JPS60225006A - 長尺物体曲り検出装置 - Google Patents
長尺物体曲り検出装置Info
- Publication number
- JPS60225006A JPS60225006A JP8127984A JP8127984A JPS60225006A JP S60225006 A JPS60225006 A JP S60225006A JP 8127984 A JP8127984 A JP 8127984A JP 8127984 A JP8127984 A JP 8127984A JP S60225006 A JPS60225006 A JP S60225006A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- image sensor
- long object
- lead
- long
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は半導体リード等の長尺物体の曲り検出装置に関
する。
する。
従来、半導体リードの曲り検出を行なう場合、人の目視
による検出では、感覚による誤差、見落しなどを生じが
ちである。またカメラなどの検出装置を用いる場合は％
通常リードの長手面をながめるように検出するため、大
きな視覚部が必要となって検出装置が複雑かつ高価にな
）。
による検出では、感覚による誤差、見落しなどを生じが
ちである。またカメラなどの検出装置を用いる場合は％
通常リードの長手面をながめるように検出するため、大
きな視覚部が必要となって検出装置が複雑かつ高価にな
）。
また画素数が多くなって処理時間が長くなる問題があっ
た。
た。
本発明は上記実情ＶＣ鑑みてなされたもので。
半導体リード等の長尺物体における外観検査の合理化が
行なえる長尺物体向シ検出装置を提供しようとするもの
である。
行なえる長尺物体向シ検出装置を提供しようとするもの
である。
一般に細長い半導体リード等では、その曲りは長尺方向
に交差する方向のみと考えられる。
に交差する方向のみと考えられる。
従って長尺リードの延長方向から該リードに光を与える
ことで、リードの影は最小限となり。
ことで、リードの影は最小限となり。
この小さな影をイメージセンサの受光面に結像させリー
ドの曲り全検査すれば、イメージセンサの検出画素数が
少くて済み従って高速検査が行なえるものであり１本発
明はこのような原理を採用している。
ドの曲り全検査すれば、イメージセンサの検出画素数が
少くて済み従って高速検査が行なえるものであり１本発
明はこのような原理を採用している。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第１
図中１はイメージセンサ、２はこのイメージセンサ１の
受光面にその前面に配置された半導体リード３の影が最
小限に投影される方向から該リード３に光を照射する光
源、４はイメージセンサ１からの画像信号を二値（論理
信号）化する信号分類部である。５は分類部４からの二
値化信号を記憶する記憶部、６は記憶部５からの記憶信
号と予め記憶された基準信号（曲りのないリード形状の
位置と幅）とを比較しリード３の曲りを検出する画像処
理部（コンピュータ）である。
図中１はイメージセンサ、２はこのイメージセンサ１の
受光面にその前面に配置された半導体リード３の影が最
小限に投影される方向から該リード３に光を照射する光
源、４はイメージセンサ１からの画像信号を二値（論理
信号）化する信号分類部である。５は分類部４からの二
値化信号を記憶する記憶部、６は記憶部５からの記憶信
号と予め記憶された基準信号（曲りのないリード形状の
位置と幅）とを比較しリード３の曲りを検出する画像処
理部（コンピュータ）である。
第２図（ａ）はイメージセンサ１の受光面を示し。
７はリード３の形部である。第２図（ｂ）は第２図（＆
）の２点鎖線に沿う検出波形であシ、信号分類部４では
、例えば１１のレベルが論理”Ｑ Ｎ。
）の２点鎖線に沿う検出波形であシ、信号分類部４では
、例えば１１のレベルが論理”Ｑ Ｎ。
！、のレベルが論理”１″と判断され、１ｍの立ち上り
で、論理レベルが記憶部５に記憶され画像処理部６を介
してリード３の曲りが論理″′１″の位置と数（幅）Ｋ
よシ曲りのない形状と比較され判定が行なわれるもので
ある。
で、論理レベルが記憶部５に記憶され画像処理部６を介
してリード３の曲りが論理″′１″の位置と数（幅）Ｋ
よシ曲りのない形状と比較され判定が行なわれるもので
ある。
なお本発明は実施例のみに限られることなく種々の応用
が可能である。例えば曲り検出が行なえるものは半導体
リードのみでなく、他の長尺物体でもよい。また上記説
明では、長尺物体の影が最小限に投影される方向から光
を照射するものとしたが１本発明では長尺物体の影が略
々最小限に投影される方向から光を照射するものであれ
ばよい。
が可能である。例えば曲り検出が行なえるものは半導体
リードのみでなく、他の長尺物体でもよい。また上記説
明では、長尺物体の影が最小限に投影される方向から光
を照射するものとしたが１本発明では長尺物体の影が略
々最小限に投影される方向から光を照射するものであれ
ばよい。
以上説明した如く本発明によれば、リード等の長尺物体
の影が最小限に投影される方向から光を照射するから、
イメージセンサの受光面でチェックする画素数が少くて
済み、このため曲シ検出の高速化が可能となる。特に今
後、半導体部品のプリント基板などへの自動挿入装置が
増えるとリード曲シ検査は１寮になるが１本発明によれ
ばその合理化とスピードアップ及び正確な検査が可能と
なる。また検査を行なうリードの形状をコンピュータに
記憶することで、多種のリード曲りの検査が行えるもの
である。
の影が最小限に投影される方向から光を照射するから、
イメージセンサの受光面でチェックする画素数が少くて
済み、このため曲シ検出の高速化が可能となる。特に今
後、半導体部品のプリント基板などへの自動挿入装置が
増えるとリード曲シ検査は１寮になるが１本発明によれ
ばその合理化とスピードアップ及び正確な検査が可能と
なる。また検査を行なうリードの形状をコンピュータに
記憶することで、多種のリード曲りの検査が行えるもの
である。
第１図は本発明の一実施例の構成説明図、第２図（ａ）
はイメージセンサの正面図、第２図（ｂ）は同イメージ
センサから出る信号波形図である。 １・・・イメージセンサ、２・・・光源、３・・・半導
体リード、４・・・信号分類部、５・・・記憶部、６・
・・画像処理部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２ − （ａ） （ｂ）
はイメージセンサの正面図、第２図（ｂ）は同イメージ
センサから出る信号波形図である。 １・・・イメージセンサ、２・・・光源、３・・・半導
体リード、４・・・信号分類部、５・・・記憶部、６・
・・画像処理部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２ − （ａ） （ｂ）
Claims (1)
- イメージセンナと、このイメージセンサの受光面にその
前面に配置された長尺物体の影が最小限に投影される方
向から前記長尺物体に光を照射する光源と、前記イメー
ジセンナからの画像信号な二値化する信号分類部と、こ
の分類部う）らの信号°を記憶する記憶部と、この記憶
部からの信号と予め記憶された基準信号とを比較し前記
長尺物体の曲りを検出する画像処理部とを具備したこと
を特徴とする長尺物体臼り検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8127984A JPS60225006A (ja) | 1984-04-23 | 1984-04-23 | 長尺物体曲り検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8127984A JPS60225006A (ja) | 1984-04-23 | 1984-04-23 | 長尺物体曲り検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60225006A true JPS60225006A (ja) | 1985-11-09 |
Family
ID=13741930
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8127984A Pending JPS60225006A (ja) | 1984-04-23 | 1984-04-23 | 長尺物体曲り検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60225006A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63261103A (ja) * | 1987-04-17 | 1988-10-27 | Ishida Tekkosho:Kk | 原木等の形状検測装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54150088A (en) * | 1978-05-18 | 1979-11-24 | Nec Corp | Test device for ic lead bend |
-
1984
- 1984-04-23 JP JP8127984A patent/JPS60225006A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54150088A (en) * | 1978-05-18 | 1979-11-24 | Nec Corp | Test device for ic lead bend |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63261103A (ja) * | 1987-04-17 | 1988-10-27 | Ishida Tekkosho:Kk | 原木等の形状検測装置 |
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