JPS60219651A - 光デイスク検査装置 - Google Patents
光デイスク検査装置Info
- Publication number
- JPS60219651A JPS60219651A JP59076043A JP7604384A JPS60219651A JP S60219651 A JPS60219651 A JP S60219651A JP 59076043 A JP59076043 A JP 59076043A JP 7604384 A JP7604384 A JP 7604384A JP S60219651 A JPS60219651 A JP S60219651A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mean value
- track
- reflected light
- value
- information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
- G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/005—Reproducing
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光学式情報処理を有する光デイスク検査装置
に関するものである。
に関するものである。
従来例の構成とその問題点
最近、光ディスクが大容量記録媒体として注目をあびて
いる。この光ディスクの反射率のばらつきを見るために
光ディスクの溝トラツク部の反射率を測定する必要があ
る０ 以下に従来の光デイスク検査装置について説明する。
いる。この光ディスクの反射率のばらつきを見るために
光ディスクの溝トラツク部の反射率を測定する必要があ
る０ 以下に従来の光デイスク検査装置について説明する。
第１図は従来の光デイスク検査装置の一例の概略図を示
手ものであり１、はレーザー光源で半導体レーザーより
なり一定光量のレーザー光を発光する。２はコリメータ
レンズでレーザー光源１からのレーザー光を平行光にす
る。３は偏光ビームスプリッタ、４は２／４ 波長板で
ある。６は対物レンズ、６は対物レンズ６をフォーカス
及びトラッキング方向に動作させる光学ピックアップで
あり、ボイスコイルモータ等の既知の駆動手段にて構成
される。７は第２図の様な構成で、予めディスク上に形
成された番地信号等のトラック情報信号（７−ａ）と情
報を記録再生する溝トラツク（７−ｂ ）から成る光デ
ィスク（以下ディスクと呼ぶ）である。８はハーフミラ
−でディスク７からの反射光を分割する。９は集光レン
ズ、１０は分割ミラーである。１１はフォーカス制御用
光検出器で２分割の光検出器より構成され、各々の光検
出器の差動出力にてフォーカス誤差信号を得る。
手ものであり１、はレーザー光源で半導体レーザーより
なり一定光量のレーザー光を発光する。２はコリメータ
レンズでレーザー光源１からのレーザー光を平行光にす
る。３は偏光ビームスプリッタ、４は２／４ 波長板で
ある。６は対物レンズ、６は対物レンズ６をフォーカス
及びトラッキング方向に動作させる光学ピックアップで
あり、ボイスコイルモータ等の既知の駆動手段にて構成
される。７は第２図の様な構成で、予めディスク上に形
成された番地信号等のトラック情報信号（７−ａ）と情
報を記録再生する溝トラツク（７−ｂ ）から成る光デ
ィスク（以下ディスクと呼ぶ）である。８はハーフミラ
−でディスク７からの反射光を分割する。９は集光レン
ズ、１０は分割ミラーである。１１はフォーカス制御用
光検出器で２分割の光検出器より構成され、各々の光検
出器の差動出力にてフォーカス誤差信号を得る。
１２はトラッキング制御用検出器でフォーカス制御用光
検出器１１と同様な構成にてトラッキング誤差信号を得
る。１３は光検出器でディスク７からの反射光を受光す
る０１４は検波器で光検出器１３の出力を検波し、エン
ベロープ出力する。
検出器１１と同様な構成にてトラッキング誤差信号を得
る。１３は光検出器でディスク７からの反射光を受光す
る０１４は検波器で光検出器１３の出力を検波し、エン
ベロープ出力する。
１６はサンプリングホールド回路である。１６はＡ／Ｄ
変換器で１６でサンプリングされた出力をディジタル信
号に変換する。１７はマイクロコンピュータ等で構成さ
れた信号処理部である。
変換器で１６でサンプリングされた出力をディジタル信
号に変換する。１７はマイクロコンピュータ等で構成さ
れた信号処理部である。
以上のように構成された従来の光デイスク検査装置につ
いて、昼下その動作について説明する。
いて、昼下その動作について説明する。
レーザー光源１から出たレーザー光はコリメータレンズ
２を通過して平行光となり偏光ビームスプリッタｓ ｔ
’／４ 波長板４を介し、対物レンズ６によりディス
ク７に形成された情報トラックに集光される。この時、
ディスク７の情報トラックは面振れ及び芯振れをともな
って回転しているので、所定の情報トラックにレーザー
光を集光させるため徒、後述するフォーカス誤差信号及
びトラッキング誤差信号に基づいた駆動電圧を光学ピッ
クアップ６に印加して対物レンズ６をフォーカス及びト
ラッキング方向に動作させ、レーザー光を所定のトラッ
クに追従させている。ディスク７からの反射光は入射光
路と逆光路をたどり、Ａ／４波長板４を２度通過するこ
とにより入射光と９０°偏光された光となり偏光ビーム
スプリッタ３を直進してハーフミラ−８に入いる。反射
光はハーフミラ−８によって２方向に分かれ、一方は集
光レンズ９に他方は光検出器１３に入射する。集光レン
ズ９を出た反射光は分割ミラー１０によって分割され、
一方はフォーカス制御用光検出器１１に集光され、他方
はトラッキング制御用光検出器１２に集光される。フォ
ーカス制御用光検出器１１及びトラッキング制御用光検
出器１２は２分割の光検出器より構成され、各々の光検
出器からの出力の差動を得ることによりフォーカス誤差
信号及びトラッキング誤差信号を作り出す。これらの誤
差信号を前述した光学ピックアップ６の駆動回路（図示
せず）にフィードバックすることによりフォーカス制御
及びトラッキング制御がなされる。一方、光検出器１３
は１個の光検出器より構成され、ディスク７の情報トラ
ックからの反射光量に比例した出力を得て、ディスク７
を１回転させてトラック情報信号の周波数よりも高い周
波数でサンプリングしその平均より反射率を測定する。
２を通過して平行光となり偏光ビームスプリッタｓ ｔ
’／４ 波長板４を介し、対物レンズ６によりディス
ク７に形成された情報トラックに集光される。この時、
ディスク７の情報トラックは面振れ及び芯振れをともな
って回転しているので、所定の情報トラックにレーザー
光を集光させるため徒、後述するフォーカス誤差信号及
びトラッキング誤差信号に基づいた駆動電圧を光学ピッ
クアップ６に印加して対物レンズ６をフォーカス及びト
ラッキング方向に動作させ、レーザー光を所定のトラッ
クに追従させている。ディスク７からの反射光は入射光
路と逆光路をたどり、Ａ／４波長板４を２度通過するこ
とにより入射光と９０°偏光された光となり偏光ビーム
スプリッタ３を直進してハーフミラ−８に入いる。反射
光はハーフミラ−８によって２方向に分かれ、一方は集
光レンズ９に他方は光検出器１３に入射する。集光レン
ズ９を出た反射光は分割ミラー１０によって分割され、
一方はフォーカス制御用光検出器１１に集光され、他方
はトラッキング制御用光検出器１２に集光される。フォ
ーカス制御用光検出器１１及びトラッキング制御用光検
出器１２は２分割の光検出器より構成され、各々の光検
出器からの出力の差動を得ることによりフォーカス誤差
信号及びトラッキング誤差信号を作り出す。これらの誤
差信号を前述した光学ピックアップ６の駆動回路（図示
せず）にフィードバックすることによりフォーカス制御
及びトラッキング制御がなされる。一方、光検出器１３
は１個の光検出器より構成され、ディスク７の情報トラ
ックからの反射光量に比例した出力を得て、ディスク７
を１回転させてトラック情報信号の周波数よりも高い周
波数でサンプリングしその平均より反射率を測定する。
第３図が１７で行われている信号処理のフローチャート
である。ディスク７を１回転させて１６でＮ回すンプリ
ングしその出力をＡ（１） 、 Ａ（２０、・・・・・
・Ａ（Ｎ）として取り込み、Ａ（１）＋Ａ（１＋・・・
・・・＋Ａ （Ｎ）をサンプリング回数Ｎで割ることに
より平均値Ｍを算出し、ディスクの反射光とする。
である。ディスク７を１回転させて１６でＮ回すンプリ
ングしその出力をＡ（１） 、 Ａ（２０、・・・・・
・Ａ（Ｎ）として取り込み、Ａ（１）＋Ａ（１＋・・・
・・・＋Ａ （Ｎ）をサンプリング回数Ｎで割ることに
より平均値Ｍを算出し、ディスクの反射光とする。
しかしながら、°上記の様な構成では、予めディスク上
に形成された番地信号等のトラック情報信号が本来必要
な溝トラツク部の反射光を混ってしまい、所望の反射率
が得られないという問題点を有していた。
に形成された番地信号等のトラック情報信号が本来必要
な溝トラツク部の反射光を混ってしまい、所望の反射率
が得られないという問題点を有していた。
発明の目的
本発明の目的は上記要望に基づき、溝トラツク部のみの
反射率を検出することができる光デイスク検査装置を提
供することにある。
反射率を検出することができる光デイスク検査装置を提
供することにある。
発明の構成
本発明の構成は、レーザー光源から発光したレーザー光
を光学系を介して光デイスク上に形成された情報トラッ
クからの反射光を光検出器で受光し、この反射光のうち
予めディスク上に形成された番地情報等のトラック情報
信号を除くために、前記情報トラックからの反射光をサ
ンプリングし □てすべてのトラック情報を取り込み、
その平均値を出し平均値より大きい信号または平均値よ
り小さい信号を除くことにより溝トラツク部のみの的確
な反射率を得るものである。
を光学系を介して光デイスク上に形成された情報トラッ
クからの反射光を光検出器で受光し、この反射光のうち
予めディスク上に形成された番地情報等のトラック情報
信号を除くために、前記情報トラックからの反射光をサ
ンプリングし □てすべてのトラック情報を取り込み、
その平均値を出し平均値より大きい信号または平均値よ
り小さい信号を除くことにより溝トラツク部のみの的確
な反射率を得るものである。
実施例の説明
本発明の実施例における光デイスク検査装置は第１図と
同様の構成で信号処理部１７の手法のみが異なり、第４
図がそのフローチャートである。
同様の構成で信号処理部１７の手法のみが異なり、第４
図がそのフローチャートである。
第４図において最初に初期条件に＝ｏ、Ｃ＝Ｏを設定し
、第３図と同様にして平均値Ｍ′を算出し、サンプリン
グした値（Ａ’（ｉ） 、 ｉ ＝１ 、２・・・・・
・Ｎ）と平均値Ｍ′を比較した後、平均値より大きい場
合はその値を零とし、平均値より大きい値の個数を変数
にでカウントしている。一方平均値以下の値の場合はそ
の値を順次加算し変数Ｃとしている。
、第３図と同様にして平均値Ｍ′を算出し、サンプリン
グした値（Ａ’（ｉ） 、 ｉ ＝１ 、２・・・・・
・Ｎ）と平均値Ｍ′を比較した後、平均値より大きい場
合はその値を零とし、平均値より大きい値の個数を変数
にでカウントしている。一方平均値以下の値の場合はそ
の値を順次加算し変数Ｃとしている。
サンプリングしたＮ個の値を平均値Ｍ／ とすべて比較
した後Ｃを平均値以下の値の個数（Ｎ−Ｋ）で割ること
により平均値りを算出し、ディスク７の反射光としてい
る。
した後Ｃを平均値以下の値の個数（Ｎ−Ｋ）で割ること
により平均値りを算出し、ディスク７の反射光としてい
る。
以上のように信号処理を行なうと予め形成された番地信
号等のトラック情報信号を除去でき溝トラツク部のみの
反射光を得ることができる。
号等のトラック情報信号を除去でき溝トラツク部のみの
反射光を得ることができる。
発明の効果
以上の様に本発明は光ディスクから反射されてくるレー
ザー光を取り込み、その平均をと９平均より大きい値を
取り除くことにより、溝トラツク部のみの反射光を得る
ことができるため、より的確な反射率を測定することが
でき、良好な光ディスクの検査が可能となり効果は大き
い。
ザー光を取り込み、その平均をと９平均より大きい値を
取り除くことにより、溝トラツク部のみの反射光を得る
ことができるため、より的確な反射率を測定することが
でき、良好な光ディスクの検査が可能となり効果は大き
い。
来例における信号処理部のフローチャート、第４図は本
発明の実施例における信号処理部のフローチャートであ
る。 １・・・・・・レーザー光源、２・・・・・・コリメー
タレンズ、３・・・・・・偏光ビームスプリッタ、４・
・・・・・λ／４波長板、５・・・・・・対物レンズ、
６・・・・・・光学ピックアップ、７・・・・・・光デ
ィスク、８・・・・・・ハーフミラ−１９・・・・・・
集光レンズ、１０・・・・・・分割ミラー、１１・・・
・・・フォーカス制御用光検出器、１２・・・・・・ト
ラッキング制御用光検出器、１３・・・・・・光検出器
、１４・・・・・・検波器、１６・・・・・・サンプリ
ングホールド回路、１６・・・・・・・・・Ａ／Ｄ変換
器、１７・・・・・・信号処理部。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２図 第３図 第４図
発明の実施例における信号処理部のフローチャートであ
る。 １・・・・・・レーザー光源、２・・・・・・コリメー
タレンズ、３・・・・・・偏光ビームスプリッタ、４・
・・・・・λ／４波長板、５・・・・・・対物レンズ、
６・・・・・・光学ピックアップ、７・・・・・・光デ
ィスク、８・・・・・・ハーフミラ−１９・・・・・・
集光レンズ、１０・・・・・・分割ミラー、１１・・・
・・・フォーカス制御用光検出器、１２・・・・・・ト
ラッキング制御用光検出器、１３・・・・・・光検出器
、１４・・・・・・検波器、１６・・・・・・サンプリ
ングホールド回路、１６・・・・・・・・・Ａ／Ｄ変換
器、１７・・・・・・信号処理部。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２図 第３図 第４図
Claims (1)
- （１） レーザー光源から発光したレーザー光を光学系
を介して光デイスク上に形成された情報トラックに照射
し、前記情報トラックからの反射光を光検出器で受光し
、この反射光のうち予めディスク上に形成された番地信
号等のトラック情報信号を除く手段として、前記情報ト
ラックからの反射光をサンプリングしてすべて取り込み
、その平均値を出し平均値より大きい信号または、平均
値より小さい信号を除くことを特徴とする光デイスク検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59076043A JPS60219651A (ja) | 1984-04-16 | 1984-04-16 | 光デイスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59076043A JPS60219651A (ja) | 1984-04-16 | 1984-04-16 | 光デイスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60219651A true JPS60219651A (ja) | 1985-11-02 |
Family
ID=13593766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59076043A Pending JPS60219651A (ja) | 1984-04-16 | 1984-04-16 | 光デイスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60219651A (ja) |
-
1984
- 1984-04-16 JP JP59076043A patent/JPS60219651A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6367549A (ja) | 光ディスク用レジスト原盤の欠陥検査及び膜厚測定装置 | |
| JPS60219651A (ja) | 光デイスク検査装置 | |
| JPH04353633A (ja) | 光ディスク装置のエラー信号生成装置 | |
| JPS60107749A (ja) | 光ディスク検査装置 | |
| JPS62291550A (ja) | 光デイスク検査装置 | |
| JPS61228332A (ja) | 光学的欠陥検査装置 | |
| JPH02193347A (ja) | 光磁気記録装置用光学ヘッド構造 | |
| JPS605440A (ja) | 光デイスク検査装置 | |
| JPS6213231Y2 (ja) | ||
| JPS62172536A (ja) | 光学的情報記録再生方法 | |
| JPS61931A (ja) | 光学式記録再生装置 | |
| JPS62174638A (ja) | 光記録媒体製造検査装置 | |
| JPH0883441A (ja) | 光ディスク原盤露光装置 | |
| JPH0589461A (ja) | 光学記録媒体の汚れ検出方法 | |
| JPS59150330A (ja) | 欠陥検出装置 | |
| JPH0569374B2 (ja) | ||
| JPS60258739A (ja) | フオ−カシング誤差検出装置 | |
| JPH0678949B2 (ja) | ミユ−ラ−行列測定装置 | |
| JPS6111941A (ja) | 光学式記録再生装置 | |
| JPS61230633A (ja) | 焦点位置検出装置 | |
| JPH05342676A (ja) | 光磁気ディスク検査装置 | |
| JPH01307024A (ja) | 光ディスク装置のフォーカスサーボ回路 | |
| JPH05334716A (ja) | 光ディスク記録再生装置 | |
| JPS60261044A (ja) | 光デイスク検査装置 | |
| JPH0366737B2 (ja) |