターンを形成した。次に保護膜として酸化マ
グネシウム(Mg0)10仏mをスパッタで穣層した。
このサーマルヘツド‘こ対して実施例1と同じ加速テス
トを行ったところ、22W/地まで抵抗変化率は土2%
以内で、窒化タンタルを用いたサーマルヘッドに比して
非常に良好な結果が得られた。
℃に基板加熱してアルゴン圧:3×10‐2Tom、酸
素圧2×10‐3Tonで、R.F.2極でスパツタし
た。スパッタ率は100A/分で8分間スパツ夕したと
ころ800△の膜厚、固有抵抗値920AQ伽、面積抵
抗1150ノロの薄膜発熱抵抗体が得られた。この上に
チタンを10人、アルミニウムをlwm電子ビームで蒸
着した後、選択エッチング4本/側分解能をもつサーマ
ルヘッドパターンを形成した。次に保護膜として酸化マ
グネシウム(Mg0)10仏mをスパッタで穣層した。
このサーマルヘツド‘こ対して実施例1と同じ加速テス
トを行ったところ、22W/地まで抵抗変化率は土2%
以内で、窒化タンタルを用いたサーマルヘッドに比して
非常に良好な結果が得られた。
(実施例 4)6インチ径の金属チタン板をターゲット
として用いた。
として用いた。
充分に洗浄されたグレーズドセラミツクス基板を400
℃に基板加熱してアルコン、ジボラン、酸素、混合ガス
雰囲気中で活性スパッタリングをおこなった。アルゴン
+ジボラン+酸素の全圧力は3.5×10‐2Torr
、ジボラン分圧は1.5×10‐4Torr酸素分圧は
1×104Tonで高周波2極スパッタにて1000△
の膜厚をつけた。面積抵抗は430/口のく固有抵抗値
は430rQ肌)であった。この上にバナジウムを10
0A、金をlAm電子ビームで蒸着した後、選択エッチ
ングで4本/側分解能をもつサーマルヘッドパターンを
形成した。次いで保護膜として酸化アルミニウム(山2
03)loAmをスパッタで積層した。
℃に基板加熱してアルコン、ジボラン、酸素、混合ガス
雰囲気中で活性スパッタリングをおこなった。アルゴン
+ジボラン+酸素の全圧力は3.5×10‐2Torr
、ジボラン分圧は1.5×10‐4Torr酸素分圧は
1×104Tonで高周波2極スパッタにて1000△
の膜厚をつけた。面積抵抗は430/口のく固有抵抗値
は430rQ肌)であった。この上にバナジウムを10
0A、金をlAm電子ビームで蒸着した後、選択エッチ
ングで4本/側分解能をもつサーマルヘッドパターンを
形成した。次いで保護膜として酸化アルミニウム(山2
03)loAmをスパッタで積層した。
このサーマルヘツド‘こ対して実施例1と同じ加速テス
トをおこなったところ22.5W/嫌まで抵抗変化率は
土2%以内であった。本例もまた前記比較例の窒化タン
タルを用いたサーマルヘッドより非常に良好な結果が得
られた。(実施例 5)棚化チタンの粉末を100k9
/鮒以上でプレスしたタブレットを作成し、あらかじめ
充分に洗浄されたグレーズドセラミックス基板上に基板
加熱30000、真空度2×10‐6Tonまで真空に
ひいた後、乾燥空気をニードルバルプで導入しながら真
空度5×10‐6Tonで1000Aの厚さに電子ビー
ムで蒸着した。
トをおこなったところ22.5W/嫌まで抵抗変化率は
土2%以内であった。本例もまた前記比較例の窒化タン
タルを用いたサーマルヘッドより非常に良好な結果が得
られた。(実施例 5)棚化チタンの粉末を100k9
/鮒以上でプレスしたタブレットを作成し、あらかじめ
充分に洗浄されたグレーズドセラミックス基板上に基板
加熱30000、真空度2×10‐6Tonまで真空に
ひいた後、乾燥空気をニードルバルプで導入しながら真
空度5×10‐6Tonで1000Aの厚さに電子ビー
ムで蒸着した。
この面積抵抗は約580/口(固有抵抗値は約580仏
○伽)であった。次にこの上にチタンを10△、アルミ
ニウムを1.5仏m電子ビームにより蒸着した後、選択
エッチングにより4本/側の分解能をもったパターンを
形成した後酸化シリコン(Si02)を1ムm、酸化タ
ンタル(Ta205)を10仏m連続的にスパッタで競
層し、サーマルヘッドを作成した。このサーマルヘツド
‘こ対して実施例1と同じ加速テストを施したところ、
サーマルへッドんと同機な良好な結果が得られた。
○伽)であった。次にこの上にチタンを10△、アルミ
ニウムを1.5仏m電子ビームにより蒸着した後、選択
エッチングにより4本/側の分解能をもったパターンを
形成した後酸化シリコン(Si02)を1ムm、酸化タ
ンタル(Ta205)を10仏m連続的にスパッタで競
層し、サーマルヘッドを作成した。このサーマルヘツド
‘こ対して実施例1と同じ加速テストを施したところ、
サーマルへッドんと同機な良好な結果が得られた。
この膜の組成をイオンマイクロアナラィザで調べたとこ
ろ酸素がクロムの0.18(原子比)含まれていた。
ろ酸素がクロムの0.18(原子比)含まれていた。
第1図は本発明に係るサーマルヘッドの形状例の要部断
面図。 第2図は本発明の効果を示す特性図。1・・・・・・基
板、2…・・・薄膜発熱抵抗体、3・・・・・・電気導
体、4・・・・・・保護層。 弟l図 実2図
面図。 第2図は本発明の効果を示す特性図。1・・・・・・基
板、2…・・・薄膜発熱抵抗体、3・・・・・・電気導
体、4・・・・・・保護層。 弟l図 実2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基板と、該基板上に形成された発熱抵抗体と、該発
熱抵抗体に電力を供給する電気導体とを有するサーマル
ヘツドにおいて、発熱抵抗体が硼化チタンと酸素とから
なることを特徴とするサーマルヘツド。 2 発熱抵抗体において酸素の含有量がチタンの0.0
05(原子比)以上である特許請求の範囲第1項記載の
サーマルヘツド。 3 発熱抵抗体において酸素の含有量がチタンの0.0
1〜1.0(原子比)である特許請求の範囲第1項記載
のサーマルヘツド。 4 発熱抵抗体が酸化シリコン薄膜で覆われている特許
請求の範囲第1項ないし第3項記載のサーマルヘツド。 5 酸化タンタルの保護膜を有する特許請求の範囲第1
項ないし第4項記載のサーマルヘツド。6 酸化アルミ
ニウムの保護膜を有する特許請求の範囲第1項ないし第
4項記載のサーマルヘツド。 7 酸化マグネシウムの保護膜を有する特許請求の範囲
第1項ないし第4項記載のサーマルヘツド。 8 硼化チタンと酸素とからなる発熱抵抗体をスパツタ
リングで製造することを特徴とするサーマルヘツドの製
造方法。 9 アルゴン酸素とを含有する混合気体中でスパツタリ
ングする特許請求の範囲第8項記載の製造方法。 10 スパツタリングのターゲツトが硼化チタンをホツ
トプレスしたものである特許請求の範囲第8項または第
9項記載の製造方法。 11 金属チタンと硼素とを同時にターゲツトとするよ
うに配置した特許請求の範囲第8項または第9項記載の
製造方法。 12 アルゴンと酸素とジボランとを含有する混合気体
中でスパツタリングする特許請求の範囲第8項記載の製
造方法。 13 金属チタンをターゲツトとする特許請求の範囲第
12項記載の製造方法。 14 200℃〜500℃の基板加熱を行いながらスパ
ツタリングを行う特許請求の範囲第8項ないし第13項
記載の製造方法。 15 硼化チタンと酸素とからなる発熱抵抗体を電子ビ
ーム蒸着で製造することを特徴とするサーマルヘツドの
製造方法。 16 酸素を含む気体を導入しながら電子ビーム蒸着を
行う特許請求の範囲第15項記載の製造方法。 17 200℃〜500℃の基板加熱を行いながら電子
ビーム蒸着を行う特許請求の範囲第15項また第16項
記載の製造方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52160146A JPS6038007B2 (ja) | 1977-12-28 | 1977-12-28 | サ−マルヘツド |
| US05/906,359 US4296309A (en) | 1977-05-19 | 1978-05-15 | Thermal head |
| US06/552,013 US4545881A (en) | 1977-05-19 | 1983-11-16 | Method for producing electro-thermal transducer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52160146A JPS6038007B2 (ja) | 1977-12-28 | 1977-12-28 | サ−マルヘツド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5492275A JPS5492275A (en) | 1979-07-21 |
| JPS6038007B2 true JPS6038007B2 (ja) | 1985-08-29 |
Family
ID=15708854
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52160146A Expired JPS6038007B2 (ja) | 1977-05-19 | 1977-12-28 | サ−マルヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6038007B2 (ja) |
-
1977
- 1977-12-28 JP JP52160146A patent/JPS6038007B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5492275A (en) | 1979-07-21 |
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