JPS60212846A - 情報記録再生針の製造方法 - Google Patents
情報記録再生針の製造方法Info
- Publication number
- JPS60212846A JPS60212846A JP59070207A JP7020784A JPS60212846A JP S60212846 A JPS60212846 A JP S60212846A JP 59070207 A JP59070207 A JP 59070207A JP 7020784 A JP7020784 A JP 7020784A JP S60212846 A JPS60212846 A JP S60212846A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- needle
- width
- resistance
- polishing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B9/00—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor
- G11B9/06—Recording or reproducing using a method not covered by one of the main groups G11B3/00 - G11B7/00; Record carriers therefor using record carriers having variable electrical capacitance; Record carriers therefor
- G11B9/07—Heads for reproducing capacitive information
- G11B9/075—Heads for reproducing capacitive information using mechanical contact with record carrier, e.g. by stylus
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B3/00—Recording by mechanical cutting, deforming or pressing, e.g. of grooves or pits; Reproducing by mechanical sensing; Record carriers therefor
- G11B3/44—Styli, e.g. sapphire, diamond
- G11B3/56—Sharpening
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は情報信号が凹凸の変化として記録はれた円盤全
゛走査し、前記凹凸全電気容量の変化として再生する静
電容量方式の情報信号再生針の製造方法に関する。
゛走査し、前記凹凸全電気容量の変化として再生する静
電容量方式の情報信号再生針の製造方法に関する。
従来例の構成とその問題点
高密度情報記録媒体の一つとして静電容量方式のビデオ
ディスクが提案され、数多くの形状の前記静電容量方式
の再生針（以下再生針と称す）が考えられている。電極
の先端部分が略平行かつ所定の長さを有する再生針がそ
の−９１ｊとして提案σれ特開昭６７−１１３４３”Ｎ
て開示これている。
ディスクが提案され、数多くの形状の前記静電容量方式
の再生針（以下再生針と称す）が考えられている。電極
の先端部分が略平行かつ所定の長さを有する再生針がそ
の−９１ｊとして提案σれ特開昭６７−１１３４３”Ｎ
て開示これている。
微小間隔で渦巻状に記録される情報信号を検出する再生
針の′電極幅は実験により０．５μｍ〜１．２μ山の範
囲で安定し良好な画質が得られることが確認されており
非常に精密に測定して管理する必要がある。従来前記電
極幅の測定手段として光学顕微鏡か光学顕微喫と高精細
度テレピンステムが使用されていた。前記測定方法で１
μｍ前凌の電極幅を０．１μｍ単位で測定する事は、困
難かつ測定に多大の熟練を要すると共に実用上十分な測
定精度は得られない。
針の′電極幅は実験により０．５μｍ〜１．２μ山の範
囲で安定し良好な画質が得られることが確認されており
非常に精密に測定して管理する必要がある。従来前記電
極幅の測定手段として光学顕微鏡か光学顕微喫と高精細
度テレピンステムが使用されていた。前記測定方法で１
μｍ前凌の電極幅を０．１μｍ単位で測定する事は、困
難かつ測定に多大の熟練を要すると共に実用上十分な測
定精度は得られない。
発明の目的
本発明は以上に述べた問題を解決し、区極幅街：ｊ定精
度の向上を図り、研磨効率の向上４図ることのできる情
報信号再生針の製造方法全提供するものである。
度の向上を図り、研磨効率の向上４図ることのできる情
報信号再生針の製造方法全提供するものである。
発明の構成
非導電材よりなる錐状の針基体の測面の一部に電極を設
け、前記針基体の先端部に所定幅の電極を形成せしめる
以前、いわゆる未完成の状態で情報信号検出装置に取り
つけ前記針基体の電極抵抗を測定し、該抵抗値を該電極
部幅に対応せしめて研磨を行い、略−足幅の電極全形成
せしめる事で電極幅測定精度の向上を図り、研磨効率の
向上を可能ならしめるものである。
け、前記針基体の先端部に所定幅の電極を形成せしめる
以前、いわゆる未完成の状態で情報信号検出装置に取り
つけ前記針基体の電極抵抗を測定し、該抵抗値を該電極
部幅に対応せしめて研磨を行い、略−足幅の電極全形成
せしめる事で電極幅測定精度の向上を図り、研磨効率の
向上を可能ならしめるものである。
実施例の説明
以下、本発明を実施例を示す図面に基づいて説明する。
第１図に特開昭５７−１１３４３７号公報に開示される
電極の先端部分が略平行かつ所定の長σを有する再生針
の一例を示す。該再生針は第２図に一例として示される
如き、側面の一部に電極２を有する比較的加工容易な三
角錐状針基体１を情報信号検出製置（以Ｆピックアンプ
と称す）の再生針保宵体（以下カンチレバーと称す）に
固定して第３図に示される如き両側面が略平行で底部が
平坦な研磨溝６全有する研磨盤６を用いて電極部２ａを
形成する。
電極の先端部分が略平行かつ所定の長σを有する再生針
の一例を示す。該再生針は第２図に一例として示される
如き、側面の一部に電極２を有する比較的加工容易な三
角錐状針基体１を情報信号検出製置（以Ｆピックアンプ
と称す）の再生針保宵体（以下カンチレバーと称す）に
固定して第３図に示される如き両側面が略平行で底部が
平坦な研磨溝６全有する研磨盤６を用いて電極部２ａを
形成する。
第１図において３ａ、３ｂ及び４ａ、４ｂの各面は研磨
溝５の側壁に押圧して研磨除去して得られる面であり、
電極部２２Ｌの電極幅ケ測焦しながら研磨除去して所定
値１’を得る。
溝５の側壁に押圧して研磨除去して得られる面であり、
電極部２２Ｌの電極幅ケ測焦しながら研磨除去して所定
値１’を得る。
以下第４図及び第６図を用いて電極抵抗の測定方法の一
例及び電極抵抗と電極幅の関係を説明する。
例及び電極抵抗と電極幅の関係を説明する。
第４図において７は再生針１を電極抵抗検出部材１６に
接触せしめる針圧印加用電磁コイル、８は再生針１とコ
ンタクト部材１０との電気的導通を得るフライリード、
９はピックアップ筐体、１０はフライリード８と導通を
得るコンタクト部材、１１は測定ベース、１２は針圧印
加用磁石、１３は再生針を保持するカンチレバー、１４
、ｑカンチレバーの回転中心、１５は再生計１の電極抵
抗を検出する電極抵抗検出部材、１６は抵抗計、１７ａ
。
接触せしめる針圧印加用電磁コイル、８は再生針１とコ
ンタクト部材１０との電気的導通を得るフライリード、
９はピックアップ筐体、１０はフライリード８と導通を
得るコンタクト部材、１１は測定ベース、１２は針圧印
加用磁石、１３は再生針を保持するカンチレバー、１４
、ｑカンチレバーの回転中心、１５は再生計１の電極抵
抗を検出する電極抵抗検出部材、１６は抵抗計、１７ａ
。
１７ｂはコンタクト部材１ｏ及び電極抵抗検出部材１６
と抵抗計１６の電気的導通を得る導線材を示す。又１は
抵抗測定時の再生針を示す。
と抵抗計１６の電気的導通を得る導線材を示す。又１は
抵抗測定時の再生針を示す。
研磨途中の再生針１の電極抵抗は再生針１を固定したカ
ンチレバー１３を取付けたピンクアップ２体９を測定ベ
ース１１に設置してフライリード８と測定ベース１１に
固定されるコンタクト部材１０を接触せしめる。
ンチレバー１３を取付けたピンクアップ２体９を測定ベ
ース１１に設置してフライリード８と測定ベース１１に
固定されるコンタクト部材１０を接触せしめる。
しかる後に設置時に磁石１２の上方に位置する針圧印加
用電磁コイル７に直流電圧？印加して再生針１を電極抵
抗検出部材１５に接触せしめて、フライリード８を介す
る再生針１の電極抵抗がコンタクト部材１ｏ及び電極抵
抗検出部材１５の間に接続される抵抗計１７で測定され
る。
用電磁コイル７に直流電圧？印加して再生針１を電極抵
抗検出部材１５に接触せしめて、フライリード８を介す
る再生針１の電極抵抗がコンタクト部材１ｏ及び電極抵
抗検出部材１５の間に接続される抵抗計１７で測定され
る。
再生針１の電極部２ａと電極抵抗検出部材１５との接触
位置、すなわち電極抵抗の測定位置は針圧印加用電磁コ
イル７に印加する直流電圧の値で変化し、直流電圧ケー
趙にして電極部の電極抵抗検出部材１５との接触圧を一
定に保つことで同一位置の電極抵抗が測定でき、電極抵
抗検出部材１５としては表面ヲ説面に仕上げた比較的低
硬度。
位置、すなわち電極抵抗の測定位置は針圧印加用電磁コ
イル７に印加する直流電圧の値で変化し、直流電圧ケー
趙にして電極部の電極抵抗検出部材１５との接触圧を一
定に保つことで同一位置の電極抵抗が測定でき、電極抵
抗検出部材１５としては表面ヲ説面に仕上げた比較的低
硬度。
低抵抗率の金属（例えば金、黄銅）が好捷しく、再生針
とある一定の角度を有して電極抵抗検出部材１５と接す
るほうが測定誤差が小さくなる墨が実験的に確められて
いる。
とある一定の角度を有して電極抵抗検出部材１５と接す
るほうが測定誤差が小さくなる墨が実験的に確められて
いる。
電極材質の抵抗率をρ、電極長さをり、電極幅をｌ、電
極膜厚ｔ、 Ｌとした時の電極抵抗ＲはＲ＝（ρｘＬ）
／（４ｘｔ）で算出するが、電極長さしは研磨盤６の有
する研磨溝５の深ζで決定される。
極膜厚ｔ、 Ｌとした時の電極抵抗ＲはＲ＝（ρｘＬ）
／（４ｘｔ）で算出するが、電極長さしは研磨盤６の有
する研磨溝５の深ζで決定される。
電、極２の膜厚しは膜形成時に実用上問題・ｔい誤差内
に形成可能となり父、電極材質の抵抗率ρ（１一定なの
で前記３要因ｆ、７４とめてＫて表示するとに−（ρ×
Ｌ）／しとなる。
に形成可能となり父、電極材質の抵抗率ρ（１一定なの
で前記３要因ｆ、７４とめてＫて表示するとに−（ρ×
Ｌ）／しとなる。
従って前夫はＲ＝に／７！ となり、電極幅ｌと電極抵
抗Ｒの間に反比例関係が成立する。第５図に電極ｌｌ＠
ｌと電極抵抗Ｒの関係に示す。
抗Ｒの間に反比例関係が成立する。第５図に電極ｌｌ＠
ｌと電極抵抗Ｒの関係に示す。
第５図において、使用可能最小電極幅ケ１１゜最大電極
幅をβ２とし、各電極幅（ζ対応する電極抵抗値をそれ
ぞれＲ，、Ｒ２とする。第５図に示す如く、電極抵抗Ｒ
は所要電極幅近傍：・こおいて、急激に変化し、０．１
μｍ単位の微小変化が実用ト十分な電極抵抗の変化とし
て検出可能な事が実験的にも確められている。
幅をβ２とし、各電極幅（ζ対応する電極抵抗値をそれ
ぞれＲ，、Ｒ２とする。第５図に示す如く、電極抵抗Ｒ
は所要電極幅近傍：・こおいて、急激に変化し、０．１
μｍ単位の微小変化が実用ト十分な電極抵抗の変化とし
て検出可能な事が実験的にも確められている。
又、前記電極抵抗測定手段を用いて、電極幅が使用最大
電極幅以下、すなわち電極抵抗値において規定櫃以上に
なるまで、再生針研磨と電極幅の測戻ヲ自動的に父互に
繰り返す研磨が可能になる。
電極幅以下、すなわち電極抵抗値において規定櫃以上に
なるまで、再生針研磨と電極幅の測戻ヲ自動的に父互に
繰り返す研磨が可能になる。
発明の効果
本発明は以上に述べたように、ピックアップに取りつけ
た一側面に電極を有する三角錐状針基体を第３図に示さ
れる如き溝形状を有する研磨盤を用いて再生針として研
磨する工程において、＠配付基体の電極抵抗値をもって
電極幅に対応せしめて、電極幅測定精度の向上ヲ閲り、
研磨効率の向上を実現するものである。
た一側面に電極を有する三角錐状針基体を第３図に示さ
れる如き溝形状を有する研磨盤を用いて再生針として研
磨する工程において、＠配付基体の電極抵抗値をもって
電極幅に対応せしめて、電極幅測定精度の向上ヲ閲り、
研磨効率の向上を実現するものである。
第１図は再生針の一←１１の斜視図、第２図は三角錐状
針基体の一例の斜視図、第３図は研磨盤の断面図、第４
図は本発明の一実施クリの動作状態を示す断面図、第５
図は電極幅と電極抵抗の関係を示す相関図である。 １・・・・・再生針、８・・・・・・フライリード、９
・・・・ピックアップ筐体、１０・・・・コンタクト部
材、１１・・・・・・測定ベース、１２・・・・・針圧
印加用出石、１３・・・カンチレバー、１６・・・・電
極抵抗検出部材、１７ａ、１７ｂ・・・・・導線材。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第３
図 Ｓ ４ 図 ７８ｑ １１５ 竿５図
針基体の一例の斜視図、第３図は研磨盤の断面図、第４
図は本発明の一実施クリの動作状態を示す断面図、第５
図は電極幅と電極抵抗の関係を示す相関図である。 １・・・・・再生針、８・・・・・・フライリード、９
・・・・ピックアップ筐体、１０・・・・コンタクト部
材、１１・・・・・・測定ベース、１２・・・・・針圧
印加用出石、１３・・・カンチレバー、１６・・・・電
極抵抗検出部材、１７ａ、１７ｂ・・・・・導線材。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第３
図 Ｓ ４ 図 ７８ｑ １１５ 竿５図
Claims (1)
- 非導電材よりなる錐状の針基体の側面の一部に電極を設
けその先端部に所定幅の電極を形成せしめる以前、いわ
ゆる未完成の状態で情報信号検出装置に取りつけ前記針
基体の゛１極抵抗を計測し、前記抵抗値を該′電極部幅
に対応せしめて研磨を行い、略一定幅の電極を形成せし
める事を特徴とする情報１！鑵再生針の製造方法１．
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59070207A JPS60212846A (ja) | 1984-04-09 | 1984-04-09 | 情報記録再生針の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59070207A JPS60212846A (ja) | 1984-04-09 | 1984-04-09 | 情報記録再生針の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60212846A true JPS60212846A (ja) | 1985-10-25 |
Family
ID=13424844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59070207A Pending JPS60212846A (ja) | 1984-04-09 | 1984-04-09 | 情報記録再生針の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60212846A (ja) |
-
1984
- 1984-04-09 JP JP59070207A patent/JPS60212846A/ja active Pending
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