JPS6038005B2 - サ−マルヘツド - Google Patents

サ−マルヘツド

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Publication number
JPS6038005B2
JPS6038005B2 JP52160144A JP16014477A JPS6038005B2 JP S6038005 B2 JPS6038005 B2 JP S6038005B2 JP 52160144 A JP52160144 A JP 52160144A JP 16014477 A JP16014477 A JP 16014477A JP S6038005 B2 JPS6038005 B2 JP S6038005B2
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JP
Japan
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thermal head
heating resistor
oxygen
manufacturing
lanthanum
Prior art date
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Expired
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JP52160144A
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English (en)
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JPS5492273A (en
Inventor
利民 原
晄 新見
昌久 福井
義章 白戸
芳興 櫨本
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Priority to US05/906,359 priority patent/US4296309A/en
Publication of JPS5492273A publication Critical patent/JPS5492273A/ja
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Expired legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00Ohmic-resistance heating
    • H05B3/10Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor
    • H05B3/12Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor characterised by the composition or nature of the conductive material
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N97/00Electric solid-state thin-film or thick-film devices, not otherwise provided for

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は棚化ランタンと酸素とからなる薄膜発熱抵抗体
を有するサーマルヘッドさらにはその製造方法に関する
熱印字記録に用いられるサーマルヘッドは例えばガラス
のような電気的な絶縁性と平滑面とを有する基板上に複
数個の発熱抵抗体と、この発熱抵抗体に電力を供給する
ための電気導体とを設け、記録すべき情報に従って必要
な熱パターンが得られるように、対応する発熱抵抗体に
電気導体を介して電流を流して発熱させ、記録媒体に接
触することにより記録を行なうものである。
そこに用いられる発熱抵抗体としては、従来窒化タンタ
ル、ニクロム酸化錫等の薄膜発熱抵抗体、銀−パラジウ
ム等を用いた厚勝発熱抵抗体、シリコン半導体を用いた
半導体発熱抵抗体がある。このうち薄膜発熱抵抗体を用
いたサーマルヘッド‘ま厚膜発熱抵抗体、半導体発熱抵
抗体等と比較して熱応答性がよく耐熱性、耐熱衝撃性に
優れ、寿命が長く、信頼性が高い等の特徴を有している
。この薄膜発熱抵抗体としては、従来、窒化タンタルが
耐熱性に優れ、信頼性も高く、又固有抵抗値も250〜
300ム○肌と比較的高い値で製造の制御性もよいため
、特に多く用いられている。しかるに窒化タンタルは約
300qC以上の高温に於ては急激に酸化されその抵抗
値が急激に増加し、記録紙に印字する場合、印字濃度を
劣化させる欠点がある。
一般にはこの欠点を補うために酸化シリコン(Si02
)の耐酸化保護層を設け更にその上に酸化タンタル(T
a24)の耐摩耗層を設けてサーマルヘッドとして使用
しているが、サーマルヘッドを長時間駆動させた時の抵
抗変化はなお十分満足できるものではなかった。特に近
年、高速サーマルヘッドの要求が増加しつつあるためヘ
ッドの通電パルス中を短かくして感熱紙を発色させる必
要があり、従って電力は従来より増加することになり、
発熱抵抗体はさらに高温になるから寿命はより短くなる
。そのためさらに耐熱性のある発熱抵抗体が要求されて
いる。また、窒化タンタルの面積抵抗は、通常500/
口前後で、サーマルヘッドとして特に大きくした場合で
も1000/0程度であり更に抵抗値を大きくするため
にはトリミングを行なったり、膜厚を薄くする等の方法
を用いるが、その際製造工程が複雑になったり、寿命に
対して悪影響を生じたりする等の欠点が発生する。
このように窒化タンタル薄膜発熱抵抗体では面積抵抗を
大きくとれないため、抵抗体を加熱するだけの電力を供
給するためには必然的に電流が大きくなり、電気導体の
抵抗値が問題になる。
即ち、薄膜発熱抵抗体の抵抗値に対して電気導体の抵抗
値が無視できなくなるから、抵抗体に接続された各電気
導体の距離の差異により各抵抗体の発熱量が異ってしま
い、記録パターンに濃度差が生じ記録品質が劣る。更に
記録密度を上げるため、薄膜発熱抵抗体の大きさを小さ
くすると、薄膜発熱抵抗体の面積抵抗値は不変で電気導
体の抵抗値のみ増大するから、電気導体における電力消
費が問題になるし、又これを避けるために電気導体の厚
さを極端に大きくすること多層配線の場合に表面の凹凸
が激しくなり摩耗にも弱くなるなど構造上大きな不都合
が生じることになる。又電流が大きいことは加熱用電源
、スイッチング回路等の容量を大きくしなければならな
い等の不都合も生じる。本発明は上記の点を改良し、酸
化されにくく抵抗値が安定で、比抵抗を高い値まで選択
できる薄膜発熱抵抗体を用いたサーマルヘッドを提供し
、その特徴とするところは棚化ランタと酸素とからなる
発熱抵抗体にある。
この発熱抵抗体においては、棚化ランタンと酸素とが原
子的なスケールで混在している。以下、図面を参照しな
がら詳細に説明する。
第1図は本発明に適用するサーマルヘッドの形状例の要
部断面図である。同図中の1はセラミックス、ガラスあ
るいは、グレーズドセラミツクスのような電気的な絶縁
物で形成された基板である。2は棚化ランタンと酸素と
からなる本発明に係る薄膜発熱抵抗体である。
3は該薄膜発熱抵抗体に電力を供給するための電気導体
で、アルミニウム、金等の電気良導体で、形成されてい
る。
又4は薄膜発熱抵抗体及び電気導体の保護層で、例えば
電子ビーム蒸着、スバッター等によって作製した酸化シ
リコン、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、酸化タ
ンタルあるいはこれらを組合せた多層構成が用いられ、
これによってサーマルヘッドの寿命を一層長くすること
ができる。本発明の棚化ランタンと酸素とからなる薄膜
発熱抵抗体の製造はスパッタリング、電子ビーム蒸着い
ずれも可能であり、スパッタリングによって製造する方
法としては、アルゴンと酸素の混合雰囲気中で棚化ラン
タンのターゲットをスパッタリングする方法、棚素と金
属ランタンを同時にターゲットする方法、金属ランタン
のみをターゲットとしてアルゴン、酸素、ジボランを含
む雰囲気中で活性スパッタリング方法等がある。
棚化ランタンをターゲットとする場合、例えば石英皿等
の上に棚化ランタンを粉末の状態もしくはプレスした状
態で置くことによりターゲットとして用いることもでき
るが、あらかじめ1100qo以上の真空ホットプレス
により焼結させたターゲットを使用する方が、スパッタ
リングの制御は行いやすい。
また棚素と金属ランタンを同時にターゲットとする場合
には棚素と金属ランタンを混合するか、又は一方を他方
に埋め込んだり表面の一部に配置したりして、行うこと
ができる。いずれの場合にも1×10‐汀on〜5 ×
10‐ITorrのアルゴンと酸素との混合雰囲気で行
うのが良く、好ましくは1×10‐勿on〜1×10‐
ITorrがよい。
また、金属ランタンをターゲットとして、アルゴン、酸
素、ジポランの混合雰囲気中で活性スパッタリングを行
う場合には全ガス圧1×10‐汀orr〜5×10‐I
Tort、好ましくはlxlo‐2rorr〜5×10
‐2Ton、3のなかでジボランの分圧は全力の1〜1
0%、好ましくは2〜6%である。
上記のいずれのスパッタリング工程中においても、雰囲
気中の酸素分圧を0.1〜10%で選択することにより
、発熱抵抗体中に酸素を原子比でランタンの0.005
以上含有させることができる。
酸素含有量は少なすぎては効果がなく、逆に多すぎると
比抵抗の制御が驚かし〈、耐熱性も悪くなるのでモリブ
デンの0.01〜1.0(原子比)が適当であり、0.
05〜0.6がより好ましく、0.1〜0.3が最も好
ましい。このように作成した発熱抵抗体の固有抵抗値は
200仏Q伽〜5000仏○仇まで選択可能である。発
熱抵抗体を電子ビーム蒸着で製造する場合には、棚化ラ
ンタンの粉末を約100k9/泳以上の圧力でプレスし
てタブレットを作り1×10‐4Ton以上の高真空度
であらかじめ一定温度に保った基板上に蒸着させること
ができる。
この時、ニードルバルブ等によって酸素を含む気体を電
子ビーム蒸着中に導入することによって発熱抵抗体中の
酸素含有量をモリブデンの0.005〜1.0(原子比
)とすることができる。このようにして作成された薄膜
発熱抵抗体は棚化ランタンと酸素より成り(但し不純物
としてC.Nなどを含有)、固有抵抗値を高く設定すれ
ば、電極部の抵抗値がある程度高くても良いから製造工
程が容易になり、電極を薄くすることにより表面の凹凸
が少くなった耐摩耗性が改良される。
また電極部での電圧降下が無視できる程度であることか
ら、薄膜発熱抵抗体の発熱ムラによる発色濃度ムラも小
さくなり、マトリクス配線などの電極パターンの設計が
自由になる。またスパッタリング中あるいは電子ビーム
蒸着中に於いて200つ0〜500ooの基板加熱を行
うことによって、基板と薄膜発熱抵抗体との密着性が向
上し、膜の安定性に効果がある。
次に実施例に基づいて説明する。
(実施例 1) 1100qoでホットプレスした5インチ径の棚化ラン
タンいB6〔米国Research社製、純度99.9
%〕のターゲットを用いて、充分に洗浄ミれたガラス厚
50〃mのグレーズドアルミナ基板を300oCに基板
加熱しながらアルゴン圧力4×10‐2Ton、酸素圧
3×10‐3Ton、混合ガス雰囲気中で高周波2極ス
パッタリングを行った。
スパッタ率は200A/分、投入パワーは3.0W/の
で5分間スパッタしたところ、1000Aの膜厚の薄膜
発熱抵抗体が得られた。比抵抗は1200仏○肌、面積
抵抗は1200/口であった。この膜の組成をイオンマ
イクロアナラィザで調べたところ酸素がランタンの0.
18(原子比)含まれていた。この上にチタン10A、
アルミニウムをlrm電子ビーム蒸着で付け、選択エッ
チングで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドパター
ンを形成し、これをサーマルヘッドA,とした。さらに
この上に保護層として酸化シリコン(Si02)を1仏
m、酸化タンタル(Ta205)を10山m連続的にス
パッタで穣層し、サーマルへッドんとした。比較の為に
、高周波2極の反応スパッタリングによってタンタルを
ターゲットとし、アルゴンと窒素の全圧力が8×10‐
2Ton、窒素分圧が1×1o‐4Torrの条件で1
000△の厚さの窒化タンタル薄膜発熱抵抗体のサーマ
ルヘッドB,を作成した。
この窒化タンタル薄膜発熱抵抗体は比抵抗が260仏○
肌で面積抵抗は260/口であった。サーマルヘッドB
,に対し、さらに保護膜として酸化シリコン(Si02
)を1仏m、酸化タンタル(Ta205)を10仏m連
続的にスパッタで穣層し、サーマルヘッド塁とした。こ
れらのサーマルヘッドに対して、50HZで8hsの矩
形波を30分ごとにIW/嫌ずつパワーアップしながら
加速テストを行った。
この結果を第2図に示す。同図から明らかなように、本
発明にかかる製造方法で作成した薄膜発熱抵抗体を有す
るサーマルヘッドは高印加電力に耐えることができ、高
温での抵抗変化が少し、ことがわかつた。つまり、比較
例では保護膜なしでは実用するのが簸かしいのに対して
、本発明に係るサーマルヘッドは保護膜なしでも実用で
き、保護膜をつけた場合には非常に良い耐熱性が得られ
た。(実施例 2) 130000でホットプレスした6インチ径の棚化ラン
タン(LaB)のターゲットを用いて、充分に洗浄され
たガラス厚50仏mのグレーズドアルミナ基板を200
00に基板加熱して、アルゴン圧力4×10‐汀orr
、酸素圧4×10‐3Torrの混合ガス雰囲気中で高
周波2極スパッタリングを行った。
スパッタ率は200A/分、投入パワーは3.0W/め
で3分間スパッタしたところ、600△の膜厚の本発明
薄膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は2100仏Q肌、
面積抵抗は350Q/口であった。この上にバナジウム
10△、アルミニウムを1〆m電子ビーム葵着で付け、
選択エッチングで4本/肋の分離能をもつサーマルヘッ
ドパターンを形成し、さらにこの上に保護層として酸化
シリコン(Si02)を2仏m、酸化アルミニウム(N
203)を5仏m連続的にスパッタで種層し、サーマル
ヘッドを作成した。このサーマルヘッドーこ対して実施
例1と同じ加速テストを施したところ、サーマルヘッド
〜と同様な結果が得られた。(実施例 3) 6インチ径の金属ランタン板上に、糠結した1′4ンチ
径のホウ素板を多数個おいて表面積比で金属ランタン:
棚素がおよそ1:2になるようにしたターゲットを用い
た。
充分に洗浄されたグレーズドセラミックス基板を500
00に基板加熱してアルゴン圧:3×1げびorr酸素
圧2×10‐3Tonで、R.F.2極でスパッタした
。スパッタ率は100A/分で8分間スパッタしたとこ
ろ800Aの膜厚、固有抵抗値1040仏Qの、面積抵
抗1300/口の薄膜発熱抵抗体が得られた。この上に
チタンを10△、アルミニウムをlAm電子ビームで蒸
着した後、選択エッチング4本/肌分解能をもつサーマ
ルヘッドパターンを形成した。次に保護膜として酸化マ
グネシウム(Mg0)10ムmをスパッタで積層した。
このサーマルヘッド‘こ対して実施例1と同じ加速テス
トを行ったところ、23W/柵まで抵抗変化率は±2%
以内で、窒化タンタルを用いたサーマルヘッドに比して
非常に良好な結果が得られた。
(実施例 4)6インチ径の金属ランタン板をターゲッ
トとして用いた。
充分に洗浄されたグレーズドセラミックス基板を400
つ0に基板加熱してアルゴン、ジボラン、酸素混合ガス
雰囲気中で活性スパッタリングをおこなった。アルゴン
十ジボラン+酸素の全圧力は3.5×10‐2Torr
、ジボラン分圧は1.5×10‐4Torr、酸素分圧
は1×10‐4Torrで高周波2極スパッタにて10
00Aの膜厚をつけた。面積抵抗は500/口の(固有
抵抗値は500山Q肌)であった。この上にバナジウム
を100A、金をlAm電子ビームで蒸着した後、選択
エッチングで4本/職分解能をもつサーマルヘッドパタ
ーンを形成した。次いで保護膜として酸化アルミニウム
(N203)loAmをスパッタで競層した。
このサーマルヘッドに対して実施例1と同じ加速テスト
をおこなったところ22.5W/磯まで抵抗変化率は士
2%以内であった。本例もまた前記比較例の窒化タンタ
ルを用いたサーマルヘッドより非常に良好な結果が得ら
れた。(実施例 5) 棚化ランタンの粉末を100kg/c鰭以上でプレスし
たタブレットを作成し、あらかじめ充分に洗浄されたグ
レーズドセラミックス基板上に基板加熱30000、真
空度2×10‐5Torrまで真空にひいた後、乾燥空
気をニードルバルブで導入しながら真空度5×10‐6
Torrで1000Aの厚さに電子ビームで蒸着した。
この面積抵抗は約700/口(固有抵抗値は約700仏
○cの)であった。次にこの上にチタンを10A、アル
ミニウムを1.5仏m電子ビームにより蒸着した後、選
択エッチングにより4本/側の分解能をもったパターン
を形成した後酸化シリコン(Si02)を1〃m、酸化
タンタル(Ta205)を10仏m連続的にスパッタで
種層し、サーマルヘッドを作成した。このサーマルヘッ
ドに対して実施例1と同じ加速テストを施したところ、
サーマルへッドんと同様な良好な結果が得られた。
この腰の組成をイオンマイクロアナラィザで調べたとこ
ろ酸素がランタンの0.15(原子比)含まれていた。
図面の簡単な説明第1図は本発明に係るサーマルヘッド
の形状例の要部断面図。
第2図は本発明の効果を示す特性図。1・・・・・・基
板、2・・・・・・薄膜発熱抵抗体、3・・・・・・電
気導体、4・・・・・・保護層。
弟l図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 基板と、該基板上に形成された発熱抵抗体と、該発
    熱抵抗体に電力を供給する電気導体とを有するサーマル
    ヘツドにおいて、発熱抵抗体が硼化ランタンと酸素とか
    らなることを特徴とするサーマルヘツド。 2 発熱抵抗体において酸素の含有量がランタンの0.
    005(原子比)以上である特許請求の範囲第1項記載
    のサーマルヘツド。 3 発熱抵抗体において酸素の含有量がランタンの0.
    01〜1.0(原子比)である特許請求の範囲第1項記
    載のサーマルヘツド。 4 発熱抵抗体が酸化シリコン薄膜で覆われている特許
    請求の範囲第1項ないし第3項記載のサーマルヘツド。 5 酸化タンタルの保護膜を有する特許請求の範囲第1
    項ないし第4項記載のサーマルヘツド。6 酸化アルミ
    ニウムの保護膜を有する特許請求の範囲第1項ないし第
    4項記載のサーマルヘツド。 7 酸化マグネシウムの保護膜を有する特許請求の範囲
    第1項ないし第4項記載のサーマルヘツド。 8 硼化ランタンと酸素とからなる発熱抵抗体をスパツ
    タリングで製造することを特徴とするサーマルヘツドの
    製造方法。 9 アルゴン酸素とを含有する混合気体中でスパツタリ
    ングする特許請求の範囲第8項記載の製造方法。 10 スパツタリングのターゲツトが硼化ランタンをホ
    ツトプレスしたものである特許請求の範囲第8項または
    第9項記載の製造方法。 11 金属ランタンと硼素とを同時にターゲツトするよ
    うに配置した特許請求の範囲第8項または第9項記載の
    製造方法。 12 アルゴンと酸素とジボランとを含有する混合気体
    中でスパツタリングする特許請求の範囲第8項記載の製
    造方法。 13 金属ランタンをターゲツトとする特許請求の範囲
    第12項記載の製造方法。 14 200℃〜500℃の基板加熱を行いながらスパ
    ツタリングを行う特許請求の範囲第8項ないし第13項
    記載の製造方法。 15 硼化ランタンと酸素とからなる発熱抵抗体を電子
    ビーム蒸着で製造することを特徴とするサーマルヘツド
    の製造方法。 16 酸素を含む気体を導入しながら電子ビーム蒸着を
    行う特許請求の範囲第15項記載の製造方法。 17 200℃〜500℃の基板加熱を行いながら電子
    ビーム蒸着を行う特許請求の範囲第15項また第16項
    記載の製造方法。
JP52160144A 1977-05-19 1977-12-28 サ−マルヘツド Expired JPS6038005B2 (ja)

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US05/906,359 US4296309A (en) 1977-05-19 1978-05-15 Thermal head
US06/552,013 US4545881A (en) 1977-05-19 1983-11-16 Method for producing electro-thermal transducer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP52160144A JPS6038005B2 (ja) 1977-12-28 1977-12-28 サ−マルヘツド

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Publication Number Publication Date
JPS5492273A JPS5492273A (en) 1979-07-21
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