JPS6017543A - 自動試験デ−タ処理方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ＋ａ１発明の技術分野 本発明は、オフィスコンピュータやワードプロセッサ等
の製造工程における自動試験システムに係り、特に試験
結果のデータを一括処理して試験効率を高めることがで
きる自動試験データ処理方式に関す。

（ｂｌ技術の背景 近来、オフィスオートメイションの進展によりオフィス
コンピュータやワードプロセッサ等の事８機が急速に普
及しっ＼ある。

メーカーにおいては、これに対応するための量産が進め
られており、装置の信頼性を保証する為、製造工程にお
いて各種テスｊ・が行われている。

これらのテストは量産時には試験工程をシリーズに編成
して夫々自動試験機によって行われる。

（ｃ＋従来技術と問題点 以下、従来方法について第１図の構成図を参照して説明
する。

第１図は３台の自動試験機１乃至３の各々に被試験体４
乃至６が接続され、各自動試験機１乃至３には判定部１
ａ乃至３ａが備えられている。即ら、試験工程が３工程
あって被試験体４乃至６はその工程で順次テストされる
。

自動試験機１乃至３は夫々のうス１へ内容によっ゛Ｃブ
ロクラムが設定されている。テストはこのグログラムに
よる指令によって行われる。

判定部１ａ乃至３ａは入力されたテスト結果またはデー
タを所定の判定規準と照合して良否判定をする機能を有
している。

このよ・）な構成及び機能を有するので、自動試験機１
でのテストを例として説明すると、まずプログラムに従
って被試験体４に順次指令が発せられると、動作テスト
または測定が行われて、テスト結果またはデータがフィ
ードバックして判定部１ａに入力されて良否の判定が行
われる。

プログラムによる所定のテストが終了すると図示省略し
た表示ランプ及びブザーによって報知され、すべての判
定が良の場合は被試験体４は１工程進んで、次の自動試
験機２のテストを受ける。

もしテスト中に不良の判定が出るとテストは中断して被
試験体４はオペレータによって自動試験機１の工程から
外されて、障害機として必要な処置を受ける。

他の被試験体５．６のテストの場合も同様である。

この被試験体４乃至Ｇは完成した装置の場合もあり、１
、ニソ１−の場合もある。

このようにして被試験体４乃至６の工程毎の自動試験が
行われる。

しかしながらこの方法によると、各自動試験機１乃至３
に判定部１ａ乃至３ａが必要であり、またテスト中に不
良判定が出た時には、テストを中′断し゛Ｃ列外に移し
°Ｃ処理するので、不良の有無に関係なくオベレ＝りが
待機している必要があるという欠点がある。もし不良判
定で自動試験機１が停止してもそのま＼放置していれば
、自動試験機１の稼動効率が悪くなるという問題がある
。

前述のように品質が安定して、不良判定が極めて少ない
状態の時には、特にこの欠点を解決することが要請され
る。

（ｄ）発明の目的 本発明の目的は、上記の欠点を解決する為のもので、試
験結果のデータを一括処理して試験効率を高めることが
できる自動試験データ処理方式を提供するにある。

（０）発明の構成 本発明は、複数の試験機に対応して設けられ、各試験機
におけるテスト結果を記録媒体に記録する記録手段と、
複数の試験機に共通して設けられ、記録手段によって記
録されたテスト結果を読み取る読取手段及び判定手段を
備えた判定装置とを具備し、記録媒体に記録されたテス
ト結果を判定装置によっＣ一括して判定する自動試験デ
ータ処理方式であり、かくすることにより目的を達成す
ることができる。

（［１発明の実施例 以下本発明の一実施例について、第２図の構成図を参照
して説明する。

第２図に示すように、自動試験＃８１１乃至１３の各々
に対応して被試験体１４乃至１６が接続されており、従
来例で説明したと同様に、３工程を順次テストするもの
である。

自動試験機１１乃至１３には夫々のテスト内容によって
プログラムが設定されている。テストしまこのプログラ
ムによる指令によって行われる。

被試験体１４乃至１６は磁気記録部１４ａ乃至１６ａが
備えられた１例えばワードプロセツサ等の装置である。

そして磁気記録部１４ａ乃至１６ａにはデスト結果或い
はデータを記録するフロッピーディス、り（以下ＦＬ’
）という）１７乃至１９がセ・ノ１−されている。

また自動試験機１１乃至１３に共通に使用される判定装
置２０が設りられており、判定装置２０は読取り部２０
ａと判定部２０ｂで構成され、読取り部２０ａにＦＤＩ
−，７乃至１９をセ・ノドして記録データを読み取ゲζ
、判定部２０ｂでテスト結果或いはデータの良否を判定
するものである。

このような構成及び機能を有するので、このシステムで
テストを行う時は、各自動試験機１１乃至１３からのプ
ログラム指令によって被試験体１４乃至１６がテスト或
いは測定されると、その結果を試験機１１乃至１３にフ
ィー　ドパ・ツクして次のプログラム指令を出さ・１！
゛ると共に、テスト結果或１いはデータがＦＤ１７７’
Ｊ至１１こ詔Ｈされる。

、−の場合は判定されずにそのま一記録されて行く。

この場合のテスト項Ｌ」ば主として、図示省■しノこキ
ーホー１：の各種機能釦を操作することによる作動テス
トであ−って、これらのテスト項目は相互関連のないも
のが多いのでテス［不良となるべき項目かで°Ｃもテス
トの継続が可能であるが、もしその不良項目の為に他の
関連する項目のテストができない場合には、そのテスト
をとばし２てプログラムを進行させる。

プログラムによる所定のテストが終了すると図示省略し
た表示ランプ及びブザーによって報知されるので、オペ
レータは被試験体１４．１５を次のテスト工程の自動試
験機１２．１３に移して接続し、また自動試験機１１に
は新しい被試験体を接続して夫々テストが行われる。ま
た被試験体１６は３工程のテストが終了する。

かくて次々にテストが進められてＦＤ１７乃至１９に３
工程のナス１結果或或いはデータがすべて記録されると
、ＦＩ）　１７乃至１９は引き抜かれて、判定装置２０
に掛けられて結果或いはデータの判定が行われる。

判定により不良項目がでた場合は、その項目について必
要な処置が取られ、例えば再調整されたものは再びテス
Ｉ・にＩ卦けられる。

このようにしてＦＤ１７乃至１９に各自動試験機１１乃
至１３によるテスト結果或いはデータを記録し７て、一
括し２て判定装置２ｏに掛けて判定が行われるので、テ
ストの都度の判定時間が節約されて試験時間が短縮され
、不良による停止もないので稼動効率が向上して設置台
数を削減することができ、また判定部Ｒ２０を１台とす
ることができるばかりでなく、オペレータの作業時間が
短縮され、しかもプログラムが終了するまでの間はオペ
レータは他の作業ができるので、作業効率が向」二する
という効果がある。

特に装置或いはユニソ］−の品質が安定して、不良が稀
にしか発生しない場合に顕著な効果が得られる。

またＦＤ１７乃至１９ば被試験体毎に管理できるので、
装置履歴の管理が容易である。

上記例では、試験工程がシリースに３工程に亙る場合を
説明したが、同し試験工程を並行して行う場合に適用し
ても同様の効果が得られることば勿論である。

また被試験体１４乃至゛１６に磁気記録部１４ａ乃至１
６ａが備えられている場合のテストを説明したが、自動
試験機１１乃至１３に磁気記録機能を備える方法でも良
い。この場合には被試験体Ｉ４乃至１６は磁気記録部１
４．　ａ乃至１６ａを有し”ζいない装置或いはユニッ
トのテストを行うことができるので、利用範囲が拡大さ
れるという効果がある。

更に、上記例では記録媒体に磁気記録媒体としてＦＤ１
７乃至１９を使用する例を説明したが、他の記録媒体で
も良く、例えば図示省略したがプリンタ装置により印字
用紙に文字等で記録して、これを光学読取装置によ−っ
て読み取って判定部で判定しても同様の効果が得られる
。

（ｇ）発明の詳細 な説明したように本発明によれば、ナスト結果を記録媒
体に記録して、一括して判定することができるので、 ■試験時間が短縮されて自動試験機の台数を削減でき設
備費の節減が図れる。

■オペレータの作業効率が向上する。

■被試験体の履歴管理が容易になる。

という効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来方法を説明する構成図、第２図は本発明に
よる実施例を示す構成図である。 図において、１〜３．１１〜１３は試験機、■ａ〜３ａ
は判定部、４〜６．１４〜ＩＧは被試験体、ｌ　４．　
ａ〜１６ａは磁気記録部、１７〜１９はＦＤ、２０は判
定装置、２０ａは読取り部、２０ｂは判定部を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 複数の試験機の各々に接続した被試験体に、夫々設定さ
   れたプログラムの指令によって自動的にテストを行い、
   該テスＩ−の結果を判定手段で判定する自動試験システ
   ムであって、前記複数の試験機に対応して設けられ、前
   記各試験機におけるテスト結果を記録媒体に記録する記
   録手段と、前記複数の試験機に共通して設問ノられ、該
   記録手段によって記録されたテスト結果を読み取る読取
   手段及び判定手段を備えた判定装置とを具備し、前記記
   録媒体に記録されノこ前記ナスト結果を前記判定装置に
   よって一括して判定することを特徴とする自動試験デー
   タ処理方式。