JPS60211021A - 焼結鉱の焼結制御方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、焼結鉱の焼結制御方法に係り、詳しくは、
焼結鉱原料内の粒度分布を詳細にめて焼結鉱原料の焼結
制御を行なう焼結鉱の焼結制御方法に関するものである
。

焼結機により製鉄原料である焼結鉱を製造する場合、焼
結機のパレット内における原料の粒度分布は、焼結鉱成
品性状に影響を与えるファクターである。すなわち、原
料の粗粒分がパレット内原料層の下層へ、細粒分が上層
へ偏在する原料層高さ方向の粒度偏析は、原料内の通気
性に影響を与えて、原料の焼成過程の熱履歴を大きく左
右し、強度、還元粉化性、還元率といった焼結鉱品質を
支配する。また、原料の粗粒分、細粒分がＡ？レット内
幅方向に偏在する原料層幅方向の粒度偏析は、原料の焼
むらを生じ、焼結鉱品質一般を低下して歩留シを低下さ
せ、操業に悪影響を与える。

このようなことから、従来から、パレット内原料の粒度
分布を測定し、粒度偏析を調べて、焼結鉱の焼結制御を
行なうことが行なわれている。

従来、この粒度分布は次のようにして測定されている。

（１）焼結機を停止して、・ぐレットの進行および原料
の装入を止め、人が原料装入部へ入って・やレット内に
装入された原料をサンプリングし、その粒度を測定して
、粒度偏析を調べる。（２）パレットに原料が装入さｎ
る前にパレットにサンゾラーヲ載置して、パレットへの
原料装入時にサングラ−に原料を装入させ、次いで原料
装入部と点火炉の間で、クレーンでサンシラーをパレッ
トから引き上げて回収し、サングラ−内の原料の粒度を
測定して、原料層高さ方向での粒度偏析を調べる。

しかし、（１）の方法は、（ａ）焼結機を停止するため
に操業が乱れ、製造効率が悪化する、伽）サンプリング
に人手を要す、（ｅ）サンプリングした原料を乾燥し、
篩いで篩分けて粒度を測定するので、粒度の測定に手間
がかかり、１日に１回の割り合いでしか測定ができない
といった欠点がある。また、（２）の方法は、（ａ）原
料層のサンプリング箇所が少ない、（ｂ）粒度の測定が
（１）の方法と同じなので、１日に１回の割り合いでし
か測定ができないといった欠点がある。

従って、従来の焼結制御方法では、粒度分布が詳しくめ
られてないので、そのために、良好な焼結制御を行なう
ことが困難であった。

この発明は、上述の現状に鑑み、焼結鉱原料のノやレッ
ト内での粒度分布を詳しくめて焼結制御を行なう、焼結
鉱の焼結制御方法を提供するもので、サージホッパーか
ら焼結機のパレット内に装入される焼結鉱原料の装入過
程を、高速度テレビカメラによって撮像して、前記パレ
ット内における前記原料の粒度分布をめ、このようにし
てめられた粒度分布に基づいて、前記サージホッパー下
方の分割Ｐ−）の開度、前記サージホッパー下方のスロ
ーピングシュートの角度等の原料装入制御要素を変更し
て、前記パレット内における前記原料の粒度分布を調整
し、かくして、前記原料の焼結制御を行なうことに特徴
を有する。

以下、この発明の実施例を図面に基づき詳述する。第１
図は、この発明の焼結鉱の焼結制御方法を説明するため
の説明図、第２図は、第１図のＡ−Ａ線矢視図である。

第１〜２図において、１は焼結機のサージホッパー２か
ら切出されて／’Ｐツクレット３内入される焼結鉱原料
４の装入過程を撮像するための高速度テレビカメラで、
高速度テレビカメラｌは、サージホッパ−２の手前にノ
４？レット３の幅方向に３台設置され、ツクレット３内
の原料層の幅方向側面を視野に収めている。

原料４は、ロールフィーダー５によってサージホラ・ぐ
−２下部の分割ｆ　−）　６から切出されて、スローピ
ングシュート７に沿って落下した後、矢視の向きに進行
するパレット３内の原料４の層の表面に沿って落下して
、パレット３内に堆積する。

原料４が原料層の表面に沿って落下するときにはずり落
ちるので、落下速度は遅くなるが、それでも０．２〜１
　ｍ１ｓｅｃ程度の速度がある。そのために、原料層の
表面を落下する原料４を通常のテレビカメラで撮像して
も、原料４の粒子の形状、大きさまではわからない。従
って、ノ臂レット３内の原料層の表面に沿って落下する
原料４の装入過程を撮像して、パレット３内での原料４
の粒度分布を測定するためには、高速度テレビカメラ１
を用いることを要する。なお、第１図において８はパレ
ット３内に装入された原料４の上部をならすカットオフ
プレートである。

高速度テレビカメラ１によって原料４の装入過程を撮像
した画像信号は、画像処理装置９によって画像処理され
、これにより、例えば第３図、（ａ）　。

（ｂ）に示すような、パレット３内における原料４の粒
度分布がめられる。ここで、第３図（ａ）は、原料層高
さ方向の粒度分布をめたもので、ａ−ｄの分布帯は、原
料４の平均粒度（Ｍ、Ｓ、）がａ：３簡以上、ｂ＝３〜
１■、ｃ：１〜０．５Ｗ１ｄ：ｏ、５閣以下となってい
る。また、第３図（ｂ）は、原料層高さ方向を３つに分
け、原料層幅方向を４つに分けて、原料層を１５のブロ
ックとし、各ブロックの平均粒度ＸＩ　”　ｘｔｓをめ
たものである。

このような平均粒度Ｘ、〜ＸＩ５から、例えば原料上層
（ＸＩ　＋　Ｉ４　ｙ　Ｘｙ　＋　Ｘ＋ｏ　、Ｘ＋ｓ　
）　、原料中層（Ｉ２゜ｘｓ　ｌ　ｘｇ　ｊ　ＸＩｔ　
＋　ＸＩ４　）　ｓ原料下層（Ｉ３１　ｘａ　ｌ　Ｘｌ
ｌ　＋ＸＩ２　ｓ　ｘｌＩｌ）毎に、平均値マ、偏析の
程度（標準偏差）σをめて、原料層幅方向の偏析を指数
化する。また、例えば上層、中層、下層の平均粒度ＸＩ
　ｌＸ２　ｌＸ３に対して、（Ｘｓ　−ＸＩ　）／ｘ２
をめて、原料層高さ方向の偏析を指数化する。

以上のようにしてパレット内における原料の粒度分布が
められたならば、焼結鉱製造の操業解析によって得られ
た最適粒度分布と比較し、アクション手段（原料装入制
御要素）を変更して、原料がノやレット内に最適の粒度
分布で装入されるように調整することによって、焼結制
御をする。原料層高さ方向の粒度分布を調整するには、
スローピングシュートの角Ｕ、スローピングシューとロ
ールフィーダーとの相対的位置、ロールフィーダー回転
数などを変更する。原料層幅方向の粒度分布の調整は、
幅方向での偏析をなくす均一化制御となるが、これは、
分割ダートの開度の調整によって行なわれる。また、ス
ローピングシュートニ原料が固着すると幅方向の偏析の
原因となるので、スローピングシュートの清掃も有効で
ある。

なお、測定された粒度分布のデータは蓄積して、操業解
析によって最適の粒度分布をめるのに使用されることは
勿論である。

との発明の焼結鉱の焼結制御方法は以上のように構成さ
れるので、次のような効果がある。（１）原料の装入過
程を高速度テレビカメラで撮像して、Ａ？レット内での
原料の粒度分布をめるので、原料層高さ方向、幅方向の
全面に亘って詳しく粒度分布を識って、焼結制御ができ
る。（２）従来のように１日に１回程度でなく、数分間
に１回の割９合いで粒度分布をめられるので、サンプリ
ングによるバラツキをなくして、焼結制御ができる。（
３）時間の経過と共に偏析の状況がどのように変化して
いるかがわかるので、制御のアクションが即座にとれる
。（４）粒度分布をめるのに人手や手間がかからない。

（５）粒度分布を詳しくめて焼結制御するので、良好な
焼結制御ができる。

【図面の簡単な説明】

法で用いる高速度テレビカメラで得られた原料の粒度分
布を示す図である。図面において、ｌ・・・高速度テレ
ビカメラ、 ２・・・サーソホツノ＋−，３・・・パレット、４・・
・ｉ料、　５・・・ロールフィーダー、６・・・分割ケ
゛−ト、 ７・・・スローピングシュート、 ８・・・カットオフプレート、 ９・・・画像処理装置。 出願人　日本鋼管株式会社 代理人　潮谷　奈津夫（他２名） 棄１図 第３図 （ａ） 輻夕向 （ｂ） すｉ方ｎη

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. サージホッパーから焼結機のパレット内に装入される焼
   結鉱原料の装入過程を、高速度テレビカメラによって撮
   像して、前記／ｆレット内における前記原料の粒度分布
   をめ、このようにしてめられた粒度分布に基づいて、前
   記サージホッパー下部の分割ケ°−トの開度、前記サー
   ジホッパー下方のスローピングシュートの角度等の原料
   装入制御要素を変更して、前記Ａ？レット内における前
   記原料の粒度分布を調整し、かくして、前記原料の焼結
   制御を行なうことを特徴とする焼結鉱の焼結制御方法。