JPS60200652A - インタフエ−ススイツチ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は端末装置と回線終端装置のインタフェースを切
り換えるインタフェーススイッチに関し、特に端末装置
の折り返しテストをサポートした構成のインタフェース
スイッチに関する。

〔発明の背景〕

データ通信システムの信頼度を向上させるために、予備
の端末装置を設け、端末装置−回線終端装置インタフェ
ースを゛現用と予備の端末装置の間で切り換えることが
行われる。この切り換えを行う装置であるインタフェー
ススイッチ（端末装置−回線終端装置インタフェースス
イッチ、モデムインタフェーススイッチ、データコミュ
ニケーションスイッチ等ともよばれる）には、単に回線
終端装置と端末装置の間のインタフェースの切り換えを
行うだけでなく、インタフェースにおける障害切り分け
を容易にするために、端末装置の折り返しテストをサポ
ートするような構成のものがある。しかし、このような
折り返しテストをサポートした従来のインタフェースス
イッチは、回線終端装置のみが信号エレメントタイミン
グを送出する仕様の端末装置−回線終端装置インタフェ
ース、たとえば国際電信電話諮問委員会勧告Ｘ２１イン
タフエース（以下、単にＸ２１インタフエースと呼ぶ）
において、信号エレメントタイミングとして折り返すに
適当な信号が端末装置から送出されないため、折り返し
テストを行うことができなかった・ このようなインタフェースにおける折り返しテストをサ
ポートする方式として、回線終端装置の送出する信号エ
レメントタイミングを、折り返しテスト時にも端末装置
へ送出する方式が考えられる。しかしこの方式は、回線
終端装置の障害により信号エレメントタイミングが異常
となった場合も、端末装置の折り返しテストで異常が検
出されるため、折り返しテストだけでは障害が端末装置
と回線終端装置のどちらに発生したか切り分けできない
という問題がある。

〔発明の目的〕

本発明は、Ｘ２１インタフエースのような信号エレメン
トタイミングを回線終端装置のみが送出する仕様の端末
装置−回線終端装置インタフェースにおいても、端末装
置の折り返しテストをサポートできるようにしたインタ
フェーススイッチを提供することにある。

〔発明の概要〕

本発明は、信号エレメントタイミングを発生する手段と
、その信号エレメントタイミングを端末装置の折り返し
テスト時にその端末装置へ送出する手段をインタフェー
ススイッチに設けることにより、Ｘ２１インタフエース
等においても折り返しテストを可能とし、また折り返し
テストにより端末装置と回線終端装置の障害切り分けを
可能とすることを特徴とするものである。

〔発明の実施例〕

以下、図によって本発明の一実施例につき説明する。な
お、本実施例はＸ２１インタフエースの例であるが、こ
のＸ２１インタフエースは一般に知られているものであ
るから、ここではその説明は省略する。また、Ｘ２１イ
ンタフエースには共通帰線の他に、１つの信号に対して
２本の電線を用いる平衡複流回路と１本の電線を用いる
不平衡複流回路のものがあり、いずれについても本発明
を適用できるが、図では便宜上、各信号ラインを１本の
線で表現している。

図において、ｌは本発明によるインタフェーススイッチ
、２１０は現用の端末装置、２２０は予備の端末装置、
３１０は回線終端装置である。２１．３１．４１は送信
データ信号ライン、２２゜３２．４２はコントロール信
号ライン、２３，３３．４３は受信データ信号ライン、
２４，３４゜４４はインディヶーション信号ライン、２
５，３５．４５は信号エレメントタイミングの信号ライ
ンである。

インタフェーススイッチｌにおいて、１１１〜１１５は
回線終端装置３１０と現用端末装置２１Ｏまたは予備端
末装置ｉ！２２０の接続切り換えを行うためのリレー接
点である。現用端末装置２１０を回線終端装置３１０に
接続してデータ通信を行う場合は、リレー接点１１１〜
１１５は図に示すように設定される。１２１，１２２，
１３１，１３２は折り返し用のリレー接点である。

１２３．１３３は折り返しテストを行う端末装置にイン
タフェーススイッチ１の内部で発生した信号エレメント
タイミングを送出するためのリレー接点である。なお、
各リレー接点は半導体スイノチンク素子等を用いること
もできる。

１４１は信号エレメントタイミング発生回路であり、た
とえば水晶発振回路と分周用カウンタによって構成され
ている。１４２，１４３は信号エレメントタイミング発
生回路１４１から発生される信号エレメントタイミング
をＸ２１インタフエースに適した電気的レベルの信号に
変換するドライバである。

次に折り返しテスト時の動作を説明する。図に示すよう
に、現用端末装置２１０が回線終端装置３１０に接続さ
れている場合、リレー接点１３１゜１３２を閉じ、信号
ライン３１．３３を接続し、同しく信号ライン３２．３
４を接続し、送信データ信号を受信データ信号に、コン
トロール信号をインディケーション信号にそれぞれ折り
返す。また、リレー接点１３３を閉じ、ドライバ１４３
によってＸ２１インタフエースに適した電気的レベルに
変換された信号エレメントタイミングを、信号ライン３
５を通じて予備端末装置２２０に送り込む。

これにより、Ｘ２１インタフエースにおいても、予備端
末装置２２０の折り返しテストは可能となる。そして、
予備端末装置２２０に供給される信号エレメントタイミ
ングはインタフェーススイッチ１の内部で発生したもの
であるから、回線終端装置３１０から送出される信号エ
レメントタイミングを予備端末装置２２０に供給する方
式の場合と違って、障害の切り分けが困難になるという
問題は起らない。

同様に、リレー接点１１１〜１１５を図の状態と逆に切
り換えて予備の端末装置２２０を回線終端装置３１０に
接続した場合、リレー接点１２１〜１２３を閉しること
によって、現用の端末装置の折り返しテストを行うこと
ができる。

なお、折り返しテストの内容は一般に知られているから
、ここでは説明を省略する。

以上、一実施例について説明したが、本発明はそれに限
られるものではなく、適宜変更が可能である。

たとえば、端末装置の２回線（一方をＡ、他方をＢと称
する）に対して、Ａの送信データ信号をＢの受信データ
信号に、Ａの受信データ信号をＢの送信データ信号に、
Ａのコントロール信号をＢのインディケーション信号に
、Ａのインデイケーション信号をＢのコントロール信号
にぞれぞれ折り返すようにし、ＡとＢの信号エレメント
タイミングの信号ラインにインタフェーススイッチ内で
発生した信号エレメントタイミングを送出し、２回線に
よる折り返しテストを行うこともできる。

また、信号折り返し、および信号エレメントタイミング
送出のためのリレー接点（または半導体スイッチング素
子等）を、信号ライン４１〜４５の側に設け、かつ、こ
れらリレー接点より回線終端装置側に信号ラインを切り
離すリレー接点を配するようにしてもよい。

〔発明の効果〕

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 端末装置の折り返しテストをサポートした構成のインタ
   フェーススイッチにおいて、信号エレメントタイミング
   を発生する手段と、端末装置の折り返しテスト時に該手
   段により発生される信号エレメントタイミングを当該端
   末装置へ送出する手段とを備えることを特徴とするイン
   タフェーススイッチ。