JPS60206084A - セラミツク基板の選択メツキ方法 - Google Patents
セラミツク基板の選択メツキ方法Info
- Publication number
- JPS60206084A JPS60206084A JP6227684A JP6227684A JPS60206084A JP S60206084 A JPS60206084 A JP S60206084A JP 6227684 A JP6227684 A JP 6227684A JP 6227684 A JP6227684 A JP 6227684A JP S60206084 A JPS60206084 A JP S60206084A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metallized layer
- ceramic substrate
- plating
- metal
- selectively
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Landscapes
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Chemically Coating (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(al 発明の技術分野
本発明はセラミンク基板に所定のパターンで形成された
メタライズ層を選択的に無電解金属メンキする方法の改
良に関する。
メタライズ層を選択的に無電解金属メンキする方法の改
良に関する。
(bl 従来技術と問題点
電子管等の電子部品を形成する際には、セラミンク基板
に選択的に所定のパターンでメタライズ層を形成したス
テム等の部品が用いられている。
に選択的に所定のパターンでメタライズ層を形成したス
テム等の部品が用いられている。
このようなステムに付いて第1図の平面図を用いながら
説明する。
説明する。
図示するようにこのようなステムlは、円板状のセラミ
ンク基板2の所定の箇所に貫通孔3が設けられ、その貫
通孔3の内壁面に選択的にモリブデン(Mo)−マンガ
ン(Mn)とセラミックが反応して形成されたメタライ
ズ層4が設けられた形を −とっており、このステム1
の貫通孔3に電子管の金属電極(図示せず)を挿通し、
この金属電極とメタライズ層4とを、金ろう等の金属ろ
うを用いて、ろう接法によって封止して組み立てる方法
が取られている。
ンク基板2の所定の箇所に貫通孔3が設けられ、その貫
通孔3の内壁面に選択的にモリブデン(Mo)−マンガ
ン(Mn)とセラミックが反応して形成されたメタライ
ズ層4が設けられた形を −とっており、このステム1
の貫通孔3に電子管の金属電極(図示せず)を挿通し、
この金属電極とメタライズ層4とを、金ろう等の金属ろ
うを用いて、ろう接法によって封止して組み立てる方法
が取られている。
このように所定のパターンに選択的にメタライズ層が形
成されたステムのような電子管の組立部品を形成するに
は、円板状のセラミンク基板上にマスクを用いながらM
oとMnとを所定量樹脂に熔解させた金属ペーストを塗
布し、その後このセラミック基板を、純水の甲を通過さ
せた水素ガス雰囲気内で1400℃の温度で所定時間加
熱して、金属ペーストをセラミック基板に焼結させて所
定のパターンのメタライズ層を形成する。
成されたステムのような電子管の組立部品を形成するに
は、円板状のセラミンク基板上にマスクを用いながらM
oとMnとを所定量樹脂に熔解させた金属ペーストを塗
布し、その後このセラミック基板を、純水の甲を通過さ
せた水素ガス雰囲気内で1400℃の温度で所定時間加
熱して、金属ペーストをセラミック基板に焼結させて所
定のパターンのメタライズ層を形成する。
次いでこのメタライズ層が形成されているセラミック基
板をバラジュウム(Pd)を熔解した活性化溶液に浸漬
し、メタライズ層が形成されている部分に後のメッキ工
程でメッキされる金属膜の結晶核となるようなPdを付
着させ、このメタライズ層が他のセラミック基板の領域
よりも、後のメッキ工程に於いて、より選択的にメッキ
されやすくする、いわゆる活性化処理を施す。
板をバラジュウム(Pd)を熔解した活性化溶液に浸漬
し、メタライズ層が形成されている部分に後のメッキ工
程でメッキされる金属膜の結晶核となるようなPdを付
着させ、このメタライズ層が他のセラミック基板の領域
よりも、後のメッキ工程に於いて、より選択的にメッキ
されやすくする、いわゆる活性化処理を施す。
次いでこのように活性化処理を施されたセラミック基板
を硼素(B)を還元剤として添加した市販のニッケル無
電解メッキ液中に浸漬し、活性化処理されたメタライズ
層の部分に選択的にニッケルメッキを施し、このニッケ
ルメッキを施すことで、後の工程でメタライズ層にろう
接作業を行う際に、ろう接が確実に行われるようにして
いた。
を硼素(B)を還元剤として添加した市販のニッケル無
電解メッキ液中に浸漬し、活性化処理されたメタライズ
層の部分に選択的にニッケルメッキを施し、このニッケ
ルメッキを施すことで、後の工程でメタライズ層にろう
接作業を行う際に、ろう接が確実に行われるようにして
いた。
ところで従来のこのような方法においては、メタライズ
層を形成する際に、後のろう接工程でろう接されるべき
メタライズ層の部分が、ろう接によって150Kg /
crAの応力が働いても、ろう接した箇所が歪まないよ
うにするため、前述したようにセラミック基板にメタラ
イズ層を形成する時には、水分を含有したウェット状の
水素ガス雰囲気内で熱処理し、マンガンアルミニュウム
スピネル(Mn〜204)のようなセラミックとメタラ
イズすべき金属との中間生成物層を、セラミック基板の
表面にのみ焼結形成するだけでなく、基板の内部に深く
焼結形成する必要がある。
層を形成する際に、後のろう接工程でろう接されるべき
メタライズ層の部分が、ろう接によって150Kg /
crAの応力が働いても、ろう接した箇所が歪まないよ
うにするため、前述したようにセラミック基板にメタラ
イズ層を形成する時には、水分を含有したウェット状の
水素ガス雰囲気内で熱処理し、マンガンアルミニュウム
スピネル(Mn〜204)のようなセラミックとメタラ
イズすべき金属との中間生成物層を、セラミック基板の
表面にのみ焼結形成するだけでなく、基板の内部に深く
焼結形成する必要がある。
然し、このように水分を含有した水素ガス雰囲気で、ペ
ースト状の金属パターンが塗布されたセラミック基板を
熱処理すると、この形成されるメタライズ層の部分が酸
化され、その結果メタライズ層が形成されたセラミック
基板の活性化処理を長時間行う必要が生じ、そのためメ
タライズ層のみでなく、メタライズ層が形成されていな
いセラミック基板の部分まで活性化処理され、そのため
選択的にメタライズ層にニッケルメッキができないとい
った問題点を生じる。またこのように長時ぽ活性化処理
を施されたセラミンク基板を、ニッケル無電解メッキ液
に浸漬すると、メタライズ層の表面に付着しているPd
がメッキ液内に入り込み、メッキ液の寿命が短くなる問
題点が生じる。
ースト状の金属パターンが塗布されたセラミック基板を
熱処理すると、この形成されるメタライズ層の部分が酸
化され、その結果メタライズ層が形成されたセラミック
基板の活性化処理を長時間行う必要が生じ、そのためメ
タライズ層のみでなく、メタライズ層が形成されていな
いセラミック基板の部分まで活性化処理され、そのため
選択的にメタライズ層にニッケルメッキができないとい
った問題点を生じる。またこのように長時ぽ活性化処理
を施されたセラミンク基板を、ニッケル無電解メッキ液
に浸漬すると、メタライズ層の表面に付着しているPd
がメッキ液内に入り込み、メッキ液の寿命が短くなる問
題点が生じる。
(C1発明の目的
本発明は上記した問題点を除去し、水分を含有した水素
ガス雰囲気内でメタライズ層を形成したセラミック基板
を還元性雰囲気で熱処理し、もってメタライズ層の表面
に形成されているメタライズ層を形成する金属の酸化物
膜を除去し、メタライズ層の活性化処理に要する時間を
短縮させ、金属メッキを施すべきメタライズ層の部分と
メタライズ層を除く他のセラミック基板との間に於いて
、ノブキ層が析出する析出マージンが大きく取れるよう
にした新規なセラミック基板のメッキ方法の提供を目的
とするものである。
ガス雰囲気内でメタライズ層を形成したセラミック基板
を還元性雰囲気で熱処理し、もってメタライズ層の表面
に形成されているメタライズ層を形成する金属の酸化物
膜を除去し、メタライズ層の活性化処理に要する時間を
短縮させ、金属メッキを施すべきメタライズ層の部分と
メタライズ層を除く他のセラミック基板との間に於いて
、ノブキ層が析出する析出マージンが大きく取れるよう
にした新規なセラミック基板のメッキ方法の提供を目的
とするものである。
(d) 発明の構成
かかる目的を達成するための本発明のセラミック基板の
メッキ方法は、メタライズ層が所定のパターンに形成さ
れているセラミック基板に、前記メタライズ層が選択的
に金属メッキできるような活性化処理を施し、該活性化
処理を施したセラミック基板をメッキ液に浸漬させて、
前記セラミック基板のメタライズ層を選択的に金属メッ
キする方法に於いて、前記活性化処理を施す以前のセラ
ミック基板を、あらかじめ還元性ガス雰囲気内で加熱処
理することを特徴とする le) 発明の実施例 以下図面を用いながら本発明の一実施例につき詳細に説
明する。
メッキ方法は、メタライズ層が所定のパターンに形成さ
れているセラミック基板に、前記メタライズ層が選択的
に金属メッキできるような活性化処理を施し、該活性化
処理を施したセラミック基板をメッキ液に浸漬させて、
前記セラミック基板のメタライズ層を選択的に金属メッ
キする方法に於いて、前記活性化処理を施す以前のセラ
ミック基板を、あらかじめ還元性ガス雰囲気内で加熱処
理することを特徴とする le) 発明の実施例 以下図面を用いながら本発明の一実施例につき詳細に説
明する。
第2図より第5図までは、本発明のセラミック基板の選
択メッキ方法を説明するための説明図である。前記した
第1図に示すようにステムlを形成すべきセラミック基
板2にマスク等を用いてM。
択メッキ方法を説明するための説明図である。前記した
第1図に示すようにステムlを形成すべきセラミック基
板2にマスク等を用いてM。
とMnを所定量混合してこれを熔解した樹脂よりなる金
属ペーストを、形成すべきメタライズ層のパターンに対
応して、所定のパターンとなるように塗布する。ついで
第2図に示すようにこの金属ペーストを塗布したセラミ
ック基板2を、Mo製の設置治具11に設置した状態で
反応管12内に挿入し、脱イオン水13の中を通過させ
た水素ガスを、ガス供給管14より反応管12内に導入
しながら、加熱炉15の温度を1400°Cに設定して
、セラミック基板2を20分間加熱して、セラミック基
板2に金属パターンを焼結させて所定パターンのメタラ
イズ層を形成する。
属ペーストを、形成すべきメタライズ層のパターンに対
応して、所定のパターンとなるように塗布する。ついで
第2図に示すようにこの金属ペーストを塗布したセラミ
ック基板2を、Mo製の設置治具11に設置した状態で
反応管12内に挿入し、脱イオン水13の中を通過させ
た水素ガスを、ガス供給管14より反応管12内に導入
しながら、加熱炉15の温度を1400°Cに設定して
、セラミック基板2を20分間加熱して、セラミック基
板2に金属パターンを焼結させて所定パターンのメタラ
イズ層を形成する。
次いで第3図に示すようにこのようにして形成した七ラ
ミック基板2を治具11に設置した状態で反応管12内
に挿入し、ガス供給管14より露点が、−60℃の水素
ガスを反応管12内に導入し、加熱炉15の温度を80
0℃に設定して5分間加熱処理する。
ミック基板2を治具11に設置した状態で反応管12内
に挿入し、ガス供給管14より露点が、−60℃の水素
ガスを反応管12内に導入し、加熱炉15の温度を80
0℃に設定して5分間加熱処理する。
この水分を含有しない乾燥した水素ガスを用いて、メタ
ライズ層を形成したセラミック基板を、再加熱処理する
点が従来の方法と異なる点で、この処理によってメタラ
イズ層を形成する工程で、水分を含んだ水素ガスにより
メタライズ層の上に形成された、メタライズ層形成用の
金属の酸化物膜が還元されて除去でき、次の活性化処理
の工程でメッキされるべきメタライズ層の上がメタライ
ズ層以外の他のセラミック基板の上よりメッキ層が析出
しやすくなる析出マージンが大きくとれる。
ライズ層を形成したセラミック基板を、再加熱処理する
点が従来の方法と異なる点で、この処理によってメタラ
イズ層を形成する工程で、水分を含んだ水素ガスにより
メタライズ層の上に形成された、メタライズ層形成用の
金属の酸化物膜が還元されて除去でき、次の活性化処理
の工程でメッキされるべきメタライズ層の上がメタライ
ズ層以外の他のセラミック基板の上よりメッキ層が析出
しやすくなる析出マージンが大きくとれる。
次いで第4図に示すように、前記処理したセラミック基
板2を、Pdを含有した活性化溶液21の中に浸漬した
後水洗する。このようにすれば、メタライズ層を形成し
た部分が還元処理されているのでPdが被着しやすく、
そのため前記した析出マージンが大きくとれる。
板2を、Pdを含有した活性化溶液21の中に浸漬した
後水洗する。このようにすれば、メタライズ層を形成し
た部分が還元処理されているのでPdが被着しやすく、
そのため前記した析出マージンが大きくとれる。
次いで第5図に示すように、このように活性化処理した
セラミンク基板2を治具22に設置した状態で、Bを還
元剤として添加したNi無電解メッキ液23に30分間
浸漬して、Niメッキをセラミック基板2のメタライズ
層の部分に施す。
セラミンク基板2を治具22に設置した状態で、Bを還
元剤として添加したNi無電解メッキ液23に30分間
浸漬して、Niメッキをセラミック基板2のメタライズ
層の部分に施す。
(f) 発明の効果
以上述べたような本発明のセラミック基板の選択メッキ
方法によれば、Niメッキを施すべきメタライズ層の部
分と、Niメッキを必要としない他のセラミック基板の
部分との間で、Niメッキの析出マージンが大きく取れ
るので、Niメッキを必要とするメタライズ層の部分の
み、選択的にNiメッキができる効果がある。また活性
化処理に要する時間が短くて済むので、活性化処理によ
りメタライズ層の上に付着するPdの量が少なくなり、
そのためこのPdによってNiメッキ液の寿命が短くな
るのが避けられる。また活性化処理がメタライズ層の上
に均等に行われるので、各所定パターンのメタライズ層
の上に均一な厚さでNiメッキを行うことができる。ま
た本発明の方法は、ステムより更に微細な独立したメタ
ライズ層のパターンを有するシールコネクタ等を形成す
る時に更に効果を発揮する。
方法によれば、Niメッキを施すべきメタライズ層の部
分と、Niメッキを必要としない他のセラミック基板の
部分との間で、Niメッキの析出マージンが大きく取れ
るので、Niメッキを必要とするメタライズ層の部分の
み、選択的にNiメッキができる効果がある。また活性
化処理に要する時間が短くて済むので、活性化処理によ
りメタライズ層の上に付着するPdの量が少なくなり、
そのためこのPdによってNiメッキ液の寿命が短くな
るのが避けられる。また活性化処理がメタライズ層の上
に均等に行われるので、各所定パターンのメタライズ層
の上に均一な厚さでNiメッキを行うことができる。ま
た本発明の方法は、ステムより更に微細な独立したメタ
ライズ層のパターンを有するシールコネクタ等を形成す
る時に更に効果を発揮する。
第1図はステムの平面図、第2図より第5図までは本発
明の方法の工程を説明するための説明図である。 図に於いて1はステム、2はセラミック基板、3は貫通
孔、4はメタライズ層、11.22は治具、12は反応
管、13は純水、14はガス供給管、15は加熱炉、2
1は活性化溶液、23はNiメッキ液を示す。 第1図 第21!1 5 第3図 5
明の方法の工程を説明するための説明図である。 図に於いて1はステム、2はセラミック基板、3は貫通
孔、4はメタライズ層、11.22は治具、12は反応
管、13は純水、14はガス供給管、15は加熱炉、2
1は活性化溶液、23はNiメッキ液を示す。 第1図 第21!1 5 第3図 5
Claims (1)
- メタライズ層が所定のパターンに形成されているセラミ
ック基板に、前記メタライズ層が選択的に金属メッキで
きるような活性化処理を施し、該活性化処理を施したセ
ラミック基板をメッキ液に浸漬させて、前記セラミンク
基板のメタライズ層を選択的に金属メッキする方法に於
いて、前記活性化処理を施す以前のセラミック基板を、
あらかじめ還元性ガス雰囲気内で加熱処理することを特
徴とするセラミック基板の選択メッキ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6227684A JPS60206084A (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | セラミツク基板の選択メツキ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6227684A JPS60206084A (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | セラミツク基板の選択メツキ方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60206084A true JPS60206084A (ja) | 1985-10-17 |
| JPH0251271B2 JPH0251271B2 (ja) | 1990-11-06 |
Family
ID=13195451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6227684A Granted JPS60206084A (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | セラミツク基板の選択メツキ方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60206084A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS555275A (en) * | 1979-03-14 | 1980-01-16 | Kobe Steel Ltd | Rotary type travel time shearing machine |
-
1984
- 1984-03-29 JP JP6227684A patent/JPS60206084A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS555275A (en) * | 1979-03-14 | 1980-01-16 | Kobe Steel Ltd | Rotary type travel time shearing machine |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0251271B2 (ja) | 1990-11-06 |
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