JPS60236008A - 物体の検査装置 - Google Patents
物体の検査装置Info
- Publication number
- JPS60236008A JPS60236008A JP9318784A JP9318784A JPS60236008A JP S60236008 A JPS60236008 A JP S60236008A JP 9318784 A JP9318784 A JP 9318784A JP 9318784 A JP9318784 A JP 9318784A JP S60236008 A JPS60236008 A JP S60236008A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- paper sheet
- inspection device
- light receiver
- light source
- Prior art date
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は例えば牛乳、ジュース等の紙・卆ツクの製造
時に生ずるしわを検出する場合において特に有用な物体
の検査装置に関する。
時に生ずるしわを検出する場合において特に有用な物体
の検査装置に関する。
この種の紙ノ平ツクは次に示すような工程によって製造
される。
される。
（１） 白紙の紙葉（約１００ ａｎＸ １００ ｔｙ
Ｂ ） ｆ印刷機に投入。
Ｂ ） ｆ印刷機に投入。
（２）印刷機にて紙葉の片面に紙・ンクク数枚分を同時
に印刷。
に印刷。
（３） 紙葉から紙・ぐツクを１枚毎に切断。
（４） 折り目を付ける。
（５） 折り目に沿って折った後接着し、紙・やツク完
成。
成。
ところで、上記（２）の印刷工程は第１図に示す如く行
われる。紙葉ｙ１は搬送用レール１２゜１３上を図示矢
印方向に搬送され、印刷ローラ１４．１５の相互間に挿
入される。これら印刷ローラ１４．１５の相互間を通過
する際、紙葉１１の裏面部に紙パツクの印刷が行われる
わけであるが、印刷ローラ１４，１５よシ送シ出さ５− れた紙葉１ノの表面部一部にしわ１６が生ずることがあ
る。仮りに、仁のしわＪ６が生じた紙葉１１を用いて紙
パツクを製造した場合、牛乳等の内容物がしわよりにじ
み出たり、紙・ぐツクの接着面にしわが位置した場合は
接着が不完全となり、内容物が漏れるという不都合が発
生する問題を有していた。
われる。紙葉ｙ１は搬送用レール１２゜１３上を図示矢
印方向に搬送され、印刷ローラ１４．１５の相互間に挿
入される。これら印刷ローラ１４．１５の相互間を通過
する際、紙葉１１の裏面部に紙パツクの印刷が行われる
わけであるが、印刷ローラ１４，１５よシ送シ出さ５− れた紙葉１ノの表面部一部にしわ１６が生ずることがあ
る。仮りに、仁のしわＪ６が生じた紙葉１１を用いて紙
パツクを製造した場合、牛乳等の内容物がしわよりにじ
み出たり、紙・ぐツクの接着面にしわが位置した場合は
接着が不完全となり、内容物が漏れるという不都合が発
生する問題を有していた。
このため、従来は作業者が印刷終了後の紙葉を目視検査
しているが、確実にしわを検出することが難しい本ので
あった。
しているが、確実にしわを検出することが難しい本ので
あった。
この発明は上記事情に基づいてなされたものであり、そ
の目的とするところは物体の表面に生じたしわなどの歪
みを確実に検出することが可能な物体の検査装置を提供
しようとするものである。
の目的とするところは物体の表面に生じたしわなどの歪
みを確実に検出することが可能な物体の検査装置を提供
しようとするものである。
この発明は、物体の表面に斜め方向（しわに対してほぼ
直角方向）より光を照射してしわがどの歪み部分に影を
生じさせ、この反射光を受６− 光器によって検出し、この検出出力信号よりしわなどの
歪みを検知するものである。
直角方向）より光を照射してしわがどの歪み部分に影を
生じさせ、この反射光を受６− 光器によって検出し、この検出出力信号よりしわなどの
歪みを検知するものである。
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
する。
第２図において、印刷ローラ１４．１５の送出側には、
紙葉１１の搬送方向に対して直角方向で、斜め上方に光
源２１が設けられる。この光源、２１によって紙葉１１
の表面に光を照射すると、しわ１６に影を生じさせるこ
とができる。
紙葉１１の搬送方向に対して直角方向で、斜め上方に光
源２１が設けられる。この光源、２１によって紙葉１１
の表面に光を照射すると、しわ１６に影を生じさせるこ
とができる。
即ち、紙葉１１に生ずるしわ１６け印刷ローラ１４．１
５の関係から搬送方向に沿った方向のみに発生する。こ
のしわ１６に対して上記の位置に配設した光源２１によ
り光を照射すると、第３図に示す如く、しわ１６からの
反射光Ｒｆ１と紙葉１１表面からの反射光Ｒｆ２けその
反射角が相違し、しわ１６の部分と紙葉１１の表面とに
明暗が生ずる。これら反射光は紙葉１ノの上方に配設さ
れた受光器２２によって受光され、この受光器２２によ
り、しわ１６とその他の部分が異なるレベルの電気信号
に変換される。
５の関係から搬送方向に沿った方向のみに発生する。こ
のしわ１６に対して上記の位置に配設した光源２１によ
り光を照射すると、第３図に示す如く、しわ１６からの
反射光Ｒｆ１と紙葉１１表面からの反射光Ｒｆ２けその
反射角が相違し、しわ１６の部分と紙葉１１の表面とに
明暗が生ずる。これら反射光は紙葉１ノの上方に配設さ
れた受光器２２によって受光され、この受光器２２によ
り、しわ１６とその他の部分が異なるレベルの電気信号
に変換される。
第４図は信号処理回路を示すものであり、第２図と同一
部分には同一符号を付す。前記受光器２２は例えば集光
レンズ２２□とＣＣＤラインイメージセンサ２２２から
構成されている。このＣＣＤラインイメージセンサ２２
．には駆動回路２３より駆動・やルス信号が供給されて
おシ、この駆動・やルス信号によって、ＣＣＤラインイ
メージセンサ２２２に蓄積された電荷が取出される。こ
のＣＣＤラインイメージセンサ２２２は紙葉１１を搬送
方向と直交する方向に走査しており、このイメージセン
サ２２２の出力信号は増幅器２４を介してサンプル・ホ
ールド回路２５に供給される。このサンプル・ホールド
回路２５からは第５図（ａ）に示す如く基レベルが所定
値に揃えられた信号が出力される。ここで、Ｓｌはしわ
に対応した信号である。このサンゾル・ホールド回路２
５の出力信号は高域通過フィルタ（ＨＰＦ ） ２６に
供給される。この高域通過フィルタ２６からは第５図（
ｂ）に示す如く微分された信号が出力される。この信号
はｖｌ 。
部分には同一符号を付す。前記受光器２２は例えば集光
レンズ２２□とＣＣＤラインイメージセンサ２２２から
構成されている。このＣＣＤラインイメージセンサ２２
．には駆動回路２３より駆動・やルス信号が供給されて
おシ、この駆動・やルス信号によって、ＣＣＤラインイ
メージセンサ２２２に蓄積された電荷が取出される。こ
のＣＣＤラインイメージセンサ２２２は紙葉１１を搬送
方向と直交する方向に走査しており、このイメージセン
サ２２２の出力信号は増幅器２４を介してサンプル・ホ
ールド回路２５に供給される。このサンプル・ホールド
回路２５からは第５図（ａ）に示す如く基レベルが所定
値に揃えられた信号が出力される。ここで、Ｓｌはしわ
に対応した信号である。このサンゾル・ホールド回路２
５の出力信号は高域通過フィルタ（ＨＰＦ ） ２６に
供給される。この高域通過フィルタ２６からは第５図（
ｂ）に示す如く微分された信号が出力される。この信号
はｖｌ 。
■！から々るスライスレベルが設定された２値化回路２
７に供給され、これら両スライスレベルＶｌ 、Ｖ！に
よって２値化される。第５図（ｃ）はスライスレベルｖ
ｌＫよって２値化された信号であり、同図（ｄ）はスラ
イスレベルｖ２によりて２値化された信号である。この
２値化回路２７の出力信号はディジタル信号処理回路２
８に供給される。このディジタル信号処理回路２８では
、前記駆動回路２３より出力される駆動パルス信号に対
応して、ＣＣＤラインイメージセンサ２２宜の出力信号
幅よシ若干狭いブランキングマスク信号（第５図（，１
）に示す）が生成され、このブランキングマスク信号と
前記２値化された信号との論理積がとられる。この結果
、ディジタル信号処理回路２８からは第５図（ｆ） （
ｇ）Ｋ示す如くしわに対応した信号が出力されるため、
これらの信号のうち少なくとも１つが出力され九ことＫ
よシしわの発生を検出することができる。
７に供給され、これら両スライスレベルＶｌ 、Ｖ！に
よって２値化される。第５図（ｃ）はスライスレベルｖ
ｌＫよって２値化された信号であり、同図（ｄ）はスラ
イスレベルｖ２によりて２値化された信号である。この
２値化回路２７の出力信号はディジタル信号処理回路２
８に供給される。このディジタル信号処理回路２８では
、前記駆動回路２３より出力される駆動パルス信号に対
応して、ＣＣＤラインイメージセンサ２２宜の出力信号
幅よシ若干狭いブランキングマスク信号（第５図（，１
）に示す）が生成され、このブランキングマスク信号と
前記２値化された信号との論理積がとられる。この結果
、ディジタル信号処理回路２８からは第５図（ｆ） （
ｇ）Ｋ示す如くしわに対応した信号が出力されるため、
これらの信号のうち少なくとも１つが出力され九ことＫ
よシしわの発生を検出することができる。
９−
上記実施例によれば、紙葉１１の表面に斜め方向より光
を照射してしわに影を生じさせ、この反射光をＣＣＤラ
インイメージセンサ２２！によって受光し、この受光出
力信号よりしわに対応する信号を検出している。したが
って、目視検査に比べて確実にしわを検出することがで
きる。
を照射してしわに影を生じさせ、この反射光をＣＣＤラ
インイメージセンサ２２！によって受光し、この受光出
力信号よりしわに対応する信号を検出している。したが
って、目視検査に比べて確実にしわを検出することがで
きる。
尚、ＣＣＤラインイメージセンサ２２！からは紙葉１１
の搬送に応じて周期的に信号が取出されるため、紙葉１
１にしわが有る場合、ディジタル信号処理回路２８から
は第５図（ｒ） （ｇ）に示すような信号が同一位置に
連続して出力される。
の搬送に応じて周期的に信号が取出されるため、紙葉１
１にしわが有る場合、ディジタル信号処理回路２８から
は第５図（ｒ） （ｇ）に示すような信号が同一位置に
連続して出力される。
したがって、この信号の位置を例えば駆動・々ルス信号
をカウントすることによりめ、同一位置に同様な信号が
連続して存在する場合、しわが生じているものと判定す
れば、より確実にしわを検出することができる。
をカウントすることによりめ、同一位置に同様な信号が
連続して存在する場合、しわが生じているものと判定す
れば、より確実にしわを検出することができる。
また、上記実施例では光源を１つとしたが、受光器２２
の光軸に対して光源２ノと対称する位置に搬送方向にず
らしてさらに−系統照受光１０− 系を設け、高域通過フィルタ２６を取り除けば、しわと
ごみ等を一層区別することができる。即ち、光学系をこ
のように２つ設けた場合、しわに対応する信号は第６図
（ａ） （ｂ）に８１で示すようになるが、ごみ等の場
合は同図に８１で示す如くしわの場合と異なった信号と
なる。したがって、この信号波形の相違および信号の連
続性よりしわとごみの区別を行うことができる。
の光軸に対して光源２ノと対称する位置に搬送方向にず
らしてさらに−系統照受光１０− 系を設け、高域通過フィルタ２６を取り除けば、しわと
ごみ等を一層区別することができる。即ち、光学系をこ
のように２つ設けた場合、しわに対応する信号は第６図
（ａ） （ｂ）に８１で示すようになるが、ごみ等の場
合は同図に８１で示す如くしわの場合と異なった信号と
なる。したがって、この信号波形の相違および信号の連
続性よりしわとごみの区別を行うことができる。
さらに１上記実施例では紙葉を搬送装置によって搬送さ
せながらしわを検知したが、必ずしも搬送系を使用する
必要はなく、紙葉を固定して撮像するようにしてもよい
。この場合、上記光源は受光器の光軸に対して対称方向
におき、交互に発光させて同一の受光器でその反射光を
撮像すればよい。
せながらしわを検知したが、必ずしも搬送系を使用する
必要はなく、紙葉を固定して撮像するようにしてもよい
。この場合、上記光源は受光器の光軸に対して対称方向
におき、交互に発光させて同一の受光器でその反射光を
撮像すればよい。
その他、この発明の要旨を変えない範囲で種々変形実施
可能なことは勿論である。
可能なことは勿論である。
以上、詳述したようにこの発明によれば、物体表面に生
じたしわなどの歪みを確実に検出することか可能な物体
の検査装置を提供できる。
じたしわなどの歪みを確実に検出することか可能な物体
の検査装置を提供できる。
第１図は紙葉の印刷王権を説明するために示す概略斜視
図、第２図はこの発明に係わるものであり、光源と受光
器の配置例を示す概略斜視図、第３図は紙葉における入
射光と反射光の関係を説明するために示す図、第４図は
この発明に係わるものであり、信号処理回路の一実施例
を示す構成図、第５図、第６図は第４図の動作を説明す
るために示す波形図である。 １ノ・・・物体（紙葉）、１６・・・歪み（しわ）、２
１・・・光源、２２・・・受光器、２２！・・・ＣＣＤ
ラインイメージセンサ、２６・・・高域通過フィルタ、
２７・・・２値化回路、２８・・・ディジタル信号処理
回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦手続補正書 昭和５９年６．Ｊ？８ 日 特許庁長官 若杉和夫 殿 １、事件の表示 特願昭５９−９３１８７号 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 （３０７） 株式会社 東 芝 ４、代理人 ５、自発補正 Ａ−
図、第２図はこの発明に係わるものであり、光源と受光
器の配置例を示す概略斜視図、第３図は紙葉における入
射光と反射光の関係を説明するために示す図、第４図は
この発明に係わるものであり、信号処理回路の一実施例
を示す構成図、第５図、第６図は第４図の動作を説明す
るために示す波形図である。 １ノ・・・物体（紙葉）、１６・・・歪み（しわ）、２
１・・・光源、２２・・・受光器、２２！・・・ＣＣＤ
ラインイメージセンサ、２６・・・高域通過フィルタ、
２７・・・２値化回路、２８・・・ディジタル信号処理
回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦手続補正書 昭和５９年６．Ｊ？８ 日 特許庁長官 若杉和夫 殿 １、事件の表示 特願昭５９−９３１８７号 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 （３０７） 株式会社 東 芝 ４、代理人 ５、自発補正 Ａ−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）物体に光を照射する光源と、物体からの反射光を
受光する受光器と、この受光器の出力信号よシ物体表面
の歪みを検出する信号処理手段とを備えたことを特徴と
する物体の検査装置。 （２） 前記光源は物体表面に対し斜め方向から光を照
射することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の物
体の検査装置。 （３） 前記物体は紙葉類であることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の物体の検査装置。 （４） 前記信号処理手段は物体表面のしわを検出する
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の物体の検
査装置。 （５）前記紙葉類は一方の面に印刷が行われており、光
源および受光器は上記紙葉類の印刷されていない側の面
に光を照射し、反射光を受光すること讐特徴とする特許
請求の範囲第３項記載の物体の検査装置。 （６）前記紙葉類の検査はその紙葉類に折り目を入れる
前に行うことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の
物体の検査装置。 （７） 前記受光器はラインイメージセンサからなるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の物体の検査
装置。 （８）前記光源は受光器の光軸に対して対称的な位置に
複数個配設したことを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の物体の検査装置。 （９） 前記信号処理手段は物体の搬送方向と同方向で
同一位置に同一信号を連続して検出した場合、しわと判
定することを特徴とする特許請求の範囲第４項記載の物
体の検査装置。 ０１ 前記光源は受光器の光軸に対して相反する少なく
とも２つの方向から時間もしくは位置をずらして光音照
射することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の物
体の検査装置。 ａ■ 物体を搬送する搬送手段と、この搬送手段によっ
て搬送される物体に光を照射する光源と、物体からの反
射光を受光する受光器と、この受光器の出力信号によシ
物体表面の歪みを検査する信号処理手段とを具備したこ
とを特徴とする物体の検査装置。 α埴 前記光源は物体の搬送方向に対し斜め方向から元
を照射し、受光器は反射光を前記搬送方向と直交する方
向に走査することを特徴とする特許請求の範囲第１１項
記載の物体の検査装置。 ｏ３ 前記物体は紙葉類であることを特徴とする特許請
求の範囲第１１項記載の物体の検査装置。 ０４ 前記信号処理手段は物体表面のしわを検出するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１１項記載の物体の検
査装置。 αυ 前記紙葉類は一方の面に印刷が行われており、光
源および受光器は上記紙葉類の印刷されていない側の面
に光を照射し、反射光を受光することを特徴とする特許
筒〜求の範囲第１３項記載の物体の検査装置。 ００ 前記紙葉類の検査はその紙葉類に折り目を入れる
前に行うことを特徴とする特許請求の範囲第１３項記載
の物体の検査装置。 Ｏη 前記受光器はラインイメージセンサからなること
を特徴とする特許請求の範囲第１１項記載の物体の検査
装置。 ０→ 前記光源は受光器の元軸に対して対称的な位置に
複数個配設したことを特徴とする特許請求の範囲第１１
項記載の物体の検査装置。 （１９前記信号処理手段は物体の搬送方向と同方向で同
一位置に同一信号全連続して検出した場合、しわと判定
する仁とを特徴とする特許請求の範囲第１４項記絨の物
体の検査装置。 （１）前記光源は受光器の光軸に対して相反する少なく
とも２つの方向から時間もしくは位置をずらして光を照
射することを特徴とする特許請求の範囲第１１項記載の
物体の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9318784A JPS60236008A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 物体の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9318784A JPS60236008A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 物体の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60236008A true JPS60236008A (ja) | 1985-11-22 |
Family
ID=14075571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9318784A Pending JPS60236008A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 物体の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60236008A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5767975A (en) * | 1994-03-21 | 1998-06-16 | Tetra Laval Holdings And Finance | Method and device for detecting the position for a crease line of a packaging web |
-
1984
- 1984-05-10 JP JP9318784A patent/JPS60236008A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5767975A (en) * | 1994-03-21 | 1998-06-16 | Tetra Laval Holdings And Finance | Method and device for detecting the position for a crease line of a packaging web |
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